【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种半导体装置,更详细地,涉及一种利用接合时所使用的内部连接器能够有效地将在半导体装置内部中产生的热向半导体装置的外部排放的改善散热特性的半导体装置。
技术介绍
半导体集成电路的封装技术中的三维叠层封装是叠层多个相同存储量的芯片的封装,通常称为叠层芯片封装(StackChipPackage)。叠层芯片封装技术通过简单工序来叠层芯片,由此具有提高封装性能的同时能够降低制造成本,且容易进行批量生产的优点,相反,随着所叠层的芯片的数量以及大小的增加,具有用于封装内部的电连接的布线空间不足的缺点。即,现有的叠层芯片被制造为如下结构:在基板的芯片粘贴区域叠层粘贴多个芯片的前提下,为了电信号的交换而将各个芯片的接合垫与基板的导电回路的图案之间通过导线来连接,因此,在组件内部需要用于电缆接合的空间,并且还需要连接有导线的基板的导电回路图案的面积,这必然会导致半导体封装的尺寸增大。鉴于上述问题,作为叠层封装的一个例子,曾提出了利用硅通孔(Throughsiliconvia;TSV)的结构,最近利用在半导体芯片内形成由导电物质组成的贯通电极并通过所述贯通电极将半导体芯片电连接的方法。并且,作为制造叠层封装的另一个实施例,利用以金属垫来代替硅通孔(Throughsiliconvia;TSV)并直接接合金属垫的方式(Metaldirectbonding)或使用凸块(bump)来接合的方式等 ...
【技术保护点】
一种改善散热特性的半导体装置,其特征在于,包括:第一半导体芯片,包括用于形成在第一半导体基板上的回路的电连接的多个内部连接器和多个虚拟连接器;以及第二半导体芯片,包括用于形成在第二半导体基板上的回路的电连接的多个内部连接器和多个虚拟连接器,且叠层在所述第一半导体芯片的上部,所述第一半导体芯片的虚拟连接器中的至少一个虚拟连接器通过虚拟金属线的布线来相互连接,所述第二半导体芯片的虚拟连接器中的至少一个虚拟连接器通过虚拟金属线的布线来相互连接,从所述半导体装置的热源所产生的热通过所述虚拟连接器以及所述虚拟金属线分散到整个所述半导体装置中。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.05.14 KR 10-2013-00540901.一种改善散热特性的半导体装置,其特征在于,包括:
第一半导体芯片,包括用于形成在第一半导体基板上的回路的电
连接的多个内部连接器和多个虚拟连接器;以及
第二半导体芯片,包括用于形成在第二半导体基板上的回路的电
连接的多个内部连接器和多个虚拟连接器,且叠层在所述第一半导体
芯片的上部,
所述第一半导体芯片的虚拟连接器中的至少一个虚拟连接器通
过虚拟金属线的布线来相互连接,所述第二半导体芯片的虚拟连接器
中的至少一个虚拟连接器通过虚拟金属线的布线来相互连接,
从所述半导体装置的热源所产生的热通过所述虚拟连接器以及
所述虚拟金属线分散到整个所述半导体装置中。
2.根据权利要求1所述的改善散热特性的半导体装置,其特征在
于,所述内部连接器连接所述第一半导体芯片与所述第二半导体芯片
之间的信号。
3.根据权利要求1所述的改善散热特性的半导体装置,其特征在
于,所述内部连接器以及虚拟连接器是凸块、硅通孔或金属垫中的任
意一个。
4.根据权利要求1所述的改善散热特性的半导体装置,其特征在
于,所述第一半导体基板和所述第二半导体基板具有将分散到整个所
述半导体装置中的热向外部排放的功能。
5.根据权利要求1所述的改善散热特性的半导体装置,其特征在
于,在所述第一半导体基板和所述第二半导体基板中的至少一个半导
体基板上还设置散热片。
6.根据权利要求1所述的改善散热特性的半导体装置,其特征在
于,在所述第一半导体芯片和所述第二半导体芯片中的至少一个半导
体芯片上还设置硅通孔,所述硅通孔与连接所述虚拟连接器的虚拟金
\t属线连接,将分散到整个所述半导体装置的热向外部排放。
7.根据权利要求6所述的改善散热特性的半导体装置,其特征在
于,在所述硅通孔的末端上还设置散热片。
8.根据权利要求6所述的改善散热特性的半导体装置,其特征在
于,所述虚拟金属线与所述硅通孔直接连接。
9.根据权利要求6所述的改善散热特性的半导体装置,其特征在
于,所述虚拟金属线通过所述第一半导体基板或所述第二半导体基板
与所述硅通孔间接地连接。
10.根据权利要求1所述的改善散热特性的半导体装置,其特征
在于,连接有所述虚拟连接器的虚拟金属线露出在所述第一半导体芯
片和所述第二半导体芯片中的至少一个半导体芯片的侧面。
11.根据权利要求10所述的改善散热特性的...
【专利技术属性】
技术研发人员:安熙均,安相旭,李龙云,郑喜灿,全圣天,
申请(专利权)人:株赛丽康,
类型:发明
国别省市:韩国;KR
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