轴类零件外径测量工具制造技术

本实用新型专利技术公开了轴类零件外径测量工具，包括百分表和用于安装所述百分表的倒V型底座，所述百分表上设有测量螺杆、测量探头和校零螺母，所述倒V型底座套设于所述测量螺杆上，所述校零螺母套设于所述倒V型底座上方的所述测量螺杆上，所述测量探头设于所述倒V型底座下方的所述测量螺杆端部；所述百分表的表盘上设有用于指针指示的合格区间；所述倒V型底座包括第一斜杆和第二斜杆，所述第一斜杆和所述第二斜杆的上端相接，下端分离，形成V字形结构；所述第一斜杆和所述第二斜杆的截面均为圆形或椭圆形或矩形。本实用新型专利技术在使用时，只需将倒V型底座放置于轴类产品上，将其沿轴向移动，观察指针波动范围即可判断产品参数是否合格，非常方便。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及检测设备领域，具体涉及一种轴类零件外径测量工具。
技术介绍
在常规机械加工中，轴类产品的外径检测常规是用叶片千分尺逐一测量，如果产品不同外径档位越多，测量越麻烦，而且使用叶片千分尺的测量精度高，速度慢，严重影响整体加工效率;而且量具价格贵，容易损坏。事实上，在加工过程中，通常不需要每次都直接测量出具体的数值，只要产品的尺寸误差在设定的范围内即可。因此需要设计一种造价低的、能够提高测试效率的外径测量工具。
技术实现思路
为解决上述技术问题，我们提出了轴类零件外径测量工具，用以解决千分尺测量轴类产品外径效率低的问题。为达到上述目的，本技术的技术方案如下:轴类零件外径测量工具，包括百分表和用于安装所述百分表的倒V型底座，所述百分表上设有测量螺杆、测量探头和校零螺母，所述倒V型底座套设于所述测量螺杆上，所述校零螺母套设于所述倒V型底座上方的所述测量螺杆上，所述测量探头设于所述倒V型底座下方的所述测量螺杆端部;所述百分表的表盘上设有用于指针指示的合格区间;所述倒V型底座包括第一斜杆和第二斜杆，所述第一斜杆和所述第二斜杆的上端相接，下端分离，形成V字形结构;所述第一斜杆和所述第二斜杆的截面均为圆形或椭圆形或矩形。优选的，所述倒V型底座还包括用于调节所述第一斜杆和所述第二斜杆之间夹角的转轴部件，所述转轴部件设置于所述第一斜杆和所述第二斜杆的上端相接处。通过上述技术方案，本技术取得的有益效果在于:将倒V型底座放置于轴类产品上时，倒V型底座的两侧与轴类产品相切，形成两个接触点；同时百分表的测量探头也与轴类产品接触，形成第三个接触点；三点连线形成三角形，利用相似三角形尺寸成比例的原理，通过中心到边的距离相等，从而测量出产品的半径，间接得出产品的直径。在使用中通常不需要每次都直接测量出具体的数值，只要通过校队合格范围，就可以快速的检查工件尺寸是否合格。本技术在使用时，只需将倒V型底座放置于轴类产品上，将其沿轴向移动，观察指针波动范围即可判断产品参数是否合格，使用非常方便。【附图说明】为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术实施例所公开的轴类零件外径测量工具的使用状态结构示意图。图2为合格状态图。图3为不合格状态图。图中数字所表示的相应部件名称:1.百分表11.测量螺杆12.测量探头13.校零螺母14.合格区间21.第一斜杆22.第二斜杆3.轴类产品【具体实施方式】下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。百分表工作原理:百分表的工作原理，是将被测尺寸引起的测杆微小直线移动，经过齿轮传动放大，变为指计在刻度盘上的转动，从而读出被测尺寸的大小。百分表是利用齿条齿轮或杠杆齿轮传动，将测杆的直线位移变为指针的角位移的计量器具。读数方法，百分表的读数方法为:先读小指针转过的刻度线(即毫米整数)，再读大指针转过的刻度线(即小数部分)，并乘以0.01，然后两者相加，即得到所测量的数值。下面结合实施例和【具体实施方式】对本技术作进一步详细的说明。实施例.如图1所示，轴类零件外径测量工具，包括百分表1和用于安装百分表的倒V型底座，百分表1上设有测量螺杆11、测量探头12和校零螺母13，倒V型底座套设于测量螺杆11上，校零螺母13套设于倒V型底座2上方的测量螺杆11上，测量探头12设于倒V型底座下方的测量螺杆11端部。百分表1的表盘上设有用于指针指示的合格区间14，当指针在合格区间内时，表明为合格;合格区间以为的为不合格区间，当指针在不合格区间内时，表明为不合格。倒V型底座包括第一斜杆21和第二斜杆22，第一斜杆21和第二斜杆22的上端相接，下端分离，形成对称的V字形结构。本技术的杆状倒V型底座节省材料、结构简单，小巧灵活，使用方便。倒V型底座还包括用于调节所述第一斜杆和所述第二斜杆之间夹角的转轴部件。转轴设于第一斜杆和第二斜杆上端相接处，使第一斜杆和第二斜杆能够围绕转轴转动。转轴部件的结构及功能与圆规上的转轴部件相同，均是用于调节两支腿之间的距离，调节夹角。同时，为了测量的方便，利用一个转轴调节锁紧部件代替转轴部件。因为，转轴部件只有调节夹角的功能，但是在测试轴类产品外径时，第一斜杆和第二斜杆的夹具需要手工控制。而转轴调节锁紧部件，部件可以调节夹角，而且可以锁紧，防止夹角的变化，在测量同一类部件时，夹角相同，系统误差小。第一斜杆21和第二斜杆22的截面均为圆形或椭圆形或矩形。矩形截面的倒V型底座与轴类产品3形成线接触；圆形或椭圆形截面的倒V型底座与轴类产品3形成点接触时测量最佳，测出的数值或数值变化范围恰好是该点处的实际情况，不会出现偏差。本技术在使用时，只需将倒V型底座放置于轴类产品3上，将其沿轴向移动，观察指针波动范围即可判断产品参数是否合格，非常方便。图2，当百分表的指针在合格区域内波动时，说明产品的规格合格;图3，当指针跳动到合格区域以外时，产品规格不达标。将倒V型底座放置于轴类产品上时，倒V型底座的两侧杆与轴类产品相切，形成两个接触点；同时百分表的测量探头也与轴类产品接触，形成第三个接触点；三点连线形成三角形，利用相似三角形尺寸成比例的原理，通过中心到边的距离相等，从而测量出产品的半径，间接得出产品的直径。在使用中通常不需要每次都直接测量出具体的数值，只要通过校队合格范围，就可以快速的检查工件尺寸是否合格。以上所述的仅是本技术的优选实施方式，应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。【主权项】1.轴类零件外径测量工具，包括百分表和用于安装所述百分表的倒V型底座，其特征在于，所述百分表上设有测量螺杆、测量探头和校零螺母，所述倒V型底座套设于所述测量螺杆上，所述校零螺母套设于所述倒V型底座上方的所述测量螺杆上，所述测量探头设于所述倒V型底座下方的所述测量螺杆端部;所述百分表的表盘上设有用于指针指示的合格区间；所述倒V型底座包括第一斜杆和第二斜杆，所述第一斜杆和所述第二斜杆的上端相接，下端分离，形成V字形结构;所述第一斜杆和所述第二斜杆的截面均为圆形或椭圆形或矩形。2.根据权利要求1所述的轴类零件外径测量工具，其特征在于，所述倒V型底座还包括用于调节所述第一斜杆和所述第二斜杆之间夹角的转轴部件，所述转轴部件设置于所述第一斜杆和所述第二斜杆的上端相接处。【专利摘要】本技术公开了轴类零件外径测量工具，包括百分表和用于安装所述百分表的倒V型底座，所述百分表上设有测量螺杆、测量探头和校零螺母，所述倒V型底座套设于所述测量螺杆上，所述校零螺母套设于所述倒V型底座上方的所述测量螺杆上，所述测量探头设于所述倒V型底座下本文档来自技高网...

【技术保护点】
轴类零件外径测量工具，包括百分表和用于安装所述百分表的倒V型底座，其特征在于，所述百分表上设有测量螺杆、测量探头和校零螺母，所述倒V型底座套设于所述测量螺杆上，所述校零螺母套设于所述倒V型底座上方的所述测量螺杆上，所述测量探头设于所述倒V型底座下方的所述测量螺杆端部；所述百分表的表盘上设有用于指针指示的合格区间；所述倒V型底座包括第一斜杆和第二斜杆，所述第一斜杆和所述第二斜杆的上端相接，下端分离，形成V字形结构；所述第一斜杆和所述第二斜杆的截面均为圆形或椭圆形或矩形。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黎海波，
申请(专利权)人：苏州工业园区华通科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32