本发明专利技术提供一种辐射图像拾取单元，其包含：多个像素，每个像素被配置成基于辐射产生信号电荷；装置衬底，其包含用于每个像素的光电转换元件；波长转换层，其提供于装置衬底的光入射侧上，并且被配置成将所述辐射的波长转换成其它波长；以及分隔壁，其针对每个像素分离波长转换层。所述辐射图像拾取单元被配置成允许波长转换层和装置衬底之间的间隙等于或大于阈值或者等于或小于阈值，所述阈值是基于图像拾取目标的空间频率来预设的。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】【专利说明】辐射图像拾取单元和辐射图像拾取显示系统相关申请的交叉引用本申请要求在2013年7月24日提交的日本优先权专利申请JP 2013-153318的权利，所述申请的全部内容以引用方式并入本文。
本公开涉及一种基于入射辐射来获取图像的辐射图像拾取单元以及一种具备此类辐射图像拾取单元的辐射图像拾取显示系统。
技术介绍
近年来，已开发了基于辐射(例如，X射线)来获取图像作为电信号的辐射图像拾取单元(例如，PTL 1)。此类辐射图像拾取单元被大致分类为所谓的间接转换类型和直接转换类型。在间接转换类型的辐射图像拾取单元中，例如，波长转换衬底(闪烁体平板)和传感器衬底可彼此结合，所述波长转换衬底包含将X射线转换成可见光的转换层，且所述传感器衬底包含基于可见光产生电信号的光电转换元件。:JP 2002-228757
技术实现思路
在上述辐射图像拾取单元中，需要达成一种装置结构，所述装置结构能够使传感器衬底和转换衬底之间的间隙最佳化以改进所拾取图像的图像质量。需要提供一种能够改进所拾取图像的图像质量的辐射图像拾取单元以及一种具备此类辐射图像拾取单元的辐射图像拾取显示系统。根据本公开的实施例，提供了一种辐射图像拾取单元，其包含:多个像素，每个像素被配置成基于辐射产生信号电荷；装置衬底，其包含用于每个像素的光电转换元件；波长转换层，其提供于装置衬底的光入射侧上并且被配置成将所述辐射的波长转换成其它波长；以及分隔壁，其针对每个像素分离波长转换层。所述辐射图像拾取单元被配置成允许波长转换层和装置衬底之间的间隙等于或大于阈值或者等于或小于阈值，所述阈值是基于图像拾取目标的空间频率来预设的。根据本公开的实施例，提供了一种辐射图像拾取显示系统，其具备辐射图像拾取单元和显示单元，所述显示单元被配置成基于由辐射图像拾取单元所获得的图像拾取信号来执行图像显示。所述辐射图像拾取单元包含:多个像素，每个像素被配置成基于辐射产生信号电荷；装置衬底，其包含用于每个像素的光电转换元件；波长转换层，其提供于装置衬底的光入射侧上并且被配置成将所述辐射的波长转换成其它波长；以及分隔壁，其针对每个像素分离波长转换层。所述辐射图像拾取单元被配置成允许波长转换层和装置衬底之间的间隙等于或大于阈值或者等于或小于阈值，所述阈值是基于图像拾取目标的空间频率来预设的。在根据本公开的相应实施例的辐射图像拾取单元和辐射图像拾取显示系统中，在具有用于每个像素的光电转换元件的装置衬底和波长转换层之间的间隙基于图像拾取目标的空间频率而被配置成以便等于或大于预定阈值或者等于或小于阈值。因此，得以基于图像拾取目标的空间频率使装置衬底和波长转换层之间的间隙最佳化，得以抑制所拾取图像的MTF(锐度)的减小，并且得以抑制龟纹及其类似者的出现。在根据本公开的相应实施例的辐射图像拾取单元和辐射图像拾取显示系统中，在具有用于每个像素的光电转换元件的装置衬底和将辐射的波长转换成其它波长的波长转换层之间的间隙基于图像拾取目标的空间频率而被配置成以便等于或大于预定阈值或者等于或小于阈值。因此，得以使装置衬底和波长转换层之间的间隙最佳化，并且得以允许抑制所拾取图像的MTF的减小或龟纹及其类似者的出现。因此，有可能改进所拾取图像的图像质量。将理解，前述一般性描述和以下详细描述两者均为示例性，并且提供这些描述是为了提供对如所要求的技术的进一步解释。【附图说明】包含附图是为了提供对技术的进一步理解，并且附图被并入到本说明书中并构成本说明书的一部分。图式说明实施例，并且与说明书一起用来解释技术的原理。图1是说明根据本公开的实施例的辐射图像拾取单元的整体配置示例的框图。图2是说明图1中所说明的像素及其类似者的详细配置示例的电路图。图3是说明图1中所说明的像素部分的结构的剖面图。图4是说明图3中所说明的像素部分的平面示意图。图5是说明图1中所说明的列选择部分的详细配置示例的框图。图6是说明根据本公开的第一实施例的像素部分的结构的剖面图。图7A是用于解释根据比较示例1的像素部分的功能的示意图。图7B是用于解释图6中所说明的像素部分的功能的示意图。图8是说明根据本公开的第二实施例的像素部分的结构的剖面图。图9A是用于解释根据比较示例2的像素部分的功能的示意图。图9B是用于解释根据图8中所说明的像素部分的功能的示意图。图10是说明根据本公开的第三实施例的像素部分的结构的剖面图。图11是说明根据修改例1-1的像素部分的主要部分的结构的剖面图。图12是说明根据修改例1-2的像素部分的主要部分的结构的剖面图。图13是说明根据修改例1-3的像素部分的主要部分的结构的剖面图。图14是说明根据修改例2的像素及其类似者的配置的电路图。图15是说明根据修改例3的像素及其类似者的配置的电路图。图16是说明根据修改例4-1的像素及其类似者的配置的电路图。图17是说明根据修改例4-2的像素及其类似者的配置的电路图。图18是说明根据应用示例的辐射图像拾取显示系统的示意性配置的示意图。【具体实施方式】下文中，将参考图式来详细描述本公开的优选实施例。应注意到，将按以下次序来给出描述。1.整体配置(辐射图像拾取单元和像素部分的配置示例)2.第一实施例(其中装置衬底和波长转换层之间的间隙在图像拾取目标的空间频率等于或低于奈奎斯特频率的情况下被最佳化的示例)3.第二实施例(其中装置衬底和波长转换层之间的间隙在图像拾取目标的空间频率等于或高于奈奎斯特频率的情况下被最佳化的示例)4.第三实施例(在将折射率彼此不同的两个中间层插入于装置衬底和波长转换层之间的情况下的示例)5.修改例1-1 (在插入两个中间层的情况下的另一示例)6.修改例1_2(在插入两个中间层的情况下的另一示例)7.修改例1_3(在插入两个中间层的情况下的另一示例)8.修改例2 (另一无源像素电路的示例)9.修改例3 (另一无源像素电路的示例)10.修改例4-1和4-2 (有源像素电路的示例)11.应用示例(辐射图像拾取显示系统的示例)〈整体配置〉图1说明根据本公开的实施例的整体辐射图像拾取单元(辐射图像拾取单元1)的框式配置。此处，在描述稍后所述的第一到第三实施例之前，描述为相应实施例所共有的配置。辐射图像拾取单元1基于入射辐射(例如，X射线)来读取物体的信息(拾取物体的图像)。辐射图像拾取单元1包含像素部分11，且包含行扫描部分13、A/D转换部分14、列扫描部分15和系统控制部分16，所述系统控制部分16充当像素部分11的驱动电路。辐射图像拾取单元1可为(例如)间接转换类型的平板检测器(FPD)。虽然稍后将描述细节，但在像素部分11中，在辐射一旦被转换成可见光之后，便允许获得基于可见光的电信号。(像素部分11)像素部分11包含多个像素(图像拾取像素和单位像素)20，每个像素基于辐射产生信号电荷。所述多个像素20以二维方式布置成矩阵。应注意到，如图1中所说明，将像素部分11中的水平方向(行方向)称为“H”方向，且将垂直方向(列方向)称为“V”方向。图2例证了像素20的电路配置(所谓的无源电路配置)连同A/D转换部分14中的电荷放大器电路171 (稍后描述)的电路配置。举例来说，可在无源像素20中提供一个光电转换元件21和一个TFT 22。另外，沿Η方向延伸的读出本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种辐射图像拾取单元，其包括：多个像素，每个像素被配置成基于辐射产生信号电荷；装置衬底，其包含用于每个像素的光电转换元件；波长转换层，其提供于所述装置衬底的光入射侧上并且被配置成将所述辐射的波长转换成其它波长；以及分隔壁，其针对每个像素分离所述波长转换层，其中所述辐射图像拾取单元被配置成允许所述波长转换层和所述装置衬底之间的间隙等于或大于阈值或者等于或小于所述阈值，所述阈值是基于图像拾取目标的空间频率来预设的。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：藤本信二，吉川周宪，山田泰弘，千田满，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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