测量闪烁体灵敏度的方法、系统和设备技术方案

本申请涉及测量闪烁体灵敏度的方法、系统及设备，属于测量技术领域。该方法包括：将多个闪烁体单元排成闪烁体阵列，每个闪烁体单元具有窗口；用射线源从入射面照射所述闪烁体阵列从而使闪烁光从所述多个闪烁体单元的窗口发出；用成像装置对发出闪烁光的所述闪烁体阵列进行拍照，得到灰度图像，所述灰度图像的各个灰度值对应闪烁光强度，所述成像装置包括多个像素；根据所述多个闪烁体单元在所述灰度图像中的相应位置及所述相应位置处的灰度值的分别得到所述多个闪烁体单元的灵敏度。本公开采用相机批量测试多个闪烁体单元，能够提高生产效率和控制产品质量，且具备通用性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测量技术，具体而言，涉及测量闪烁体灵敏度的方法、系统和设备。
技术介绍
在目前的辐射检查领域，辐射检查系统的核心组成部分是其探测器阵列，直接决定着整个系统的性能指标。一般一个辐射检查系统需要几百到几万个探测单元(在辐射成像中，则表现为像素)，每个探测单元的灵敏面的尺寸从1mm到几十mm不等。目前闪烁探测器是该领域的主流探测器，闪烁探测器中包括多个闪烁体单元。为方便生产，通常将多个闪烁体单元固定组成一排或几排进行生产和安装。需要根据闪烁单元的大小和数量定制特制的测量装置。随着对性能指标提升的不断要求，探测器的像素尺寸逐渐减小，随之探测器通道的数量不断增加。同时，每探测通道间的灵敏度的不一致性越来越大，需要找到新的更有效、更快速的测量方法以适应该变化带来的挑战。因此，需要一种新的测量闪烁体灵敏度的方法、系统和设备。在所述
技术介绍
部分公开的上述信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
本申请公开一种测量闪烁体灵敏度的方法、系统和设备，能够提升生产效率和控制产品质量。本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。根据本公开的一个方面，提供一种测量闪烁体灵敏度的方法，包括:将多个闪烁体单元排成闪烁体阵列，每个闪烁体单元具有窗口 ；用射线源从入射面照射所述闪烁体阵列从而使闪烁光从所述多个闪烁体单元的窗口发出；用成像装置对发出闪烁光的所述闪烁体阵列进行拍照，得到灰度图像，所述灰度图像的各个灰度值对应闪烁光强度，所述成像装置包括多个像素；根据所述多个闪烁体单元在所述灰度图像中的相应位置及所述相应位置处的灰度值的分别得到所述多个闪烁体单元的灵敏度。根据本公开的一实施方式，其中每个闪烁体单元包括长方形的闪烁体及包覆所述闪烁体的反射层，所述反射层暴露所述窗口。根据本公开的一实施方式，其中所述成像装置为CCD相机或CMOS相机。根据本公开的一实施方式，其中所述闪烁体阵列、所述射线源、所述成像装置设置在密闭箱体内，所述密闭箱体的内侧为黑色，且满足辐射防护的要求。根据本公开的一实施方式，其中所述射线源包括X射线源和同位素源。根据本公开的一实施方式，还包括:利用设置在所述密闭箱体外部的计算机控制所述成像装置的拍照，并获取所述成像装置输出的数据以进行数据处理，所述计算机通过控制线与所述成像装置相连。根据本公开的一实施方式，其中根据所述多个闪烁体单元在所述灰度图像中的相应位置及所述相应位置处的灰度值的分别得到所述多个闪烁体单元的灵敏度包括:从所述灰度图像区分各个闪烁体单元对应的多个像素；将所述多个像素的灰度值的平均值或者中间值作为相应闪烁体单元的灵敏度。根据本公开的一实施方式，还包括:将所述多个像素的灰度值的中间值、最大值和最小值作为参考以规避测量错误。根据本公开的一实施方式，其中从所述灰度图像区分各个闪烁体单元对应的多个像素包括:利用各个闪烁体单元的反射层作为从所述灰度图像区分各个闪烁体单元对应的多个像素，或根据各个闪烁体单元所在的位置及尺寸区分各个闪烁体单元对应的多个像素。根据本公开的一实施方式，其中从所述灰度图像区分各个闪烁体单元对应的多个像素包括采用模式识别算法。根据本公开的一实施方式，还包括对所述多个闪烁体单元的位置进行修正，从而减少或消除由于位置不同而导致的测量值差异。根据本公开的一实施方式，还包括从所述灰度图像的各个灰度值中扣除本底值。根据本公开的另一个方面，提供一种用于测量闪烁体灵敏度的系统，包括:图像获取模块，用于从成像装置获取闪烁体阵列的灰度图像，所述闪烁体阵列包括多个闪烁体单元；区分模块，用于从所述灰度图像区分各个闪烁体单元对应的多个像素；灵敏度测量模块，用于将所述多个像素的灰度值作为相应闪烁体单元的灵敏度。根据本公开的一实施方式，其中所述区分模块包括:第一区分单元，用于利用各个闪烁体单元的反射层作为从所述灰度图像区分各个闪烁体单元对应的多个像素；和/或第二区分单元，用于根据各个闪烁体单元所在的位置及尺寸区分各个闪烁体单元对应的多个像素。根据本公开的一实施方式，还包括:第一修正模块，用于对所述多个闪烁体单元的位置进行修正，从而减少或消除由于位置不同而导致的测量值差异。根据本公开的一实施方式，还包括:第二修正模块，用于从所述灰度图像的各个灰度值中扣除本底值。根据本公开的再一个方面，提供一种测量闪烁体灵敏度的设备，所述设备包括射线源、成像装置、密闭箱体，其中:所述射线源、所述成像装置设置在密闭箱体内，所述密闭箱体的内侧为黑色，且满足辐射防护的要求；所述密闭箱体还用于在其中设置多个闪烁体单元排成的闪烁体阵列，每个闪烁体单元具有窗口 ；所述射线源用于从入射面照射所述闪烁体阵列从而使闪烁光从所述多个闪烁体单元的窗口发出；所述成像装置用于对发出闪烁光的所述闪烁体阵列进行拍照以得到灰度图像，所述灰度图像的各个灰度值对应闪烁光强度，所述成像装置包括多个像素。根据本公开的一实施方式，还包括固定台，设置在所述密闭箱体内，用于放置所述闪烁体阵列。根据本公开的一实施方式，其中所述成像装置为CCD相机或CMOS相机。根据本公开的一实施方式，其中所述射线源包括X射线源和同位素源。根据本公开的一实施方式，还包括设置在所述密闭箱体外部的计算机，用于控制所述成像装置的拍照，并获取所述成像装置输出的数据以进行数据处理，所述计算机通过控制线与所述成像装置相连。根据本公开的一实施方式，其中所述计算机根据所述多个闪烁体单元在所述灰度图像中的相应位置及所述相应位置处的灰度值的分别得到所述多个闪烁体单元的灵敏度。根据本公开的测量闪烁体灵敏度的方法、系统和设备，能够提升生产效率和控制产品质量。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本公开。【附图说明】通过参照附图详细描述其示例实施方式，本公开的上述和其它特征及优点将变得更加明显。图1示意性示出根据本公开示例实施方式的测量闪烁体灵敏度的方法的流程图；图2示意性示出根据本公开示例实施方式的测量闪烁体灵敏度的方法的流程图；图3示意性示出根据本公开示例实施方式的用于测量闪烁体灵敏度的系统的结构图；图4示意性示出根据本公开示例实施方式的用于测量当前第1页1 2 3 4 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量闪烁体灵敏度的方法，其特征在于，包括：将多个闪烁体单元排成闪烁体阵列，每个闪烁体单元具有窗口；用射线源从入射面照射所述闪烁体阵列从而使闪烁光从所述多个闪烁体单元的窗口发出；用成像装置对发出闪烁光的所述闪烁体阵列进行拍照，得到灰度图像，所述灰度图像的各个灰度值对应闪烁光强度，所述成像装置包括多个像素；根据所述多个闪烁体单元在所述灰度图像中的相应位置及所述相应位置处的灰度值的分别得到所述多个闪烁体单元的灵敏度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李树伟，李元景，赵自然，张清军，赵博震，朱维彬，王均效，孙立风，
申请(专利权)人：同方威视技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11