元件的定位方法和系统技术方案

本发明专利技术涉及一种元件的定位方法和系统，利用待测元件的模板图和待测元件所在的待测图，获得模板图的颜色分布描述符，将模板图的灰度图和待测图的灰度图进行匹配得到匹配矩阵，并以其中元素值最小的元素对应的待测图中的像素点作为子图的一个顶点，在待测图中获取子图及其颜色分布描述符，再根据模板图的颜色分布描述符和子图的颜色分布描述符的匹配度来确定待测元件在待测图中的位置。以此方案可根据已知元件的图像，在待测图中定位元件的位置，定位准确，为对元件进行错，漏，反等检测提供了重要依据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及自动光学检测领域，特别是涉及元件的定位方法和系统。
技术介绍
当前，对PCB(印制电路板）板卡进行检测，使用较多的是Α0Ι(自动光学检测）系 统，其是利用光学方式取得待测物体的图像信息，然后使用图像处理算法对待测物体进行 检测，检查出异物，瑕疵等错误。对于使用在PCB板卡检测的Α0Ι系统中，需要对板卡上面 的元件进行错，漏，反等检测。然而在插入的过程，或者上焊锡的过程中，元件可能会发生位 移，即元件在板卡上面的位置并非都是固定不变的，所以在对元件进行错，漏，反等检测前， 需要先对元件进行定位。 现在的Α0Ι系统中，一般只会在固定的位置检测元件，而不会对元件进行定位，如 此，对于偏移量较高的元件，如二极管，电容等，进行检测时，可能会因为待测区域中没有元 件而导致检测错误。
技术实现思路
基于此，有必要针对元件发生位移导致检测错误的问题，提供一种元件的定位方 法和系统。 -种元件的定位方法，包括以下步骤： 获取待测元件的模板图和对待测元件实际拍摄的待测图； 获取模板图的颜色分布描述符；在待测图中获取与模板图相同大小的图片作为待测图的子图； 获取子图的颜色分布描述符； 计算模板图的颜色分布描述符和子图的颜色分布描述符之间的匹配度； 若匹配度小于第一阈值，则判定子图所在的位置为待测元件在待测图中所在的位 置。 -种元件的定位系统，包括以下单元：第一获取单元，用于获取待测元件的模板图和对待测元件实际拍摄的待测图； 第二获取单元，用于获取模板图的颜色分布描述符；第三获取单元，用于在待测图中获取与模板图相同大小的图片作为待测图的子 图；第四获取单元，用于获取子图的颜色分布描述符；计算单元，用于计算模板图的颜色分布描述符和子图的颜色分布描述符之间的匹 配度；判断单元，用于在匹配度小于第一阈值时，判定子图所在的位置为待测元件在待 测图中所在的位置。根据上述本专利技术的方案，其是利用待测元件的模板图和待测元件所在的待测图， 获得模板图的颜色分布描述符，将模板图的灰度图和待测图的灰度图进行匹配得到匹配矩 阵，并以其中元素值最小的元素对应的待测图中的像素点作为子图的一个顶点，在待测图 中获取子图及其颜色分布描述符，再根据模板图的颜色分布描述符和子图的颜色分布描述 符之间的匹配度来确定待测元件在待测图中的位置。以此方案可根据已知元件的图像，在 待测图中定位元件的位置，定位准确，为对元件进行错，漏，反等检测提供了重要依据。【附图说明】 图1是其中一个实施例中元件的定位方法的流程图； 图2是其中一个实施例中元件的定位方法的流程图； 图3是其中一个实施例中元件的定位方法的流程图； 图4是图1对应的元件的定位系统的示意图；图5是其中一个实施例中元件的定位系统的部分示意图；图6是其中一个实施例中元件的定位系统的部分示意图；图7是其中一个实施例中元件的定位系统的部分示意图；图8是其中一个实施例中元件的定位系统的部分示意图；图9是其中一个实施例中元件的定位系统的示意图； 图10是其中一个实施例中元件的定位系统的示意图。【具体实施方式】 为使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本 专利技术进行进一步的详细说明。应当理解，此处所描述的【具体实施方式】仅仅用以解释本专利技术， 并不限定本专利技术的保护范围。 参见图1所示，为本专利技术的元件的定位方法的实施例。该实施例中的元件的定位 方法包括如下步骤： 步骤S110 :获取待测元件的模板图和对待测元件实际拍摄的待测图； 待测元件可以为PCB板上的电子元器件，如电阻、电感、电容等；模板图中只包括 待测元件的图像信息；待测图是包括待测元件的PCB板图像，是对包括待测元件的PCB板拍 摄得到的； 步骤S120 :获取模板图的颜色分布描述符； 模板图的颜色分布描述符可以用来表示模板图的颜色信息； 步骤S130 :在待测图中获取与模板图相同大小的图片作为待测图的子图； 步骤S140 :获取子图的颜色分布描述符； 子图的颜色分布描述符可以用来表示子图的颜色信息； 步骤S150 :计算模板图的颜色分布描述符和子图的颜色分布描述符之间的匹配 度； 匹配度是根据模板图的颜色分布描述符和子图的颜色分布描述符计算的，其值越 高，表示模板图的颜色信息与子图的颜色信息越相似； 步骤S160 :若匹配度小于第一阈值，则判定子图所在的位置为待测元件在待测图 中所在的位置； 第一阈值用来界定匹配度，从而确定子图的位置是否为待测元件在待测图中所在 的位置。 本实施方式所述的元件的定位方法，是利用待测元件的模板图和待测元件所在的 待测图，获得模板图的颜色分布描述符，将模板图的灰度图和待测图的灰度图进行匹配得 到匹配矩阵，并以其中元素值最小的点作为最小坐标点在待测图中获取子图及其颜色分布 描述符，再根据模板图的颜色分布描述符和所述子图的颜色分布描述符之间的匹配度来确 定待测元件在待测图中的位置。以此方案可根据已知元件的图像，在待测图中定位元件的 位置，定位准确，为对元件进行错，漏，反等检测提供了重要依据。 在其中一个实施例中，获取模板图的颜色分布描述符的步骤包括以下步骤： 将模板图均分成ηXη个相同大小的单元图，η为正整数，对每一个单元图的RGB颜 色空间的R、G、B三个通道分别取平均值，获得每一个单元图的平均颜色； 将每一个单元图的RGB颜色空间转变为YCbCr颜色空间，获得具有Y、Cb、Cr三个 通道的转换图，对该转换图的Y、Cb、Cr三个通道进行离散余弦变换，获得模板图的颜色分 布描述符； 获取子图的颜色分布描述符的步骤包括以下步骤： 将子图均分成mXm相同大小的单元图，m为正整数，对每一个单元图的RGB颜色 空间的R、G、B三个通道分别取平均值，获得每一个单元图的平均颜色； 将每一个单元图的RGB颜色空间转变为YCbCr颜色空间，获得具有Y、Cb、Cr三个 通道的转换图，对该转换图的Y、Cb、Cr三个通道进行离散余弦变换，获得子图的颜色分布 描述符。 通过将模板图或子图分割成单元图，获取每个单元图的平均颜色并进行颜色空间 转换和离散余弦变换，获得模板图的颜色描述分布符，此种方式获得的颜色描述分布符可 以较好地全面覆盖模板图或子图的颜色信息。 优选的，获取待测元件的模板图，模板图定义为 Inodel (X，y)，Xe[0,wnodel)，ye[0,hnodel)， hnc当前第1页1 2 3 4 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种元件的定位方法，其特征在于，包括以下步骤：获取待测元件的模板图和对所述待测元件实际拍摄的待测图；获取所述模板图的颜色分布描述符；在所述待测图中获取与所述模板图相同大小的图片作为所述待测图的子图；获取所述子图的颜色分布描述符；计算所述模板图的颜色分布描述符和所述子图的颜色分布描述符之间的匹配度；若所述匹配度小于第一阈值，则判定所述子图所在的位置为所述待测元件在所述待测图中所在的位置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：罗汉杰，
申请(专利权)人：广州视源电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44