充电构件、处理盒和电子照相设备制造技术

本发明专利技术涉及充电构件、处理盒和电子照相设备。提供显示长时间稳定的带电性能并且不趋于对于电子照相感光体表面产生不均匀磨耗的充电构件。具体提供包含导电性基材和导电性树脂层的充电构件。导电性树脂层包括粘结剂、导电性细颗粒和具有开口的碗形树脂颗粒。碗形树脂颗粒包括在导电性树脂层中以致不暴露至充电构件的表面，充电构件表面具有源自碗形树脂颗粒开口的凹部和源自碗形树脂颗粒开口边缘的凸部。

【技术实现步骤摘要】
【专利说明】 本申请是申请日为2011年4月21日、申请号为201180021835.X、专利技术名称为"充 电构件、处理盒和电子照相设备"的中国专利申请的分案申请。
本专利技术涉及充电构件、处理盒和电子照相设备。
技术介绍
专利文献1公开了作为与电子照相感光构件接触以使电子照相感光构件静电充 电的充电构件的、其表面上具有源自导电性树脂颗粒的凸部的充电构件。然后，其公开了此 类充电构件可防止任何的点状或横线状图像缺陷出现在电子照相图像上；所述缺陷由沉积 在充电构件表面上的调色剂和外部添加剂等的污点引起。 引文列表 专利文献 专利文献1:日本专利申请特开2008-276026
技术实现思路
专利技术要解决的问题 然而，当根据专利文献1的充电构件用于接触充电时，发生由于长期使用引起电 子照相感光构件表面的不均匀磨耗。通过本专利技术人对其原因进行的研究显示，在充电构件 和电子照相感光构件之间的辊隙处，其间的接触压力集中在源自充电构件表面导电性树脂 颗粒的凸部以使电子照相感光构件表面不均匀刮掉（scrapeoff)。因此，本专利技术的目的在于提供带来长时间稳定的充电性能并且还使得电子照相感 光构件表面不容易出现不均匀磨耗的充电构件。本专利技术的另一目的在于提供有助于稳定形 成高等级电子照相图像的处理盒和电子照相设备。 用于解决问题的方案 根据本专利技术的充电构件为包括导电性基体和导电性树脂层的充电构件； 导电性树脂层包括粘结剂、导电性细颗粒和各自具有开口的碗形树脂颗粒（bowl shapedresinparticle)； 碗形树脂颗粒以不暴露至充电构件表面的方式包含在导电性树脂层中；和 充电构件表面具有源自碗形树脂颗粒的开口的凹部和源自碗形树脂颗粒的开口 边缘的凸部。 根据本专利技术的处理盒的特征在于，具有上述充电构件和一体化连接的与充电构件 接触设置的可充电体（电子照相感光构件），并被构造为可拆卸地安装至电子照相设备的 主体。此外，根据本专利技术电子照相设备的特征在于，至少具有上述充电构件、曝光单元和显 影组件。 专利技术的效果 根据本专利技术，获得可稳定地使电子照相感光构件静电充电并且还可防止电子照相 感光构件表面出现不均匀磨耗的充电构件。根据本专利技术，还获得可稳定形成高等级电子照 相图像的处理盒和电子照相设备。【附图说明】图1A为示出根据本专利技术的充电构件（辊状）的层构造实例的截面图。图1B为示出根据本专利技术的充电构件（辊状）的层构造另一实例的截面图。 图1C为示出根据本专利技术的充电构件（辊状）的层构造再一实例的截面图。 图1D为示出根据本专利技术的充电构件（辊状）的层构造再一实例的截面图。 图2A为示出根据本专利技术充电构件的表面附近如何的实例的局部截面图。 图2B为示出根据本专利技术充电构件的表面附近如何的另一实例的局部截面图。 图2C为示出根据本专利技术充电构件的表面附近如何的再一实例的局部截面图。 图2D为示出根据本专利技术充电构件的表面附近如何的其它实例的局部截面图。 图3为示出根据本专利技术的充电构件的表面附近的轮廓的局部截面图。 图4A为示出用于本专利技术的碗形树脂颗粒形状实例的说明。 图4B为示出用于本专利技术的碗形树脂颗粒形状另一实例的说明。 图4C为示出用于本专利技术的碗形树脂颗粒形状再一实例的说明。 图4D为示出用于本专利技术的碗形树脂颗粒形状再一实例的说明。 图4E为示出用于本专利技术的碗形树脂颗粒形状再一实例的说明。 图5为测量充电辊电阻值的仪器的图。 图6为根据本专利技术电子照相设备的实施方案的示意性截面图。 图7为用于生产充电辊的十字头挤出设备的截面图。 图8为根据本专利技术的充电构件和电子照相设备在它们之间的辊隙附近的放大图。【具体实施方式】图1A示出根据本专利技术的充电构件的截面图。充电构件具有导电性基体1和在其 周面上覆盖前者的导电性树脂层3。然后，导电性树脂层3包含粘结剂、导电性细颗粒和碗 形树脂颗粒。如图1B中所示，导电性树脂层3可以由第一导电性树脂层31和第二导电性 树脂层32形成。还如图1C和1D中所示，导电性弹性层2可以在导电性基体1和导电性树 脂层3之间形成。 导电件树脂层 图2A和2B为根据本专利技术充电构件的表面部分的放大截面图。在作为表面层的导 电性树脂层3中引入未暴露至充电构件表面的碗形树脂颗粒61。此外，源自碗形树脂颗粒 的开口 51的凹部52和源自碗形树脂颗粒的开口边缘53的凸部54在充电构件表面上形成。 图2C和2D示出其中各导电性树脂层3由第一导电性树脂层31和第二导电性树 脂层32形成的实例。第一导电性树脂层31中，碗形树脂颗粒61以其开口暴露至第一导电 性树脂层31表面和开口边缘构成凸部的方式存在。此类第一导电性树脂层的表面覆盖有 第二导电性树脂层32以使碗形树脂颗粒61可以不暴露至表面。然后，第二导电性树脂层 32沿着碗形树脂颗粒61内壁形成，并因此将源自碗形树脂颗粒的开口的凹部形成于构成 充电构件表面的第二导电性树脂层表面上。此外，第二导电性树脂层覆盖碗形树脂颗粒61 的开口边缘，因此在第二导电性树脂层表面上形成源自边缘的凸部。 已发现导电性树脂层引入未暴露至表面的碗形树脂颗粒并且具有源自碗形树脂 颗粒开口的凹部和源自开口边缘的凸部的此类充电构件即使由于其长期使用也能够不容 易地刮掉电子照相感光构件表面。 关于充电性能，还获得以下发现：实现与具有源自树脂颗粒的凸部的任何充电构 件相同水平的充电性能。 S卩，对根据本专利技术的充电构件和电子照相感光构件如何相互接触和旋转的观察显 示，源自开口边缘的凸部保持与电子照相感光构件表面接触，使源自开口的凹部在电子照 相感光构件和充电构件之间的辊隙内部形成空隙。 此外确认，与源自常规导电性细颗粒的凸部相比，源自开口边缘的凸部在它们与 电子照相感光构件表面接触时弹性形变。图8为根据本专利技术的充电构件和电子照相感光构 件之间辊隙的放大模式图。在辊隙处，认为碗形树脂颗粒61的开口边缘53由于其与电子 照相感光构件803的接触压力而沿箭头A的方向弹性形变。认为根据本专利技术的充电构件能 够不容易地刮掉电子照相感光构件表面的原因在于，施加至电子照相感光构件的接触压力 因为碗形树脂颗粒开口边缘53弹性形变而保持缓和。 对根据本专利技术的充电构件与电子照相感光构件如何在它们之间的辊隙处接触的 进一步观察显示，在充电构件和电子照相感光构件之间的辊隙内部中也保持形成在充电构 件表面和电子照相感光构件表面之间的空隙（图8中的801)。正如此认为的，通过该空隙， 从充电构件表面的导电性树脂层至电子照相感光构件表面发生任何放电，因此认为通常仅 在辊隙前后发生的放电现象还在辊隙内部发生。结果，正如此认为的，根据本专利技术的充电构 件可产生稳定的充电性能。再有，本专利技术人还发现，因为碗形树脂颗粒内壁用导电性树脂层 覆盖（lined)，所以发生辊隙内部放电的此类现象。 如图3中所示，源自碗形树脂颗粒开口边缘的凸部54的各顶点（或峰顶）55和源 自碗形树脂颗粒开口的凹部52的各底部56的高低差（top-to-bottomdistance)57可优 选为5μπι以上且100μπι以下，特别优选8μπι以上且80μπι以下。因为高低差设定在该范 围内，所以可更确保缓和充电构件与电子照相感光构件的接触压力，并且可保持它们之间 的辊隙内部的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种充电构件，其包括导电性基体和导电性树脂层；所述导电性树脂层包括:粘结剂，导电性细颗粒，和各自具有开口的碗形树脂颗粒；其特征在于，所述碗形树脂颗粒以不暴露至所述充电构件的表面的方式包含在所述导电性树脂层中；和所述充电构件的表面具有源自所述碗形树脂颗粒的开口的凹部和源自所述碗形树脂颗粒的开口边缘的凸部。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：谷口智士，小出聪，
申请(专利权)人：佳能株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP