【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种检测设备,且特别涉及一种用以检测基材的缺陷位置的检测设备。
技术介绍
现今的产品大都以大量生产来降低生产成本,而在产品进行大量生产的同时,检测设备如何能够有效地进行检测,则成为重要的课题之一。例如:在产品生产前,制作产品所需的材料大都须先经检测,藉以淘汰具有缺陷的材料,进而提高产品的良率且降低生产成本。许多产品以基材制造生产,因此,基材的检测对于产品的良率具有不可忽视的影响,其中,基材的检测常需要确认基材的正反两个表面是否有缺陷,例如:凹陷、凸起、破损、擦伤、异物吸附或刮伤等问题。因此为了提供品质较佳的基材,通常会通过人工进行目视检测,通过将基材设置于输送装置上,并以人眼进行观测,检测这些基材是否有缺陷,并记录这些缺陷区域。然而,上述通过人眼进行检测的方式,容易因为眼睛在长时间的观测下而产生疲劳或误判,开始产生基材缺陷辨别率下降的情形,且对于单一产品的缺陷判断标准也会不一致。此外,也由于是通过人眼进行检测,因此基材在输送装置上的速度也不能太快。进一步来说,当缺陷很小或是待检测的基材是薄膜基材时,人眼就无法进行辨识,若要辨识也需要通过图像放大器进行观测,然而,还是会产生前述问题。
技术实现思路
本技术实施例在于提供一种检测设备,其能有效地改善常用基材检测上的缺陷。本技术实施例提供一种检测设备,用以检测一基材,该检测设备包括:一光源装置、一光接收装置及一控制装置,光源装置 ...
【技术保护点】
一种检测设备,用以检测一基材,其特征在于,所述检测设备包括:一光源装置,所述光源装置包含:一发光模组,所述发光模组具有用以发出光线的一发光区;及一透光片,所述透光片具有位于相对侧的一入光面与一出光面,所述透光片的所述出光面上形成有多个微结构,并且多个所述微结构用以导引所述发光模组所发出的光线沿一预设路径行进,并且经由多个所述微结构导引的光线路径区域定义为一检测区域;一光接收装置,所述光接收装置与所述光源装置彼此相对应地设置,并且所述光接收装置设有一接收区,而所述接收区与所述透光片的所述出光面彼此相向,并且所述接收区设置于所述预设路径以外的位置;以及一控制装置,所述控制装置电性连接于所述光接收装置,用以取得所述光接收装置所接收的光线强度;其中,当所述基材的未形成有缺陷的区块经过所述检测区域时,所述发光模组所发出的光线沿所述预设路径并经过所述基材而行进,以使所述控制装置取得的光线强度为一第一强度;其中,当所述基材的形成有至少一缺陷的区块经过所述检测区域时,所述发光模组所发出的光线沿所述预设路径并经过所述基材而行进,于沿经所述基材的缺陷的光线产生偏折而脱离所述预设路径,并有至少部分光线行进至 ...
【技术特征摘要】
1.一种检测设备,用以检测一基材,其特征在于,所述检测设备包括:
一光源装置,所述光源装置包含:
一发光模组,所述发光模组具有用以发出光线的一发光
区;及
一透光片,所述透光片具有位于相对侧的一入光面与一出
光面,所述透光片的所述出光面上形成有多个微结构,并且多
个所述微结构用以导引所述发光模组所发出的光线沿一预设
路径行进,并且经由多个所述微结构导引的光线路径区域定义
为一检测区域;
一光接收装置,所述光接收装置与所述光源装置彼此相对应地
设置,并且所述光接收装置设有一接收区,而所述接收区与所述透
光片的所述出光面彼此相向,并且所述接收区设置于所述预设路径
以外的位置;以及
一控制装置,所述控制装置电性连接于所述光接收装置,用以
取得所述光接收装置所接收的光线强度;
其中,当所述基材的未形成有缺陷的区块经过所述检测区域
时,所述发光模组所发出的光线沿所述预设路径并经过所述基材而
行进,以使所述控制装置取得的光线强度为一第一强度;
其中,当所述基材的形成有至少一缺陷的区块经过所述检测区
域时,所述发光模组所发出的光线沿所述预设路径并经过所述基材
而行进,于沿经所述基材的缺陷的光线产生偏折而脱离所述预设路
径,并有至少部分光线行进至所述光接收装置的所述接收区,以使
所述控制装置取得的光线强度为高于所述第一强度的一第二强度,
藉以得知所述缺陷位于所述基材上的位置。
2.根据权利要求1所述的检测设备,其特征在于,所述光源装置的所
述...
【专利技术属性】
技术研发人员:许轩兢,
申请(专利权)人:香港商微觉视检测技术股份有限公司,
类型:新型
国别省市:中国台湾;71
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