旋转角度指令值的校正方法技术

本发明专利技术提供一种将任意一齿周期中的一齿周期误差图案用于任一个一齿周期来校正旋转角度指令值时，即使在误差图案因检测时条件不同而不同时，也能高精度校正旋转角度指令值的旋转角度指令值的校正方法。利用磁式检测装置(9)检测外周具有以规定间距形成的多个齿(8a)的被检测齿轮(8)的旋转角度，并在基于检测旋转角度与实际旋转角度的误差校正对第一主轴3a所指令的旋转角度指令值(α)时，求出正旋转时检测旋转角度与所述实际旋转角度的误差即正方向一齿周期误差图案(F)、与逆旋转时的误差图案即反方向一齿周期误差图案(F’)，在正旋转时基于所述误差图案(F)、在逆旋转时基于所述误差图案(F’)校正所述旋转角度指令值(α)。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供一种将任意一齿周期中的一齿周期误差图案用于任一个一齿周期来校正旋转角度指令值时，即使在误差图案因检测时条件不同而不同时，也能高精度校正旋转角度指令值的。利用磁式检测装置（9)检测外周具有以规定间距形成的多个齿（8a)的被检测齿轮（8)的旋转角度，并在基于检测旋转角度与实际旋转角度的误差校正对第一主轴3a所指令的旋转角度指令值（《)时，求出正旋转时检测旋转角度与所述实际旋转角度的误差即正方向一齿周期误差图案（F)、与逆旋转时的误差图案即反方向一齿周期误差图案（F’），在正旋转时基于所述误差图案（F)、在逆旋转时基于所述误差图案（F’)校正所述旋转角度指令值（《)。【专利说明】
本专利技术涉及在例如将工作机械的转轴定位在规定角度位置的情况下，基于由检测 装置检测到的所述转轴的检测旋转角度与实际旋转角度之间的误差来校正对于转轴所发 出指令的旋转角度指令值。
技术介绍
当将工作机械的转轴、例如车床的安装有卡盘的主轴索引定位在规定的角度位置 时，对所述主轴进行旋转驱动，使得由旋转角度检测装置检测到的所述主轴的检测旋转角 度与旋转角度指令值相一致。 作为所述主轴的旋转角度检测装置，存在有现有的例如采用被检测齿轮与磁式检 测装置的检测装置，该被检测齿轮安装于主轴、并具有以规定的间距形成的多个齿，磁式检 测装置固定配置在与该被检测齿轮的齿相对的位置、并输出与距离该齿的远近程度相对应 的电压信号（参照专利文献1)。 然而，在所述现有的检测装置中，存在如下问题：即，在所述主轴实际旋转的角度 与由所述检测装置检测到的检测值之间，产生了由所述被检测齿轮的中心的偏离等而引起 的被检测齿轮旋转一周的期间内的一旋转周期误差，此外，产生了由被检测齿轮的齿的加 工精度等而引起的每一个齿周期的一齿周期误差。 关于所述一旋转周期误差的校正，能通过如下方式来实现：即，预先求出将被检测 齿轮的一个旋转周期（360° )分割成多个后得到的校正分割点的所述检测装置的检测误 差，并根据该误差来校正旋转角度指令值。 另一个方面，关于所述一齿周期误差的校正方法，产生了如下问题：S卩，在一齿周 期中校正分割点的间隔（deg)的小数点以下的位数过多，现有的旋转角度定位装置中无法 应对。此外，在直接采用所述一旋转周期误差的校正方法进行所述一齿周期误差的校正的 情况下，会产生校正点个数过多而无法处理的问题。 因此，本 申请人:发现一齿周期误差图案在任一个一齿周期中均示出了大致相同的 趋势，针对这一点，提出了如下方法：即，通过将任意一齿周期中的一齿周期误差图案应用 于任一个一齿周期来校正旋转角度指令值，由此能大幅削减误差的校正点个数，并且能减 小所需的存储容量（参照专利文献2)。 现有专利文献 专利文献 专利文献1 :日本专利特开平05-288573号公报 专利文献2 :日本专利特开2011-141247号公报
技术实现思路
然而，本申请的专利技术人发现存在如下问题：即、由所述磁式检测装置所检测到的所 述转轴的实际旋转角度检测值的误差图案可能根据检测时的条件的不同而不同。即，本申 请的专利技术人发现存在如下问题：即，对于所述一齿周期误差图案，在检测时的条件、例如被 检测齿轮的旋转方向是正方向的情况下与被检测齿轮的旋转方向是反方向的情况下，所述 一齿周期误差图案不同。 本专利技术是鉴于上述状况而完成的，其课题在于，提供一种旋转角度指令值的校正 方法，该中，在将任意的一齿周期中的一齿周期误差图案用于 任一个一齿周期来对旋转角度指令值进行校正时，即使在检测时的条件不同的情况下，也 能高精度地对旋转角度指令值进行校正。 权利要求1的专利技术的中，利用磁式检测装置对被检测 齿轮的旋转角度进行检测，并且基于利用所述磁式检测装置检测到的检测旋转角度与实际 旋转角度之间的误差来校正对所述转轴进行指令的旋转角度指令值，其中，该被检测齿轮 安装于转轴上，在外周具有以规定间距形成的多个齿，所述磁式检测装置配置为与所述齿 相对，所述的特征在于，， 检测出不同条件下的一齿单位的所述检测旋转角度与所述实际旋转角度之间的误差， 来求出每个不同条件下的个别误差图案，在规定的条件下，基于该规定条件所对应的个别 误差图案来校正所述旋转角度指令值。 权利要求2的专利技术的特征在于，在权利要求1所记载的旋转角度指令值的校正方 法中，所述转轴的向正方向的旋转与其向反方向的旋转是所述不同条件，求出正方向旋转 时的所述一齿单位的正方向误差图案与反方向旋转时的所述一齿单位的反方向误差图案， 在正方向旋转时基于正方向误差图案，在反方向旋转时基于反方向误差图案来分别对所述 旋转角度指令值进行校正。 权利要求3的专利技术的特征在于，在权利要求1所记载的旋转角度指令值的校正方 法中，在环境温度不同的情况下，可以将各环境温度作为所述不同条件，求出每个该环境温 度下所述一齿单位的误差图案，并基于各环境温度所对应的误差图案来校正所述旋转角度 指令值。 专利技术效果 本申请的专利技术人发现被检测齿轮的任意相邻的两个齿之间的检测旋转角度相对 于实际旋转角度的误差、即一齿周期误差图案可能根据检测时的条件的不同而不同，并基 于这一点而完成了本专利技术。 即，根据本申请权利要求1的专利技术，求出每个不同条件下的个别误差图案，在规定 的条件下，基于该规定条件所对应的个别误差图案来校正所述旋转角度指令值，因此即使 在误差图案因旋转角度检测时的条件不同而不同的情况下，也能高精度地校正旋转角度指 令值，其结果是，能提高转轴的索引定位精度。 根据权利要求2的专利技术，在所述转轴正方向旋转时，基于正方向误差图案，在反方 向旋转时基于反方向误差图案来分别对所述旋转角度指令值进行校正，因此即使在误差图 案因旋转方向不同而不同的情况下，也能高精度地校正旋转角度指令值，并能提高转轴的 索引定位精度。 根据权利要求3的专利技术，求出每个环境温度下的一齿单位的误差图案，基于各环 境温度所对应的误差图案来校正所述旋转角度指令值，因此即使在误差图案因环境温度不 同而不同的情况下，也能高精度地校正旋转角度指令值，并能提高转轴的索引定位精度。 【专利附图】【附图说明】 图1是具备执行本专利技术的实施例1所涉及的的旋转角 度定位装置的工作机械的示意性俯视图。 图2是所述旋转角度定位装置的旋转角度检测装置部分的示意性结构图。 图3是所述旋转角度定位装置的一旋转周期误差图案的示意图。 图4是所述旋转角度定位装置的正方向（顺时针）旋转时的正方向一齿周期误差图案 F及反方向（逆时针）旋转时的反方向一齿周期误差图案F'的示意图。 图5是用于说明所述正方向、反方向一齿周期误差图案的求取方法的示意图。 图6是所述一旋转周期误差图案的具体例的示意图。 图7是所述正方向一齿周期误差图案的具体例的示意图。 图8是用于说明所述旋转角度定位装置的动作的流程图。 图9是用于说明所述流程图中所采用的一齿周期的示意图。 图10是表示所述流程图中所采用的一齿周期误差校正表格的图。 【具体实施方式】 下面，基于附图对本专利技术的实施方式进行说明。 图1?图10是用于说明执行本专利技术的实施例1所涉及的旋转角度指令值的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种旋转角度指令值的校正方法，该旋转角度指令值的校正方法中，利用磁式检测装置对被检测齿轮的旋转角度进行检测，并且基于利用所述磁式检测装置检测到的检测旋转角度与实际旋转角度之间的误差来校正对所述转轴进行指令的旋转角度指令值，其中，所述被检测齿轮安装于转轴上，在外周具有以规定间距形成的多个齿，所述磁式检测装置配置为与所述齿相对，所述旋转角度指令值的校正方法的特征在于，检测出不同条件下的一齿单位的所述检测旋转角度与所述实际旋转角度之间的误差，求出每个不同条件下的个别误差图案，在规定的条件下，基于该规定条件所对应的个别误差图案来校正所述旋转角度指令值。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：酒井茂次，新海洋平，井户悠，中崎雅宣，
申请(专利权)人：德马吉森精机株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP