本发明专利技术公开了一种嵌入式系统的测试方法，包括：获取嵌入式系统中待测设备的驱动程序、故障发生模拟程序和测试程序，并写入嵌入式系统；根据测试程序对故障发生模拟程序进行配置以使故障发生模拟程序生成测试实例；嵌入式系统执行驱动程序以运行待测设备；通过故障发生模拟程序根据测试实例对嵌入式系统中的待测设备进行修改，并对待测设备进行测试。本发明专利技术的嵌入式系统的测试方法能够对嵌入式系统中待测设备的容错和纠错性能进行全面的检测和验证，并满足不同嵌入式系统的测试需求，可移植性高，实施成本低，效率高。本发明专利技术还公开了一种嵌入式系统的测试装置和一种包括该嵌入式系统的测试装置的嵌入式系统的测试系统。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及嵌入式
，特别涉及一种嵌入式系统的测试方法、一种嵌入式系统的测试装置和一种嵌入式系统的测试系统。
技术介绍
当前嵌入式领域发展迅速，嵌入式设备和主控芯片的复杂度越来越高，相应的针对嵌入式系统的测试过程越来越复杂。当前针对嵌入式系统的测试主要分为前端设计的功能测试和后端设计的性能测试。其测试出发点均立足于验证嵌入式系统和内部设备的功能与性能的正确性和可靠性，即以测试系统是否能正确实现功能和是否具有正常的性能指标为目的，制定测试方案进行测试。对于嵌入式系统来说，由于系统功能繁多，设计复杂度增加，导致嵌入式系统本身的故障发生率也随之增高。但是，相关技术基于一般的测试思路和测试方法，未能有效的针对嵌入式系统内部故障或者具有以嵌入式系统出现故障为目的测试，即没有特定的针对嵌入式系统出现故障或错误的容错能力与纠错能力进行测试。这种情况下，虽然保证了嵌入式系统或内部设备功能的正确性，但对于嵌入式系统与内部设备的故障和容错和纠错性能缺少整体的评估检验，使嵌入式系统本身承担了一定风险性，嵌入式产品的可靠性降低，或者相关技术中即使有上述测试内容，但缺少特定的测试逻辑与测试方法的支持，使得测试方案制定繁琐，测试花费时间较长，影响效率，人力物力成本高。因此，需要对相关技术进行改进。
技术实现思路
本专利技术的目的旨在至少从一定程度上解决上述的技术问题之一。为此，本专利技术的一个目的在于提出一种嵌入式系统的测试方法，该嵌入式系统的测试方法能够对嵌入式系统中内部设备的容错和纠错性能进行全面的检测和验证，实施成本低，效率高。本专利技术的另一个目的在于提出一种嵌入式系统的测试装置。本专利技术的再一个目的在于提出一种嵌入式系统的测试系统。为达到上述目的，本专利技术一方面实施例提出了一种嵌入式系统的测试方法，该嵌入式系统的测试方法包括以下步骤:获取嵌入式系统中待测设备的驱动程序、故障发生模拟程序和测试程序，并写入嵌入式系统；根据所述测试程序对所述故障发生模拟程序进行配置以使所述故障发生模拟程序生成测试实例；所述嵌入式系统执行所述驱动程序以运行所述待测设备；以及通过所述故障发生模拟程序根据所述测试实例对所述嵌入式系统中的待测设备进行修改，并对所述待测设备进行测试。本专利技术实施例提出的嵌入式系统的测试方法，在将获取的待测设备的驱动程序、故障发生模拟程序和测试程序写入嵌入式系统，以及在根据测试程序对故障发生模拟程序进行配置，使得故障发生模拟程序生成测试实例后，在嵌入式系统执行驱动程序运行待测设备时，通过故障发生模拟程序根据测试实例对嵌入式系统中的待测设备进行修改，并对待测设备进行测试。该嵌入式系统的测试方法针对嵌入式系统中待测设备的故障进行测试，能够对嵌入式系统的容错和纠错性能进行全面的检测和验证，实施成本低，效率高。为达到上述目的，本专利技术另一方面实施例还提出了一种嵌入式系统的测试装置，该嵌入式系统的测试装置包括:故障发生模拟程序模块，用于根据测试程序生成测试实例，并在所述嵌入式系统运行待测设备时，根据所述测试实例对所述嵌入式系统中的待测设备进行修改；测试模块，用于对所述待测设备进行测试。本专利技术实施例提出的嵌入式系统的测试装置，通过故障发生模拟程序模块根据测试程序生成测试实例，并在嵌入式系统运行待测设备时，故障发生模拟程序模块根据测试实例对嵌入式系统中的待测设备进行修改，进而通过测试模块对待测设备进行测试。该嵌入式系统的测试装置针对嵌入式系统中待测设备的故障进行测试，能够对嵌入式系统的容错和纠错性能进行全面的检测和验证，实施成本低，效率高。为达到上述目的，本专利技术再一方面实施例还提出了一种嵌入式系统的测试系统，该嵌入式系统的测试系统包括所述的嵌入式系统的测试装置。本专利技术实施例提出的嵌入式系统的测试系统，通过嵌入式系统的测试装置根据测试程序生成测试实例，并在嵌入式系统运行待测设备时，根据测试实例对嵌入式系统中的待测设备进行修改，最后对待测设备进行测试。该嵌入式系统的测试系统能够针对嵌入式系统中待测设备的故障进行测试，从而实现对嵌入式系统的容错和纠错性能进行全面的检测和验证，实施成本低，效率高。本专利技术附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。【附图说明】本专利技术上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中:图1为根据本专利技术实施例的嵌入式系统的测试装置的方框示意图；图2为根据本专利技术一个实施例的嵌入式系统的测试装置的故障发生模拟程序模块的方框示意图；图3为根据本专利技术一个具体实施例的嵌入式系统的测试系统的结构示意图；图4为根据本专利技术实施例的嵌入式系统的测试方法的流程图；以及图5为根据本专利技术一个具体实施例的嵌入式系统的测试方法的流程图。【具体实施方式】下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能解释为对本专利技术的限制。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本专利技术的不同结构。为了简化本专利技术的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本专利技术。此外，本专利技术可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。此夕卜，本专利技术提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的可应用于性和/或其他材料的使用。另外，以下描述的第一特征在第二特征之“上”的结构可以包括第一和第二特征形成为直接接触的实施例，也可以包括另外的特征形成在第一和第二特征之间的实施例，这样第一和第二特征可能不是直接接触。在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是机械连接或电连接，也可以是两个元件内部的连通，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。下面参照附图来描述根据本专利技术实施例提出的嵌入式系统的测试方法、嵌入式系统的测试装置和嵌入式系统的测试系统。首先参照附图来描述根据本专利技术实施例提出的嵌入式系统的测试装置。如图1所示，本专利技术实施例提出的嵌入式系统的测试装置1包括故障发生模拟程序模块10和测试模块20。其中，故障发生模拟程序模块10用于根当前第1页1 2 3 4 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种嵌入式系统的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：获取嵌入式系统中待测设备的驱动程序、故障发生模拟程序和测试程序，并写入嵌入式系统；根据所述测试程序对所述故障发生模拟程序进行配置以使所述故障发生模拟程序生成测试实例；所述嵌入式系统执行所述驱动程序以运行所述待测设备；以及通过所述故障发生模拟程序根据所述测试实例对所述嵌入式系统中的待测设备进行修改，并对所述待测设备进行测试。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：周博，郭平日，李奇峰，杨云，
申请(专利权)人：比亚迪股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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