本发明专利技术涉及一种压控衰减器的检测系统及检测方法，它是由FPGA、ARM单片机、AD芯片、DA芯片、放大器、衰减器滤波器组成，可以发出两路相同的检测信号，一路通过压控衰减器，一路未通过压控衰减器，经过最终两路信号的比较分析，得出压控衰减器质量的检测结果并传给PC,有益效果是，结构简单，操作容易，降低了检测成本及检测难度，在来料检验环节控制压控衰减器的质量，从而及时退换货不会影响后期的生产及研发。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种压控衰减器，特别涉及。
技术介绍
压控衰减器使用频繁，价格昂贵，现在一般是通过焊接PCB后，用网络分析仪及专用控制电路来查看器件的质量，当压控衰减器质量存在问题的时候，就会给研发及生产工作带来进度和成本上的巨大的损失。
技术实现思路
为了解决压控衰减器的质量问题给研发及生产工作带来的损失，本专利技术提供可以在来料检验环节控制压控衰减器的质量，具体技术方案是，一种压控衰减器的检测系统，包括控制模块、信号发射模块、器件检测模块、信号接收模块、PC显示，其特征在于:信号发射模块包括DA芯片、第一放大器、衰减器、第二放大器、功分器，连接为DA芯片、第一放大器、衰减器、第二放大器、功分器依次单向连接，双路输出，控制模块单向连接DA芯片；器件检测模块包括信号匹配电路、压控衰减器、DA芯片，连接为控制模块单向连接DA芯片，DA芯片单向连接压控衰减器，信号发射模块的双路输出分别连接信号匹配电路、压控衰减器；信号接收模块包括两路相同由滤波器、变压器、AD芯片串接组成的接收转换电路，器件检测模块的信号匹配电路、压控衰减器输出分别连接信号接收模块的两路接收转换电路，两路接收转换电路输出连接控制模块中的FPGA ;控制模块中FPGA、PC显示与连接单片机。检测方法包括以下步骤， 1)、在PC显示和控制模块中的单片机通过串口和PC通信得到检测命令后，单片机和FPGA通信后，FPGA通过和发射模块中的DA芯片通信，发出模拟信号； 2)、模拟信号经过放大器和由控制模块中的FPGA控制的衰减器后得到想要的信号功率，该信号经过功分器，变成了完全相同的两路模拟信号，这两路模拟信号由发射模块发出； 3)、相同的两路模拟信号进入器件检测模块，其中的一路模拟信号经过由控制模块控制的被检测器件后输出，另一路模拟信号不经过被检测器件直接输出，器件检测模块输出的模拟信号进入接收模块，形成两路不同的模拟信号经过滤波器、变压器、AD芯片后变为数字信号发送给控制模块中的FPGA，FPGA进行简单数据处理后发送给单片机； 4)、单片机进行数据分析后将检测结果发送给PC，完成检测。本专利技术的有益效果是，结构简单，操作容易，降低了检测成本及检测难度，在来料检验环节控制压控衰减器的质量，从而及时退换货不会影响后期的生产及研发。【附图说明】图1是本专利技术的系统组成图。图2是信号发射模块原理示意图。图3是器件检测模块原理示意图。图4是信号接收模块原理示意图。图5是显不和控制_旲块原理不意图。【具体实施方式】下面结合附图和实例对本专利技术进一步说明， 如图1至图5所示，一种压控衰减器的检测系统，包括控制模块、信号发射模块、器件检测模块、信号接收模块、PC显示，其特征在于:信号发射模块包括DA芯片、第一放大器、衰减器、第二放大器、功分器，连接为DA芯片、第一放大器、衰减器、第二放大器、功分器依次单向连接，双路输出，控制模块单向连接DA芯片；器件检测模块包括信号匹配电路、压控衰减器、DA芯片，连接为控制模块单向连接DA芯片，DA芯片单向连接压控衰减器，信号发射模块的双路输出分别连接信号匹配电路、压控衰减器；信号接收模块包括两路相同由滤波器、变压器、AD芯片串接组成的接收转换电路，器件检测模块的信号匹配电路、压控衰减器输出分别连接信号接收模块的两路接收转换电路，两路接收转换电路输出连接控制模块中的FPGA ;控制模块中FPGA、PC显示与连接单片机。检测方法包括以下步骤， 1)、在PC显示和控制模块中的单片机通过串口和PC通信得到检测命令后，单片机和FPGA通信后，FPGA通过和发射模块中的DA芯片通信，发出模拟信号； 2)、模拟信号经过放大器和由控制模块中的FPGA控制的衰减器后得到想要的信号功率，该信号经过功分器，变成了完全相同的两路模拟信号，这两路模拟信号由发射模块发出； 3)、相同的两路模拟信号进入器件检测模块，其中的一路模拟信号经过由控制模块控制的被检测器件后输出，另一路模拟信号不经过被检测器件直接输出，器件检测模块输出的模拟信号进入接收模块，形成两路不同的模拟信号经过滤波器、变压器、AD芯片后变为数字信号发送给控制模块中的FPGA，FPGA进行简单数据处理后发送给单片机； 4)、单片机进行数据分析后将检测结果发送给PC，完成检测。【主权项】1.一种压控衰减器的检测系统，包括控制模块、信号发射模块、器件检测模块、信号接收模块、PC显示，其特征在于:信号发射模块包括DA芯片、第一放大器、衰减器、第二放大器、功分器，连接为DA芯片、第一放大器、衰减器、第二放大器、功分器依次单向连接，双路输出，控制模块单向连接DA芯片；器件检测模块包括信号匹配电路、压控衰减器、DA芯片，连接为控制模块单向连接DA芯片，DA芯片单向连接压控衰减器，信号发射模块的双路输出分别连接信号匹配电路、压控衰减器；信号接收模块包括两路相同由滤波器、变压器、AD芯片串接组成的接收转换电路，器件检测模块的信号匹配电路、压控衰减器输出分别连接信号接收模块的两路接收转换电路，两路接收转换电路输出连接控制模块中的FPGA ;控制模块中FPGA、PC显示与连接单片机。2.一种压控衰减器的检测方法，其特征在于:检测方法包括以下步骤: 1)、在PC显示和控制模块中的单片机通过串口和PC通信得到检测命令后，单片机和FPGA通信后，FPGA通过和发射模块中的DA芯片通信，发出模拟信号； 2)、模拟信号经过放大器和由控制模块中的FPGA控制的衰减器后得到想要的信号功率，该信号经过功分器，变成了完全相同的两路模拟信号，这两路模拟信号由发射模块发出； 3)、相同的两路模拟信号进入器件检测模块，其中的一路模拟信号经过由控制模块控制的被检测器件后输出，另一路模拟信号不经过被检测器件直接输出，器件检测模块输出的模拟信号进入接收模块，形成两路不同的模拟信号经过滤波器、变压器、AD芯片后变为数字信号发送给控制模块中的FPGA，FPGA进行简单数据处理后发送给单片机； 4)、单片机进行数据分析后将检测结果发送给主机PC显示，完成检测。【专利摘要】本专利技术涉及，它是由FPGA、ARM单片机、AD芯片、DA芯片、放大器、衰减器滤波器组成，可以发出两路相同的检测信号，一路通过压控衰减器，一路未通过压控衰减器，经过最终两路信号的比较分析，得出压控衰减器质量的检测结果并传给PC,有益效果是，结构简单，操作容易，降低了检测成本及检测难度，在来料检验环节控制压控衰减器的质量，从而及时退换货不会影响后期的生产及研发。【IPC分类】G01R31/00, G01R27/28【公开号】CN105334399【申请号】CN201510918371【专利技术人】范玉进, 弓俊, 田力, 刘彩虹, 曹晓冬, 褚孝鹏, 李柬, 邱惠昌, 杨松楠 【申请人】天津光电通信技术有限公司【公开日】2016年2月17日【申请日】2015年12月14日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种压控衰减器的检测系统，包括控制模块、信号发射模块、器件检测模块、信号接收模块、PC显示，其特征在于：信号发射模块包括DA芯片、第一放大器、衰减器、第二放大器、功分器，连接为DA芯片、第一放大器、衰减器、第二放大器、功分器依次单向连接，双路输出，控制模块单向连接DA芯片；器件检测模块包括信号匹配电路、压控衰减器、DA芯片，连接为控制模块单向连接DA芯片，DA芯片单向连接压控衰减器，信号发射模块的双路输出分别连接信号匹配电路、压控衰减器；信号接收模块包括两路相同由滤波器、变压器、AD芯片串接组成的接收转换电路，器件检测模块的信号匹配电路、压控衰减器输出分别连接信号接收模块的两路接收转换电路，两路接收转换电路输出连接控制模块中的FPGA；控制模块中FPGA、PC显示与连接单片机。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：范玉进，弓俊，田力，刘彩虹，曹晓冬，褚孝鹏，李柬，邱惠昌，杨松楠，
申请(专利权)人：天津光电通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：天津;12
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