本实用新型专利技术涉及一种有扫描、拼接的动态颗粒图像粒度粒形分析仪，具有三目显微镜和载物台，还包括X轴移动机构、Y轴移动机构、Z轴移动机构以及CCD相机，其中X轴移动机构和Y轴移动机构分别以横向和纵向的方式安装在显微镜载物台上，Z轴移动机构安装在镜架上；CCD相机安装在显微镜的第三目位置上，其数据线连接至计算机。本实用新型专利技术解决了手动显微镜带来的不足，提高了测量精度，改善了图像清晰度，解决了分析视场范围有限的问题，实现图像的实时自动对焦，保证图像时刻都是最清晰的。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种动态颗粒图像粒度分析技术，具体的说是一种带有扫描、拼接的动态颗粒图像粒度粒形分析仪。
技术介绍
以往的显微图像颗粒粒度粒形分析仪都是在传统的显微镜下，需要人为去移动显微平台来捕捉颗粒图像信息，非常繁琐，而且人为因素的干扰对测量结果的精度影响较大。显微物镜的视场有限，对于放大后超出视场范围的大颗粒无法分析，影响了仪器单物镜倍数下的测量动态范围。如不具备扫描拼接功能的20倍物镜，分析的粒径范围仅仅为1-100微米，不具备扫描功能的显微颗粒分析仪测试10000个颗粒大概要几十分钟，并且颗粒的清晰度需要人为手动的去对焦，精度不够，不具备实时对焦功能，图像清晰度差、分析视场范围有限的问题。
技术实现思路
针对现有技术中显微图像颗粒粒度粒形分析仪精度低、图像清晰度差、不具备实时对焦功能等不足，本技术要解决的技术问题是提供一种带有扫描、拼接的动态颗粒图像粒度粒形分析仪。为解决上述技术问题，本技术采用的技术方案是:本技术带有扫描、拼接的动态颗粒图像粒度粒形分析仪，具有三目显微镜和载物台，还包括X轴移动机构、Y轴移动机构、Z轴移动机构以及CCD相机，其中X轴移动机构和Y轴移动机构分别以横向和纵向的方式安装在显微镜载物台上，Z轴移动机构安装在镜架上；CCD相机安装在显微镜的第三目位置上，其数据线连接至计算机。所述载物台具有三层结构，原有载物台在底层，与镜架转动连接，在底层上方加装了中层和顶层，Y轴移动机构中的丝杠安装在中层的下端面上，丝杠端部与一步进电机输出轴连接，丝母与底层固定连接；X轴移动机构中的丝杠安装在中层的端面上，丝杠端部与另一步进电机输出轴连接，丝母与上层固定连接，上层上设有压片夹；底层与中层、中层与顶层之间设有导轨。Z轴移动机构安装在镜架上，通过第三步进电机驱动；三层结构共同作为一个整体，沿Z轴移动机构上下运动，进行焦距调整。本技术具有以下有益效果及优点:1.本技术将X、Y、Z三方向可以控制自动移动平台的显微镜应用到颗粒的粒度粒形分析系统中，很好的解决了手动显微镜带来的不足，提高了测量精度，改善了图像清晰度，解决了分析视场范围有限的问题；控制平台Z轴上下移动可以实现自动对焦功能，而且软件可以实时判断图像的清晰度，从而实现图像的实时自动对焦，保证图像时刻都是最清晰的。2.本技术计算机控制平台X、Y轴移动，可以实现二维平面内的全区域扫描，从而实现快速的、大量的颗粒图像进行分析，提高了代表性，同时可以对X、Y轴自动移动时拍摄的图像进行拼接，形成一幅全区域范围的全景图像，然后再对全景图像进行分析，可以很好的扩大单物镜下的颗粒粒径分析范围，如不具备扫描拼接功能的20倍物镜，分析的粒径范围是1-100微米，那么具备扫描拼接功能后，粒径的分析范围可以扩大到1-50000微米。3.本技术方法结合多线程的快速颗粒识别软件技术，大大的提高了分析速度，如不具备扫描功能的显微颗粒分析仪测试10000个颗粒大概要几十分钟，而具备扫描功能后分析10000个颗粒只需要2-3分钟。4.本技术在对颗粒测量时，从准确性、重复性、测量精度、分辨率以及测量时间上都有非常大的提高，是以往显微图像颗粒分析仪不能比拟的。【附图说明】图1为本技术结构示意图。其中，1为显微镜，2为Z轴移动机构，3为Y轴移动机构，4为X轴移动机构，5为(XD相机，6为计算机。【具体实施方式】下面结合说明书附图对本技术作进一步阐述。如图1所示，本技术带有扫描、拼接的动态颗粒图像粒度粒形分析仪，具有三目显微镜，载物台以可移动方式安装在镜架上，还包括X轴移动机构4、Y轴移动机构3、Ζ轴移动机构2以及CCD相机5，其中X轴移动机构4和Υ轴移动机构3分别以横向和纵向的方式安装在显微镜1的载物台上，Ζ轴移动机构2安装在镜架上；CCD相机5安装在显微镜的第三目位置上，其数据线连接至计算机6。所述载物台具有三层结构，原有载物台在底层，与镜架转动连接，在底层上方加装了中层和顶层，Y轴移动机构3中的丝杠安装在中层的下端面上，丝杠端部与一步进电机输出轴连接，丝母与底层固定连接；X轴移动机构4中的丝杠安装在中层的端面上，丝杠端部与另一步进电机输出轴连接，丝母与上层固定连接，上层上设有压片夹；底层与中层、中层与顶层之间设有导轨；Z轴移动机构2安装在镜架上，通过第三步进电机驱动；三层结构共同作为一个整体，沿Z轴移动机构2上下运动，进行焦距调整。本实施例中，Z轴移动机构2沿用原有的斜齿轮齿条，原有显微镜的两个对称手轮，其中一个更换为步进电机驱动Z轴移动机构2的齿轮传送机构上下运动，进行焦距调整。X、Y、Z三个方向行程的极限位置处安装有限位开关。底层与中层、中层与顶层之间的导轨采用交叉滚柱导轨，特点是无间隙，高刚性，低摩擦。本技术将具有X、Y、Z三方向可以控制自动移动平台的显微镜应用到颗粒的粒度粒形分析系统中来，配合控制部分很好的解决了手动显微镜测量精度低、图像清晰度差、分析视场范围有限的问题。【主权项】1.一种带有扫描、拼接的动态颗粒图像粒度粒形分析仪，具有三目显微镜和载物台，其特征在于:还包括X轴移动机构、Y轴移动机构、Z轴移动机构以及CCD相机，其中X轴移动机构和Y轴移动机构分别以横向和纵向的方式安装在显微镜载物台上，Z轴移动机构安装在镜架上；CCD相机安装在显微镜的第三目位置上，其数据线连接至计算机。2.按权利要求1所述的带有扫描、拼接的动态颗粒图像粒度粒形分析仪，其特征在于:所述载物台具有三层结构，原有载物台在底层，与镜架转动连接，在底层上方加装了中层和顶层，Y轴移动机构中的丝杠安装在中层的下端面上，丝杠端部与一步进电机输出轴连接，丝母与底层固定连接；X轴移动机构中的丝杠安装在中层的端面上，丝杠端部与另一步进电机输出轴连接，丝母与上层固定连接，上层上设有压片夹；底层与中层、中层与顶层之间设有导轨。3.按权利要求1所述的带有扫描、拼接的动态颗粒图像粒度粒形分析仪，其特征在于:Z轴移动机构安装在镜架上，通过第三步进电机驱动；三层结构共同作为一个整体，沿Z轴移动机构上下运动，进行焦距调整。【专利摘要】本技术涉及一种有扫描、拼接的动态颗粒图像粒度粒形分析仪，具有三目显微镜和载物台，还包括X轴移动机构、Y轴移动机构、Z轴移动机构以及CCD相机，其中X轴移动机构和Y轴移动机构分别以横向和纵向的方式安装在显微镜载物台上，Z轴移动机构安装在镜架上；CCD相机安装在显微镜的第三目位置上，其数据线连接至计算机。本技术解决了手动显微镜带来的不足，提高了测量精度，改善了图像清晰度，解决了分析视场范围有限的问题，实现图像的实时自动对焦，保证图像时刻都是最清晰的。【IPC分类】G01N15/00, G01N15/02【公开号】CN205027634【申请号】CN201520817767【专利技术人】范继来, 李闯, 孟庆学, 刘峰源 【申请人】丹东百特仪器有限公司【公开日】2016年2月10日【申请日】2015年10月20日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种带有扫描、拼接的动态颗粒图像粒度粒形分析仪，具有三目显微镜和载物台，其特征在于：还包括X轴移动机构、Y轴移动机构、Z轴移动机构以及CCD相机，其中X轴移动机构和Y轴移动机构分别以横向和纵向的方式安装在显微镜载物台上，Z轴移动机构安装在镜架上；CCD相机安装在显微镜的第三目位置上，其数据线连接至计算机。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：范继来，李闯，孟庆学，刘峰源，
申请(专利权)人：丹东百特仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：辽宁;21
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