本发明专利技术公开了一种基于谐振腔的束团长度测量装置及方法，该测量方法利用的束团长度监测器包括工作于TM010的基频腔、工作于TM0n0的倍频腔和滤波器，基频腔的输出信号用于测量束流的流强，基频腔和倍频腔的输出信号联立解出束团长度，滤波器用于优化信号。该方法利用的后处理单元包括基于超外差接收机的降频模块，高速ADC模块和基于数字电路的束团长度计算模块。本发明专利技术采用的谐振腔腔体半径可以自由选择，通过使谐振腔工作于TM0n0模式而非限定于TM010模式，使得在工作频率很高的情况下，腔体半径仍大于束流管道半径，可以做以前无法完成的短束团测量。本发明专利技术扩大了谐振腔法可测量的束团长度范围，属于非拦截式高精度联合测量。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于束流测量的
，特别涉及一种基于谐振腔的束团长度测量装置 及方法。
技术介绍
为了获知直线加速器中的能散参数和观测聚束效果，束团伸长效应和设定合适的 RF相位，需要精确测量其束团长度。谐振腔作为束流诊断的拾取装置，可以提供大幅度和 高信噪比的信号，谐波法谐振腔束团长度测量方法也因此成为一种重要的束团长度测量方 法。 谐波法测量束团长度时，长度越短需要的倍频腔工作频率越高。传统的谐波法测 量束团长度时，采用的基频腔和倍频腔均基于谐振腔的TM m。模，为了使TM M。模谐振频率达 到基频的若干倍，不得不使用半径很小的倍频腔，当倍频腔半径小于束流管道半径时无法 安装使用（限制于束流的动力学孔径和量子激发效应，束流管道半径无法做到很窄）。 束流管道半径的限制是谐振腔束团长度测量方法的一大缺点：受测量方法限制， 谐振腔均工作于TMm。模式。由束流频谱可知，欲测量的束团长度越短，倍频腔的工作频率 需要越高，从而其半径越小。但是，谐振腔半径必须大于束流管道半径才能安装，因此束流 管道半径会限制谐振腔法能测量到的束团长度：对于一个特定半径的束流管道，总是存在 一个最小可测量的束团长度值（在该值下，谐振腔腔体半径等于束流管道半径）。
技术实现思路
本专利技术的目的在于：提供，摆脱腔体 半径需大于束流管道半径这一原则对谐振腔测量方法中可测量束团长度范围的限制，完成 短束团测量，同时提高测量精度。 本专利技术采用的技术方案为：一种基于谐振腔的束团长度测量装置，包括工作于 TMqi。的基波腔、工作于TM。的高次谐波腔和滤波器，基波腔和高次谐波腔依次安装于束流 管道，基波腔信号由同轴探针引出于同轴线，高次谐波腔信号由小孔引出于波导，滤波器由 该波导中的一小段加载膜片组成。 其中，基波腔用于测量束流的流强，该流强和高次谐波腔的输出信号用于解出束 团长度，滤波器用于优化信号。 其中，滤波器为引入膜片加载的波导带通滤波器。 其中，该测量装置采用了双谐振腔谐波法测量，两腔依次安装于束流管道，基频腔 工作于TM m。模式，使用同轴线耦合电磁场信号，其信号幅值与束流流强相关，倍频腔工作于 TMlta。模式，腔体半径可以随η值调节，使用波导耦合电磁场信号，其信号幅值与束流流强和 束团长度相关； 后续信号处理将谐振腔输出信号降频并做ADC，在数字电路中做运算，利用基频腔 信号幅值求出束流流强'然后与倍频腔信号幅值Pni-同代入公式（1)求出束团长度； 可以获取束团长度，由此束流流强和束团长度都得以确定。 理论计算推导如下： 束流经过谐振腔时，会在其中激起尾场电磁场，对于束流流强I。，束团长度σ τ， 谐振腔分路阻抗Rni的情况，其激起功率为（其中m为谐振腔工作频率的相对束流的谐波次 数）： 对于基频腔，其m = 1，对于长度较短的束团、尤其本方法适用的IOps以下短束团 而言，代入公式可得Pj. ? /彳心，因此基频腔的输出信号仅与束流流强 相关，束团长度变化带来的影响可以忽略，可以由基频腔输出信号推导出束流流强。倍频腔 的输出信号Pni则与束流流强和束团长度变化皆相关。知道束流流强和倍频腔分路阻抗Rni, 输出信号P ni,可以反推得束团长度如公式1。对于未知流强和束团长度的束流，测量方法利 用基频腔信号幅值P1求出束流流强I <：，然后与倍频腔信号幅值Pni-同代入公式1求出束团 长度。 其中，Rni为倍频腔分路阻抗值； 本专利技术另外提供一种基于TM_谐振腔的束团长度测量方法，该方法的步骤如下： 步骤1)、构建该测量方法利用的束团长度监测器并安装于束流管道； 步骤2)、束流经过谐振腔，在两腔内部激起尾场电磁场，在基频腔里形成 振，倍频腔里形成TM_谐振； 步骤3)、基频腔信号由同轴探针引出于同轴线，倍频腔信号引出于波导，并经过膜 片加载的波导滤波器以优化输出信号； 步骤4)、两腔输出信号经过基于超外差接收机的降频模块，将信号频率降至中 频； 步骤5)、中频信号经过高速ADC采样量化转变为数字信号； 步骤6)、在数字电路中做如下处理：利用基频腔输出信号算出束流流强I。，然 后与倍频腔信号幅值P ni-同代入公式1求出束团长度，由此未知参数束流的流强和束团长 度都可以确定。 其中，步骤2中倍频腔形成的TMlta。模式谐振，可以根据η值的不同选择合适的腔 体半径，从而摆脱束流管道半径对腔体工作频率的限制； 其中，步骤3中的波导滤波器可以优化信号提高测量精度，其由八块金属膜片加 载于标准波导来组成，滤波器使用的波导尺寸与信号耦合波导一致，无需额外的波导尺寸 转换装置。 其中，步骤5中的ADC模块其采样率需大于2倍的中频信号频率以满足采样定理， 其采样位数需足够高以高精度地保留信号幅度信息。TI公司的ADS5463芯片为12位高速 ADC，采样频率可达500M，可以满足实际要求； 其中，步骤6中的信号幅值PjP P5需经由对数字信号做包络提取运算来获得，希 尔伯特变换是通信领域常用的包络提取技术，可以在数字电路中构建希尔伯特滤波器以获 取信号包络，提取信号幅值； 其中，步骤6中的基频腔信号幅度Pr^只与束流流强I。相关，在电路中做计算可以获取束流流强，其中R1为基频腔分路阻抗值。倍频腔信号幅度P ni与束流 流强Ic和束团长度σ τ皆相关，在电路中做计算（Rni为倍频腔分路阻抗值）： 可以获取束团长度，由此束流流强和束团长度都得以确定。 其中，步骤6中做计算使用的数字电路需拥有足够的门级资源以构建包络提取电 路和信号运算电路，同时需满足实时性的要求。Xilinx的FPGA XC5VLX30可以满足需求。 本专利技术的原理在于： 本专利技术设计使倍频腔工作于TMlta。模式，可以根据η值的不同选择不同的腔体半 径，摆脱了腔体半径需大于束流管道半径这一原则对谐振腔测量方法中可测量束团长度范 围的限制。通过使谐振腔工作于TM te。模式，使得腔体半径大于束流管道半径，可以做以前 无法完成的短束团测量，同时提高了测量精度。同时在提取波导中加载膜片起到滤波器的 作用以优化输出信号，提高测量精度。为实现以上技术方案，设计的束团长度监测器包含工 作于TM m。的基频腔和工作于TMte。的倍频腔倍频腔，以及用于优化信号的滤波器。对于未知 流强和束团长度的束流，由于束团长度对基频腔输出信号影响较小，经过基频腔可以测量 到其流强，以此流强和倍频腔倍频腔输出信号代入束团长度计算公式可以解出束团长度， 由此未知参数束流的流强和束团长度都可以确定。 本专利技术测量方法的优势在于： 1.本专利技术腔体半径可根据其工作模式TMte。的η值变化，摆脱了腔体半径需大于束 流管道半径这一原则对谐振腔测量方法中可测量束团长度范围的限制。通过使谐振腔工作 于TM lta。模式，使得在工作频率很高的情况下，腔体半径仍大于束流管道半径，可以做以前无 法完成的短束团测量，同时提高了测量精度。 2.本专利技术的测量方法引入了膜片加载的波导滤波器，优化输出信号，提高了测量 精度。 3.本专利技术的测量方法使用的谐振腔属于高阻抗结构，可以提供大幅度高信噪比的 信号，方法属于非拦截式高精度联合测量。【附图说明当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种基于谐振腔的束团长度测量装置，其特征在于：包括工作于TM010的基波腔、工作于TM0n0的高次谐波腔和滤波器，基波腔和高次谐波腔依次安装于束流管道，基波腔信号由同轴探针引出于同轴线，高次谐波腔信号由小孔引出于波导，滤波器由该波导中的一小段加载膜片组成。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：罗箐，郭江，孙葆根，周泽然，
申请(专利权)人：中国科学技术大学，
类型：发明
国别省市：安徽;34
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