超声波衍射时差法扫查架制造技术

本发明专利技术提供了一种超声波衍射时差法扫查架，其包括：主架条和两探头架条，其中，主架条的两端分别设有第一扣合部；探头架条的一端设有第二扣合部，探头架条的另一端设有探头固定部；两探头架条的第二扣合部分别与主架条两端的第一扣合部紧扣配合。本发明专利技术提供的超声波衍射时差法扫查架，与现有技术使用的结构复杂、体积庞大并且沉重的扫查架相比，在满足了超声波衍射时差法检测的必要需求的前提下，使用了更少的零部件，从而具有结构简单、轻便、便于携带、使用方便等优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及超声波无损检测
，特别涉及一种超声波衍射时差法扫查架。
技术介绍
TOFD (Time Of Flight Diffract1n，超声波衍射时差法)，是一种依靠从待检试件内部结构(主要是指缺陷)的“端角”和“端点”处得到的衍射能量来检测缺陷的方法，用于缺陷的检测、定量和定位。T0FD技术采用一发一收两个宽带窄脉冲探头进行检测，探头相对于焊缝中心线对称布置。发射探头产生非聚焦纵波波束以一定角度入射到被检工件中，其中部分波束沿近表面传播被接收探头接收，部分波束经底面反射后被探头接收。接收探头通过接收缺陷尖端的衍射信号及其时差来确定缺陷的位置和自身高度。在操作过程中，关键点是通过所检测工件厚度计算出两个探头之间的距离，保证在检测过程中两个探头始终处于同一水平线上并保持距离不变。所以T0FD检测的主要装置是扫查架。传统的扫查架只考虑到了平板焊缝的检验，其结构复杂、体积庞大大并且沉重，在电厂现场检测管道时使用极其不方便。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种结构简单，轻便，且使用方便的超声波衍射时差法扫查架。为达到上述目的，本专利技术提供了一种超声波衍射时差法扫查架，其包括主架条，所述主架条的两端分别设有第一扣合部；两探头架条，每个所述探头架条的一端设有第二扣合部，其另一端设有探头固定部；两所述探头架条的第二扣合部分别与所述主架条两端的所述第一扣合部紧扣配合。如上所述的超声波衍射时差法扫查架，其中，在所述第一扣合部的中央设有第一螺纹通孔，在所述第二扣合部对应所述第一螺纹通孔处设置有第二螺纹通孔，一螺栓贯穿所述第一螺纹通孔和所述第二螺纹通孔并与所述第一螺纹通孔和所述第二螺纹通孔螺纹配合。如上所述的超声波衍射时差法扫查架，其中，两所述第一扣合部分别为设置在所述主架条两端的凹台，所述第二扣合部为设置在所述探头架条一端的凸柱，或者，两所述第一扣合部分别为设置在所述主架条两端的凸柱，所述第二扣合部为设置在所述探头架条一端的凹台。如上所述的超声波衍射时差法扫查架，其中，所述探头架条一端的两侧对称设有两个所述第二扣合部。如上所述的超声波衍射时差法扫查架，其中，两所述第一扣合部位于所述主架条的同一侧。如上所述的超声波衍射时差法扫查架，其中，所述凸柱为圆柱或者棱柱。如上所述的超声波衍射时差法扫查架，其中，所述凹台为在呈圆柱状或者棱柱状的凸台的上表面开设凹槽形成。如上所述的超声波衍射时差法扫查架，其中，所述超声波衍射时差法扫查架还包括:连接架条，沿所述连接架条的长度方向，在所述连接架条的中部开设有用于连接探头的安装孔。如上所述的超声波衍射时差法扫查架，其中，所述主架条包括:第一连接条、中间连接条和第二连接条，所述第一连接条的一端和所述第二连接条的一端分别能转动的连接在所述中间连接条的两端，所述第一连接条的另一端和所述第二连接条的另一端均设有所述第一扣合部。如上所述的超声波衍射时差法扫查架，其中，所述探头固定部为呈半工字形结构的插槽，所述插槽的开口朝向所述探头架条的外侧，在所述插槽结构相对的两个槽壁上对称设有两个第三螺纹孔。与现有技术相比，本专利技术的优点如下:本专利技术提供的超声波衍射时差法扫查架，在对较薄待测工件的进行检测时，仅需在主架条的两端分别一连接探头架条，然后在两探头架条的探头固定部分别连接一探头，即可满足使用需求，而在对检测较厚工件进行检测时，只需在原有结构上，利用连接架条将同一侧相邻的两个探头与安装孔相连接，构成安装有四个探头的超声波衍射时差法扫查架，即可满足使用需求，与现有技术使用的结构复杂、体积庞大并且沉重的扫查架相比，本专利技术提供的超声波衍射时差法扫查架在满足了检测的必要需求的前提下，使用了更少的零部件，从而使其具有结构简单、轻便、便于携带、使用方便等优点。【附图说明】以下附图仅旨在于对本专利技术做示意性说明和解释，并不限定本专利技术的范围。其中:图1是根据本专利技术一实施例提供的超声波衍射时差法扫查架的结构示意图；图2是图1所示的超声波衍射时差法扫查架中主架条的结构示意图；图3是图2所示的主架条的侧视图；图4是图1所示的超声波衍射时差法扫查架中探头架条的结构示意图；图5是图4所示的探头架条的侧视图；图6是图1所示的超声波衍射时差法扫查架中连接架条的结构示意图；图7是图6所示的连接架条的俯视图；图8根据本专利技术另一实施例提供的超声波衍射时差法扫查架的结构示意图。附图标号说明:1-主架条；11-第一扣合部；111-第一螺纹通孔；12-第一连接条；13_中间连接条；14_第二连接条；2_探头架条；21_第二扣合部；211_第二螺纹通孔；22_探头固定部，221-第三螺纹孔；3_连接架条；31_安装孔。【具体实施方式】为了对本专利技术的技术方案、目的和效果有更清楚的理解，现结合【附图说明】本专利技术的【具体实施方式】。如图1所示，本专利技术提供的超声波衍射时差法扫查架，其包括:主架条1和两探头架条2，其中，主架条1的两端分别设有第一扣合部11 ;每个探头架条2的一端设有第二扣合部21，探头架条2的另一端设有探头固定部22 ;在使用时，先将两探头架条2的第二扣合部21分别与主架条1两端的第一扣合部11紧扣配合，再将两探头分别连接在两探头固定部22上，然后推动主架条1带动探头架条2及固定在探头架条2上的探头同时移动即可，在使用完毕后，可先将探头从探头架条2上拆下，在将探头架条2从主架条1上拆卸下来即可，从而使得该超声波衍射时差法扫查架的携带变得简单方便；与现有技术使用的结构复杂、体积庞大并且沉重的扫查架相比，本实施例提供的超声波衍射时差法扫查架，在满足了超声波衍射时差法检测的必要需求的前提下，使用了更少的零部件，且主架条1与探头架条2的结构简单，轻便，便于携带、拆卸及安装，从而使得该超声波衍射时差法扫查架具有结构简单、轻便，便于携带、使用方便等优点。进一步，为了避免在使用时，因外力导致探头架条3与主架条1的相对位置发生变化，或者探头架条3松脱掉落的情况发生，如图2所示，在第一扣合部11的中央设有第一螺纹通孔111，如图4所示，在第二扣合部21正对第一螺纹通孔111处设置有第二螺纹通孔211，在第一扣合部11与第二扣合部21扣紧配合后，第一螺纹通孔111与第二螺纹通孔211形成一个贯通的螺纹孔，如图1所示，一螺栓贯穿第一螺纹通孔111和第二螺纹通孔211并与第一螺纹通孔111和第二螺纹通孔211螺纹配合，将主架条1与两连接架条3连接成一体结构，从而避免了连接架条3在随主架条1移动的过程中，连接架条3因晃动或者位移或者松脱掉落而导致检测信号中断的情况发生，使得主架条1与探头架条2之间连接的更加牢固可靠。在本专利技术的一个优选实施例中，第一扣合部11分别为设置在主架条1两端的凹台，第二扣合部21为设置在探头架条2 —端的凸柱；或者，第一扣合部11分别为设置在主架条1两端的凸柱，第二扣合部21为设置在探头架条2—端的凹台。探头架条2通过凸柱与凹台的过盈配合与主架条1连接为一体结构，此外，凸柱和凹台的结构简单，易加工，从而使得超声波衍射时差法扫查架的组装及拆卸变得简单方便。在本专利技术的一个具体实施例中，如图5所示，探头架条2 —端的两侧对称设有两个第二扣合部21，使得探头架条2的两侧均可与主架条1相连接，从而使得探头架条2的安装简单方便本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种超声波衍射时差法扫查架，其特征在于，所述超声波衍射时差法扫查架包括：主架条，所述主架条的两端分别设有第一扣合部；两探头架条，每个所述探头架条的一端设有第二扣合部，其另一端设有探头固定部；两所述探头架条的第二扣合部分别与所述主架条两端的所述第一扣合部紧扣配合。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：韩腾，杨文峰，陈君平，冯志文，刘建屏，季昌国，刘畅，司兴忠，
申请(专利权)人：华北电力科学研究院有限责任公司，国家电网公司，
类型：发明
国别省市：北京;11