本发明专利技术公开了一种存储器数据校正测试方法，属于计算机内存可靠性测试技术领域。所述存储器数据校正测试方法，使用ITP工具给内存注入单Bit ECC Error，模拟实际应用中内存出错情况，通过读取寄存器的值来考量存储器数据校正功能是否成功实现。本发明专利技术所述存储器数据校正测试方法，过程简单，操作方便，能有效的避免服务器出现硬错误或者软错误，具有很好的推广应用价值。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及计算机内存可靠性测试
，具体提供。
技术介绍
随着社会及经济的发展，个人及企业对计算机性能的要求越来越高，这就促使了IT领域技术的不断发展。传统信息化服务以及日趋强大的云计算服务，对服务器的安全可靠要求越来越高。作为服务器产品提供商，一款服务器无论是在研发阶段还是生产阶段都需要对产品进行安全性测试，从而严格保证该产品的安全性，其主要体现在RAS性能上。RAS性能指的是机器的可靠性(Reliability)、可用性(Availability)和可服务性(Serviceability)，系统必须尽可能的可靠，不会意外的崩溃，重启甚至导致系统物理损坏，这意味着一个具有可靠性的系统必须能够对于某些小的错误导致的硬件功能失效做出热备。RAS特性中重要的一点就是内存的RAS特性。内存是一种电子器件，在其工作过程中难免会出现错误，而对于稳定性要求高的用户来说，内存错误可能会引起致命性的问题。内存错误根据其原因还可分为硬错误和软错误。硬件错误是由于硬件的损害或缺陷造成的，因此数据总是不正确；软错误是随机出现的，例如在内存附近突然出现电子干扰等因素都可能造成内存软错误的发生。不管是内存硬错误还是内存软错误，都会给计算机带来很大的影响，不能保证计算机的可靠性。
技术实现思路
本专利技术的技术任务是针对上述存在的问题，提供一种过程简单，操作方便，能有效的避免服务器出现硬错误或者软错误的存储器数据校正测试方法。为实现上述目的，本专利技术提供了如下技术方案: ，使用ITP工具给内存注入单Bit ECC Error，模拟实际应用中内存出错情况，通过读取寄存器的值来考量存储器数据校正功能是否成功实现。开启存储器数据校正功能的情况下，给内存注入单Bit ECC Error来模拟实际应用中出现的内存ECCE ror，在ECC Error数目达到阈值时系统会启用其余的16bit Parity做备份，将错误颗粒的内容拷贝到备份颗粒，启用备份的颗粒做内存读写。具体体现为该功能仍然可以纠正一个bit的错误，而不会发生服务器宕机现象。该测试方法操作简单，实用性较强，有效确保了服务器的可靠性和安全性，避免服务器出现硬错误或者软错误等致命性的错误，大大提高了计算机的易用性。作为优选，所述方法适用于带有XDP接口，支持存储器记忆功能的X86服务器产品Ο作为优选，所述存储器数据校正功能是在DDDC功能打开之后，系统再产生ECCError时，贝系统会启用其余的16bit Parity做备份，将错误颗粒的内容拷贝到备份颗粒，启用备份的颗粒做内存读写。本专利技术具有以下突出的有益效果:使用ITP工具给内存注入单Bit ECC Error，模拟实际应用中内存出错情况，通过读取寄存器的值来考量存储器数据校正功能，避免服务器内存出现硬错误或者软错误等致命性的错误；并且该方法过程简单，操作方便，使服务器不会发生宕机现象，具有良好的实用性。【具体实施方式】下面结合实施例对本专利技术所述存储器数据校正测试方法作进一步详细说明。实施例本专利技术所述存储器数据校正测试方法，使用ITP工具给内存注入单Bit ECCError,模拟实际应用中内存出错情况，通过读取寄存器的值来考量存储器数据校正功能是否成功实现。开启存储器数据校正功能的情况下，给内存注入单Bit ECC Error来模拟实际应用中出现的内存ECCE ror，在ECC Error数目达到阈值时系统会启用其余的16bit Parity做备份，将错误颗粒的内容拷贝到备份颗粒，启用备份的颗粒做内存读写。该方法适用于带有XDP接口，支持存储器记忆功能功能的X86服务器产品。存储器数据校正功能是在DDDC功能打开之后，系统再产生ECC Error时，则系统会启用其余的16bit Parity做备份，将错误颗粒的内容拷贝到备份颗粒，启用备份的颗粒做内存读写。以上所述的实施例，只是本专利技术较优选的【具体实施方式】，本领域的技术人员在本专利技术技术方案范围内进行的通常变化和替换都应包含在本专利技术的保护范围内。【主权项】1.，其特征在于:使用ITP工具给内存注入单Bit ECCError,模拟实际应用中内存出错情况，通过读取寄存器的值来考量存储器数据校正功能是否成功实现。2.根据权利要求1所述的存储器数据校正测试方法，其特征在于:所述方法适用于带有XDP接口，支持存储器记忆功能的X86服务器产品。3.根据权利要求1或2所述的存储器数据校正测试方法，其特征在于:所述存储器数据校正功能是在DDDC功能打开之后，系统再产生ECC Error时，则系统会启用其余的16bitParity做备份，将错误颗粒的内容拷贝到备份颗粒，启用备份的颗粒做内存读写。【专利摘要】本专利技术公开了，属于计算机内存可靠性测试
所述存储器数据校正测试方法，使用ITP工具给内存注入单Bit？ECC？Error，模拟实际应用中内存出错情况，通过读取寄存器的值来考量存储器数据校正功能是否成功实现。本专利技术所述存储器数据校正测试方法，过程简单，操作方便，能有效的避免服务器出现硬错误或者软错误，具有很好的推广应用价值。【IPC分类】G06F11/07【公开号】CN105302658【申请号】CN201510903561【专利技术人】齐煜 【申请人】浪潮电子信息产业股份有限公司【公开日】2016年2月3日【申请日】2015年12月9日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种存储器数据校正测试方法，其特征在于：使用ITP工具给内存注入单Bit ECC Error，模拟实际应用中内存出错情况，通过读取寄存器的值来考量存储器数据校正功能是否成功实现。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：齐煜，
申请(专利权)人：浪潮电子信息产业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37
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