LED防爆灯腔室测试方法及其结构技术

一种LED防爆灯腔室测试方法及其结构，用在一LED防爆灯。所述LED防爆灯更包含有一壳体及一连接所述壳体的发光单元。所述壳体具有至少一腔室，至少一设置在所述壳体一侧的测试部及一连接所述测试部的密封组件。所述测试部具有一供所述密封组件螺接密封并连通所述腔室的测试通孔。所述测试通孔包含有一第一螺纹段及一连接所述第一螺纹段的第二螺纹段。所述密封组件包含有一密封环，一穿设所述密封环并螺接所述第一螺纹段的锁紧件及一盖合所述锁紧件并螺接所述第二螺纹段的覆盖件。据此，通过所述测试装置及所述密封组件可确保所述LED防爆灯的密封性或气密度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种LED防爆灯腔室测试方法及其结构，尤其涉及一种能测试防爆灯防护等级的LED防爆灯腔室测试方法及其结构。
技术介绍
首先，由于化工、石化、汽油、煤矿等产业的爆炸性环境常散布或存放具有易燃易爆、氧化、腐蚀特性的气体、粉尘或化学物品，这些爆炸性环境皆必须使用防爆灯，以避免一般不具防爆特性的灯具因老旧或故障等问题产生火花，进一步引发爆炸等事故。然，传统防爆灯在制造完成后，若直接将防爆灯装设在爆炸性环境内，在爆炸性环境内作业人员势必会遭受安全上的威胁。因此，防爆灯完成时必须测试防爆灯是否具有足够的防护等级，藉此作业人员得以安全的在爆炸性环境内作业。又，以往测试防爆灯的防护等级时，测试人员根据防爆灯的大小采用不同的测试手段，大多使用方便且简单的测试方式，将防爆灯直接置入水中，藉此判断防爆灯是否具有漏孔。但是，测试防爆灯的时间至少数十分钟，甚至是数小时才能确保防爆灯不具有漏孔。当防爆灯越多时，则耗费测试防爆灯防护等级的时间越多，相对地浪费时间。故，测试防爆灯防护等级的方法实在有加以改良的必要。
技术实现思路
本专利技术主要目的在于提出一种能测试防爆灯防护等级的LED防爆灯腔室测试方法及其结构。根据前述目的，本专利技术提出一种LED防爆灯腔室测试方法，包含有下列步骤:步骤A:提供一 LED防爆灯，其包含有一壳体，所述壳体具有至少一腔室及至少一设置在所述壳体一侧的测试部，且所述测试部具有一连通所述腔室的测试通孔；步骤B:连接一测试装置在所述测试通孔上；步骤C:提供一介质自所述测试装置流入所述测试通孔及所述腔室；以及步骤D:判断所述介质是否自所述LED防爆灯流出。进一步地，本专利技术所述的LED防爆灯腔室测试方法，其中，在步骤C中的介质设为气体，且所述气体以至少两倍的一标准气压进入所述测试通孔；其中，每一所述标准气压为101325 帕(Pascal, Pa)0进一步地，本专利技术所述的LED防爆灯腔室测试方法，其中，在步骤C中将连接有所述测试装置的所述LED防爆灯置入水中至少十秒。进一步地，本专利技术所述的LED防爆灯腔室测试方法，其中，在步骤C中的介质设为一液体，且所述液体以至少两倍的一标准流速进入所述测试通孔；其中每一所述标准流速为 20 米 / 秒(meter per second, m/s)。再者，本专利技术提出一种LED防爆灯腔室测试结构，包含有一 LED防爆灯，所述LED防爆灯包含有一壳体及一连接所述壳体的发光单元，所述壳体具有至少一腔室，至少一设置在所述壳体一侧的测试部及一连接所述测试部的密封组件。所述测试部具有一供所述密封组件螺接密封并连通所述腔室的测试通孔。进一步地，本专利技术所述的LED防爆灯腔室测试方法，其中，所述测试通孔包含有一连通所述腔室的第一螺纹段及一连通所述第一螺纹段并远离所述腔室且孔径大于所述第一螺纹段的第二螺纹段。进一步地，本专利技术所述的LED防爆灯腔室测试方法，其中，所述密封组件包含有一设置在所述第二螺纹段且邻近在所述第一螺纹段的密封环，一穿过所述密封环的锁紧件以及一覆盖件，所述锁紧件包含有一套盖在所述第二螺纹段上的顶凸垣及一远离所述顶凸垣且与所述第一螺纹段螺接的第一螺纹部，所述覆盖件包含有一盖合在所述第二螺纹段上的凸盖垣及一远离所述凸盖垣且与所述第二螺纹段螺接的第二螺纹部。本专利技术特点在于:1.本专利技术设在所述壳体的所述测试通孔，通过所述测试装置连接所述测试通孔并施予内压力，不仅可用以验证所述LED防爆灯的密封性，也可以缩短测试所述LED防爆灯防护等级的时间。2.本专利技术所述测试通孔以螺接所述密封组件的方式，令所述测试通孔有效性地与所述密封组件接合，使得所述密封组件不轻易自所述测试通孔上脱落。以下结合附图和具体实施例对本专利技术进行详细描述，但不作为对本专利技术的限定。【附图说明】图1:为本专利技术流程示意图；图2:为本专利技术第一实施例立体分解图；图3:为图2立体组合图；图4:为图3局部剖视图；图5:为本专利技术第一实施例与测试装置的立体配置图；图6:为图5介质流入动作示意图；图7:为本专利技术第二实施例立体组合图。其中，附图标记LED防爆灯.1 壳体.2测试部.20 腔室.21测试通孔.22 第一螺孔.221第二螺孔.222密封组件.23密封环.24 锁紧件.25顶凸垣.251 外螺杆.252覆盖件.26 凸盖垣.261外螺部.262 发光单元.3连接管件.4 测试装置.5介质.6【具体实施方式】以下配合所附的附图，详加说明本专利技术的结构如何组合、使用，应当更容易了解本专利技术的目的、
技术实现思路
、特点及其所达成的功效，在详细描述本专利技术之前，要注意的是，在以下的说明内容中，相同元件的不同态样的实施，是以相同的符号表示。又，为便于解释本专利技术的实施方式，以下说明中提到的方向性描述如「上」、「下」、「左」、「右」等，是指参阅本专利技术图示时各元件在对应图示中呈现的方向关系，而非限制本专利技术主张的权利要求范围。本专利技术LED防爆灯腔室测试结构，可用在包含有至少一腔室21的一 LED防爆灯1，如图2及图7所示。请参阅图2至图4所示，本专利技术LED防爆灯腔室测试结构的第一实施例，所述LED防爆灯1包含一壳体2及一连接所述壳体2的发光单兀3。所述壳体2具有至少一腔室21,至少一设置在所述壳体2 —侧的测试部20及一连接所述测试部20的密封组件23。所述测试部20具有一供所述密封组件23螺接密封并连通所述腔室21的测试通孔22。进一步地，在本实施例中，所述测试部20设为一个，但不依此实施态样为限。所述测试通孔22包含有一连通所述腔室21的第一螺纹段221及一连通所述第一螺纹段221并远离所述腔室21且孔径大于所述第一螺纹段221的第二螺纹段222。再述，当所述测试通孔22的内径过大时，则很难利用所述密封组件23完全密封，由于所述密封组件23密封所述测试通孔22时，其接合的间隙势必会大于利用所述密封组件23密封内径小的所述测试通孔22，因此，为达测试所述LED防爆灯1的密封性后可完全密封所述测试通孔22，所述测试通孔22的所述第二螺纹段222的内径不宜过大。在本实施例中，所述第二螺纹段222的内径可设为不超过两公分，但不依此实施态样为限。在本实施例中，所述密封组件23包含有一设置在所述第二螺纹段222且邻近在所述第一螺纹段221的密封环24，一穿过所述密封环24并螺接所述第一螺纹段221的锁紧件25，以及一盖合所述锁紧件25并螺接所述第二螺纹段222的覆盖件26。所述锁紧件25更包含有一套盖在所述第二螺纹段222的顶凸垣251及一远离所述顶凸垣251且与所述第一螺纹段221螺接的第一螺纹部252。所述覆盖件26更包含有一盖合在所述第二螺纹段222上的凸盖垣261及一远离所述凸盖垣261且与所述第二螺纹段222螺接的第二螺纹部262。而在其他可能的实施例中，所述覆盖件26可设为扣环或其他用以防止所述锁紧件当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种LED防爆灯腔室测试方法，其特征在于，包含有下列步骤：步骤A：提供一LED防爆灯，其包含有一壳体，所述壳体具有至少一腔室及至少一设置在所述壳体一侧的测试部，且所述测试部具有一连通所述腔室的测试通孔；步骤B：连接一测试装置在所述测试通孔上；步骤C：提供一介质自所述测试装置流入所述测试通孔及所述腔室；以及步骤D：判断所述介质是否自所述LED防爆灯流出。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：简明添，阮庆源，张瀚文，阮证隆，
申请(专利权)人：丽鸿科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71