掉Key测试头制造技术

本发明专利技术公开了一种掉Key测试头，包括垂直设置的固定架、安装于固定架的测试头组件，测试头组件自上而下包括依次相连的弹性柱、滑行柱、传感器挂板、称重传感器和测试头；滑行柱通过设于固定架的限位块获得支撑；弹性柱的顶端固定于固定架，弹性柱的底端固定于滑行柱的顶面；滑行柱通过侧面安装滑块与设于固定架的直线导轨相连，直线导轨为垂直设置；传感器挂板的一端悬挂式固定于滑行柱，称重传感器的一侧顶端悬挂式固定于传感器挂板的另一端；称重传感器的底端连接有测试头；称重传感器与传感器挂板之间保持有传感器过载保护槽，测试头的底端为自由端、作用于待测试键盘中的按键。自动化程度高，测试准确高效；简便耐损，更换成本低。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试机构，特别是涉及一种掉Key测试头，属于键盘自动化检测设备用零部件

技术介绍
作为主要的输入结构，按键被广泛地应用于计算机键盘、手机以及计算器等电子产品中；对于计算机键盘、手机以及计算器等电子产品而言，工作时必须敲打按键以使得按键触点导通断开，从而将字母、数字、标点符号等输入到相应的计算机、手机或者计算器中。因此，键盘的质量及其功能是否正常操作，将直接影响到电子设备操作的稳定性。同时，在键盘中直接的操作单元是按键，所以按键的品质测试对于键盘而言，是至关重要的环节。在键盘生产过程中，出产前必须对键盘成品进行质量检测，需要对每一个按键进行击打，以测试其回弹和触点的通断等测试项目。然而，目前业界对于键盘按键的测试，一般采用人工或机器来测试。人工测试方式是以雇用大量劳工逐一按压键盘中每一个按键，采用人工测试方式存在诸多缺点:需要操作人员与测试软体交互配合，在测试软体发出命令之后，等待操作人员按压按键；测试时间较长且效率低；操作人员按压按键时可能出错，需要多次反复测试；以及操作人员容易操作疲劳而出现怠工现象等。现有技术中采用机器测试键盘的方式已经得到越来越广泛的应用，但是现有键盘自动化测试设备仍存在机械结构复杂、不易维修、通用性差、定位精度低等缺陷。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于，克服现有技术中的不足，提供一种新型结构的掉Key测试头，特别适用于计算机键盘测试，其中Key是指键盘的按键。本专利技术所要解决的技术问题是提供结构紧凑、拆装方便、制作容易、安全可靠、实用性强的掉Key测试头，用于在减少人工参与的前提下，实现键盘的自动测试掉Key性能，不仅自动化程度高，测试准确高效；而且可克服传统的元器件测试结构复杂不便于维护的缺点，简便耐损，大幅节省测试设备的更换成本；且具有产业上的利用价值。为了达到上述目的，本专利技术所采用的技术方案是: 一种掉Key测试头，包括垂直设置的固定架、安装于固定架的测试头组件，所述测试头组件自上而下包括依次相连的弹性柱、滑行柱、传感器挂板、称重传感器和测试头；所述滑行柱通过设于固定架的限位块获得支撑。其中，所述弹性柱的顶端固定于固定架，弹性柱的底端固定于滑行柱的顶面；所述滑行柱通过侧面安装滑块与设于固定架的直线导轨相连，所述直线导轨为垂直设置；所述传感器挂板的一端悬挂式固定于滑行柱，所述称重传感器的一侧顶端悬挂式固定于传感器挂板的另一端；称重传感器的底端连接有测试头；所述称重传感器与传感器挂板之间保持有传感器过载保护槽，所述测试头的底端为自由端、作用于待测试键盘中的按键。本专利技术进一步设置为:所述固定架包括底板，垂直设置于底板的固定环；所述弹性柱固定于固定环。本专利技术进一步设置为:所述弹性柱包括依次套装的外筒和内筒，以及内设于外筒的弹簧；所述外筒的顶端固定于固定环，所述内筒的顶端套入外筒的底端并与弹簧相连、内筒的底端与滑行柱的顶面相固定。本专利技术进一步设置为:所述内筒的底端贯穿入滑行柱的顶面并固定。本专利技术进一步设置为:所述滑行柱和限位块通过调整螺丝相连，所述调整螺丝分布于限位块的底面、贯穿限位块后延伸入滑行柱的底面并固定。本专利技术进一步设置为:所述滑行柱为L型，包括处于垂直分布的立柱和处于水平分布的横柱；所述滑块和横柱分别分布在立柱的两侧，所述传感器挂板悬挂式固定于横柱；所述称重传感器分布在传感器挂板和横柱所围成的空间里。其中，所述立柱的顶端与弹性柱的底端相连，立柱的一侧端与滑块相连，立柱的另一侧端与横柱的一侧端相连，横柱的另一侧端与称重传感器保持空隙；所述传感器挂板的一端与横柱相连，传感器挂板的另一端与称重传感器的一侧顶端相连；所述测试头分布在称重传感器的另一侧底端，所述传感器过载保护槽位于传感器挂板的底面和称重传感器的顶面之间。本专利技术进一步设置为:所述滑块为两块。本专利技术进一步设置为:所述传感器挂板设置有减轻孔。与现有技术相比，本专利技术具有的有益效果是: 通过固定架和测试头组件的设置，其中测试头组件自上而下包括依次相连的弹性柱、滑行柱、传感器挂板、称重传感器和测试头，采用称重传感器按压按键的方式来实现按键是否会掉落的安全性能测试，测试头组件安全性能高，使用寿命长，可大幅节省成本，并且测试准确高效；更重要的是，通过传感器过载保护槽的设置，提高称重传感器的防损能力，可克服传统的元器件测试结构复杂不便于维护的缺点，简便耐损，从而大幅节省测试设备的更换成本。上述内容仅是本专利技术技术方案的概述，为了更清楚的了解本专利技术的技术手段，下面结合附图对本专利技术作进一步的描述。【附图说明】图1为本专利技术掉Key测试头的立体结构示意图； 图2为本专利技术掉Key测试头的正视结构示意图； 图3为本专利技术掉Key测试头的侧视结构示意图。【具体实施方式】 下面结合说明书附图，对本专利技术作进一步的说明。如图1、图2及图3所示，一种掉Key测试头，包括垂直设置的固定架1、安装于固定架1的测试头组件，所述测试头组件自上而下包括依次相连的弹性柱2、滑行柱3、传感器挂板4、称重传感器5和测试头6 ;所述滑行柱3通过设于固定架1的限位块11获得支撑；所述弹性柱2的顶端固定于固定架1，弹性柱2的底端固定于滑行柱3的顶面；所述滑行柱当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种掉Key测试头，其特征在于：包括垂直设置的固定架、安装于固定架的测试头组件，所述测试头组件自上而下包括依次相连的弹性柱、滑行柱、传感器挂板、称重传感器和测试头；所述滑行柱通过设于固定架的限位块获得支撑；所述弹性柱的顶端固定于固定架，弹性柱的底端固定于滑行柱的顶面；所述滑行柱通过侧面安装滑块与设于固定架的直线导轨相连，所述直线导轨为垂直设置；所述传感器挂板的一端悬挂式固定于滑行柱，所述称重传感器的一侧顶端悬挂式固定于传感器挂板的另一端；称重传感器的底端连接有测试头；所述称重传感器与传感器挂板之间保持有传感器过载保护槽，所述测试头的底端为自由端、作用于待测试键盘中的按键。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘利刚，
申请(专利权)人：昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32