用于优化眼镜架的测量轮廓的方法技术

一种由计算机装置实施的用于优化眼镜架的开口的测量轮廓的方法，该方法包括：-轮廓数据提供步骤，-工作轮廓定义步骤，在该步骤过程中，定义眼镜架的工作轮廓，-第一轮廓代价函数提供步骤，在该步骤过程中，提供第一轮廓代价函数，该第一轮廓代价函数是该轮廓的曲线的m阶导数的函数，-轮廓代价函数集提供步骤，在该步骤过程中，提供轮廓代价函数集，-全局轮廓代价函数求值步骤，在该步骤过程中，对全局轮廓代价函数进行求值，-轮廓修改步骤，在该步骤过程中，修改该工作轮廓，其中，重复该全局轮廓代价函数求值步骤和该轮廓修改步骤以便使该全局轮廓代价函数最小化。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于优化眼镜架的测量轮廓的方法
本专利技术涉及一种由计算机装置实施的用于优化眼镜架的测量轮廓的方法。
技术介绍
对本专利技术的背景的讨论包括于此以解释本专利技术的上下文。这将不被认为是承认所引用的任何材料被公开、已知或者是权利要求书中的任一项权利要求的优先权日下的公共常识的一部分。通常，需要佩戴眼镜并因此具有眼科医师开出的处方的人会去眼镜师的处所选择未来眼镜的镜架。眼镜的未来佩戴者可以试戴若干眼镜架并最终选择试戴的眼镜架之一。眼镜师订购与处方相对应的一副镜片。发送给眼镜师的镜片是根据光学标准设计和制造的。取决于镜片制造商提供的服务，眼镜师可能不得不切割这些镜片以便适应人们已选择的眼镜架，或者在“远程磨边(remoteedging)”服务的情况下，眼镜师接收已经切割好的镜片并只须将其装配到眼镜架中。所选择的眼镜架的开口(例如，眼镜片预期安装在的眼镜架的开口)的内圆周可以由测量装置(例如，机械传感器)非常精确地测量。更具体地，镜架的开口包括一个内凹槽并且该凹槽的特点(与开口的倾斜角、凹槽的深度等)可以在测量室中由机械传感器测量。机械传感器对所选择的眼镜架进行的测量使得能够订购一方面适合于所选择眼镜架、另一方面适合于佩戴者处方的眼镜片。根据在测量室中由机械传感器执行的测量，眼镜片的眼镜师或提供商能够：根据光学判据(例如，佩戴者处方)为佩戴者提供最佳的镜片前表面；对镜片磨边和斜切以符合对所选择的眼镜架进行的测量。在本专利技术的意义上，对镜片进行切割的步骤称为“磨边”，而在镜片的外边缘上形成斜面的步骤称为“斜切”。镜片提供商必须确保所提供的镜片适配于佩戴者处方并且适配于所选择的眼镜架。例如，镜片提供商必须确保未来的镜片能够实际上适合可能具有特别开口和凹槽的已选镜架。因此，将要理解的是，对已选镜架的内圆周开口进行测量和半成品镜片的选择对供应商而言是十分重要的。机械传感器提供成测量点列表形式的数据。使复杂表面与测量点列表相匹配可能导致复杂或不准确。因此，需要一种将眼镜架的轮廓的测量点转换成3D平滑轮廓的方法，该平滑轮廓可以作为光学镜片的前光学表面通过一个复杂表面来安装。
技术实现思路
本专利技术的目标是提供这样一种方法。根据本专利技术的第一方面，提供了一种由计算机装置实施的用于优化眼镜架的开口的测量轮廓的方法，该方法包括：-轮廓数据提供步骤，在该步骤过程中，提供表示该眼镜架的轮廓的测量点的轮廓数据，-工作轮廓定义步骤，在该步骤过程中，定义该眼镜架的工作轮廓，-第一轮廓代价函数提供步骤，在该步骤过程中，提供第一轮廓代价函数，该第一轮廓代价函数是该工作轮廓的至少一部分的曲线的m阶导数的函数，m是大于或等于2的整数，-轮廓代价函数集提供步骤，在该步骤过程中，提供一个轮廓代价函数集，该轮廓代价函数集中的每个轮廓代价函数是至少该工作轮廓与该轮廓的这些测量点之间的偏差的函数，并且该轮廓代价函数集包括至少一个轮廓代价函数，-全局轮廓代价函数求值步骤，在该步骤过程中，对一个全局轮廓代价函数进行求值，该全局轮廓代价函数是该第一轮廓代价函数的加权和和该轮廓代价函数集中的每个轮廓代价函数的加权和，-轮廓修改步骤，在该步骤过程中，修改该工作轮廓，其中，重复该全局轮廓代价函数求值步骤和该轮廓修改步骤以便使该全局轮廓代价函数最小化。有利地，根据本专利技术的方法提供了眼镜架的轮廓的平滑且精确的定义。根据可以单独或组合考虑的进一步的实施例：-m小于或等于4；和/或-该第一轮廓代价函数是整个工作轮廓的曲线的m阶导数的函数；和/或-在该全局轮廓代价函数中，该第一轮廓代价函数的权重表示在总权重的0.1％与10％之间；和/或-该方法进一步包括一个最大偏差步骤，在该步骤过程中，定义轮廓的测量点与经优化的轮廓之间的最大偏差，并且在该全局轮廓代价函数求值步骤过程中，调整该第一代价函数的权重以便使这些测量点与该轮廓之间的偏差小于或等于该最大偏差。该方法进一步涉及一种由计算机装置实施的用于优化眼镜片的至少一个光学表面的方法，该眼镜片被适配成适合一个眼镜架，该方法包括：-初始光学表面提供步骤，在该步骤过程中，提供一个初始光学表面，-工作光学表面定义步骤，在该步骤过程中，将一个工作光学表面定义为等于该初始光学表面的至少一部分，-轮廓数据确定步骤，在该步骤过程中，根据本专利技术的方法来确定表示眼镜架的开口的轮廓的轮廓数据，-第一表面代价函数提供步骤，在该步骤过程中，提供第一表面代价函数，该第一表面代价函数是该工作表面的表面的n阶导数的函数，n是大于或等于2的整数，-表面代价函数集提供步骤，在该步骤过程中，提供一个表面代价函数集，该表面代价函数集中的每个表面代价函数是该工作光学表面的求值区上的至少一个判据的函数，并且该表面代价函数集包括至少一个代价函数，-全局表面代价函数求值步骤，在该步骤过程中，对一个全局表面代价函数进行求值，该全局表面代价函数是该第一表面代价函数和该表面代价函数集中的每个表面代价函数的加权和，-修改步骤，在该步骤过程中，修改该工作表面，其中，重复该求值步骤和修改步骤以使该全局表面代价函数最小化，并且该表面代价函数集中的这些表面代价函数中的至少一个表面代价函数是眼镜架的轮廓与眼镜片的表面之间的偏差的函数。根据可以单独或组合考虑的进一步的实施例：-该表面代价函数集中的每个表面代价函数的至少一个判据是该求值区的至少一部分上的一个表面判据；和/或-该表面代价函数集中的每个表面代价函数的至少一个判据选自在由以下各项组成的列表：该求值区中的至少一个点的最小、最大或平均球面、该求值区上的平均球面、该求值区中的至少一个点的柱面、该求值区上的平均柱面、该求值区中的至少一个点的高度、该求值区上的平均高度、该求值区中的至少一个点的最小、最大或平均球面的梯度、该求值区中的至少一个点的球面的二阶导数、该求值区中的至少一个点的高斯曲率、该求值中的至少一个点的高斯曲率的梯度、该求值区中的至少一个点的最小曲率、该求值区中的至少一个点的法曲率；和/或-该表面代价函数集中的每个表面代价函数的求值区选自由以下各项组成的列表：近视觉区、远视觉区、近视觉区与远视觉区域之间的中间通路、周边镜圈、鼻区、以及颞区；和/或-该表面代价函数集中的这些表面代价函数之一的判据中的至少一个判据与佩戴者的处方相关；和/或-n小于或等于4；和/或-在该全局表面代价函数中，该第一表面代价函数的权重表示在总权重的0.1％与10％之间。根据一个进一步的方面，本专利技术涉及一种包括一个或多个存储指令序列的计算机程序产品，该一个或多个存储指令序列可由处理器访问并且当由该处理器执行时致使该处理器实行根据本专利技术的方法的步骤。本专利技术还涉及一种计算机可读介质，该计算机可读介质承载了根据本专利技术的计算机程序产品的一个或多个指令序列。此外，本专利技术涉及一种使计算机执行本专利技术的方法的程序。本专利技术进一步涉及一种其上记录有程序的计算机可读存储介质；其中，该程序使计算机执行本专利技术的方法。本专利技术进一步涉及一种包括处理器的装置，该处理器被适配用于存储一个或多个指令序列并且实施根据本专利技术的方法的多个步骤中的至少一个步骤。如从以下讨论中明显的是，除非另有具体规定，否则应认识到，贯穿本说明书，使用了如“计算”、“运算”等术语的讨论是指计算机或计算系统或类似的电子计算装置的动作和/或本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种由计算机装置实施的用于优化眼镜架的开口的测量轮廓的方法，该方法包括：‑轮廓数据提供步骤(S1)，在该步骤过程中，提供表示该眼镜架的轮廓的测量点的轮廓数据，‑工作轮廓定义步骤(S2)，在该步骤过程中，定义该眼镜架的工作轮廓，‑第一轮廓函代价数提供步骤(S3)，在该步骤过程中，提供第一轮廓代价函数，该第一轮廓代价函数是该工作轮廓的至少一部分的曲线的m阶导数的函数，m是大于或等于2的整数，‑轮廓代价函数集提供步骤(S4)，在该步骤过程中，提供轮廓代价函数集，该轮廓代价函数集中的每个轮廓代价函数是至少该工作轮廓与该轮廓的这些测量点之间的偏差的函数，并且该轮廓代价函数集包括至少一个轮廓代价函数，‑全局轮廓代价函数求值步骤(S5)，在该步骤过程中，对全局轮廓代价函数进行求值，该全局轮廓代价函数是该第一轮廓代价函数和该轮廓代价函数集中的每个轮廓代价函数的加权和，‑轮廓修改步骤(S6)，在该步骤过程中，修改该工作轮廓，其中，重复该全局轮廓代价函数求值步骤和该轮廓修改步骤以便使该全局轮廓代价函数最小化。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.06.13 EP 13305797.61.一种由计算机装置实施的用于优化眼镜架的开口的测量轮廓的方法，该方法包括：-轮廓数据提供步骤(S1)，在该步骤过程中，提供表示该眼镜架的轮廓的测量点的轮廓数据，-工作轮廓定义步骤(S2)，在该步骤过程中，定义该眼镜架的工作轮廓，该工作轮廓是通过考虑轮廓的点而获得的，-第一轮廓代价函数提供步骤(S3)，在该步骤过程中，提供第一轮廓代价函数，该第一轮廓代价函数是该工作轮廓的至少一部分的曲线的m阶导数的函数，m是大于或等于2的整数，-轮廓代价函数集提供步骤(S4)，在该步骤过程中，提供轮廓代价函数集，该轮廓代价函数集中的每个轮廓代价函数是该工作轮廓与该轮廓的这些测量点之间的偏差的函数，并且该轮廓代价函数集包括至少一个轮廓代价函数，-全局轮廓代价函数求值步骤(S5)，在该步骤过程中，对全局轮廓代价函数进行求值，该全局轮廓代价函数是该第一轮廓代价函数和该轮廓代价函数集中的每个轮廓代价函数的加权和，-轮廓修改步骤(S6)，在该步骤过程中，修改该工作轮廓，其中，重复该全局轮廓代价函数求值步骤和该轮廓修改步骤以便使该全局轮廓代价函数最小化。2.根据权利要求1所述的方法，其中，m小于或等于4。3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，该第一轮廓代价函数是整个该工作轮廓的曲线的m阶导数的函数。4.根据权利要求1或2所述的方法，其中，在该全局轮廓代价函数中，该第一轮廓代价函数的权重表示在总权重的0.1％与5％之间。5.根据权利要求1或2所述的方法，其中，该方法进一步包括最大偏差步骤，在该步骤过程中，定义该轮廓的这些测量点与经优化的轮廓之间的最大偏差，并且在该全局轮廓代价函数求值步骤过程中，调整该第一代价函数的权重以便使这些测量点与该轮廓之间的偏差小于或等于该最大偏差。6.一种由计算机装置实施的用于优化眼镜片的至少一个光学表面的方法，该眼镜片被适配成适合于眼镜架，该方法包括：-初始光学表面提供步骤(S21)，在该步骤过程中，提供初始光学表面，-工作光学表面定义步骤(S22)，在该步骤过程中，将工作光学表面定义为等于该初始光学表面的至少一部分，-轮廓数据确定步骤(S23)，在该步骤过程中，根据权利要求1至5中任一项所述的方法来确定表示该眼镜架的开口的轮廓的轮廓数据，-第一表面代价函数提供步骤(S24)，在该步骤...

【专利技术属性】
技术研发人员：F·穆拉道尔，
申请(专利权)人：埃西勒国际通用光学公司，
类型：发明
国别省市：法国;FR