电测测试头制造技术

本发明专利技术公开了一种电测测试头，包括垂直设置的固定架、安装于固定架的测试头组件，所述测试头组件自上而下包括搭接式相连的电磁铁和砝码；所述电磁铁固定于固定架，电磁铁的顶端为自由端、用于与测试导线相连，电磁铁的底端套穿入砝码的顶端并锁紧有垫片；所述砝码的顶端套接于电磁铁底端、并悬挂搭接于垫片，砝码的底端为自由端、作用于待测试键盘中的按键；所述砝码在作用于按键而向上受力后可沿电磁铁的底端上移。结构紧凑、拆装方便、制作容易、安全可靠、实用性强，不仅自动化程度高，测试准确高效；而且可克服传统的元器件测试结构复杂不便于维护的缺点，简便耐损，大幅节省测试设备的更换成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试机构，特别是涉及一种电测测试头，属于键盘自动化检测设备用零部件

技术介绍
作为主要的输入结构，按键被广泛地应用于计算机键盘、手机以及计算器等电子产品中；对于计算机键盘、手机以及计算器等电子产品而言，工作时必须敲打按键以使得按键触点导通断开，从而将字母、数字、标点符号等输入到相应的计算机、手机或者计算器中。因此，键盘的质量及其功能是否正常操作，将直接影响到电子设备操作的稳定性。同时，在键盘中直接的操作单元是按键，所以按键的品质测试对于键盘而言，是至关重要的环节。在键盘生产过程中，出产前必须对键盘成品进行质量检测，需要对每一个按键进行击打，以测试其回弹和触点的通断等测试项目。然而，目前业界对于键盘按键的测试，一般采用人工或机器来测试。人工测试方式是以雇用大量劳工逐一按压键盘中每一个按键，采用人工测试方式存在诸多缺点:需要操作人员与测试软体交互配合，在测试软体发出命令之后，等待操作人员按压按键；测试时间较长且效率低；操作人员按压按键时可能出错，需要多次反复测试；以及操作人员容易操作疲劳而出现怠工现象等。现有技术中采用机器测试键盘的方式已经得到越来越广泛的应用，但是现有键盘自动化测试设备仍存在机械结构复杂、不易维修、通用性差、定位精度低等缺陷。电性能是电子元器件的质量核心，随着自动化设备的大力推广，高速、准确和简便的元器件电性能测试方式尤显重要。目前，对键盘按键进行电性能或过灵敏等测试所使用的测试头结构较为复杂，在生产线实际的使用过程中由于测试头易磨损，而导致测试头必须定期更换，使得维修和维护频次非常高。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于，克服现有技术中的不足，提供一种新型结构的电测测试头，特别适用于计算机键盘的电性能测试机使用。本专利技术所要解决的技术问题是提供结构紧凑、拆装方便、制作容易、安全可靠、实用性强的电测测试头，用于在减少人工参与的前提下，实现键盘的自动测试电性功能和/或过灵敏性能，不仅自动化程度高，测试准确高效；而且可克服传统的元器件测试结构复杂不便于维护的缺点，简便耐损，大幅节省测试设备的更换成本；且具有产业上的利用价值。为了达到上述目的，本专利技术所采用的技术方案是: 一种电测测试头，包括垂直设置的固定架、安装于固定架的测试头组件，所述测试头组件自上而下包括搭接式相连的电磁铁和砝码。其中，所述电磁铁固定于固定架，电磁铁的顶端为自由端、用于与测试导线相连，电磁铁的底端套穿入砝码的顶端并锁紧有垫片；所述砝码的顶端套接于电磁铁底端、并悬挂搭接于垫片，砝码的底端为自由端、作用于待测试键盘中的按键；所述砝码在作用于按键而向上受力后可沿电磁铁的底端上移。本专利技术进一步设置为:所述固定架包括底板，垂直设置于底板的固定环和限位环；所述电磁铁固定于固定环，所述砝码套装入限位环。本专利技术进一步设置为:所述底板的顶端设置有悬挂连接用的固定孔。本专利技术进一步设置为:所述底板设置有减轻孔。本专利技术进一步设置为:所述固定环为一个，所述限位环为两个、自上而下依次为第一限位环和第二限位环；所述电磁铁的底端和砝码的顶端分布于固定环和第一限位环之间，所述砝码的底端延伸出第二限位环。本专利技术进一步设置为:所述电磁铁的顶端套装有弹簧。本专利技术进一步设置为:所述电磁铁通过螺母锁紧于固定环，所述螺母锁紧于固定环的顶面。与现有技术相比，本专利技术具有的有益效果是: 通过固定架和测试头组件的设置，其中测试头组件自上而下包括搭接式相连的电磁铁和砝码，采用砝码自由落体敲击按键的方式可实现过灵敏性能的测试，采用电磁导通击打按键的方式可实现电性功能的测试，测试头组件集成度高、自动化程度高，模组共用，大幅节省成本，并且测试准确高效；可克服传统的元器件测试结构复杂不便于维护的缺点，简便耐损，从而大幅节省测试设备的更换成本。上述内容仅是本专利技术技术方案的概述，为了更清楚的了解本专利技术的技术手段，下面结合附图对本专利技术作进一步的描述。【附图说明】图1为本专利技术电测测试头的立体结构示意图； 图2为本专利技术电测测试头的正视结构示意图； 图3为本专利技术电测测试头的侧视结构示意图。【具体实施方式】下面结合说明书附图，对本专利技术作进一步的说明。如图1、图2及图3所示，一种电测测试头，包括垂直设置的固定架1、安装于固定架1的测试头组件，所述测试头组件自上而下包括搭接式相连的电磁铁2和砝码3 ;所述电磁铁2固定于固定架1，电磁铁2的顶端为自由端、用于与测试导线相连，电磁铁2的底端套穿入砝码3的顶端并锁紧有垫片4 ;所述砝码3的顶端套接于电磁铁2底端、并悬挂搭接于垫片4，砝码3的底端为自由端、作用于待测试键盘中的按键；所述砝码3在作用于按键而向上受力后可沿电磁铁2的底端上移。所述固定架1包括底板11，垂直设置于底板11的固定环12和限位环13 ;所述电磁铁2固定于固定环12，所述砝码3套装入限位环13 ;所述电磁铁2的顶端套装有弹簧21，所述电磁铁2通过螺母22锁紧于固定环12，所述螺母22锁紧于固定环12的顶面。所述固定环12为一个，所述限位环13为两个、自上而下依次为第一限位环131和第二限位环132 ;所述电磁铁2的底端和砝码3的顶端分布于固定环12和第一限位环131之间，所述砝码3的底端延伸出第二限位环132。如图1所示，所述底板11的顶端设置有悬挂连接用的固定孔111，所述底板11设置有减轻孔112。本专利技术的创新点在于，自动化程度高，测试准确高效，结构紧凑、简便耐损、更换成本低。以上所述，仅是本专利技术的较佳实施例而已，并非对本专利技术作任何形式上的限制，虽然本专利技术已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本专利技术，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本专利技术技术方案范围内，当可利用上述揭示的
技术实现思路
做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本专利技术技术方案的内容，依据本专利技术的技术实质对以上实施例所作的任何的简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本专利技术技术方案的范围内。【主权项】1.一种电测测试头，其特征在于:包括垂直设置的固定架、安装于固定架的测试头组件，所述测试头组件自上而下包括搭接式相连的电磁铁和砝码； 所述电磁铁固定于固定架，电磁铁的顶端为自由端、用于与测试导线相连，电磁铁的底端套穿入砝码的顶端并锁紧有垫片； 所述砝码的顶端套接于电磁铁底端、并悬挂搭接于垫片，砝码的底端为自由端、作用于待测试键盘中的按键；所述砝码在作用于按键而向上受力后可沿电磁铁的底端上移。2.根据权利要求1所述的电测测试头，其特征在于:所述固定架包括底板，垂直设置于底板的固定环和限位环；所述电磁铁固定于固定环，所述砝码套装入限位环。3.根据权利要求2所述的电测测试头，其特征在于:所述底板的顶端设置有悬挂连接用的固定孔。4.根据权利要求2所述的电测测试头，其特征在于:所述底板设置有减轻孔。5.根据权利要求2所述的电测测试头，其特征在于:所述固定环为一个，所述限位环为两个、自上而下依次为第一限位环和第二限位环；所述电磁铁的底端和砝码的顶端分布于固定环和第一限位环之间，所述砝码的底端延伸出第二限位环。6.根据权利要求1所述的电测测试头，其特征在于:所述电磁铁的顶端套装有弹簧。7.根据权利要求1所述的电测测试头，其特征在于:所述电磁铁通过螺母锁紧于固定环，所述螺母锁紧于固定本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电测测试头，其特征在于：包括垂直设置的固定架、安装于固定架的测试头组件，所述测试头组件自上而下包括搭接式相连的电磁铁和砝码；所述电磁铁固定于固定架，电磁铁的顶端为自由端、用于与测试导线相连，电磁铁的底端套穿入砝码的顶端并锁紧有垫片；所述砝码的顶端套接于电磁铁底端、并悬挂搭接于垫片，砝码的底端为自由端、作用于待测试键盘中的按键；所述砝码在作用于按键而向上受力后可沿电磁铁的底端上移。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘利刚，
申请(专利权)人：昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32