提供一种不易受到振动等外来干扰的影响、不需要进行参照光和试样光的光路差调整的动态光散射测定装置等。动态光散射测定装置(1)包含：照射部：其将来自低相干光源(10)的光照射到包含颗粒(42)的试样(40)；光谱强度取得部，其使来自参照面的反射光和透射过参照面的来自试样(40)的散射光分光，取得反射光和散射光的干涉光的光谱强度，所述参照面配置于照射到试样(40)的光的光路上；以及测定部，其基于取得的光谱强度测定试样(40)的动态光散射。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及动态光散射测定装置和动态光散射测定方法。
技术介绍
在专利文献1中公开了如下测定装置，在使用低相干光源和迈克耳逊型干涉仪的动态光散射测定装置中，取得参照光和散射光的干涉光的光谱强度，基于取得的光谱强度进行动态光散射测定，由此不需要参照镜(参照面)的扫描。现有技术文献专利文献专利文献1：国际公开第2013/077137号
技术实现思路
专利技术要解决的问题但是，在现有的动态光散射测定装置中，使参照光和试样光(来自试样的散射光)分别在独立的光路中传播(参照光和试样光在不同的2个光路中传播)，因此容易受到振动等外来干扰的影响，另外，存在需要进行参照光和试样光的光路差调整的问题。本专利技术是鉴于如上问题完成的，其目的在于提供不易受到振动等外来干扰的影响、不需要进行参照光和试样光的光路差调整的动态光散射测定装置和动态光散射测定方法。用于解决问题的方案(1)本专利技术涉及动态光散射测定装置，包含：照射部，其将来自低相干光源的光照射到包含颗粒的试样；光谱强度取得部，其使来自参照面的反射光和透射过所述参照面的来自所述试样的散射光分光，取得所述反射光和所述散射光的干涉光的光谱强度，所述参照面配置于照射到所述试样的光的光路上；以及测定部，其基于取得的所述光谱强度来测定所述试样的动态光散射。另外，本专利技术涉及动态光散射测定方法，包含：照射步骤，将来自低相干光源的光照射到包含颗粒的试样；光谱强度取得步骤，使来自参照面的反射光和透射过所述参照面的来自所述试样的散射光分光，取得所述反射光和所述散射光的干涉光的光谱强度，所述参照面配置于照射到所述试样的光的光路上；以及测定步骤，基于取得的所述光谱强度来测定所述试样的动态光散射。根据本专利技术，通过构成为：在照射到试样的光(来自低相干光源的光)的光路上配置参照面，使来自该参照面的反射光和透射过该参照面的来自试样的散射光分光，取得反射光和散射光的干涉光的光谱强度，从而使参照光(来自参照面的反射光)和试样光(来自试样的散射光)在相同光路中传播，因此不易受到振动等外来干扰的影响，并且可以不需要进行参照光和试样光的光路差调整。(2)另外，在本专利技术的动态光散射测定装置和动态光散射测定方法中也可以为，所述照射部(在所述照射步骤中)将来自所述低相干光源的光经由收纳所述试样的透明容器的壁面照射到所述试样，将所述参照面设为所述透明容器的壁面。在此，所谓透明容器的壁面也可以是透明容器的外壁面，而且也可以是透明容器的内壁面。根据本专利技术，通过将来自低相干光源的光经由收纳试样的透明容器的壁面照射到试样，在测定固液界面附近的试样的动态特性时，将透明容器的壁面设为参照面，从而使参照光(来自参照面的反射光)和试样光(来自试样的散射光)在相同光路上传播，因此不易受到振动等外来干扰的影响，并且可以不需要进行参照光和试样光的光路差调整。(3)另外，在本专利技术的动态光散射测定装置和动态光散射测定方法中也可以为，所述照射部(在所述照射步骤中)将来自所述低相干光源的光经由所述试样的气液界面照射到所述试样，将所述参照面设为空气和所述试样的气液界面。根据本专利技术，通过将来自低相干光源的光经由试样的气液界面(试样的液面)照射到试样，在测定气液界面附近的试样的动态特性时，将试样的气液界面设为参照面，从而使参照光(来自参照面的反射光)和试样光(来自试样的散射光)在相同光路中传播，因此不易受到振动等外来干扰的影响，并且可以不需要进行参照光和试样光的光路差调整。(4)另外，在本专利技术的动态光散射测定装置和动态光散射测定方法中，也可以将所述参照面设于来自所述低相干光源的光传播的光传播部件的射出侧的端部。根据本专利技术，通过在来自低相干光源的光传播的光传播部件的射出侧的端部设置参照面，使参照光(来自参照面的反射光)和试样光(来自试样的散射光)在相同光路中传播，因此不易受到振动等外来干扰的影响，并且可以不需要进行参照光和试样光的光路差调整。附图说明图1是表示第1实施方式的动态光散射测定装置的构成的一例的图。图2是表示图1中的参照光和试样光的示意图。图3是表示动态光散射测定的流程的流程图。图4(A)是表示光谱强度的时间变动的图像的一例的图，图4(B)是将图4(A)所示的图像的中心部放大的图像。图5(A)是表示与图4(A)所示的图像的横轴方向的1行相当的光谱强度的图，图5(B)是表示与图4(B)所示的图像的横轴方向的1行相当的中心波长附近的光谱强度的图。图6是表示对某时间点的光谱强度进行傅里叶逆变换得到的每个散射点的位置的强度的图。图7是表示某散射点的位置上的强度的时间变动的图。图8是表示对某散射点的位置上的强度的时间变动进行傅里叶变换得到的功率谱的图。图9是表示对某散射点的位置上的功率谱进行傅里叶逆变换得到的自相关函数的图。图10是表示第2实施方式的动态光散射测定装置的构成的示意图。图11是表示图10中的参照光和试样光的示意图。图12是表示第3实施方式的动态光散射测定装置的构成的示意图。附图标记说明1：动态光散射测定装置、10：低相干光源、20：光循环器、22、24、26：光纤、30：物镜、32：自聚焦透镜、34：半透半反镜、40：试样、42：颗粒、44：气液界面、50：试样容器(透明容器)、52：外壁面、54：内壁面、60：凹面镜、62：衍射光栅、64：凹面镜、70：光检测器、80：运算处理部具体实施方式以下一边参照附图一边对本专利技术的实施方式详细地说明。(第1实施方式)图1是示出第1实施方式的动态光散射测定装置的构成的示意图。动态光散射测定装置1包含低相干光源10、光循环器20、作为照射部发挥作用的物镜30、作为光谱强度取得部发挥作用的衍射光栅62和光检测器70、以及作为测定部发挥作用的运算处理部80。在此，作为低相干光源10使用SLD(SuperLuminescentDiode:超辐射激光二极管)。此外，作为低相干光源10也可以使用其它的低相干光源、白色LED等极短相干光源。光循环器20是3端口的光循环器，具有连接着光纤22的第1端口、连接着光纤24的第2端口、以及连接着光纤26的第3端口，将输入到第1端口的光向第2端口输出，将输入到第2端口的光向第3端口输出。作为物镜30使用例如倍率为10倍、数值孔径为0.本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种动态光散射测定装置，包含：照射部，其将来自低相干光源的光照射到包含颗粒的试样；光谱强度取得部，其使来自参照面的反射光和透射过所述参照面的来自所述试样的散射光分光，取得所述反射光和所述散射光的干涉光的光谱强度，所述参照面配置于照射到所述试样的光的光路上；以及测定部，其基于取得的所述光谱强度来测定所述试样的动态光散射。
【技术特征摘要】
2014.06.20 JP 2014-1272591.一种动态光散射测定装置，包含：
照射部，其将来自低相干光源的光照射到包含颗粒的试样；
光谱强度取得部，其使来自参照面的反射光和透射过所述参照
面的来自所述试样的散射光分光，取得所述反射光和所述散射光的
干涉光的光谱强度，所述参照面配置于照射到所述试样的光的光路
上；以及
测定部，其基于取得的所述光谱强度来测定所述试样的动态光
散射。
2.根据权利要求1所述的动态光散射测定装置，其中，
所述照射部将来自所述低相干光源的光经由收纳所述试样的
透明容器的壁面照射到所述试样，
所述参照面是所述透明容器的壁面。
3.根据权利要求1所述的动态光散射测定装置，其中，
所述照射部将来自所述低相干光源的光经由所述试样的气液
界面照射到所述试样，
所述参照面是所述试样的气液界面。
4.根据权利要求1所述的动态光散射测定装置，其中，
所述参照面设于来自所述低相干光源的光传播的...
【专利技术属性】
技术研发人员：泉谷悠介，岩井俊昭，
申请(专利权)人：大塚电子株式会社，国立大学法人东京农工大学，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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