本发明专利技术涉及一种介质判别装置、介质搬送装置以及印刷装置。提供一种能够低成本地判别介质的透明度的介质判别装置。介质判别装置具备：搬送介质的搬送部；传感器，具有发光元件和受光元件，并用于检测介质；以及控制部，根据传感器的输出电压，检测由搬送部搬送的介质。控制部对介质的前端到达传感器的检测位置之前的传感器的输出电压A、到达检测位置时的传感器的输出电压B、以及到达检测位置之后的传感器的输出电压C进行比较，来判别介质的透明度。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及介质判别装置、介质搬送装置以及印刷装置，特别涉及判别介质的透明度的介质判别装置、检测介质的前端位置的介质搬送装置以及对印刷介质实施印刷处理的印刷装置。
技术介绍
以往，广泛已知检测透明体(包含半透明体的有光透射性的介质)的透明体检测传感器，例如，如果在因特网上以“透明体检测传感器”为关键字进行检索，则知道在市面上销售着大量的传感器。在透明体检测传感器中，有如下各种种类：使用反射器(回归反射板)的透明体检测传感器(例如参照专利文献1)，使用偏振板的透明体检测传感器(例如参照专利文献2)，使用CCD传感器、线传感器的透明体检测传感器(例如参照专利文献3)等。这样的透明体检测传感器的精度高，另一方面，在成本这一点上存在改善的余地。但是，在办公设备的领域中，考虑成本、要求精度而广泛使用具有发光元件(LED)和受光元件(光电晶体管)的传感器。例如，在专利文献4中，公开了如下技术：使用透射型传感器，检测在连续介质(标签(label)连续体)上暂时附着的印字区域(标签)的中心部位。在该种传感器中，一般，使用图12所示那样的传感器控制电路。即，发光元件Le(LED)的阳极侧与Vcc(例如+3.3V)连接，阴极侧与晶体管Tr1的集电极连接。晶体管Tr1的基极经由电阻R1而与运算放大器OP的输出端子连接，运算放大器OP的正相输入端子经由DA转换器(DA)而与微处理器MP的DA输出端口连接。另外，晶体管Tr1的发射极与运算放大器OP的逆相输入端子以及另一端被连接到地(以下简称为GND)的电阻R2的一端连接。因此，能够通过从微处理器MP输出数字电压而使发光元件Le发光。另一方面，构成受光元件Lr的光电晶体管的集电极经由电阻R3而与Vcc连接，发射极与GND连接。另外，光电晶体管的集电极与内置了AD转换器的微处理器MP的AD输入端口连接。因此，微处理器MP能够取入光电晶体管的集电极的输出电压、即从传感器控制电路(传感器Se)输出的输出电压。另外，作为与本专利技术关联的技术，本专利技术人提出了一种能够抑制介质的前端检测的偏差的打印机(参照专利文献5)。【专利文献1】日本特开2008-218021号公报【专利文献2】日本特开2002-098650号公报【专利文献3】日本特开平05-169037号公报【专利文献4】日本特开2011-110778号公报【专利文献5】日本特开2013-158920号公报
技术实现思路
但是，在图12所示的传感器控制电路中，在作为介质使有光透射性的介质(以下称为透明体)和没有光透射性的介质(以下称为非透明体)混合存在而检测的情况下，难以检测介质自身或者难以判别两者，即使假设可以，仍存在产生误检测的担心。图13以及图14是示出将介质分别设为白管(非透明体)、透明管(透明体)并将介质在图12所示的发光元件Le与受光元件Lr之间进行了搬送时的来自传感器控制电路(传感器)的输出电压的图。在图中，A是介质检测前(介质到达传感器Se的检测位置之前)的输出电压，C是介质检测中的输出电压，E是介质检测后(介质已通过传感器Se的检测位置之后)的输出电压。如图13所示，在以使能够检测非透明体的方式调整了发光元件Le的发光量的情况下，传感器控制电路的输出电压C成为2.8V程度(Vcc是+3.3V)，将阈值设定为比输出电压A、E(例如0.2V)充分大的电压例如2.0V，从而能够检测非透明体，但如图14所示，如果想要以检测非透明体时的发光元件Le的发光量来检测透明体，则输出电压C崩溃而无法检测透明体自身(无法与输出电压A、E区分)。另外，专利文献4的技术是不直接检测位置检测区域整体，并且不依赖于传感器、印字用纸的种类，而能够自动地检测印字区域的印刷开始位置的优良的技术，但需要对介质进行标记(无法使用通用品)，所以在运行成本这一点上存在改善的余地。本专利技术鉴于上述事项，本专利技术的第1课题是提供一种能够低成本地判别介质的透明度的介质判别装置，第2课题是提供一种能够低成本且不依赖于透明、非透明地检测介质的前端位置的介质搬送装置，第3课题是提供一种低成本且不依赖于透明、非透明而针对印刷介质的印刷位置精度高的印刷装置。为了解决上述第1课题，本专利技术的第1方案提供一种介质判别装置，其特征在于，具备：搬送介质的搬送单元；传感器，具有发光元件和受光元件，并用于检测所述介质；以及控制单元，根据所述传感器的输出电压，检测由所述搬送单元搬送的介质，所述控制单元对所述介质的前端到达所述传感器的检测位置之前的所述传感器的输出电压A、到达所述检测位置时的所述传感器的输出电压B、以及到达所述检测位置之后的所述传感器的输出电压C进行比较，来判别所述介质的透明度。在第1方案中，控制单元也可以在检测到比输出电压A低的电压之后检测输出电压B。另外，控制单元也可以在输出电压C比输出电压A更高并且比输出电压B低时，判定为介质是透明体。进而，控制单元也可以通过比较预先设定的阈值和输出电压C，对介质的透明度进行分级。另外，控制单元也可以在输出电压C比输出电压B高时，判定为介质是非透明体。进而，优选的是，传感器是透射型传感器，发光元件和受光元件被配设成相对由搬送单元搬送的介质的搬送方向或者与该搬送方向正交的方向倾斜。另外，为了解决上述第2课题，本专利技术的第2方案提供一种介质搬送装置，其特征在于，具备：搬送介质的搬送单元；传感器，具有发光元件和受光元件，并用于检测所述介质；以及控制单元，根据所述传感器的输出电压，检测由所述搬送单元搬送的介质，所述控制单元对所述介质的前端到达所述传感器的检测位置之前的所述传感器的输出电压A、到达所述检测位置时的所述传感器的输出电压B、以及到达所述检测位置之后的所述传感器的输出电压C进行比较，来检测所述介质的前端位置。在第2方案中，控制单元也可以在检测到比输出电压A低的电压之后检测输出电压B。另外，控制单元也可以根据从介质的前端到达传感器的检测位置时至当前为止的基于搬送单元的介质的搬送量，检测介质的前端位置。进而，控制单元也可以在检测到输出电压C之后，在传感器的输出电压成为与输出电压A相等的电压时，检测介质的后端位置。另外，传感器也可以包括：第1传感器，用于检测介质的透明度；以及第2传感器，配置在第1传感器的介质搬送方向下游侧，并用于进行介质的前端检测，控制单元比较第1传感器本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种介质判别装置，其特征在于，具备：搬送介质的搬送单元；传感器，具有发光元件和受光元件，并用于检测所述介质；以及控制单元，根据所述传感器的输出电压，检测由所述搬送单元搬送的介质，所述控制单元对所述介质的前端到达所述传感器的检测位置之前的所述传感器的输出电压A、到达所述检测位置时的所述传感器的输出电压B、以及到达所述检测位置之后的所述传感器的输出电压C进行比较，来判别所述介质的透明度。
【技术特征摘要】
2014.07.18 JP 2014-1478661.一种介质判别装置，其特征在于，具备：
搬送介质的搬送单元；
传感器，具有发光元件和受光元件，并用于检测所述介质；以及
控制单元，根据所述传感器的输出电压，检测由所述搬送单元搬
送的介质，
所述控制单元对所述介质的前端到达所述传感器的检测位置之
前的所述传感器的输出电压A、到达所述检测位置时的所述传感器的
输出电压B、以及到达所述检测位置之后的所述传感器的输出电压C
进行比较，来判别所述介质的透明度。
2.根据权利要求1所述的介质判别装置，其特征在于，
所述控制单元在检测到比所述输出电压A低的电压之后检测所
述输出电压B。
3.根据权利要求1所述的介质判别装置，其特征在于，
所述控制单元在所述输出电压C比所述输出电压A更高并且比
所述输出电压B低时，判定为所述介质是透明体。
4.根据权利要求3所述的介质判别装置，其特征在于，
所述控制单元通过比较预先设定的阈值和所述输出电压C，对所
述介质的透明度进行分级。
5.根据权利要求1所述的介质判别装置，其特征在于，
所述控制单元在所述输出电压C比所述输出电压B高时，判定
为所述介质是非透明体。
6.根据权利要求1所述的介质判别装置，其特征在于，
所述传感器是透射型传感器，所述发光元件和所述受光元件被配
设成相对由所述搬送单元搬送的介质的搬送方向或者与该搬送方向
正交的方向倾斜。
7.一种介质搬送装置，其特征在于，具备：
搬送介质的搬送单元；
传感器，具有发光元件和受光元件，并用于检测所述介质；以及
控制单元，根据所述传感器的输出电压，检测由所述搬送单元搬
送的介质，
所述控制单元对所述介质的前端到达所述传感器的检测位置之
前的所述传感器的输出电压A、到达所述检测位置时的所述传感器的
输出电压B、以及到达所述检测位置之后的所述传感器的输出电压C
进行比较，来检测所述介质的前端位置。
8.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员：小林刚士，
申请(专利权)人：立志凯株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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