本实用新型专利技术属于模数转换技术领域，提供了一种连续时间Sigma-Delta调制器；在本实用新型专利技术中，连续时间Sigma-Delta调制器包括采样模块，通过在采样模块中采用第一电阻、第二电阻、第一电容、第二电容、开关管及运算放大器，实现了连续时间Sigma-Delta调制器在采样时对模拟信号进行滤波，滤除了模拟信号中的高频成分，消除了模拟信号中的高频成分对模数转换的影响，避免了频率混叠。
【技术实现步骤摘要】
本技术属于模数转换
，尤其设及一种连续时间Sigma-Delta调制 器。
技术介绍
连续时间Sigma-Delta调制器是一种采用过采样和噪声整形技术的模数转换器， 近些年来，在较高信号带宽与中高转换精度领域，连续时间Sigma-Delta调制器得到了日 趋广泛的研究和应用。 连续时间Sigma-Delta调制器在进行模数转换过程中，在对模拟信号进行采样 时，当采样频率大于模拟信号包含的最高频率的2倍时，采样后的信号能够真实的保留原 始模拟信号的信息。但是，当模拟信号中包含高于2倍于采样频率的成分时，采样后的信号 会出现高低频成分重叠的现象，即频率混叠现象。因此，现有的连续时间Sigma-Delta调制 器在模拟信号包含高于2倍于采样频率的成分时所采样得到的信号存在频率混叠的问题。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种连续时间Sigma-Delta调制器，旨在解决连续时 间Sigma-Delta调制器采样后的信号存在频率混叠的问题。 阳0化]本技术是运样实现的，一种连续时间Sigma-Delta调制器，包括采样模块，所 述采样模块包括第一电阻、第二电阻、第一电容、第二电容、开关管及运算放大器。 所述第一电阻的第一端为所述采样模块的输入端，所述第一电阻的第二端和所述 第一电容的第一端均与所述第二电阻的第一端相连，所述第一电容的第二端和所述运算放 大器的同相输入端均与电源地相连，所述第二电阻的第二端与所述开关管的输入端相连， 所述开关管的输出端和所述第二电容的第一端均与所述运算放大器的反相输入端相连，所 述第二电容的第二端与所述运算放大器的输出端共接并作为所述采样模块的输出端。 所述采样模块的输入端为所述连续时间Sigma-Delta调制器的输入端，模拟信号 输入所述采样模块的输入端，所述采样模块对所述模拟信号进行滤波和采样处理，W将所 述模拟信号转换为时间上离散的模拟信号，所述时间上离散的模拟信号由所述采样模块的 输出端输出。 所述采样模块还包括PWM控制单元，所述PWM控制单元的输出端与所述开关管的 控制端相连，所述PWM控制单元输出脉宽调制信号W控制所述开关管的开关频率。 阳009] 所述连续时间Sigma-Delta调制器还包括量化模块，所述量化模块的输入端连接 所述采样模块的输出端，所述量化模块对所述时间上离散的模拟信号进行量化处理W转换 为相应的数字信号，所述数字信号由所述量化模块的输出端输出。 所述连续时间Sigma-Delta调制器还包括编码模块，所述编码模块的输入端连接 所述量化模块的输出端，所述编码模块对所述数字信号进行编码，编码后的数字信号由所 述编码模块的输出端输出，所述编码模块的输出端为所述连续时间Sigma-Delta调制器的 输出端。 所述开关管为NMOS管，所述NMOS管的漏极为所述开关管的输入端，所述NMOS管 的源极为所述开关管的输出端，所述NMOS管的栅极为所述开关管的控制端。 所述开关管为PMOS管，所述PMOS管的源极为所述开关管的输入端，所述PMOS管 的漏极为所述开关管的输出端，所述PMOS管的栅极为所述开关管的控制端。 在本技术中，连续时间Sigma-Delta调制器包括采样模块，通过在采样模块 中采用第一电阻、第二电阻、第一电容、第二电容、开关管及运算放大器，实现了连续时间 Sigma-Delta调制器在采样时对模拟信号进行滤波，滤除了模拟信号中的高频成分，消除了 模拟信号中的高频成分对模数转换的影响，避免了频率混叠。【附图说明】图1是本技术实施例提供的连续时间Sigma-Delta调制器的采样模块的示例 电路结构图；图2是本技术实施例提供的连续时间Sigma-Delta调制器的采样模块的另一 种示例电路结构图；图3是本技术实施例提供的连续时间Sigma-Delta调制器的模块结构图； 图4是本技术实施例提供的连续时间Sigma-Delta调制器的另一种模块结构 图。【具体实施方式】 为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，W下结合附图及实施 例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用W解释 本技术，并不用于限定本技术。图1示出了本技术实施例提供的连续时间Sigma-Delta调制器的采样模块的 示例电路结构，为了便于说明，仅示出了与本技术实施例相关的部分，详述如下： 连续时间Sigma-Delta调制器包括采样模块100,采样模块100包括第一电阻RU 第二电阻R2、第一电容CU第二电容C2、开关管101及运算放大器A。 第一电阻Rl的第一端为采样模块100的输入端，第一电阻Rl的第二端和第一电 容Cl的第一端均与第二电阻R2的第一端相连，第一电容Cl的第二端和运算放大器A的同 相输入端均与电源地相连，第二电阻R2的第二端与开关管101的输入端相连，开关管101 的输出端和第二电容C2的第一端均与运算放大器A的反相输入端相连，第二电容C2的第 二端与运算放大器A的输出端共接并作为采样模块100的输出端。 优选的，如图3所示，开关管101为NMOS管，NMOS管的漏极为开关管101的输入 端，NMOS管的源极为开关管101的输出端，NMOS管的栅极为开关管101的控制端。 优选的，如图4所示，开关管101为PMOS管，PMOS管的源极为开关管101的输入 端，PMOS管的漏极为开关管101的输出端，PMOS管的栅极为开关管101的控制端。 具体的，采样模块100将滤波电路及采样电路（即积分电路）结合在一起，W使采 样模块100兼具滤波及采样功能。采样模块100的输入端为连续时间Sigma-Delta调制器的输入端，模拟信号输入 采样模块100的输入端，采样模块100对模拟信号进行滤波和采样处理，W将模拟信号转换 为时间上离散的模拟信号，时间上离散的模拟信号由采样模块100的输出端输出。图2示出了本技术实施例提供的连续时间Sigma-Delta调制器的采样模块 100的另一种示例电路当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种连续时间Sigma‑Delta调制器，包括采样模块，其特征在于，所述采样模块包括第一电阻、第二电阻、第一电容、第二电容、开关管及运算放大器；所述第一电阻的第一端为所述采样模块的输入端，所述第一电阻的第二端和所述第一电容的第一端均与所述第二电阻的第一端相连，所述第一电容的第二端和所述运算放大器的同相输入端均与电源地相连，所述第二电阻的第二端与所述开关管的输入端相连，所述开关管的输出端和所述第二电容的第一端均与所述运算放大器的反相输入端相连，所述第二电容的第二端与所述运算放大器的输出端共接并作为所述采样模块的输出端；所述采样模块的输入端为所述连续时间Sigma‑Delta调制器的输入端，模拟信号输入所述采样模块的输入端，所述采样模块对所述模拟信号进行滤波和采样处理，以将所述模拟信号转换为时间上离散的模拟信号，所述时间上离散的模拟信号由所述采样模块的输出端输出。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：黎冰，王伟，刘嘉，涂柏生，
申请(专利权)人：深圳市博巨兴实业发展有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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