集成电路扫描单元的替换方法、可偏移扫描单元及集成电路技术

技术编号:12732638 阅读:72 留言:0更新日期:2016-01-20 15:51
本发明专利技术提供一种集成电路扫描单元的替换方法、可偏移扫描单元及集成电路。其中,该集成电路扫描单元的替换方法包括:获取该集成电路的门级网络列表;在该门级网络列表上执行位置-路线过程以获取第一网络列表;在该第一网络列表上执行时钟树合成过程以获取第二网络列表;执行静态时序分析以分析在普通模式和扫描模式中该第二网络列表的第一扫描单元,其中,在该第一扫描单元中对称地调整该普通模式的第一偏移和该扫描模式的第二偏移,在该第二扫描单元中不对称地调整该普通模式的第一偏移和该扫描模式的第二偏移。本发明专利技术提供的集成电路扫描单元的替换方法可有效减少用于IC芯片的测试时间和成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术有关于集成电路的扫描单元(scancell),更具体地,本专利技术有关于在普通模式(normalmode)/扫描模式(scanmode)中具有不对称偏移(skew)的扫描单元。
技术介绍
在集成电路(intergratedcircuit,IC)芯片被制成以后,需要对芯片执行测试以确认芯片是否正常。现在,用于IC芯片的可测试性设计包括使用多个扫描单元以执行IC芯片上的制造测试。在IC芯片的设计过程中,在IC芯片的电路设计中插入各种时钟树(clocktree),并适应性地调整物理摆放位置。然后在电路上执行时钟调整。在设计和插入时钟树的过程中,时钟偏移是一个要重要考虑的问题。电路的所有序列中的逻辑单元(例如存储器和锁存(latch))都需要时钟信号。然而,由于从时钟源到每个逻辑单元的路径不同,时钟信号到达不同逻辑单元的时间也是不同的。这种时间差异也成为时钟偏移。有多种因素导致时钟偏移,包括不同单元之间的路径长度差异、负载数目和大小差异、由芯片上的变化(on-chipvariation)而导致的差异等等。OCV包括制造技术变化、操作电源变化、环境温度变化等等。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术提供一种集成电路扫描单元的替换方法、可偏移扫描单元及集成电路。本专利技术提供一种集成电路扫描单元的替换方法,该方法包括:获取该集成电路的门级网络列表;在该门级网络列表上执行位置-路线过程以获取第一网络列表;在该第一网络列表上执行时钟树合成过程以获取第二网络列表;执行静态时序分析以分析在普通模式和扫描模式中该第二网络列表的第一扫描单元,其中,该第一扫描单元形成扫描链;以及根据该静态时序分析以第二扫描单元替换该第一扫描单元,其中,该静态时序分析指示该被替换的该第一扫描单元在该扫描模式中具有特定的时间空余;其中,在该第一扫描单元中对称地调整该普通模式的第一偏移和该扫描模式的第二偏移,在该第二扫描单元中不对称地调整该普通模式的第一偏移和该扫描模式的第二偏移。本专利技术再提供一种可偏移扫描单元,包括:输出单元,用于从普通路径接收第一信号且从扫描路径接收第二信号以输出输出信号;至少一第一单元,设置于该普通路径中,用于在普通模式中提供对应于输入信号的该第一信号及在扫描模式中提供具有第一固定逻辑电平的该第一信号;至少一第二单元,设置于该扫描路径中,用于在该扫描模式中提供对应于扫描信号的该第二信号及在该普通模式中提供具有第二固定逻辑电平的该第二信号;第一时序补偿单元,设置于该普通路径中,包括多个时钟缓存以用于在该普通模式中调整该输入信号的第一偏移;以及第二时序补偿单元,设置于该扫描路径中,包括多个时钟缓存以用于在该扫描模式中调整该扫描信号的第二偏移。本专利技术又提供一种可偏移扫描单元,包括:输出单元,用于从普通路径接收第一时钟且从扫描路径接收第二时钟以输出输出时钟;至少一第一单元,设置于该普通路径中,用于根据输入时钟信号和扫描致能信号提供该第一时钟;至少一第二单元,设置于该扫描路径中,用于根据扫描时钟和该扫描致能信号提供该第二时钟;第一时序补偿单元,包括多个时钟缓存以用于在该普通路径中调整该输入时钟的第一偏移;以及第二时序补偿单元,包括多个时钟缓存以用于在该扫描路径中调整该扫描时钟的第二偏移。本专利技术还提供一种集成电路,包括:扫描电路,包括多个可偏移扫描单元,其中,该多个可偏移扫描单元被划为为第一组和第二组;其中,该第一组中的该可偏移扫描单元根据该普通模式中的普通时钟和该扫描模式中的第一扫描时钟提供输出信号,且该第二组中的该可偏移扫描单元根据该普通模式中的该普通时钟和该扫描模式中的第二扫描时钟提供该输出信号。本专利技术提供的集成电路扫描单元的替换方法可有效减少用于IC芯片的测试时间和成本。附图说明图1为根据本专利技术一个实施例IC的扫描单元的替换方法的流程图。图2为根据本专利技术一个实施例的可偏移扫描单元的示意图。图3为以可偏移时钟门控扫描单元替换传统时钟门控扫描单元的替换示意图。图4A为用于时钟树的传统时钟门控扫描单元的示意图。图4B为在时钟树中以可偏移时钟门控扫描单元替换了图4A的传统时钟门控扫描单元的示意图。图5为以可偏移多工器扫描单元替换传统多工器扫描单元的替换示意图。图6为根据本专利技术一个实施例图1的步骤的扫描单元交换的流程图。图7为第一扫描时钟及第二扫描时钟的相位示意图。图8为由可偏差扫描单元替换产生的电力减轻的示意图。具体实施方式图1为根据本专利技术一个实施例IC的扫描单元的替换方法的流程图,其中,由可执行电子设计自动化(electronicdesignautomation,EDA)工具的处理器来执行该替换方法。首先,在步骤S110中,获取IC的门级(gate-level)网络列表。一般而言,通过合成IC的硬件描述语言(HDL)来获取门级网络列表且执行DFT的设计来以用于IC的扫描单元替换逻辑单元,其中,扫描单元形成多个扫描链(scanchain)。然后,在步骤S120中,在门级网络列表中执行位置-及-路线(place-and-route)过程以获取替换列表。接着,在步骤S130中,对替换列表执行时钟树合成过程以获取合成网络列表。然后,在步骤S140中,执行静态时序分析(statictiminganalysis,STA)以在普通模式(normalmode)和扫描模式(scanmode)中对每个扫描单元执行分析合成网络列表的时序,其中,该扫描单元为传统的扫描单元,且在该传统的扫描单元中可对普通模式的偏移和扫描模式的偏移做不对称的调整。然后,在步骤A150中,根据在步骤S140中获取的STA结果,执行扫描单元交换(swap)过程以用特定扫描单元来替换在扫描模式中具有更长设置时间空余(margin)或较长保持时间空余的扫描单元,以获取交互的网络列表,在此实施例中,该特定扫描单元为可偏移(skewable)扫描单元,且在可偏移扫描单元中对普通模式的便宜和扫描模式的便宜做不对称调整。接下来,在交换网络列表中,扫描链包括对特定的扫描单元做重排序(步骤S160)。例如,将对扫描链中相关单元的位置进行精调(fine-tune)。然后,在步骤S170中,对交换网络列表执行时序优化(timingoptimization)过程和保持时间固定(hold-timefixing)过程以获取后网络列表(post-netlist)。由此,完成了用于可偏移扫描单元交换的自动位置-及-路线(automatedplace本文档来自技高网...
集成电路扫描单元的替换方法、可偏移扫描单元及集成电路

【技术保护点】
一种集成电路扫描单元的替换方法,该方法包括:获取该集成电路的门级网络列表;在该门级网络列表上执行位置‑路线过程以获取第一网络列表;在该第一网络列表上执行时钟树合成过程以获取第二网络列表;执行静态时序分析以分析在普通模式和扫描模式中该第二网络列表的第一扫描单元,其中,该第一扫描单元形成扫描链;以及根据该静态时序分析以第二扫描单元替换该第一扫描单元,其中,该静态时序分析指示该被替换的该第一扫描单元在该扫描模式中具有特定的时间空余;其中,在该第一扫描单元中对称地调整该普通模式的第一偏移和该扫描模式的第二偏移,在该第二扫描单元中不对称地调整该普通模式的第一偏移和该扫描模式的第二偏移。

【技术特征摘要】
2014.07.14 US 14/330,1461.一种集成电路扫描单元的替换方法,该方法包括:
获取该集成电路的门级网络列表;
在该门级网络列表上执行位置-路线过程以获取第一网络列表;
在该第一网络列表上执行时钟树合成过程以获取第二网络列表;
执行静态时序分析以分析在普通模式和扫描模式中该第二网络列表的第一
扫描单元,其中,该第一扫描单元形成扫描链;以及
根据该静态时序分析以第二扫描单元替换该第一扫描单元,其中,该静态
时序分析指示该被替换的该第一扫描单元在该扫描模式中具有特定的时间空
余;
其中,在该第一扫描单元中对称地调整该普通模式的第一偏移和该扫描模
式的第二偏移,在该第二扫描单元中不对称地调整该普通模式的第一偏移和该
扫描模式的第二偏移。
2.如权利要求1所述的替换方法,其特征在于,该方法包括:
对具有该第二扫描单元的该扫描链进行排序以获取第三网络列表;以及
对该第三网络列表执行时序优化过程和保持时间固定过程。
3.如权利要求1所述的替换方法,其特征在于,该方法包括:
将该第二扫描单元划分为第一组和第二组;
将第一扫描时钟分配给该第二扫描单元的该第一组;及
将第二扫描时钟分配给该第二扫描单元的该第二组;其中,该第一扫描时
钟相对于该第二扫描时钟为反向的。
4.如权利要求3所述的替换方法,其特征在于,根据该普通模式中的普通时
钟和该扫描模式中的该第一扫描时钟,该第二扫描单元的该第一组提供一输出
信号,且根据该普通模式中的该普通时钟和该扫描模式中的该第二扫描时钟,
该第二扫描单元的该第二组提供该该输出信号。
5.如权利要求1所述的替换方法,其特征在于,该第二扫描单元包括:
输出单元,用于从普通路径接收第一信号且从扫描路径接收第二信号以输
出该输出信号;
至少一第一单元,设置于该普通路径中,用于提供该第一信号,其中,该
第一信号对应于该普通模式中的普通时钟,且该第一信号在该扫描模式中具有

\t第一固定逻辑电平;
第一时序补偿单元,设置于该普通路径中,其中,该第一时序补偿单元包
括多个时钟缓存以用于在该普通模式中调整该普通时钟的偏移;以及
第二时序补偿单元,设置于该扫描路径中,其中,该第二时序补偿单元包
括多个时钟缓存以用于在该扫描模式中调整该扫描时钟的偏移。
6.如权利要求5所述的替换方法,其特征在于,根据该普通模式中该输出
单元的负载确定该第一时序补偿单元的该多个时钟缓存的数目,且根据该扫描
模式中该输出单元的该负载确定该第二时序补偿单元的该多个时钟缓存的数
目。
7.如权利要求1所述的替换方法,其特征在于,该第二扫描单元包括:
输出单元,用于从普通路径接收第一信号且从扫描路径接收第二信号以输
出该输出信号;
至少一第一单元,设置于该普通路径中,用于在该普通模式中根据普通时
钟提供该第一信号;
至少一第二单元,设置于该扫描路径中,用于在该扫描模式中根据扫描时
钟提供该第二信号;
第一时序补偿单元,包括多个时钟缓存以用于在该普通路径中调整该普通
时钟的该第一偏移;以及
第二时序补偿单元,包括多个时钟缓存以用于在该扫描路径中调整该扫描
时钟的该第二偏移。
8.如权利要求7所述的替换方法,其特征在于,根据该普通模式中该输出单
元的负载确定该第一时序补偿单元的该多个时钟缓存的数目,且根据该扫描模
式中该输出单元的该负载确定该第二时序补偿单元的该多个时钟缓存的数目。
9.一种可偏移扫描单元,包括:
输出单元,用于从普通路径接收第一信号且从扫描路径接收第二信号以输
出输出信号;
至少一第一单元,设置于该普通路径中,用于在普通模式中提供对应于输
入信号的该第一信号及在扫描模式中提供具有第一固定逻辑电平的该第一信
号;
至少一第二单元,设置于该扫描路径中,用于在该扫描模式中提供对应于
扫描信号的该第二信号及在该普通模式中提供具有第二固定逻辑电平的该第二

\t信号;
第一时序补偿单元,设置于该普通路径中,包括多个时钟缓存以用于在该
普通模式中调整该输入信号的第一偏移;以及
第二时序补偿单元,设置于该扫描路径中,包括多个时钟缓存...

【专利技术属性】
技术研发人员:廖仁亿杨任航
申请(专利权)人:联发科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:中国台湾;71

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