一种建筑物外立面测量方法技术

本发明专利技术的目的是提供一种建筑物外立面测量方法，通过外业测量和内业数据处理进行测量计算，首先进行设站测量立面各细部点数据以及外业高差，之后将得到的各细部数据改正到正立面，最后进行绘制立面图；本发明专利技术完全采用全站仪无棱镜技术来测量建筑物的外立面，该方法只需2人作业即可高效完成测量且精度可靠，适用于建筑物外立面的测量中。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及建筑物外立面的测量领域，尤其涉及一种新的低成本、高效率的建筑物外立面测量方法。
技术介绍
测量建筑物外立面传统的测量手段主要是丈量，使用工具为皮尺、钢尺、手持测距仪等，对于有阻隔、无法直接测量的建筑物而言，该方法便难以实施。目前，先进的立面测量手段有近景摄影测量、三维激光扫描仪等高新技术，但仪器成本过高，内业处理复杂，甚至某些情况下与传统手段相比，优势并不突出。因此解决上述问题就显得十分必要了。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术提供一种利用全站仪无棱镜技术测量建筑物外立面的方法，该方法只需2人作业即可高效完成测量且精度可靠，解决了
技术介绍
中出现的问题。本专利技术的目的是提供，包括有外业测量和内业数据处理，所述外业测量包括有以下步骤: 步骤一:在需要观测的立面前选择能尽量看到立面全景的位置设站，采用假定坐标系和自由设站，角度定向为北方向置零； 步骤二:设站完成后，使用全站仪无棱镜进行碎步测量:首先采集立面上各细部点数据，包括门窗、柱、檐等细部水平位置特征点，细部点对应点号，重合点对编号，草图勾绘时详细记录，并拍照以便内业参照； 步骤三:窗户间的垂直间距，门窗高、建筑物高等数据采用全站仪无棱镜高差测量方式获取，现场经过加减计算直接求解得出外业高差； 所述内业数据处理包括有以下步骤: 步骤四:将步骤二得到的立面上各细部点数据在CASS软件展点后改正到正立面(由于采用自由设站，立面细部点数据在CASS软件展点后是非正立面):选择两个在同一条投影线上的点作为立面图的轴线yl，这两点尽量距离最大(楼体两端点)，以其中一点作为旋转基点，使用正交功能对所有点进行测站改正，改正后轴线yl与坐标轴1轴重合； 步骤五:参照立面照片，依据外业草图点号，对应步骤四得出的正立面上点号连点绘制立面图，垂直方向数据依据外业高差计算成果，便得出建筑物外立面图。进一步改进在于:所述步骤二测量中不通视的碎部点，无需支站，只需在下次设站处，采集两处重合点，后续测量数据进行衔接上。进一步改进在于:所述步骤四不同测站所测的点需分开改正，测站间有重合点测量的，测站改正后再进行数据衔接。本专利技术的有益效果:本专利技术通过外业测量和内业数据处理进行测量计算，首先进行设站测量立面各细部点数据以及外业高差，之后将得到的各细部数据改正到正立面，最后进行绘制立面图；本专利技术完全采用全站仪无棱镜技术来测量建筑物的外立面，该方法只需2人作业即可高效完成测量且精度可靠，适用于建筑物外立面的测量中。【附图说明】图1是本实施例的步骤二测得的各细部点的水平位置特征点数据图。图2是本实施例步骤二测得的立面细部点数据在CASS软件展点后非正立面图。图3是本实施例步骤四改正到正立面图。 图4是本实施例步骤五绘制的立面图。【具体实施方式】为了加深对本专利技术的理解，下面将结合实施例对本专利技术作进一步详述，该实施例仅用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术保护范围的限定。如图1-4所示，本实施例提供，包括有外业测量和内业数据处理，所述外业测量包括有以下步骤: 步骤一:在需要观测的立面前选择能尽量看到立面全景的位置设站，采用假定坐标系和自由设站，角度定向为北方向置零； 步骤二:设站完成后，使用全站仪无棱镜进行碎步测量:首先采集立面上各细部点数据，包括门窗、柱、檐等细部水平位置特征点，细部点对应点号，重合点对编号，草图勾绘时详细记录，并拍照以便内业参照； 步骤三:窗户间的垂直间距，门窗高、建筑物高等数据采用全站仪无棱镜高差测量方式获取，现场经过加减计算直接求解得出外业高差； 所述内业数据处理包括有以下步骤: 步骤四:将步骤二得到的立面上各细部点数据在CASS软件展点后改正到正立面(由于采用自由设站，立面细部点数据在CASS软件展点后是非正立面):选择两个在同一条投影线上的点作为立面图的轴线yl，这两点尽量距离最大(楼体两端点)，以其中一点作为旋转基点，使用正交功能对所有点进行测站改正，改正后轴线yl与坐标轴1轴重合； 步骤五:参照立面照片，依据外业草图点号，对应步骤四得出的正立面上点号连点绘制立面图，垂直方向数据依据外业高差计算成果，便得出建筑物外立面图。所述步骤二测量中不通视的碎部点，无需支站，只需在下次设站处，采集两处重合点，后续测量数据进行衔接上。所述步骤四不同测站所测的点需分开改正，测站间有重合点测量的，测站改正后再进行数据衔接。通过外业测量和内业数据处理进行测量计算，首先进行设站测量立面各细部点数据以及外业高差，之后将得到的各细部数据改正到正立面，最后进行绘制立面图；本专利技术完全采用全站仪无棱镜技术来测量建筑物的外立面，该方法只需2人作业即可高效完成测量且精度可靠，适用于建筑物外立面的测量中。【主权项】1.，包括有外业测量和内业数据处理，其特征在于:所述外业测量包括有以下步骤: 步骤一:在需要观测的立面前选择能尽量看到立面全景的位置设站，采用假定坐标系和自由设站，角度定向为北方向置零； 步骤二:设站完成后，使用全站仪无棱镜进行碎步测量:首先采集立面上各细部点数据，包括门窗、柱、檐等细部水平位置特征点，细部点对应点号，重合点对编号，草图勾绘时详细记录，并拍照以便内业参照； 步骤三:窗户间的垂直间距，门窗高、建筑物高等数据采用全站仪无棱镜高差测量方式获取，现场经过加减计算直接求解得出外业高差； 所述内业数据处理包括有以下步骤: 步骤四:将步骤二得到的立面上各细部点数据在CASS软件展点后改正到正立面(由于采用自由设站，立面细部点数据在CASS软件展点后是非正立面):选择两个在同一条投影线上的点作为立面图的轴线，这两点尽量距离最大(楼体两端点)，以其中一点作为旋转基点，使用正交功能对所有点进行测站改正，改正后轴线与坐标轴I轴重合； 步骤五:参照立面照片，依据外业草图点号，对应步骤四得出的正立面上点号连点绘制立面图，垂直方向数据依据外业高差计算成果，便得出建筑物外立面图。2.如权利要求1所述，其特征在于:所述步骤二测量中不通视的碎部点，无需支站，只需在下次设站处，采集两处重合点，后续测量数据进行衔接上。3.如权利要求1所述，其特征在于:所述步骤四不同测站所测的点需分开改正，测站间有重合点测量的，测站改正后再进行数据衔接。【专利摘要】本专利技术的目的是提供，通过外业测量和内业数据处理进行测量计算，首先进行设站测量立面各细部点数据以及外业高差，之后将得到的各细部数据改正到正立面，最后进行绘制立面图；本专利技术完全采用全站仪无棱镜技术来测量建筑物的外立面，该方法只需2人作业即可高效完成测量且精度可靠，适用于建筑物外立面的测量中。【IPC分类】G01C15/00【公开号】CN105241432【申请号】CN201510622200【专利技术人】尹志华, 张清, 许家伟, 张超然, 杨培培, 刘木川, 潘金宝, 孙瑞 【申请人】中铁城市规划设计研究院有限公司【公开日】2016年1月13日【申请日】2015年9月28日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种建筑物外立面测量方法，包括有外业测量和内业数据处理，其特征在于：所述外业测量包括有以下步骤：步骤一：在需要观测的立面前选择能尽量看到立面全景的位置设站，采用假定坐标系和自由设站，角度定向为北方向置零；步骤二：设站完成后，使用全站仪无棱镜进行碎步测量：首先采集立面上各细部点数据，包括门窗、柱、檐等细部水平位置特征点，细部点对应点号，重合点对编号，草图勾绘时详细记录，并拍照以便内业参照；步骤三：窗户间的垂直间距，门窗高、建筑物高等数据采用全站仪无棱镜高差测量方式获取，现场经过加减计算直接求解得出外业高差；所述内业数据处理包括有以下步骤：步骤四：将步骤二得到的立面上各细部点数据在CASS软件展点后改正到正立面（由于采用自由设站，立面细部点数据在CASS软件展点后是非正立面）：选择两个在同一条投影线上的点作为立面图的轴线，这两点尽量距离最大（楼体两端点），以其中一点作为旋转基点，使用正交功能对所有点进行测站改正，改正后轴线与坐标轴y轴重合；步骤五：参照立面照片，依据外业草图点号，对应步骤四得出的正立面上点号连点绘制立面图，垂直方向数据依据外业高差计算成果，便得出建筑物外立面图。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：尹志华，张清，许家伟，张超然，杨培培，刘木川，潘金宝，孙瑞，
申请(专利权)人：中铁城市规划设计研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34