层叠陶瓷电容器的方向识别方法、层叠陶瓷电容器的方向识别装置及层叠陶瓷电容器的制造方法制造方法及图纸

层叠陶瓷电容器的方向识别方法包括：将多个层叠陶瓷电容器(1)在磁发生装置(31)及磁通密度测量仪(32)各自的前面排列成一列地传送的工序；在多个层叠陶瓷电容器(1)分别通过磁通密度测量仪(32)的前面时，利用磁通密度测量仪(32)来测量磁通密度的工序；以及基于在测量上述磁通密度的工序中所测量得到的磁通密度来识别层叠陶瓷电容器(1)的层叠方向的工序。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及层叠陶瓷电容器的方向识别方法、层叠陶瓷电容器的方向识别装置及 层叠陶瓷电容器的制造方法
技术介绍
层叠陶瓷电容器具有沿着一个方向层叠的多个内部电极。因此，对于层叠陶瓷电 容器，存在要识别内部电极的层叠方向的需求。然而，例如，在层叠陶瓷电容器为正四棱柱 状的情况下，难以通过外观来识别层叠陶瓷电容器中的内部电极的层叠方向。 例如，在日本专利特开平7-115033号公报（专利文献1)中记载了一种能不依靠 外观来识别层叠陶瓷电容器中的内部电极的层叠方向的方法。具体而言，在专利文献1中 公开了如下一种方法，即，对未引出有内部电极层的一个面施加一定的磁场，并测量层叠陶 瓷电容器的磁通密度，通过磁化强度来识别内部电极层的方向。该方法是利用以下原理的 方法，即，在将电容器配置在内部电极与磁通大致平行（作为电容器，内部电极相对于底面 为垂直方向）的方向的状态、以及将电容器配置在与磁通大致垂直（作为电容器，内部电极 相对于底面为水平方向）的方向的状态下测量得到的磁通密度互不相同。 然而，在内部电极的层叠方向与磁通的方向为平行的情况、以及内部电极的层叠 方向与磁通的方向为垂直的情况下测量得到的磁通密度的差非常小。此外，测量得到的磁 通密度受磁体、传感器探针及电容器各自的位置关系的影响较大。尤其是，对于小型的层叠 陶瓷电容器，磁体、传感器探针及电容器各自的位置关系对测量得到的磁通密度所产生的 影响极大。 这样，在层叠方向不同的情况下测量得到的磁通密度的差较小，且测量得到的磁 通密度因测量时电容器的位置而产生较大的差异，因此，在专利文献1记载的方法中，难以 准确地识别层叠陶瓷电容器的层叠方向。 对该问题进行更具体的说明。例如，设想以下的情况：对于长度尺寸为1mm、宽度 尺寸为0. 5_、高度尺寸为0. 5_、静电电容为4. 7yF的层叠陶瓷电容器，在某一测定条件 下测量了磁通密度。该层叠陶瓷电容器的、内部电极的层叠方向与磁通的方向平行时的最 大磁通密度约为53. 6mT。另一方面，该层叠陶瓷电容器的、内部电极的层叠方向与磁通的方 向垂直时的最大磁通密度约为52. 3mT。因此，对于该层叠陶瓷电容器，内部电极的层叠方向 与磁通的方向平行时和垂直时，磁通密度的最大值仅相差I. 3mT。因此，在内部电极的层叠 方向与磁通的方向平行和垂直时两者之间的磁通密度的最大值之差，相对于内部电极的层 叠方向与磁通的方向平行时的磁通密度的最大值仅为2. 4%。 此外，在层叠陶瓷电容器的测量位置偏离层叠陶瓷电容器的中心位置0.3mm时 的、内部电极的层叠方向与磁通的方向平行时的层叠陶瓷电容器的磁通密度约为52. 3mT， 与内部电极的层叠方向与磁通的方向垂直时的层叠陶瓷电容器的磁通密度的最大值（在 测定位置为层叠陶瓷电容器的中心位置的情况下）大致相等。由此，在层叠陶瓷电容器的 测量位置有可能发生0. 3mm以上的变化的情况下，难以进行层叠陶瓷电容器的方向识别。 层叠陶瓷电容器越是小型化，例如，各个尺寸越是小于长度尺寸为1mm、宽度尺寸为0.5mm、 高度尺寸为0. 5mm的情况，就越难将测量位置确定在中心位置，因此，该问题尤为显著。 此外，在专利文献1记载的方法中，需要将磁发生装置和磁传感器配置成隔着电 容器相对。因此，在专利文献1记载的方法中，磁发生装置和磁传感器在配置上存在限制。 因此，专利文献1记载的电容器的方向识别装置存在装置的设计自由度较低这样的问题。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种能准确地识别层叠陶瓷电容器的方向的方法。 基于本专利技术的层叠陶瓷电容器的方向识别方法是对具备层叠的多个内部电极的 层叠陶瓷电容器的层叠方向进行识别的方法。层叠陶瓷电容器的方向识别方法包括：将多 个层叠陶瓷电容器在磁发生装置及磁通密度测量仪各自的前面排列成一列地传送的工序； 在多个层叠陶瓷电容器分别通过磁通密度测量仪的前面时，利用磁通密度测量仪来测量磁 通密度的工序；以及基于在测量上述磁通密度的工序中所测量得到的磁通密度来识别上述 层叠方向的工序。 在本专利技术的一个实施方式中，在识别上述层叠方向的工序中，基于在测量上述磁 通密度的工序中测量得到的磁通密度来计算出磁通密度的积分值，并基于该磁通密度的积 分值来识别上述层叠方向。 在本专利技术的一个实施方式中，磁发生装置与磁通密度测量仪彼此相对。在测量上 述磁通密度的工序中，在多个层叠陶瓷电容器分别通过磁发生装置与磁通密度测量仪之间 时，利用磁通密度测量仪来测量从磁发生装置产生的磁通的密度。 在本专利技术的一个实施方式中，磁发生装置配置在相比磁通密度测量仪要更靠近多 个层叠陶瓷电容器的传送方向的上游侧。在测量上述磁通密度的工序之前，还具备使多个 层叠陶瓷电容器分别磁化的工序。 在本专利技术的一个实施方式中，在传送上述所述多个层叠陶瓷电容器的工序中，传 送多个层叠陶瓷电容器以使多个层叠陶瓷电容器通过直线传送路径。在测量上述磁通密度 的工序中，在多个层叠陶瓷电容器通过直线传送路径并通过磁通密度测量仪的前面时，利 用磁通密度测量仪来测量磁通密度。 在本专利技术的一个实施方式中，在传送上述多个层叠陶瓷电容器的工序中，将多个 层叠陶瓷电容器以分别收纳在沿着圆形的转子的外周设置的多个收纳部中的状态进行传 送。在测量上述磁通密度的工序中，在多个层叠陶瓷电容器以分别收纳在多个收纳部中的 状态通过磁通密度测量仪的前面时，利用磁通密度测量仪来测量磁通密度。 在本专利技术的一个实施方式中，在传送上述多个层叠陶瓷电容器的工序中，将多个 层叠陶瓷电容器以分别收纳在设置在包装体上的多个空腔中的状态进行传送。在测量上述 磁通密度的工序中，在多个层叠陶瓷电容器以分别收纳在多个空腔中的状态通过磁通密度 测量仪的前面时，利用磁通密度测量仪来测量磁通密度。 基于本专利技术的层叠陶瓷电容器带的制造方法包括：利用上述任一项所述的层叠陶 瓷电容器的方向识别方法来识别上述层叠方向的工序；以及将上述层叠方向相一致的多个 层叠陶瓷电容器分别收纳到设置在包装体上的多个空腔中的工序。 基于本专利技术的层叠陶瓷电容器的方向识别装置是对具备层叠的多个内部电极的 层叠陶瓷电容器的层叠方向进行识别的方向识别装置。层叠陶瓷电容器的方向识别装置包 括：磁发生装置；磁通密度测量仪；传送装置，该传送装置将多个层叠陶瓷电容器在磁发生 装置及磁通密度测量仪各自的前面排列成一列地传送；以及方向识别部，该方向识别部与 磁通密度测量仪相连接，并基于利用磁通密度测量仪测量得到的磁通密度来识别上述层叠 方向。 在本专利技术的一个实施方式中，方向识别部基于利用磁通密度测量仪测量得到的磁 通密度来计算出磁通密度的积分值，并基于该磁通密度的积分值来识别上述层叠方向。 在本专利技术的一个实施方式中，磁发生装置与磁通密度测量仪彼此相对。在由传送 装置传送的多个层叠陶瓷电容器分别通过磁发生装置与磁通密度测量仪之间时，磁通密度 测量仪测量从磁发生装置产生的磁通的密度。 在本专利技术的一个实施方式中，磁发生装置配置在相比磁通密度测量仪要更靠近多 个层叠陶瓷电容器的传送方向的上游侧。在磁通密度测量仪测量磁通密度之前，磁发生装 置分别使多个层叠陶瓷电容器磁化。 在本专利技术的一个实施方式中，传送装置包含将层叠陶瓷电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种层叠陶瓷电容器的方向识别方法，该方法识别具备层叠的多个内部电极的层叠陶瓷电容器的层叠方向，该层叠陶瓷电容器的方向识别方法的特征在于，包括：将多个层叠陶瓷电容器在磁发生装置及磁通密度测量仪各自的前面排列成一列地传送的工序；在所述多个层叠陶瓷电容器分别通过所述磁通密度测量仪的前面时，利用所述磁通密度测量仪来测量磁通密度的工序；以及基于在测量所述磁通密度的工序中所测量得到的所述磁通密度来识别所述层叠方向的工序。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：林章浩，高桥美奈子，笹冈嘉一，
申请(专利权)人：株式会社村田制作所，
类型：发明
国别省市：日本;JP