本发明专利技术提供一种支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统，包括：第一控制模块检测有效高时，接收低电平信号，控制第一输入模块的第一操作单元为截止；检测有效低，接收高电平信号，控制第一输入模块的第一操作单元为饱和；第二控制模块检测有效高，接收低电平信号，控制第二输入模块的第二操作单元为饱和；检测有效低时，接收高电平信号，控制第二输入模块的第二操作单元为截止；第一输入模块检测有效高，接收多路DI信号，控制自身的第三操作单元在导通或截止产生用于检测的输出信号；第二输入模块检测有效低时，接收多路DI信号，控制自身的第四操作单元在导通或截止产生用于检测的输出信号。本发明专利技术支持N路检测电路，据不同需求灵活配置。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于电子电路
，涉及一种检测系统，特别是涉及一种支持不同有 效电平数字量输入信号的检测系统及电子设备。
技术介绍
对数字量输入DI的识别电路分为高电平识别电路和低电平识别电路两种，高电 平识别电路智能识别高有效的数字量输入HDI，低电平识别电路只能识别低有效数量输入 LDI0 请参阅图1，显示为现有技术中有效高电平数字量输入信号识别电路图。如图1所 示，当HDI输入高电平时，经过二极管D37和分压电阻R294、R295和R296,三极管Q42的 发射结电压VbeX). 7V，Q42导通，信号HDI_T0_MCU为低电平，；当HDI输入低电平或悬空未 接线时，三极管Q42的发射结电压Vbe为零，Q42截止，信号HDI_T0_MCU为高电平，HDI_T0_ MCU信号输入到MCU (微控制单元），MCU据此进行相应的操作。 请参阅图2,显示为现有技术中有效低电平数字量输入信号识别电路图。如图2所 示，当LDI输入低电平时，二极管D48的正极被钳位在低电平，三极管Q43的发射结电压Vbe 为零，Q43截止，信号LDI_T0_MCU为高电平，当LDI输入高电平或悬空未接线时，三极管Q43 的发射结电压Vbe是由VDD经分压电阻R333, R336和R339分压而来的，Vbe>0. 7V，Q43导 通，信号LDI_T0_MCU为低电平。LDI_T0_MCU信号输入到MCU，MCU据此进行相应的操作。 从图1和图2可知，现有技术的缺点是单板硬件设计一旦完成，有效高电平DI检 测电路和有效低电平DI检测电路的数量和位置就确定下来，同一个设计只能应用于一种 场合，当数字量输入DI的高低电平有效需求变化时，必须重新做一块单板满足系统要求， 且现有的设计中支持的两种信号类型的检测电路数量分别小于η。 因此，如何提供一种支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统及电子设备， 以解决现有技术中由于一旦完成单板硬件设计，那么有效高电平DI检测电路和有效低电 平DI检测电路的数量和位置就会确定下来，但是同一个设计只能应用于一种场合，当数字 量输入DI信号的高低电平有效需求变化时就必须重新做一块单元以满足系统要求的缺 陷，已成为本领域从业者亟待解决的技术问题。
技术实现思路
鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种支持不同有效电平数 字量输入信号的检测系统及电子设备，用于解决现有技术中由于一旦完成单板硬件设计， 那么有效高电平DI检测电路和有效低电平DI检测电路的数量和位置就会确定下来，但是 同一个设计只能应用于一种场合，当数字量输入DI信号的高低电平有效需求变化时就必 须重新做一块单元以满足系统要求的问题。 为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术一方面提供一种支持不同有效电平数字 量输入信号的检测系统，包括第一输入模块和第二输入模块，所述支持不同有效电平数字 量输入信号的检测系统还包括：第一控制模块，与所述第一输入模块和第二输入模块连接， 用于在所述检测系统处于检测有效高电平时，接收被配置成低电平的控制信号，并控制所 述第一输入模块的第一操作单元工作在截止状态；或用于在所述检测系统处于检测有效低 电平时，接收被配置高电平的控制信号，并控制所述第一输入模块的第一操作单元工作在 饱和状态；第二控制模块，与所述第一输入模块、第二输入模块、第一控制模块连接，用于在 所述检测系统处于检测有效高电平时，接收被配置成低电平的控制信号，并控制第二输入 模块的第二操作单元工作在饱和状态；或用于在所述系统处于检测有效低电平时，接收被 配置成高电平的控制信号，并控制第二输入模块的第二操作单元工作在截止状态；其中，所 述第一输入模块在所述检测系统处于检测有效高电平时，接收多路数字量输入信号，控制 自身的第三操作单元工作在导通状态或截止状态以产生用于检测所述数字量输入信号的 输出信号；所述第二输入模块在所述检测系统处于检测有效低电平时，接收多路所述数字 量输入信号，控制自身的第四操作单元工作在导通状态或截止状态以产生用于检测所述数 字量输入信号的输出信号。 可选地，所述支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统还包括与所述第一输 入模块和第二输入模块连接，用于检测所述输出信号的检测模块。 可选地，当所述检测系统处于检测有效高电平时，所述第一控制模块控制第一输 入模块的第一操作单元工作在截止状态，所述第二控制模块控制第二输入模块的第二操作 单元工作在饱和状态，使所述第一输入模块在接收到数字量输入信号时，所述第一输入模 块的第三操作单元工作在导通状态以产生处于低电平的输出信号，表示所述数字量输入信 号为有效高电平；或所述第一输入模块在接收到数字量输入信号时，使所述第第一输入模 块的第三操作单元工作在截止状态以产生处于高电平的输出信号，表示所述数字量输入信 号为无效低电平或悬空高阻态。 可选地，当所述检测系统处于检测有效低电平时，所述第一控制模块控制第一输 入模块的第一操作单元工作在饱和状态，所述第二控制模块控制第二输入模块的第二操作 单元工作在截止状态，使所述第二输入模块接收到数字量输入信号时，所述第二输入模块 的第四操作单元工作在导通状态以产生处于低电平的输入信号，表示所述数字量输入信号 为有效低电平；或所述第二输入模块在接收到数字量输入信号时，使所述第二输入模块的 第四操作单元工作在截止状态以产生处于高电平的输出信号，表示所述数字量输入信号为 无效高电平或悬空高阻态。 可选地，所述第一输入模块的第一操作单元为一 NPN型三极管，第三操作单元为 二极管；所述第二输入模块的第二操作单元为一 PNP型三极管，第四操作单元为二极管；所 述检测模块包括一三极管和连接在该三极管的集电极上的一电阻；所述第一输入模块的第 三操作单元，第二输入模块的第四操作单元、及所述检测模块的三极管是通过双向光耦提 供。 可选地，所述第一控制模块包括第一电阻，第二电阻，第三电阻，第四电阻，及第一 NPN型三极管；其中，所述控制信号从所述第一电阻的一端输入，所述第一电阻的另一端与 所述第二电阻的一端相连接，所述第二电阻的另一端连接在所述第一 NPN型三极管的发射 极，所述第一 NPN型三极管的集电极与所述第三电阻的一端相连接，所述第三电阻的另一 端与第四电阻的一端相连接，所述第四电阻的另一端连接在第一电源上，所述第一 NPN型 三极管的基极与所述第二电阻的一端相连接，所述第一 NPN型的发射极接地。 可选地，所述第二控制模块包括第五电阻，第六电阻，第七电阻，第八电阻，及第 二NPN型三极管；其中，所述控制信号从所述第五电阻的一端输入，所述第五电阻的另一端 与所述第六电阻的一端相连接，所述第六电阻的另一端与第二NPN型三极管的发射极相连 接，所述第二NPN型三极管的集电极与的一端相连接，所述第七电阻的另一端连接在第二 电源上，所述第八电阻的一端与所述第七电阻的一端相连接，所述第八电阻的另一端接地； 所述第二NPN型三极管的发射极接地。 可选地，所述第一输入模块包括第九电阻，第十电阻，第十一电阻，第十二电阻，第 三NPN型三极管，第一光电二极管，第二光电二极管，及稳压二极管；其中，所述第九电阻与 第十电阻并联，所述第十一电阻和第十二电阻并本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统，包括第一输入模块和第二输入模块，其特征在于，所述支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统还包括：第一控制模块，与所述第一输入模块和第二输入模块连接，用于在所述检测系统处于检测有效高电平时，接收被配置成低电平的控制信号，并控制所述第一输入模块的第一操作单元工作在截止状态；或用于在所述检测系统处于检测有效低电平时，接收被配置高电平的控制信号，并控制所述第一输入模块的第一操作单元工作在饱和状态；第二控制模块，与所述第一输入模块、第二输入模块、第一控制模块连接，用于在所述检测系统处于检测有效高电平时，接收被配置成低电平的控制信号，并控制第二输入模块的第二操作单元工作在饱和状态；或用于在所述系统处于检测有效低电平时，接收被配置成高电平的控制信号，并控制第二输入模块的第二操作单元工作在截止状态；其中，所述第一输入模块在所述检测系统处于检测有效高电平时，接收多路数字量输入信号，控制自身的第三操作单元工作在导通状态或截止状态以产生用于检测所述数字量输入信号的输出信号；所述第二输入模块在所述检测系统处于检测有效低电平时，接收多路所述数字量输入信号，控制自身的第四操作单元工作在导通状态或截止状态以产生用于检测所述数字量输入信号的输出信号。...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王亦鸾，
申请(专利权)人：上海斐讯数据通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31
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