本实用新型专利技术公开了一种全方位空间扫瞄光学系统，其特征在于，包括扫瞄头和埋在舱内的像倾斜补偿元件及接收光学系统，扫瞄头中设有望远镜系统，平面反光镜M1和平面反光镜M2，平面反射镜M1绕轴旋转α角，消像倾斜光学元件汉棱镜绕轴反向旋转α角，消除像倾斜；平面反射镜M1和M2绕轴旋转β，消像倾斜光学元件绕轴反向旋转α角，消除像倾斜。本实用新型专利技术既可进行水平扫瞄又可进行高低扫瞄的全方位扫瞄光学系统。同时，为测小平面反射镜棱镜的尺寸，在两块平面镜棱镜的扫瞄头前面加一望远系统，将入射的平行光束压缩。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光学工程应用领域，具体涉及一种全方位空间扫瞄光学系统。
技术介绍
目前周视瞄准镜只可以进行水平扫瞄。
技术实现思路
为解决上述问题，本技术提供了一种既可进行水平扫瞄又可进行高低扫瞄的 全方位扫瞄光学系统。同时，为测小平面反射镜棱镜的尺寸，在两块平面镜棱镜的扫瞄头前 面加一望远系统，将入射的平行光束压缩。 为实现上述目的，本技术采取的技术方案为： -种全方位空间扫瞄光学系统，包括扫瞄头和埋在舱内的像倾斜补偿元件及接收 光学系统，扫瞄头中设有望远镜系统，平面反光镜I和平面反光镜M2，扫瞄头中望远系统的 作用是压缩光束，以减小1和M2及消像倾斜光学元件尺寸；平面反射镜Mi绕耳轴旋转a 角，可进行高低方向扫瞄，消像倾斜光学元件汉棱镜绕g轴反向旋转|?角，消除像倾斜； 平面反射镜1和1绕耳轴旋转0，可进行水平方向扫瞄，消像倾斜光学元件绕耳轴反向旋 1 转角，消除像倾斜。 2 作为优选，望远镜系统为投射式，像倾斜补偿元件为别汉棱镜、道威棱镜或其它出 入射光轴平行的奇次非屋脊棱镜中的一种。 作为优选，望远镜系统为反射式望远系统，由球面或非球面反射镜组成，像倾斜补 偿元件为K镜。 本技术具有以下有益效果： 在扫瞄头上加入望远镜，它和舱内接收光学系统统筹考虑进行光学设计，减小了 平面反射镜MpMi及消像倾斜元件的尺寸；光谱宽度大，即可用于全光谱又可用于窄光谱光 学系统。【附图说明】 图1为本技术实施例的一个具体实施结构示意图；图中：扫瞄头中的望远镜系统为透射式，像倾斜补偿光学元件为别汉棱镜，平面反 射镜1和M2亦可用直角棱镜代替，适用于目视和光谱宽度窄的透射式光学系统 图2为本技术实施例的另一个具体实施结构示意图；图中，扫描头中的望远系统为反射式，像倾斜补偿元件为K镜，适用于全光谱或光 谱宽度大的光学系统。【具体实施方式】 为了使本技术的目的及优点更加清楚明白，以下结合实施例对本技术进 行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用 于限定本技术。 本技术实施例提供了一种全方位空间扫瞄光学系统，包括扫瞄头和埋在舱内 的像倾斜补偿元件及接收光学系统，扫瞄头中设有望远镜系统，平面反光镜I和平面反光 镜M2，扫瞄头中望远系统的作用是压缩光束，以减小乂和M2及消像倾斜光学元件尺寸。 对于目视和光谱宽度比较窄的接收光学系统，可采用图1所示光路。其中望远系 统采用透射式，消像倾斜光学元件为别汉棱镜也可为道威棱镜或其它出入射光轴平行的奇 次非屋脊棱镜。平面反射镜1绕耳轴旋转a角可进行高低方向扫瞄，但会产生像倾斜，为 此别汉棱镜需绕耳袖反向旋转角，消除像倾斜；平面反射镜MJPM2-起绕耳轴旋转0 可进行水平方向扫瞄，同样也会产生像倾斜。别汉棱镜需绕g轴反向旋转角，消除像倾 斜。 对于全光谱式光谱宽度大的接收光学系统采用图2所示光路。其中反射式望远系 统由球面或非球面反射镜组成，消像倾斜光学元件则为K镜或其它奇次平面反射镜出入射 光轴平行的反射镜组件，其高低水平方向扫描方式及K镜旋转方向同透射式。 本具体实施在扫瞄头上加入望远镜，它和舱内接收光学系统统筹考虑进行光学设 计，减小了平面反射镜I、Mi及消像倾斜元件的尺寸；光谱宽度大，即可用于全光谱又可用 于窄光谱光学系统。 以上所述仅是本技术的优选实施方式，应当指出，对于本
的普通技 术人员来说，在不脱离本技术原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和 润饰也应视为本技术的保护范围。【主权项】1. 一种全方位空间扫瞄光学系统，其特征在于，包括扫瞄头和埋在舱内的像倾斜补偿 元件及接收光学系统，扫瞄头中设有望远镜系统，平面反光镜Mi和平面反光镜M2,平面反射 镜Mi绕耳轴旋转a角，消像倾斜光学元件汉棱镜绕是轴反向旋转：角，消除像倾斜；平面 反射镜Mi和M2绕5轴旋转0，消像倾斜光学元件绕巧轴反向旋转角，消除像倾斜。2. 根据权利要求1所述的一种全方位空间扫瞄光学系统，其特征在于，望远镜系统为 投射式，像倾斜补偿元件为别汉棱镜、道威棱镜或其它出入射光轴平行的奇次非屋脊棱镜 中的一种。3. 根据权利要求1所述的一种全方位空间扫瞄光学系统，其特征在于，望远镜系统为 反射式望远系统，由球面或非球面反射镜组成，像倾斜补偿元件为K镜。【专利摘要】本技术公开了一种全方位空间扫瞄光学系统，其特征在于，包括扫瞄头和埋在舱内的像倾斜补偿元件及接收光学系统，扫瞄头中设有望远镜系统，平面反光镜M1和平面反光镜M2，平面反射镜M1绕轴旋转α角，消像倾斜光学元件汉棱镜绕轴反向旋转α角，消除像倾斜；平面反射镜M1和M2绕轴旋转β，消像倾斜光学元件绕轴反向旋转α角，消除像倾斜。本技术既可进行水平扫瞄又可进行高低扫瞄的全方位扫瞄光学系统。同时，为测小平面反射镜棱镜的尺寸，在两块平面镜棱镜的扫瞄头前面加一望远系统，将入射的平行光束压缩。【IPC分类】G02B27/00, G02B17/06【公开号】CN204925508【申请号】CN201520648287【专利技术人】刘泉, 王陆 【申请人】长春理工大学【公开日】2015年12月30日【申请日】2015年8月21日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种全方位空间扫瞄光学系统，其特征在于，包括扫瞄头和埋在舱内的像倾斜补偿元件及接收光学系统，扫瞄头中设有望远镜系统，平面反光镜M1和平面反光镜M2，平面反射镜M1绕轴旋转α角，消像倾斜光学元件汉棱镜绕轴反向旋转角，消除像倾斜；平面反射镜M1和M2绕轴旋转β，消像倾斜光学元件绕轴反向旋转角，消除像倾斜。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘泉，王陆，
申请(专利权)人：长春理工大学，
类型：新型
国别省市：吉林;22
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