【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于电子器件外壳的受控水蒸气透过过滤组件本申请是于2013年10月24日以所有国家指定的申请人唐纳森公司(DONALDSONCOMPANY,INC),一家美国国家公司和所有国家指定的专利技术人美国公民AndreD.Leier,以及美国公民DanielL.Tuma的名义作为PCT国际专利申请提交的,并且要求了2012年10月26日提交的美国临时专利申请号61/719,138以及2013年3月13日年提交的美国申请号13/800,158的优先权,将这些申请的内容通过引用以其全文结合在此。
本申请是针对控制在封闭体积内的水分。更具体地说,本申请是针对控制在电子器件外壳(例如磁盘驱动器外壳)内的水分。
技术介绍
所希望的是将许多外壳(例如,容纳磁盘驱动器的电子器件外壳)的内部保持在控制的湿度下。保持受控的低湿度可以具有避免电子元件腐蚀和劣化的优点。类似地,经常希望的是将湿度控制在某些范围内,甚至当该湿度不必最小化时。例如,在磁盘驱动器外壳情况下,磁盘驱动器外壳内的水蒸气的量将影响空气密度,由此影响读写头的浮动高度。在这些情况下,所希望的是保持受控的、一致的湿度,这样使得读写头的高度可以保持在特定的窄范围内。有可能将一种吸附性材料置于电子器件外壳内来吸收环境水分。硅胶是一种特别常见的用于此目的的吸附剂。甚至活性炭具有可观的吸水特性。然而,由于水在磁盘驱动器的生产、存储和运行过程中被吸附和解吸附的方式,仅仅将一种吸附剂添加到磁盘驱动器的外壳中并不一定解决所有水分控制问题。确切地说,控制磁盘驱动器内的湿度的挑战被制造并且使用电子器件外壳的许多变化条件加剧:磁盘驱动器外壳 ...
【技术保护点】
一种用于电子器件外壳中的吸附剂构造,所述吸附剂构造包括:a)吸附性材料;b)基本上包围所述吸附性材料的聚合物材料;c)在所述聚合物材料内与电子器件外壳的内部连通的开口;其中所述聚合物材料调节流入和流出所述吸附性材料的水蒸气的流动。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2012.10.26 US 61/719,138;2013.03.13 US 13/800,1581.一种用于电子器件外壳中的吸附剂构造,所述吸附剂构造包括:a)限定腔和第一开口的塑料壳体;b)被设置在腔内的第一吸附性材料;c)连接至壳体并且覆盖腔的基本上水不可渗透的膜,其中所述膜限定被设置成允许在腔和电子器件外壳的内部之间流体连通的开口;和d)第二吸附性材料,其中所述膜被设置在第一吸附性材料和第二吸附性材料之间,并且其中所述基本上水不可渗透的膜调节流入和流出所述第一吸附性材料的水蒸气的流动。2.如权利要求1所述的吸附剂构造,其中所述第一吸附性材料包括硅胶。3.如权利要求1所述的吸附剂构造,其中所述第一吸附性材料包括硅胶、分子筛、活性炭或其组合。4.如权利要求1所述的吸附剂构造,其中所述第一吸附性材料包括压缩模制的片。5.如权利要求1所述的吸附剂构造,其中所述第一吸附性材料包括吸附剂网状物、吸附剂珠粒、颗粒状吸附剂或其组合。6.如权利要求1所述的吸附剂构造,其中所述第一吸附性材料包括至少10百分比的硅胶。7.如权利要求1所述的吸附剂构造,其中所述第一吸附性材料包括从10至90百分比的硅胶。8.如权利要求1所述的吸附剂构造,其中所述第一吸附性材料包括至少10百分比的硅胶和至少10百分比的活性炭。9.如权利要求1所述的吸附剂构造,进一步包括连接至塑料壳体的过滤材料,其中所述过滤材料被连接至壳体覆盖第一开口。10.如权利要求1所述的吸附剂构造,其中所述开口小于2.0mm宽。11.如权利要求1所述的吸附剂构造,其中所述开口大于0.001mm宽。12.如权利要求1所述的吸附剂构造,进一步包括覆盖所述膜中的所述一个开口的过滤材料。13.如权利要求1所述的吸附剂构造,其中所述第二吸附性材料具有在低于60%相对湿度下每克吸附剂小于5%克的水吸附容量。14.一种用于电子器件外壳中的吸附剂构造,所述吸附剂构造包括:a)第一吸附性材料;b)壳体,所述壳体限定内部空间并包括基本上水不可渗透的聚合物材料,其中所述第一吸附性材料被设置在内部空间中;c)由所述聚合物材料限定的开口;d)与所述开口流体连通的过滤材料;和e)第二吸附性材料,其中所述聚合物材料被设置在第一吸附性材料和第二吸附性材料之间。15.如权利要求14所述的吸附剂构造,其中所述第一吸附性材料包括硅胶。16.如权利要求14所述的吸附剂构造,其中所述第一吸附性材料包括硅胶、分子筛、活性炭或其组合。17.如权利要求14所述的吸附剂构造,其中所述第一吸附性材料包括压缩模制的片。18.如权利...
【专利技术属性】
技术研发人员:A·D·莱尔,D·L·图玛,
申请(专利权)人:唐纳森公司,
类型:发明
国别省市:美国;US
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