集成的补偿数据通道制造技术

技术编号:12624218 阅读:98 留言:0更新日期:2015-12-31 17:31
一种方法,其用于同时补偿多个劣化现象,其中所述多个劣化现象会对有源矩阵显示器中的电流驱动型像素电路的亮度性能产生不利影响。各所述像素电路都包括被驱动晶体管驱动的发光器件(诸如有机发光二极管或OLED)。所述多个劣化现象包括:非均匀性现象(其是由工艺非均匀性导致的)、时间依赖性老化现象、以及可能由像素电路中的驱动晶体管的阈值电压的漂移而引起的动态效应现象。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】【专利说明】集成的补偿数据通道著作权声明本专利申请文件的公开内容的一部分包含受到著作权保护的材料。随着本专利申请的公开内容出现在专利商标局的专利案卷或档案中,著作权拥有人并不反对任何人得到该公开内容的复制本,但是在其他方面则无论如何都保留所有的著作权权利。
本专利技术涉及在显示器中使用的电路,且更具体地,涉及对多个劣化现象的补偿。
技术介绍
正如在以前的文件和专利中所讨论的,IGNIS Maxlife?技术能够补偿包括老化、非均匀性、及温度等等的OLED(有机发光二极管)和背板(backplane)问题。
技术实现思路
代替分别用于各补偿阶段的离散步骤的使用,集成的补偿会导致更加有效的实施。因此,本专利技术的一个方面旨在提供一种方法,其用于补偿会对有源矩阵显示器中的电流驱动型像素电路的亮度性能产生不利影响的多个劣化现象。各所述像素电路包括被驱动晶体管驱动的发光器件。所述方法包括:利用一个或多个控制器,在第一表格中存储用来补偿所述多个劣化现象中的第一现象的多个第一因子,且在第二表格中存储用来补偿所述多个劣化现象中的第二现象的多个第二因子。所述方法还包括:利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器,测量受到所述第一现象和所述第二现象之中的被检测到的一个现象的影响的所述像素电路中的被选出的一个像素电路的特性;且响应于所述测量,利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器确定用于所述被检测到的一个现象的相应的第一因子和第二因子的新值,以产生第一调整值。所述方法还包括:响应于所述新值的所述确定,利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器自动地计算所述第一因子和所述第二因子中的另一者,以产生第二调整值;且利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器,将所述第一调整值和所述第二调整值存储在所述第一表格和所述第二表格中的相应表格中。所述方法还包括:响应于所述第一调整值和所述第二调整值的所述存储,根据基于所述第一调整值和所述第二调整值的像素电路特性,利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器来依次驱动所述被选出的像素电路。根据本专利技术的另一个方面,提供了一种方法,其用于补偿会对有源矩阵显示器中的电流驱动型像素电路的亮度性能产生不利影响的多个劣化现象。各所述像素电路包括被驱动晶体管驱动的发光器件。所述方法包括:利用一个或多个控制器,在功率因子表格中存储用来补偿所述多个劣化现象中的在各所述像素电路处的非均匀性现象的多个功率因子,所述非均匀性现象与所述有源矩阵显示器的制造中的工艺非均匀性相关。所述方法还包括:利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器,在比例因子表格中存储用来至少补偿所述多个劣化现象中的在所述像素电路的各个所述发光器件或所述驱动晶体管的至少一者处的时间依赖性老化现象的多个比例因子。所述方法还包括:利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器,在偏移因子表格中存储用来至少补偿所述多个劣化现象中的至少由各所述像素电路中的所述驱动晶体管的阈值电压的漂移而引起的动态效应现象的多个偏移因子。所述方法还包括:利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器,测量受到所述非均匀性现象、所述老化现象或所述动态效应现象中的被检测到的一个现象的影响的所述像素电路中的被选出的一个像素电路的特性。所述方法还包括:响应于所述测量,利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器确定用于所述被检测到的一个现象的相应的功率因子、比例因子或偏移因子的新值,以产生第一调整值。所述方法还包括:响应于所述新值的所述确定,利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器自动地计算所述功率因子、所述比例因子和所述偏移因子中的另外两者,以产生第二调整值和第三调整值。所述方法还包括:利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器,将所述第一调整值、所述第二调整值和所述第三调整值存储在所述功率因子表格、所述比例因子表格和所述偏移因子表格中的相应表格中。所述方法还包括:响应于所述第一调整值、所述第二调整值和所述第三调整值的所述存储,根据基于所述第一调整值、所述第二调整值和所述第三调整值的电流,利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器依次驱动所述被选出的像素电路。前述的这些动作能够以任意顺序而被执行且能够补偿一个或多个现象的任意组合。根据本专利技术的又一个方面,提供了一种显示系统,其用来补偿会对亮度性能产生不利影响的劣化现象。所述显示系统包括有源矩阵、处理器和存储器件。所述有源矩阵具有电流驱动型像素电路,各所述像素电路包括被驱动晶体管驱动的发光器件。所述存储器件具有已存储的指令,当所述已存储的指令被所述处理器执行时,所述已存储的指令就致使所述显示系统执行下列动作:在第一表格中存储用来补偿所述劣化现象中的第一现象的多个第一因子,且在第二表格中存储用来补偿所述劣化现象中的第二现象的多个第二因子。当所述已存储的指令被所述处理器执行时,所述已存储的指令进一步致使所述显示系统执行下列动作:测量受到所述第一现象和所述第二现象中的被检测到的一个现象的影响的所述像素电路中的被选出的一个像素电路的特性;且响应于所述测量,确定用于所述被检测到的一个现象的相应的第一因子和第二因子的新值,以产生第一调整值。当所述已存储的指令被所述处理器执行时且响应于所述新值的所述确定,所述已存储的指令进一步致使所述显示系统执行下列动作:自动地计算所述第一因子和所述第二因子中的另一者,以产生第二调整值。当所述已存储的指令被所述处理器执行时,所述已存储的指令进一步致使所述显示系统执行下列动作:将所述第一调整值和所述第二调整值存储在所述第一表格和所述第二表格中的相应表格中;且响应于所述第一调整值和所述第二调整值的存储,根据基于所述第一调整值和所述第二调整值的像素电路特性,依次驱动所述被选出的像素电路。前述的这些动作能够以任意顺序而被执行且能够补偿一个或多个现象的任意组合。依据参照附图而做出的对各种各样的实施例的详细说明,本专利技术的额外的方面对于本领域的普通技术人员来说将会是显而易见的。下面提供了附图的简要说明。【附图说明】图1图示了用来监控像素中的劣化且因此提供补偿的系统的示例性构造。图2是根据本专利技术一个方面的集成的补偿数据通道(integrated compensat1ndatapath)的流程图。图3图示了用来增大在低灰度级下的分辨率的非线性伽马曲线。图4图示了使用比特分配(bit allocat1n)的压缩线性伽马曲线。在附图中以举例的方式已经示出了本专利技术的具体实施例并且在这里将会详细地说明这些具体实施例,但是,本专利技术可以有各种各样的变形和替代方式。应当理解的是,本专利技术并不希望被局限于所披露的特定形式。相反,本专利技术理应涵盖落入到由随附的权利要求限定的本专利技术的要旨和范围内的所有变形、等同物和替代物。【具体实施方式】图1是示例性的显示系统50的图。显示系统50包括地址驱动器8、数据驱动器4、控制器2、记忆存储器6和显示面板20。显示面板20包括被布置在行和列中的像素10的阵列。各像素10是单独可编程的,以便发射具有单独可编程的亮度值的光。控制器2接收到表示要被显示于显示面板20上的信息的数字数据。控制器2将信号32发送到数据驱动器4,且将时序信号34发送到地址驱动器8,以便驱动显示面板20中的像素10从而显示所表示的信息。因此本文档来自技高网...
集成的补偿数据通道

【技术保护点】
一种方法,其用于补偿会对有源矩阵显示器中的电流驱动型像素电路的亮度性能产生不利影响的多个劣化现象,各所述像素电路包括被驱动晶体管驱动的发光器件,所述方法包括:利用一个或多个控制器,在第一表格中存储用来补偿所述多个劣化现象中的第一现象的多个第一因子;利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器,在第二表格中存储用来补偿所述多个劣化现象中的第二现象的多个第二因子;利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器,测量受到所述第一现象和所述第二现象之中的被检测到的一个现象的影响的被选出的一个所述像素电路的特性;响应于所述测量,利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器确定用于所述被检测到的一个现象的相应的第一因子和第二因子的新值,以产生第一调整值;响应于所述新值的所述确定,利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器自动地计算所述第一因子和所述第二因子中的另一者,以产生第二调整值;利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器,将所述第一调整值和所述第二调整值存储在所述第一表格和所述第二表格中的相应表格中;以及响应于所述第一调整值和所述第二调整值的所述存储,根据基于所述第一调整值和所述第二调整值的像素电路特性,利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器来依次驱动所述被选出的像素电路。...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:戈尔拉玛瑞扎·恰吉弗拉迪斯拉夫·穆拉维恩贾马尔·索尼尼诺·扎西洛维奇约瑟夫·马塞尔·迪安
申请(专利权)人:伊格尼斯创新公司
类型:发明
国别省市:加拿大;CA

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