辐射探测、测量、识别、成像系统的定时装置及方法制造方法及图纸

技术编号:12621614 阅读:207 留言:0更新日期:2015-12-30 19:20
一种辐射探测、测量、识别、成像系统的定时装置,其包括高能光子探测器、光脉冲发生器和光纤,高能光子探测器包括闪烁晶体和光电转换倍增器件,高能光子探测器都设有透光孔,光脉冲信号经过透光孔传播到闪烁晶体,然后通过闪烁晶体传播到光电转换倍增器件的表面,被光电转换倍增器件所转换倍增,并被电子电路所处理和读取,互相独立的高能光子探测器从光脉冲发生器产生的光脉冲信号获取绝对时间,并在各个独立的光能光子探测器之间进行定时和校准。本发明专利技术取消了全局时钟,通过各个光电倍增器件接收到光脉冲信号的时间完成定时,可实现高能光子探测器之间的解耦,保证了高能光子探测器的独立性,使得系统使用或增减高能光子探测器更加方便。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及辐射探测领域,尤其涉及一种。
技术介绍
现有技术中的PET系统有一个全局时钟,由一个总体的时钟向各个高能光子探测器发送时间指令信息,此种方式,破坏了各个高能光子探测器的解耦和独立性,一旦需要增加探测器或者减少探测器,需要对系统重新进行电路布置及其他设置,程序复杂,且缺乏便利性。因此,有必要提供一种新的,以便解决高能光子探测器的解耦和独立性问题。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术的目的在于提供一种,该装置及方法能保证高能光子探测器的解耦与独立性。为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种辐射探测、测量、识别、成像系统的定时装置,其包括若干高能光子探测器,所述每一高能光子探测器包括闪烁晶体、光电转换倍增器件和电子电路,所述定时装置还包括用以发射光脉冲信号的光脉冲发生器和用以传递光脉冲信号的光传导器,每一高能光子探测器都设有用以接收光脉冲信号的透光孔,光脉冲信号经过透光孔传播到闪烁晶体,然后通过闪烁晶体传播到光电转换倍增器件的表面,被光电转换倍增器件所转换倍增,并被电子电路所处理和读取,互相独立的高能光子探测器从光脉冲发生器产生的光脉冲信号获取绝对时间,并在各个独立的光能光子探测器之间进行定时和校准。—种辐射探测、测量、识别、成像系统的定时装置,其包括若干高能光子探测器,所述每一高能光子探测器包括闪烁晶体、光电转换倍增器件和电子电路,所述定时装置还包括用以发射光脉冲信号的光脉冲发生器、用以传递光脉冲信号的光传导器以及将光脉冲信号发生器发出的光脉冲信号转换为电信号的光电转换装置,转换后的电信号被电子电路所处理和读取,互相独立的高能光子探测器从光脉冲发生器产生的光脉冲信号获取绝对时间,并在各个独立的光能光子探测器之间进行定时和校准。一种辐射探测、测量、识别、成像系统的定时方法,其包括步骤:S1:一光脉冲信号发生器发射光脉冲信号,光脉冲信号通过光传导器传递到若干高能光子探测器,每一高能光子探测器都设有用以接收光脉冲信号的透光孔,光脉冲信号经过透光孔传播到高能光子探测器中的闪烁晶体;S2:光脉冲信号经由闪烁晶体传递给高能光子探测器中的光电转换倍增器件,并被电子电路所处理和读取;S3:互相独立的高能光子探测器从此光脉冲发生器产生的光脉冲信号获取绝对时间,并在各个独立的光能光子探测器之间进行定时和校准。一种辐射探测、测量、识别、成像系统的定时方法,其包括步骤:S1:一光脉冲信号发生器发射光脉冲信号,光脉冲信号通过光传导器传递到一光电转换装置,光电转换装置将光脉冲信号发生器发射的光脉冲信号转换为电信号;S2:转换后的电信号直接传输给电子电路进行处理和读取,或者是经过高能光子探测器中的光电转换倍增器件传输给电子电路进行处理和读取;S3:互相独立的高能光子探测器从此光脉冲发生器产生的光脉冲信号最终获取绝对时间,并在各个独立的光能光子探测器之间进行定时和校准。从上述几种技术方案可以看出,本专利技术取消了全局时钟,一种是采用一个可为不同系统定制的独立部件(含光传导器和光脉冲发生器)与各个高能光子探测器连接,通过各个光电倍增器件接收到光脉冲信号的时间完成定时,可实现高能光子探测器之间的解耦,另一种是采用一个光电转换装置将光脉冲信号转换为电信号,然后再传输给后面电子电路进行处理,此两种方案保证了高能光子探测器的独立性,使得系统使用或增减高能光子探测器更加方便,且此种结构与高能光子探测器的实际位置没有关联,即可以随意的变动高能光子探测器的位置,使用更加灵活。【附图说明】图1为本专利技术辐射探测、测量、识别、成像系统的定时装置中采用光纤实施例的示意图。【具体实施方式】本专利技术公开了一种辐射探测、测量、识别、成像系统的定时装置,其包括若干高能光子探测器,所述每一高能光子探测器包括闪烁晶体、光电转换倍增器件和电子电路。所述定时装置还包括用以发射光脉冲信号的光脉冲发生器和用以传递光脉冲信号的光传导器,每一高能光子探测器都设有用以接收光脉冲信号的透光孔,光脉冲信号经过透光孔传播到闪烁晶体,然后通过闪烁晶体传播到光电转换倍增器件的表面,跟高能光子与闪烁晶体反应产生的在光电转换倍增器件的接收频谱内的光子一样,被光电转换倍增器件所转换倍增,并被电子电路所处理和读取,互相独立的高能光子探测器从光脉冲发生器产生的光脉冲信号获取绝对时间,并在各个独立的光能光子探测器之间进行定时和校准。用于一个辐射探测、测量、识别、成像系统需要进行绝对时间定时、校准和各个独立高能光子探测器之间需要进行时间符合等场合。透光控可以被盖住不透光,如果不使用本专利技术的定时方式的时候,或者部分用本专利技术的定时方式的时候。所述透光孔的位置在闪烁晶体不耦合光电转换倍增器件的任何一面上或闪烁晶体不耦合光电转换倍增器件的任何一面的旁侧。即透光孔可以直接设置在闪烁晶体上,也可以设置在闪烁晶体外,比如,一般情况下,高能光子探测器包括壳体,所述闪烁晶体设于壳体中,所述透光孔可以设置于壳体上。当然,正如上面所说,为了进一步保证闪烁晶体接收到的光信号的强度,也可以将透光孔直接设置在闪烁晶体上。本专利技术的定时装置中,光传导器可以为光纤或玻璃或水晶或闪烁晶体等等。只要是能够传递光信号的材料均属于本专利技术的保护范围。光传导器的一端连接光脉冲发生器,光传导器的另一端具有多个分支,每个分支与一个高能光子探测器连接,光脉冲发生器发出的一次光脉冲能够被该多个分支接收并传递给与各个分支连接的高能光子探测器。该多个分支可以为同一个光传导器自身设计形成的一个分支,也可以是外接的一个分支元件。不管是哪种分支设计形式,旨在起到传递光脉冲信号的作用。光传导器的排布设置根据装置的实际情况确定,以美观且连接方便为宗旨。本专利技术还公开了一种辐射探测、测量、识别、成像系统的定时方法,其包括步骤:S1:一光脉冲信号发生器发射光脉冲,光脉冲信号通过光传导器传递到高能光子探测器,每一高能光子探测器都设有用以接收光脉冲信号的透光孔,光脉冲信号经过透光孔传播到高能光子探测器中的闪烁晶体;S2:光脉冲信号经由闪烁晶体传递给高能光子探测器中的光电转换倍增器件,并被电子电路所处理和读取;S3:互相独立的高能光子探测器从此光脉冲发生器产生的光脉冲信号获取精确的绝对时间,并在各个独立的光能光子探测器之间进行定时和校准。所述步骤SI中,所述透光孔的位置在闪烁晶体不耦合光电转换倍增器件的任何一面。所述步骤SI中,所述高能光子探测器包括壳体,所述闪烁晶体设于壳体中,所述透光孔设置于壳体上。所述步骤SI中,所述光传导器为光纤或玻璃或水晶或闪烁晶体。所述步骤S3中,所述光脉冲信号获取及处理方法为采用多电压阈值获取处理方法或恒比甄别器或单电压阈值触发比较方法或者直接采用高速模拟/数字转换器直接采样。所述步骤SI中,所述光脉冲信号的波长范围为300nm?1550nm,通常采用的光脉冲信号的波长集中在某些波长范围附近,这些波长范围习惯上又称为窗口,目前常用的有850nm、1310nm和1550nm为中心的三个低损耗窗口,所述光脉冲信号的光脉冲宽度范围为1ps ?10ns0下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行详细地描述。本专利技术实施例中,为了保证定时的准确度,且光脉冲信号不影响PET系统本身Y光子在高能光子探测器中的沉积时的位置、时间本文档来自技高网...
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【技术保护点】
一种辐射探测、测量、识别、成像系统的定时装置,其包括若干高能光子探测器,所述每一高能光子探测器包括闪烁晶体、光电转换倍增器件和电子电路,其特征在于:所述定时装置还包括用以发射光脉冲信号的光脉冲发生器和用以传递光脉冲信号的光传导器,每一高能光子探测器都设有用以接收光脉冲信号的透光孔,光脉冲信号经过透光孔传播到闪烁晶体,然后通过闪烁晶体传播到光电转换倍增器件的表面,被光电转换倍增器件所转换倍增,并被电子电路所处理和读取,互相独立的高能光子探测器从光脉冲发生器产生的光脉冲信号获取绝对时间,并在各个独立的光能光子探测器之间进行定时和校准。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王卫东谢庆国沈轶
申请(专利权)人:苏州瑞派宁科技有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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