晶圆夹盘倾斜度的检测方法技术

本发明专利技术揭示了一种利用现有的电化学抛光设备对晶圆夹盘的倾斜度进行检测的晶圆夹盘倾斜度的检测方法，包括如下步骤：分别测量晶圆中心点(O点)以及晶圆上其他两点(A点与B点)与喷头喷射出的抛光液的液面之间的高度值Ho，Ha，Hb，其中该其他两点(A点和B点)的连线不经过晶圆中心点(O点)；计算Ha与Ho之间的差值，以及Hb与Ho之间的差值；结合A点与O点之间的水平距离La以及B点与O点之间的水平距离Lb，计算晶圆上A点与O点所在的直线与水平面之间的倾斜度为arctan((Ha-Ho)/La)，B点与O点所在的直线与水平面之间的倾斜度为arctan((Hb-Ho)/Lb)。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体制造领域，尤其涉及一种用于夹持晶圆的。
技术介绍
随着半导体集成电路的高密度化、微细化和高速化，对工艺加工精度提出了更高的要求。影响工艺加工精度最主要的因素是执行各工艺的装置是否满足工艺要求。以电化学抛光为例，在电化学抛光工艺中，需要使用晶圆夹盘夹持晶圆相对于喷头在竖直方向、水平方向移动和旋转。喷头向晶圆表面喷射抛光液，以实现对晶圆表面抛光。在电化学抛光过程中，晶圆夹盘的水平度决定了晶圆的水平度，晶圆的水平度越高，电化学抛光工艺的精度就越高，也就是电化学抛光均匀性越高。一旦晶圆夹盘倾斜了，晶圆表面抛光均匀性就会变差，从而导致电化学抛光良率降低。因此，检测晶圆夹盘是否倾斜，对电化学抛光工艺至关重要。而现有的电化学抛光设备中，晶圆夹盘通常安装在抛光腔室内部，很难对其倾斜度进行检测。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种，该方法能够利用现有的电化学抛光设备对晶圆夹盘的倾斜度进行检测，而无需再借助其他装置，解决了现有晶圆夹盘倾斜度检测难的问题。为实现上述目的，本专利技术提出的，包括如下步骤:分别测量晶圆中心点(O点)以及晶圆上其他两点(A点与B点)与喷头喷射出的抛光液的液面之间的高度值H。，Ha, Hb，其中该其他两点(A点和B点)的连线不经过晶圆中心点(O点);计算Ha与Hci之间的差值，以及Hb与Hci之间的差值；结合A点与O点之间的水平距离La以及B点与O点之间的水平距离Lb，计算晶圆上A点与O点所在的直线与水平面之间的倾斜度为arctan ((Ha-H0) /La)，B点与O点所在的直线与水平面之间的倾斜度为arctan ((Hb-H0) /Lb) ο综上所述，本专利技术利用现有的电化学抛光设备即可实现对晶圆夹盘的倾斜度进行检测，解决了现有晶圆夹盘倾斜度检测难的问题。【附图说明】图1示出了现有电化学抛光装置的结构示意图。图2示出了本专利技术的流程图。图3示出了测量晶圆上的点与喷头喷射出的抛光液的液面之间的高度值的方法的流程图。图4示出了晶圆的仰视图。【具体实施方式】为详细说明本专利技术的
技术实现思路
、所达成目的及效果，下面将结合实施例并配合图式予以详细说明。参考图1所示，图1示出了现有电化学抛光装置的结构示意图。现有电化学抛光装置包括晶圆夹盘101、喷头102、抛光液供应管道103、流量控制器104、电源105及运动控制器(图中未示)。晶圆夹盘101夹持晶圆106。喷头102设置在晶圆夹盘101的下方，喷头102向晶圆106表面喷射抛光液。抛光液供应管道103与喷头102连接，抛光液供应管道103向喷头102供应抛光液。流量控制器104设置在抛光液供应管道103上，流量控制器104控制向喷头102供应的抛光液的流量，使供应至喷头102的抛光液的流量维持恒定，从而保证从喷头102喷射出的抛光液的液面高度一定并保持不变。电源105的阳极与晶圆106电连接，电源105的阴极与喷头102电连接，电化学抛光时，通过抛光液构成导通的抛光电流回路。运动控制器与晶圆夹盘101连接，运动控制器控制晶圆夹盘101相对于喷头102在竖直方向(Z轴方向)、水平方向(X轴方向)移动和旋转，运动控制器实时记录晶圆夹盘101相对于初始位置(Home位置)在Z轴方向、X轴方向移动的距离以及旋转的角度。电化学抛光前，晶圆夹盘101从初始位置在Z轴方向下降至工艺位置，喷头102对准晶圆106的中心(图4中的O点位置)，电化学抛光过程中，晶圆夹盘101沿X轴方向水平移动并旋转，从而实现对晶圆106的全局平坦化。参考图2，基于上述现有的电化学抛光装置，本专利技术提出了一种，包括如下步骤:步骤S201:分别测量晶圆中心点(O点)以及晶圆上其他两点(A点与B点)与喷头喷射出的抛光液的液面之间的高度值H。，Ha, Hb，其中该其他两点(A点和B点)的连线不经过晶圆中心点(O点)；步骤S202:计算Ha与H。之间的差值，以及Hb与H。之间的差值；步骤S203:结合A点与O点之间的水平距离La以及B点与O点之间的水平距离Lb，计算晶圆上A点与O点所在的直线与水平面之间的倾斜度为arctan ((Ha-HJ/La)，B点与O点所在的直线与水平面之间的倾斜度为arctan ((Hb-H。) /Lb)。在一个实施例中，如图4所示，A点与O点所在的直线与B点与O点所在的直线垂直。在一个实施例中，如图3所示，测量晶圆上的点与喷头喷射出的抛光液的液面之间的高度值的方法，包括如下步骤:步骤S301:设置一误差值；步骤S302:将晶圆夹盘置于初始位置，喷头对准晶圆上的待测点；步骤S303:使晶圆夹盘在Z轴方向下降至工艺位置，接通电源，抛光电流回路导通；步骤S304:使晶圆夹盘在Z轴方向上升一定值高度，该定值高度大于所设置的误差值；步骤S305:检测抛光电流回路是否导通，如果抛光电流回路导通，则返回步骤S304 ;如果抛光电流回路不导通，则进行步骤S306 ；步骤S306:使晶圆夹盘在Z轴方向下降，下降的高度值为前一次上升的高度值的一半;步骤S307:检测抛光电流回路是否导通，如果抛光电流回路导通，则使晶圆夹盘在Z轴方向上升，上升的高度值为前一次下降的高度值的一半；如果抛光电流回路不导通，则使晶圆夹盘在Z轴方向下降，下降的高度值为前一次下降的高度值的一半；步骤S308:判断晶圆夹盘在Z轴方向上升或下降的高度值是否小于或等于所设置的误差值，如果否，则返回步骤S307 ;如果是，则进行步骤S309 ；步骤S309:记录此时晶圆夹盘距离初始位置的高度值，该高度值即为晶圆上的待测点与喷头喷射出的抛光液的液面之间的高度值。下面通过一具体实例进一步说明测量晶圆上的点与喷头喷射出的抛光液的液面之间的高度值的方法。...

【技术保护点】
一种晶圆夹盘倾斜度的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：分别测量晶圆中心点(O点)以及晶圆上其他两点(A点与B点)与喷头喷射出的抛光液的液面之间的高度值Ho，Ha，Hb，其中该其他两点(A点和B点)的连线不经过晶圆中心点(O点)；计算Ha与Ho之间的差值，以及Hb与Ho之间的差值；结合A点与O点之间的水平距离La以及B点与O点之间的水平距离Lb，计算晶圆上A点与O点所在的直线与水平面之间的倾斜度为arctan((Ha‑Ho)/La)，B点与O点所在的直线与水平面之间的倾斜度为arctan((Hb‑Ho)/Lb)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：代迎伟，金一诺，王坚，王晖，
申请(专利权)人：盛美半导体设备上海有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31