具有多程序兼容性的测试主板制造技术

本实用新型专利技术提供一种具有多程序兼容性的测试主板，包括板体及设置于所述板体的主控IC，还包括与所述主控IC电性连接的多个拨动开关；所述拨动开关具有两个档位，分别对应高电平档位、低电平档位。本实用新型专利技术的有益效果是：改变拨动开关的状态组合，即调用其内存储的一测试程序，从而进行对应产品的测试，满足一测试主板对多产品的测试。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及LED屏显示
，特别是一种具有多程序兼容性的测试主 板。
技术介绍
LED屏的生产线，其生产一款产品对应制作一程序测试板；当需要更换另一款产 品时，则需要另制作一程序测试板，或者，更换另一程序，然后才能进行产品的测试。因此， 现在的生产线，更换产品即需要更换程序测试板或是更换测试程序。
技术实现思路
为了解决上述现有的技术问题，本技术提供一种具有多程序兼容性的测试主 板，改变拨动开关的状态组合，即调用其内存储的一测试程序，从而进行对应产品的测试， 满足一测试主板对多产品的测试。 本技术解决上述现有的技术问题，提供一种具有多程序兼容性的测试主板， 包括板体及设置于所述板体的主控1C，还包括与所述主控IC电性连接的多个拨动开关；所 述拨动开关具有两个档位，分别对应高电平档位、低电平档位。 本技术更进一步的改进如下所述。 所述拨动开关具有电源电压触点、数字地或者模拟地触点。 所述拨动开关的执行机构连接电源电压触点，对应的所述拨动开关为高电平档 位。 所述拨动开关的执行机构连接数字地或者模拟地触点，对应的所述拨动开关为低 电平档位。 所述拨动开关的数量大于3。 相较于现有技术，本技术的有益效果是：改变拨动开关的状态组合，即调用其 内存储的一测试程序，从而进行对应产品的测试，满足一测试主板对多产品的测试。【附图说明】 图1为本技术具有多程序兼容性的测试主板的结构示意图。 【具体实施方式】 下面结合【附图说明】及【具体实施方式】对本技术进一步说明。 如图1所示，一种具有多程序兼容性的测试主板，包括板体11、设置于板体11的主 控IC12、与主控IC12电性连接的多个拨动开关13 ;拨动开关13具有两个档位，分别对应高 电平档位、低电平档位。改变拨动开关13的状态组合，即调用其内存储的一测试程序，从而 进行对应产品的测试，满足一测试主板对多产品的测试。 本技术拨动开关13具有电源电压触点、数字地或者模拟地触点。拨动开关13 的执行机构连接电源电压触点，对应的拨动开关13为高电平档位。拨动开关13的执行机 构连接数字地或者模拟地触点，对应的拨动开关13为低电平档位。 本技术拨动开关13的数量大于3。假设，其拨动开关13的数量为4,分别为 1、2、3、4,当拨动开关131、2、3、4全部为低电平档位时，控制IC判断状态组合为0000 ;当 拨动开关131为高电平档位，2、3、4为低电平档位时，控制IC判断状态组合为0001 ;同理， 当拨动开关131、2、3、4全部为高电平档位时，控制IC判断状态组合为1111。主控IC12接 收到对应的状态组合，能够通过IF语句对比判定区分所需要的程序，以调出对应的测试程 序，从而达到兼容的效果。 以上内容是结合具体的优选实施方式对本技术所作的进一步详细说明，不能 认定本技术的具体实施只局限于这些说明。对于本技术所属
的普通技术 人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视 为属于本技术的保护范围。【主权项】1. 一种具有多程序兼容性的测试主板，包括板体及设置于所述板体的主控1C，其特征 在于： 还包括与所述主控IC电性连接的多个拨动开关； 所述拨动开关具有两个档位，分别对应高电平档位、低电平档位。2. 根据权利要求1所述的具有多程序兼容性的测试主板，其特征在于：所述拨动开关 具有电源电压触点、数字地或者模拟地触点。3. 根据权利要求2所述的具有多程序兼容性的测试主板，其特征在于：所述拨动开关 的执行机构连接电源电压触点，对应的所述拨动开关为高电平档位。4. 根据权利要求2所述的具有多程序兼容性的测试主板，其特征在于：所述拨动开关 的执行机构连接数字地或者模拟地触点，对应的所述拨动开关为低电平档位。5. 根据权利要求1至4任意一项所述的具有多程序兼容性的测试主板，其特征在于： 所述拨动开关的数量大于3。【专利摘要】本技术提供一种具有多程序兼容性的测试主板，包括板体及设置于所述板体的主控IC，还包括与所述主控IC电性连接的多个拨动开关；所述拨动开关具有两个档位，分别对应高电平档位、低电平档位。本技术的有益效果是：改变拨动开关的状态组合，即调用其内存储的一测试程序，从而进行对应产品的测试，满足一测试主板对多产品的测试。【IPC分类】G09G3/00【公开号】CN204884517【申请号】CN201520611071【专利技术人】陈楚耿, 赵松来, 魏小华 【申请人】深圳市中深光电有限公司【公开日】2015年12月16日【申请日】2015年8月14日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有多程序兼容性的测试主板，包括板体及设置于所述板体的主控IC，其特征在于：还包括与所述主控IC电性连接的多个拨动开关；所述拨动开关具有两个档位，分别对应高电平档位、低电平档位。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈楚耿，赵松来，魏小华，
申请(专利权)人：深圳市中深光电有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44