逻辑分析仪制造技术

公开了逻辑分析仪。逻辑分析仪6具有状态控制器12和分析仪电路。逻辑分析仪在可编程的触发状态序列问切换，并在每个触发状态内生成索引信号。索引信号被用于控制分析仪电路选择可编程触发状态数据的适当部分，以便对所执行的与硬件信号值的匹配操作进行配置，该硬件信号值是从经受逻辑分析仪6的分析的硬件电路4采集的。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及逻辑分析仪领域。更特别地，本专利技术涉及在形成触发状态序列的多个触发状态之间切换的逻辑分析仪。
技术介绍
已知的是提供了在多个触发状态之间切换的逻辑分析仪，每个触发状态对应于以下状态，其中，所测试的硬件电路的一个或多个硬件信号被与标识该硬件电路的预定条件/状态的预定值进行匹配。出现的问题是，随着触发状态的数目的增加，与提供执行逻辑分析操作所需要的在触发状态的不同组合之间灵活移动的能力相关联的控制开销显著增加。通常出于调试硬件电路的目的而提供逻辑分析仪，因此期望这些逻辑分析仪在它们支持的触发状态以及它们检察和匹配硬件信号的能力方面有高度的灵活性。在电路面积和功率消耗方面，支持这种高度灵活性增加了与逻辑分析仪相关联的开销。由于逻辑分析仪主要用于调试期间而不是功能性操作期间，因此期望与逻辑分析仪相关联的开销保持较低。
技术实现思路
从一方面看，本技术提供了用于对硬件电路的操作进行分析的逻辑分析仪，所述逻辑分析仪包括:状态控制器，所述状态控制器被配置为在形成可编程的触发状态序列的多个触发状态之间切换所述逻辑分析仪，并生成针对所述多个触发状态中的每个触发状态的索引信号;分析仪电路，所述分析仪电路被配置为在所述状态控制器的控制下在所述多个触发状态之间切换，并在每个触发状态内进行操作以执行关于所述硬件电路是否具有与所述每个触发状态的目标信号值相匹配的硬件信号值的检测，从而切换到所述触发状态序列内的下一个触发状态；其中所述状态控制器被配置为存储指定所述触发状态序列的可编程触发状态数据、和将在每个触发状态中被生成的所述索引信号的值；并且所述分析仪电路被配置为:存储可编程目标控制信号数据，所述可编程目标控制信号数据对用于所述触发状态序列中的每个触发状态的相应目标信号值进行控制；使用来自所述状态控制器的所述索引信号来对所述可编程目标控制信号数据进行索引；以及选择所述可编程目标控制信号数据中的一部分用于给定的触发状态。从另一方面看，本技术提供了用于对硬件电路的操作进行分析的逻辑分析仪，所述逻辑分析仪包括:状态控制器装置，所述状态控制器装置用于在形成可编程的触发状态序列的多个触发状态之间切换所述逻辑分析仪，并生成针对所述多个触发状态中的每个触发状态的索引信号；分析仪装置，所述分析仪装置用于在所述状态控制器装置的控制下在所述多个触发状态之间切换，并在每个触发状态内进行操作以执行关于所述硬件电路是否具有与所述每个触发状态的目标信号值相匹配的硬件信号值的检测，从而切换到所述触发状态序列内的下一个触发状态；其中 所述状态控制器装置进行操作以存储指定所述触发状态序列的可编程触发状态数据、和将在每个触发状态中被生成的所述索引信号的值，并且所述分析仪电路进行操作，以:存储可编程目标控制信号数据，所述可编程目标控制信号数据对用于所述触发状态序列中的每个触发状态的相应目标信号值进行控制；使用来自所述状态控制器的所述索引信号来对所述可编程目标控制信号数据进行索引；以及选择所述可编程目标控制信号数据中的一部分用于给定的触发状态。从另一方面看，本技术提供了一种操作逻辑分析仪的方法，所述逻辑分析仪用于对硬件电路的操作进行分析，所述方法包括以下步骤:使用状态控制器在形成可编程的触发状态序列的多个触发状态之间切换所述逻辑分析仪，并生成针对所述多个触发状态中的每个触发状态的索引信号；在所述状态控制器的控制下在所述多个触发状态之间切换分析仪电路，并在每个触发状态内进行操作以执行关于所述硬件电路是否具有与所述每个触发状态的目标信号值相匹配的硬件信号值的检测，从而切换到所述触发状态序列内的下一个触发状态；存储指定所述触发状态序列的可编程触发状态数据、和将在每个触发状态中被生成的所述索引信号的值；以及存储可编程目标控制信号数据，使用来自所述状态控制器的所述索引信号来对所述可编程目标控制信号数据进行索引，并选择所述可编程目标控制信号数据中的一部分用于给定的触发状态，其中所述可编程目标控制信号数据对用于所述触发状态序列中的每个触发状态的相应目标信号值进行控制。结合附图阅读说明性实施例的以下详细描述，本公开的以上及其他目的、特征、和优点将显而易见。【附图说明】图1示意性地示出了包括嵌入式逻辑分析仪、以及其它分析/调制电路的集成电路；图2示意性地示出了逻辑分析仪；以及图3示意性地示出了级联逻辑分析仪的布置。【具体实施方式】图1示意性地示出了包括被期望进行分析/调制/测试操作的硬件电路4的集成电路2。逻辑分析仪6被耦接到硬件电路4并对硬件电路4执行分析操作。集成电路2还包括其它的调制和分析电路(例如，跟踪电路8和扫描单元电路10)。图2示意性地示出了更详细的逻辑分析仪6。逻辑分析仪6包括状态控制器，该状态控制器包括图2中示出的虚线内的电路12。图2中的虚线外的电路的其余部分用作分析仪电路。状态控制器12用于在形成可编程的触发状态序列的多个触发状态之间切换逻辑分析仪，并且生成索引信号Trig_State，其中N是可扩展的触发状态数目。索引信号的值根据逻辑分析仪6所采用的当前触发状态改变。状态控制器12包括状态控制锁存器14、多个状态控制寄存器16、和状态控制多路复用器18。状态控制寄存器16存储指示将被采用的下一个触发状态的值(其可以是与下一个触发状态相对应的索引值的形式)。状态控制多路复用器18被当前索引值切换，并且将所选择的下一个索引值(触发状态值)引导至状态控制锁存器14。当状态控制锁存器14被定时时，该下一个索引值被存储到状态控制锁存器14内。来自状态控制锁存器14的输出形成分布在逻辑分析仪6周围的索引值，并控制分析仪电路对其在执行关于硬件电路4是否具有与目标信号值的当前集合(分析仪电路正在为其寻求匹配)相匹配的硬件信号值的检测时的操作进行配置。状态控制寄存器16存储可编程触发状态数据，该可编程触发状态数据包括定义可编程的触发状态序列的触发状态值，其中，逻辑分析仪在执行其分析操作时在这些触发状态之间移动。分析仪电路包括多个目标控制信号选择单元，该多个目标控制信号选择单元分别包括存储形成可编程目标控制信号数据的一部分的多个目标控制信号值的多个目标控制信号寄存器、和目标控制信号多路复用器，该目标控制信号多路复用器由状态控制器12所生成的索引值进行切换来选择目标控制信号值中的一个供分析仪电路在逻辑分析仪6的特定的当前触发状态期间使用。下面对多个目标控制信号选择单元的各种不同的形式进行描述。—种形式的目标控制信号选择单元是比较信号选择单元，该比较信号选择单元包括多个比较信号选择寄存器20，每个比较信号选择寄存器20存储将与来自硬件电路4的硬件信号值相匹配的比较信号值。比较信号选择单元还包括由索引值切换的比较信号多路复用器22。当前所当前第1页1 2 3 本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于对硬件电路的操作进行分析的逻辑分析仪，所述逻辑分析仪包括：状态控制器，所述状态控制器被配置为在形成可编程的触发状态序列的多个触发状态之间切换所述逻辑分析仪，并生成针对所述多个触发状态中的每个触发状态的索引信号；分析仪电路，所述分析仪电路被配置为在所述状态控制器的控制下在所述多个触发状态之间切换，并在每个触发状态内进行操作以执行关于所述硬件电路是否具有与所述每个触发状态的目标信号值相匹配的硬件信号值的检测，从而切换到所述触发状态序列内的下一个触发状态；其中所述状态控制器被配置为存储指定所述触发状态序列的可编程触发状态数据、和将在每个触发状态中被生成的所述索引信号的值；以及所述分析仪电路被配置为：存储可编程目标控制信号数据，所述可编程目标控制信号数据对用于所述触发状态序列中的每个触发状态的相应目标信号值进行控制；使用来自所述状态控制器的所述索引信号来对所述可编程目标控制信号数据进行索引；选择所述可编程目标控制信号数据中的一部分用于给定的触发状态。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：马克·杰拉尔德·拉文，
申请(专利权)人：ARM有限公司，
类型：发明
国别省市：英国;GB