耐电晕测试仪圆线试样固定机构制造技术

技术编号:12524430 阅读:81 留言:0更新日期:2015-12-17 13:41
本实用新型专利技术设计一种耐电晕测试仪圆线试样固定机构,包括固定机构本体,所述固定机构本体呈圆柱状或长方体状;在所述固定机构本体延长度方向、内部中心位置形成圆柱状穿孔;在所述固定机构本体侧壁开设有与所述穿孔相垂直且贯通的螺孔,通过螺栓穿过螺孔将试样固定于螺栓与所述穿孔侧壁间。本实用新型专利技术结构简单,使用方便,试样固定可靠,改善测试效果。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及漆包线耐电晕测试
,具体公开一种耐电晕测试仪圆线试样固定机构
技术介绍
在漆包线质量检验中,耐电晕性是一样重要的检测项目。耐电晕性能够反映出漆包线漆在高频高压下的耐老化性能,并且可以直接反映出其寿命长短。耐电晕测试的原理是在高温状态下,基于两条紧贴的漆包线在高频高压状态,导线处于电晕状态,两导线的电晕现象互相影响,加剧对漆包线漆的考验而得出的漆包线漆的击穿寿命。在采用耐电晕测试仪检测漆包线(圆线和扁线)耐电晕性时,需要将检测试样通过固定机构固定于测试仪中,而检测试样的固定机构目前主要采用外部圆柱状、内部填充钢珠的结构形式,各钢珠间有间隙,导致其与检测试样间接触不充分,影响测试效果;同时检测中出现晃动,使得试样与钢珠间出现摩檫移位,导致接触不良,也会影响检测效果。
技术实现思路
本技术的专利技术目的在于:为解决以上问题提供一种结构简单,使用方便,固定可靠,接触紧密,改善测试效果的耐电晕测试仪圆线试样固定机构。本技术所采用的技术方案是这样的:耐电晕测试仪圆线试样固定机构,包括固定机构本体,所述固定机构本体呈圆柱状或长方体状;在所述固定机构本体延长度方向、内部中心位置形成圆柱状穿孔;在所述固定机构本体侧壁开设有与所述穿孔相垂直且贯通的螺孔,通过螺栓穿过螺孔将试样固定于螺栓与所述穿孔侧壁间。进一步地,所述固定机构本体有导电金属材料制成。进一步地,所述穿孔内径Rl为3~6mm。进一步地,所述螺栓与试样接触端呈凹陷结构或平整结构。综上所述,由于采用上述技术方案,本技术的有益效果是:本技术结构简单,通过固定机构本体与螺栓的配合,通过螺栓拧紧将试样固定于测试仪中,保证试样与固定机构间的连接紧密,充分接触,改善测试效果,使得测试结果更加准确。【附图说明】图1为本技术剖面图;图2为本技术实施例1结构俯视图;图3为本技术实施例2结构俯视图。【具体实施方式】下面结合附图对本技术作进一步详细说明。实施例1如图1、2所示,耐电晕测试仪圆线试样固定机构,包括固定机构本体1,所述固定机构本体I呈圆柱状;在所述固定机构本体I延长度方向、内部中心位置形成圆柱状穿孔2 ;在所述固定机构本体I侧壁开设有与所述穿孔2相垂直且贯通的螺孔,通过螺栓3穿过螺孔将试样固定于螺栓3与所述穿孔2侧壁间。所述固定机构本体I有导电金属材料制成,满足测试需要;所述穿孔2内径Rl为5mm,能够满足圆线试样的自由进出且保证试样的晃动空间尽量小;所述螺栓3与试样接触端呈凹陷结构,该结构与漆包线试样圆形截面吻合,使试样连接的更加可靠,有效改善测试效果。实施例2如图1、3所示,耐电晕测试仪圆线试样固定机构,包括固定机构本体1,所述固定机构本体I呈长方体状;在所述固定机构本体I延长度方向、内部中心位置形成圆柱状穿孔2;在所述固定机构本体I侧壁开设有与所述穿孔相垂直且贯通的螺孔,通过螺栓3穿过螺孔将试样固定于螺栓3与所述穿孔2侧壁间。所述固定机构本体I有导电金属材料制成,满足测试的需要;所述穿孔2内径Rl为4mm,能够满足圆线试样的自由进出且保证试样的晃动空间尽量小;所述螺栓3与试样接触端呈平整结构,该结构保证漆包线固定可靠,使试样接触的更加紧密,有效改善测试效果O以上所述仅为本技术的较佳实施例而已,并不用以限制本技术,凡在本技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本技术的保护范围之内。【主权项】1.耐电晕测试仪圆线试样固定机构,包括固定机构本体,其特征在于:所述固定机构本体呈圆柱状或长方体状;在所述固定机构本体延长度方向、内部中心位置形成圆柱状穿孔;在所述固定机构本体侧壁开设有与所述穿孔相垂直且贯通的螺孔,通过螺栓穿过螺孔将试样固定于螺栓与所述穿孔侧壁间。2.根据权利要求1所述的耐电晕测试仪圆线试样固定机构,其特征在于:所述固定机构本体有导电金属材料制成。3.根据权利要求1所述的耐电晕测试仪圆线试样固定机构,其特征在于:所述穿孔内径 Rl 为 3~6_。4.根据权利要求1所述的耐电晕测试仪圆线试样固定机构,其特征在于:所述螺栓与试样接触端呈凹陷结构或平整结构。【专利摘要】本技术设计一种耐电晕测试仪圆线试样固定机构,包括固定机构本体,所述固定机构本体呈圆柱状或长方体状;在所述固定机构本体延长度方向、内部中心位置形成圆柱状穿孔;在所述固定机构本体侧壁开设有与所述穿孔相垂直且贯通的螺孔,通过螺栓穿过螺孔将试样固定于螺栓与所述穿孔侧壁间。本技术结构简单,使用方便,试样固定可靠,改善测试效果。【IPC分类】G01R1/04【公开号】CN204882634【申请号】CN201520641557【专利技术人】夏克, 叶贤刚 【申请人】常州威远电工器材有限公司【公开日】2015年12月16日【申请日】2015年8月24日本文档来自技高网...

【技术保护点】
耐电晕测试仪圆线试样固定机构,包括固定机构本体,其特征在于:所述固定机构本体呈圆柱状或长方体状;在所述固定机构本体延长度方向、内部中心位置形成圆柱状穿孔;在所述固定机构本体侧壁开设有与所述穿孔相垂直且贯通的螺孔,通过螺栓穿过螺孔将试样固定于螺栓与所述穿孔侧壁间。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:夏克叶贤刚
申请(专利权)人:常州威远电工器材有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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