本实用新型专利技术公开了一种能进行水平校对及自清洁的电子分析天平，包括基座和设置在基座上的测量室，基座包含控制面板、显示屏、水平泡和设置在基座上表面的秤盘，测量室包括玻璃面板和前开门，测量室后方设置清洁室，测量室与清洁室之间的面板下方设置开孔，开孔内设置风扇，基座底面设置支柱，支柱可伸缩。本实用新型专利技术通过设置减震伸缩支柱，可通过观察水平泡状态调整支柱长度使分析天平处于水平状态，可避免电子分析天平在使用中因触屏等原因发生晃动，从而导致测量数据不精确的现象；此外，还有斜向下设置的风扇，粉末状或质量较轻的测量物称量完成后若有洒落，可打开风扇及将其从前开门吹出，避免影响下一批待测量物的精度。
【技术实现步骤摘要】
本技术属于化学检测仪器
，具体涉及一种结构简单，操作简便，能进行水平校对及自清洁的电子分析天平。
技术介绍
电子分析天平作为精密测量工具已在工业、医疗、化工等领域得到广泛的运用。由于电子分析天平的待测对象对测量精度具有极高要求，测量过程中的丝毫误差均有可能影响测量结果。电子分析天平在使用中，时常会由于环境原因或人为因素导致其难以保持水平状态，从而影响测量结果；此外，测量粉末状的测量物可能会洒落在托盘以外的地方，如不及时清理，就会影响下一批待测量物的测量精度。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种结构简单，操作简便，能进行水平校对及自清洁的电子分析天平。本技术的目的是这样实现的，包括基座和设置在基座上的测量室，所述基座包含控制面板、显示屏、水平泡和设置在基座上表面的秤盘，所述测量室包括玻璃面板和前开门，所述测量室后方设置清洁室，所述测量室与清洁室之间的面板下方设置开孔，开孔内设置风扇，所述基座底面设置支柱，所述支柱可伸缩。本技术通过设置减震伸缩支柱，可通过观察水平泡状态调整支柱长度使分析天平处于水平状态，避免电子分析天平在使用中因触屏等原因发生晃动，从而导致测量数据不精确的现象；此外，通过在测量室与清洁室之间的面板下方设置开孔，开孔内设置风扇，该风扇正对前开门、且斜向下设置，当粉末状或质量较轻的测量物称量完成后若有洒落，打开风扇即可将其从前开门吹出，避免影响下一批待测量物的测量精度。【附图说明】图1为本技术整体结构示意图；图中:1-基座，2-前开门，3-秤盘，4-测量室，5-清洁室，6-风扇，7-控制开关面板，8-电热管，9-支柱，10-减震垫，11-升降气缸。【具体实施方式】下面结合附图对本技术作进一步的说明，但不得以任何方式对本技术加以限制，基于本技术教导所作的任何变更或改进，均属于本技术的保护范围。如图1所示，本技术包括基座I和设置在基座I上的测量室4，所述基座I包含控制面板、显示屏、水平泡和设置在基座I上表面的秤盘3，所述测量室4包括玻璃面板和前开门2，所述测量室4后方设置清洁室5，所述测量室4与清洁室5之间的面板下方设置开孔，开孔内设置风扇6，所述基座I底面设置支柱9，所述支柱9可伸缩。所述风扇6斜向下设置，且可左右转动。所述支柱9上设置升降气缸11，所述升降气缸11为针型气缸。所述支柱9底部设置减震垫10。所述清洁室5内设置电热管8，所述电热管8由清洁室5延伸至测量室4内。所述电热管8延伸至测量室4部分为多根首尾相连的U型管。所述基座I侧部设置电热管8、风扇6及升降气缸11的控制开关面板7，所述控制开关面板7上设置控制按钮。所述升降气缸11与控制开关面板7上的控制按钮一一对应。本技术的工作原理及工作过程如下:本技术通过设置减震伸缩支柱，可通过观察水平泡状态调整支柱长度使分析天平处于水平状态，避免电子分析天平在使用中因触屏等原因发生晃动，从而导致测量数据不精确的现象；此外，通过在测量室与清洁室之间的面板下方设置开孔，开孔内设置风扇，该风扇正对前开门、且斜向下设置，当粉末状或质量较轻的测量物称量完成后若有洒落，打开风扇即可将其从前开门吹出，避免影响下一批待测量物的测量精度。工作时，先根据水平泡里气泡的位置判断电子分析天平是否处于水平状态，若电子分析天平处于不水平状态，通过调节升降气缸11来调节支柱9的高度，调至当气泡处于水平泡中部时说明分析天平处于水平状态，然后就可开始测量待测物，减震垫10的设置可防止电子分析天平在使用中因触屏等原因发生晃动而导致测量数据不精确的现象；若测量过程有干且轻的测量物洒落在测量室4内，以防影响下一批待测量物的精度，可以在测完后打开风扇6，风扇6是正对前开门2，斜向下设置且可左右转动的，这样风可以吹到测量室4各个方位将秤盘3及秤盘3以外的其它地方清理干净，若测量室4是留有无法吹除的污垢，可以借助其它清洗仪器将其清洗干净，然后打开电热管8对测量室4内加热，就能很快蒸发测量室4内水分且保持测量室4内干燥，避免空气潮湿而影响测量数据；电热管8为多根首尾相连的U型管，有效的增加了散热面积，加速了测量室4内的干燥速度。【主权项】1.一种能进行水平校对及自清洁的电子分析天平，包括基座(I)和设置在基座(I)上的测量室(4)，所述基座(I)包含控制面板、显示屏、水平泡和设置在基座(I)上表面的秤盘(3)，所述测量室(4)包括玻璃面板和前开门(2)，其特征是:所述测量室(4)后方设置清洁室(5)，所述测量室(4)与清洁室(5)之间的面板下方设置开孔，开孔内设置风扇(6)，所述基座(I)底面设置支柱(9 )，所述支柱(9 )可伸缩。2.根据权利要求1所述的能进行水平校对及自清洁的电子分析天平，其特征是:所述风扇(6)斜向下设置，且可左右转动。3.根据权利要求1所述的能进行水平校对及自清洁的电子分析天平，其特征是:所述支柱(9)上设置升降气缸(11)，所述升降气缸(11)为针型气缸。4.根据权利要求1或3所述的能进行水平校对及自清洁的电子分析天平，其特征是:所述支柱(9 )底部设置减震垫(10 )。5.根据权利要求1所述的能进行水平校对及自清洁的电子分析天平，其特征是:所述清洁室(5)内设置电热管(8)，所述电热管(8)由清洁室(5)延伸至测量室(4)内。6.根据权利要求5所述的能进行水平校对及自清洁的电子分析天平，其特征是:所述电热管(8)延伸至测量室(4)的部分为多根首尾相连的U型管。7.根据权利要求1所述的能进行水平校对及自清洁的电子分析天平，其特征是:所述基座(I)侧部设置电热管(8)、风扇(6)及升降气缸(11)的控制开关面板(7)，所述控制开关面板(7)上设置控制按钮。8.根据权利要求7所述的能进行水平校对及自清洁的电子分析天平，其特征是:所述控制开关面板(7)上的控制按钮与升降气缸(11) 一一对应。【专利摘要】本技术公开了一种能进行水平校对及自清洁的电子分析天平，包括基座和设置在基座上的测量室，基座包含控制面板、显示屏、水平泡和设置在基座上表面的秤盘，测量室包括玻璃面板和前开门，测量室后方设置清洁室，测量室与清洁室之间的面板下方设置开孔，开孔内设置风扇，基座底面设置支柱，支柱可伸缩。本技术通过设置减震伸缩支柱，可通过观察水平泡状态调整支柱长度使分析天平处于水平状态，可避免电子分析天平在使用中因触屏等原因发生晃动，从而导致测量数据不精确的现象；此外，还有斜向下设置的风扇，粉末状或质量较轻的测量物称量完成后若有洒落，可打开风扇及将其从前开门吹出，避免影响下一批待测量物的精度。【IPC分类】G01G23/00【公开号】CN204854941【申请号】CN201520568311【专利技术人】张勤永, 龚泰琪, 杨文丽, 李艳 【申请人】昆明倍健生物科技有限公司【公开日】2015年12月9日【申请日】2015年7月31日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种能进行水平校对及自清洁的电子分析天平，包括基座（1）和设置在基座（1）上的测量室（4），所述基座（1）包含控制面板、显示屏、水平泡和设置在基座（1）上表面的秤盘（3），所述测量室（4）包括玻璃面板和前开门（2），其特征是：所述测量室（4）后方设置清洁室（5），所述测量室（4）与清洁室（5）之间的面板下方设置开孔，开孔内设置风扇（6），所述基座（1）底面设置支柱（9），所述支柱（9）可伸缩。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张勤永，龚泰琪，杨文丽，李艳，
申请(专利权)人：昆明倍健生物科技有限公司，
类型：新型
国别省市：云南;53
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