用于通过X辐射对多个基本相同组件的自动化测试和/或测量的系统和方法技术方案

技术编号:12485469 阅读:131 留言:0更新日期:2015-12-10 23:41
用于通过X辐射对多个基本相同组件(12)的自动化串行测试和/或测量的系统包括:测试装置(11),具有支承(17)、经安装以便在支承(17)上是连续可旋转的转子(18)和设置在转子(18)上的X射线装置(24、25);包围测试装置(11)的保护壳体(15);装卸装置(60),用于在X射线测试期间装卸组件(12);以及控制/评估单元(14),配置用于自动控制系统(10)以及通过计算机断层扫描来评估X射线信号。装卸装置(60)配置用于在装卸区(61)与测试区(78)之间周期地往复,并且包括端面元件(64),在其上,组件(12)能够设置在端面的侧面上。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】【专利说明】用于通过X辐射对多个基本相同组件的自动化测试和/或测量的系统和方法本专利技术涉及用于通过X辐射对多个基本相同组件的自动化测试和/或测量的系统,包括:测试装置,具有支承、经安装以便在支承上是连续可旋转的转子和设置在转子上的X射线装置;包围测试装置的保护壳体;装卸装置,用于在测试期间装卸组件;以及控制/评估单元,配置用于自动控制系统以及通过计算机断层扫描来评估X射线信号。而且,本专利技术涉及用于操作这种系统的方法。这种类型的系统例如用于铸件的自动化串行测试,其中装置集成到制造商的生产线中(在线测试)。介绍中提到的类型的一种系统例如从EP 2278305 Al是已知的。待测试组件通过贯穿测试装置的带式传送机按照线性方式经过转子来推送。待测试组件的截面尺寸因多个边界条件而受到相当大限制。首先,带式传送机已经占据测试装置的圆形空旷截面的一部分,其因此不再可用于组件本身。其次,带式传送机必须具有某个最小宽度,使得由于圆形空旷截面,带式传送机不能够设置在空旷截面的最下区域中,由此也损失相当大的高度。因此,只有测试装置的实际空旷截面的一小部分可用于待测试组件。本专利技术的目的是提供一种适合于组件的在线测试的CT系统以及对应方法,其在测试装置中为待测试组件提供最大空旷截面。本专利技术采用独立权利要求的部件来实现这个目的。按照本专利技术,装卸装置配置成在装载区与测试区之间执行周期往复运动。因此,它是往复装卸装置。与经过测试装置的传送机相对照,按照本专利技术的装卸装置使测试装置的整个空旷截面可用于组件,因为按照本专利技术,组件能够接纳于装卸装置的通用端面元件,其适合于可适应组件的不同接纳/保持部件。因此,与经过测试装置的传送机相比,本专利技术采用相当大的截面表面积来实现组件的测试。不可思议地,本专利技术不需要测试周期的任何延长,因为已经发现,测试装置在各测试过程之后无论如何都要求某个冷却时间,其能够被使用而无需卸载被测组件和装载下一个待测试组件的时间的任何损失。有利地,装卸装置安装在与装载区相反的测试装置侧面或测试平面上。这是有利的,因为装载区能够没有用于储存装卸装置的结构,使得装载区中的整个构造空间具体可用于装载和卸载组件的装置。另外,装卸装置能够有利地基本上完全设置在辐射保护壳体内部,即经过充分保护。由于这个特征,按照本专利技术的装卸装置例如与医疗CT系统的常规患者台架(其中患者始终安装在台架基座的侧面上的台架)有所不同。下面将参照有利实施例和附图来解释本专利技术。附图包括:图1示出用于生产线中的组件的串行X射线测试的系统的顶视图;图2示出X射线测试系统的透视图;图3示出X射线装置的区域中的X射线测试系统的示意截面图;图4示出X射线装置的装卸装置的一部分的透视图;以及图5至7示出在测试过程的不同时间点处的X射线测试系统的透视图。系统10包括:测试/测量装置11 ;装卸装置60,用于具体在测试/测量装置11中的X射线测试期间装卸组件12 ;电子控制/评估单元14,用于控制系统10并且用于通过计算机断层扫描来评估X射线信号;以及包围测试/测量装置11的保护壳体15,用于具体通过例如包含铅的吸收X辐射的层来屏蔽环境免受X射线管24所生成的X辐射。可编程或编程控制/评估单元14通常设置在辐射保护壳体15外部的操作区67中,并且例如包括操作终端88。测试/测量装置11包括??支承17,其在测试期间是固定的;以及环状转子18。支承17包括锚定到接地板23的底座19。支承17的环状部分形成转子18的环状旋转轴承。旋转轴承、转子18和支承17的环状部分形成环形单元16,其包括中央环形开口 26(参见图7),以用于在测试期间通过环形单元16使组件12移位。为了实现水平取向,环形单元16能够通过水平枢轴承相对于底座19例如在+-30°的范围中倾斜。组件12优选地通过轴向平行(即平行于转子轴)的转子18来传送。X射线管24和X射线探测器25相互相反地附连在转子18上。优选地配置为旋转阳极管的X射线管24优选地配置用于生成扇形束(20),参见图5至图7。备选地,X射线管24能够具有锥形束类型。便利地,X射线管24配置用于采用X辐射20来照射整个探测器25,并且为此优选地包括沿至少40°、优选地至少60°的一个方向的射束角。为了得到亚毫米分辨率,X射线束的焦点大小优选地小于I mm,更优选地小于0.7 mm。优选地以至少80 kV、更优选地以至少100 kV、更优选地以至少120 kV、例如大约140 kV的能量来操作管24。考虑到优选高穿透能力,高达450 kV的较高X射线能量是可设想的。为了减少测试或测量时间,X射线管24优选地以至少I kW的连续功率输出来操作。为了避免因过度热生成引起的问题,连续功率输出优选地小于10 kW。在未示出的实施例中,只有管24可附连到转子18,而固定探测器25形成360°环形。具体来说,X射线探测器25是半导体探测器,并且优选地为数字的,其中入射X辐射直接转换为电计数脉冲。它优选地是具有多个优选地至少16条平行线的线探测器。探测器25优选地具有充分长度,以便获取管24所发射的X辐射的尽可能大的角范围。它优选地弯曲成香蕉形状,使得敏感表面在各处尽可能具有离X射线管24的源点的基本恒定距离。图5至图7中,切断香蕉形状探测器25,使得在这里只有探测器25的端部是可见的。为了得到亚毫米图像分辨率,探测器25的像素大小为最多I _、优选地为最多0.7 _。在组件12的X射线测试期间,转子18通过未示出并且附连到支承17的旋转驱动器绕环形单元16的中心纵轴连续旋转,其中转子18的多个全360°旋转对各组件12来执行。与转子18和X射线探测器25共同旋转的X射线管24的电力供应通过设置在转子18和支承17之间的集电环组合件经由高压供应装置79来实现。转子18的旋转轴或者环形单元16的纵轴优选地定位成与组件12通过测试/测量装置11的平移方向平行、优选地基本上水平的。例如,系统10设置在传送装置13、例如滚筒或带式传送机上,以用于串行馈送和移开多个基本上相同的待测试组件12。传送装置13优选地配置为传送线、即配置为平移传送机,并且能够是例如生产线的一部分。系统10包括例如装载装置22,其在这种情况下配置为机器人。装载装置22的其他实施例是可能的。装载装置22用于从传送机13获取待测量组件12,将它传递给装卸装置60以进行测试(装载测试装置11),在测试之后从装卸装置60获取组件12 (卸载测试装置11),并且将它放置在传送机13上供传输。装载装置22能够是不必要的,特别是如果在装卸装置60本身配置用于从传送装置13移开组件12或者将其放置在传送装置13上的话。装卸装置60也能够按照不同方式、例如手动地装载和卸载。为了将组件12馈入保护壳体15或者从其中移开它们,装载开口 39提供在保护壳体15中,其在X射线测试期间能够例如通过未示出的滑板按照防辐射方式来密封,使得始终确保针对福射的保护。管43通过转子18来引导,具体来说以便保护测试装置11和环形单元16免受因组件12的引入引起的污垢,而且还防止因不正确定位的组件12引起的损坏。管43限定待测试组件12的传输隧道。管43优选地从装载开口 39通过测试装置11、即通过环形单元16的环形开口 2本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于通过X辐射对多个基本相同组件(12)的自动化串行测试和/或测量的系统(10),包括具有支承(17)、经安装以便在所述支承(17)上连续可旋转的转子(18)和设置在所述转子(18)上的X射线装置(24,25)的测试装置(11)、包围所述测试装置(11)的保护壳体(15)、用于在X射线测试期间装卸组件(12)的装卸装置(60)和配置用于自动控制所述系统(10)以及通过计算机断层扫描来评估所述X射线信号的控制/评估单元(14),其特征在于所述装卸装置(60)配置用于在装载区(61)与测试区(78)之间周期地往复,并且包括垂直定向端面元件(64),从而提供接纳和/或保持部件,所述组件(12)在其上能够设置在所述端面的侧面上。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:M韦斯滕贝克
申请(专利权)人:GE传感与检测技术有限公司
类型:发明
国别省市:德国;DE

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