一种铁氧体粉末及其所制备的成型体制造技术

本发明专利技术公开了一种铁氧体粉末及其所制备的成型体，在激光衍射式粒度分布仪的粒度分布测定中，粒度分布的几何标准偏差是1.4～1.59，平均体积粒径是0.9～1.5μm，筛下物累积比例为10％的粒径X10是0.35～0.55μm，且筛下物累积比例为90％的粒径X90是1.5～2.5μm。本发明专利技术实施例能够将SFD有效控制在0.30以下，使得矫顽力均一化程度更高、磁力均匀性更好、磁性能更强，从而在形成磁记录介质时，记录位之间的过渡区更小，记录密度更高，信号灵敏度更好，所制备出磁记录介质的复印效应更小，重写性能更好。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及磁记录介质领域，尤其涉及一种铁氧体粉末及其所制备的成型体。
技术介绍
粘结磁体是将高分子粘结剂与铁氧体磁粉复合而成的永磁材料，不仅具有永磁铁 氧体的磁特性，而且具有高分子材料的容易加工、产品尺寸精确诸多优良特性，改进了烧结 磁体不易加工等缺点。 近年来，随着科技水平的发展，各种应用粘结磁体的设备都要求使用性和可靠性 能够大幅提尚，这就要求粘结磁体以及用于制备粘结磁体的铁氧体粉末具有更尚的性能及 更好的稳定性。 磁记录介质（例如：磁质车票、磁卡等）是粘结磁体的主要应用领域之一，为了在 更小的体积上记录更多的信息，磁记录介质需要具有更高的磁记录密度以及良好的环境稳 定性。本申请的专利技术人发现：对于用作磁记录介质的粘结铁氧体粉末而言，SFD(英文全称 为SwitchingFieldDistribution，译为开关场分布）越小，矫顽力均一化程度越高，在形 成磁记录介质时，记录位之间的过渡区越小，记录密度越高，录放信号的灵敏度越好，所形 成磁记录介质的复印效应越小，重写性能越好；但在现有技术中，SFD基本都在0. 32以上， 这使得所制备出磁记录介质的性能受到了很大限制。
技术实现思路
针对现有技术中的上述不足之处，本专利技术提供了一种铁氧体粉末及其所制备的成 型体，能够将SFD有效控制在0? 30以下，使得矫顽力均一化程度更高、磁力均匀性更好、磁 性能更强，从而在形成磁记录介质时，记录位之间的过渡区更小，记录密度更高，信号灵敏 度更好，所制备出磁记录介质的复印效应更小，重写性能更好。 本专利技术的目的是通过以下技术方案实现的： -种铁氧体粉末，在激光衍射式粒度分布仪的粒度分布测定中，粒度分布的几何 标准偏差是1. 4~1. 59,平均体积粒径是0. 9~1. 5ym，筛下物累积比例为10 %的粒径X10 是0. 35~0. 55ym，且筛下物累积比例为90%的粒径X90是1. 5~2. 5ym。 优选地，在激光衍射式粒度分布仪的粒度分布测定中，平均体积粒径1. 0~ 1. 2um〇 -种成型体，该成型体为磁记录介质，采用上述技术方案中所述铁氧体粉末制成。 由上述本专利技术提供的技术方案可以看出，本专利技术实施例所提供的铁氧体粉末通过 对铁氧体粉末粒度分布的几何标准偏差、平均体积粒径、粒径X10、粒径X90进行调整，从而 能够将SFD有效控制在0. 30以下，使得矫顽力均一化程度更高、磁力均匀性更好、磁性能更 强，从而在形成磁记录介质时，记录位之间的过渡区更小，记录密度更高，信号灵敏度更好， 所制备出磁记录介质的复印效应更小，重写性能更好。【具体实施方式】 下面对本专利技术中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是 本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术的实施例，本领域普通技术人员在 没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术的保护范围。 下面分别对本专利技术所提供的铁氧体粉末及其所制备的成型体进行详细描述。 -种铁氧体粉末，其具体内容包括：在激光衍射式粒度分布仪的粒度分布测定中， 粒度分布的几何标准偏差是1. 4~1. 59,平均体积粒径是0. 9~1. 5ym，筛下物累积比 例为10 %的粒径X10是0. 35~0. 55ym，且筛下物累积比例为90 %的粒径X90是1. 5~ 2. 5um〇 其中，该铁氧体粉末的具体实施方案可以包括： (1)计算几何标准偏差的公式为：几何标准偏差=(X84/X16)P1/2P，其中，X84是筛 下物的累积比例按体积标准为84%时的粒径，X16是筛下物的累积比例按体积标准为16% 时的粒径。在现有技术中，本领域技术人员一直认为用于制备磁记录介质的铁氧体粉末其 粒度分布的几何标准偏差最好在1. 6~2. 2之间，但本申请的专利技术人发现，当铁氧体粉末的 粒度分布的几何标准偏差在1. 6~2. 2这一区间时，SFD值较大，所制得的磁记录介质的性 能较差，因而本专利技术所提供的铁氧体粉末在激光衍射式粒度分布仪的粒度分布测定中，粒 度分布的几何标准偏差在1. 4~1. 59之间；如果该几何标准偏差大于1. 59,则该铁氧体粉 末的SFD数值较大，矫顽力分布范围较宽，所制备出的磁记录介质灵敏度较低，重写性能较 差，因而不优选；而要将该几何标准偏差控制到小于1. 4,目前的技术水平是难以做到的， 即使能够做到，那么制造工序也会相当复杂，成本很高，因而不优选。 (2)平均体积粒径是用全部颗粒的体积总和除以全部颗粒数求出的粒径。本专利技术 所提供的铁氧体粉末在激光衍射式粒度分布仪的粒度分布测定中，平均体积粒径为〇. 9~ 1. 5ym;如果平均体积粒径大于1. 5ym，则该铁氧体粉末的颗粒尺寸增大，单位面积排布 的颗粒总数减少，SFD数值变大，所制备出的磁记录介质的磁记录密度会大幅下降，因而不 优选；如果平均体积粒径小于〇. 9ym，则该铁氧体粉末的分散性会大幅下降，因而不优选。 在实际应用中，平均体积粒径可以为0. 9~1. 5ym，但最好为1. 0~1. 2ym。 (3)X10是筛下物的累积比例按体积标准为10%时的粒径，X90是筛下物的累积 比例按体积标准为90%时的粒径。本专利技术所提供的铁氧体粉末在激光衍射式粒度分布仪 的粒度分布测定中，筛下物累积比例为10%的粒径X10是0. 35~0. 55ym，且筛下物累积 比例为90 %的粒径X90是1. 5~2. 5ym;如果粒径X10小于0. 35ym并且粒径X90大于 2. 5ym，则该铁氧体粉末的SFD数值较大，矫顽力分布范围较宽，所制备出的磁记录介质灵 敏度较低，重写性能较差，因而不优选；而将粒径X10控制到大于0. 55ym并且将粒径X90 控制到小于1. 5ym，制备难度非常大，不容易实现，成本很高，因而不优选；如果粒径X10小 于0. 35且粒径X90小于1. 5,会造成平均粒度偏小，因而不优选；如果粒径X10大于0. 55且 粒径X90大于2. 5,会造成平均粒度偏大，因而不优选。 (4)本专利技术所提供的铁氧体粉末的矫顽力最好为2500~30000e，这不仅可以使所 制备出的磁记录介质具有较小的复印效应、较好的灵敏度和重写性能，而且制备工艺相对 简单，生产效率较高。 (5)本专利技术中铁氧体粉末的几何标准偏差、平均体积粒径、X10、X90均可以是采用 HELOS&RODOS激光衍射式粒度分布仪当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种铁氧体粉末，其特征在于，在激光衍射式粒度分布仪的粒度分布测定中，粒度分布的几何标准偏差是1.4～1.59，平均体积粒径是0.9～1.5μm，筛下物累积比例为10％的粒径X10是0.35～0.55μm，且筛下物累积比例为90％的粒径X90是1.5～2.5μm。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：韩超，廖有良，高磊，王倩，刘荣明，李炳山，胡国辉，王永齐，贾立颖，
申请(专利权)人：北矿磁材科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11