晶圆级凸点封装结构的制作方法技术

本发明专利技术涉及一种晶圆级凸点封装结构的制作方法，包括如下步骤：（1）提供集成了芯片电极和绝缘层的晶圆；（2）在晶圆上制作保护层；（3）将芯片电极上方的保护层去除形成第一开口，将晶圆上的芯片切割位置的保护层去除形成第二开口；（4）在第一开口处制作凸点下金属层和凸点层；（5）沿第二开口的位置进行切割，得到单颗晶圆级凸点封装结构。本发明专利技术避免了因热失配而导致保护层拉扯绝缘层的应力过大的问题，从而提高了封装可靠性；且在提高可靠性的同时，并没有增加工艺步骤。本发明专利技术在切割晶圆过程中，由于去除了预定切割位置处的保护胶，使保护层避开了切割道，消除了切割时保护层对绝缘层的拉扯，减少了切割时芯片本体的崩边现象。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，属于半导体封装

技术介绍
在对晶圆级凸点封装结构进行切割以及对凸点封装进行可靠性测试时，在工艺和测试过程中产生了绝缘层开裂等现象。现有技术中，针对该技术问题，企业的做法一般是更换保护胶以减小保护胶、绝缘层以及硅的热失配，从而减少保护胶对绝缘层的拉扯，进而降低进行封装可靠性测试时凸点封装结构发生的失效现象。这种做法的不足之处为，更换保护胶增加了封装成本，而且换胶对产品可靠性的改善程度有限；同时，换胶对切割过程中的裹胶现象没有改善。
技术实现思路
本部分的目的在于概述本专利技术的实施例的一些方面以及简要介绍一些较佳实施例。在本部分以及本申请的说明书摘要和专利技术名称中可能会做些简化或省略以避免使本部分、说明书摘要和专利技术名称的目的模糊，而这种简化或省略不能用于限制本专利技术的范围。鉴于上述和/或现有晶圆级凸点封装结构切割以及测试过程中存在的绝缘层开裂问题，提出了本专利技术。本专利技术的目的是克服现有技术中存在的不足，提供一种，降低了凸点封装工艺中作为缓冲层的保护层在后续封装工艺及测试过程中对封装可靠性的负面影响。按照本专利技术提供的技术方案，所述，包括如下步骤: (O提供集成了芯片电极和绝缘层的晶圆； (2)在晶圆上制作保护层； (3)将芯片电极上方的保护层去除形成第一开口，将晶圆上的芯片切割位置的保护层去除形成第二开口； (4)在第一开口处制作凸点下金属层和凸点层； (5)沿第二开口的位置进行切割，得到单颗晶圆级凸点封装结构。进一步的，所述保护层为高分子聚合物。进一步的，所述保护层为苯并环丁烯(BCB)、聚四氟乙烯或聚酰亚胺。 进一步的，所述步骤(3 )形成第一开口和第二开口，具体包括:将芯片电极正上方的保护去除除形成第一开口，裸露出芯片电极的表面；同时，将相邻芯片电极之间切割位置处的保护层去除，裸露出绝缘层的表面，形成第二开口。进一步的，所述步骤(4)在第一开口处制作凸点下金属层和凸点层，具体包括: (I)在保护层、第一开口和第二开口上制作凸点下金属层，凸点下金属层覆盖保护层、第一开口和第二开口； (2)在凸点下金属层的表面制作光刻胶，将第一开口位置处的光刻胶去除，露出芯片电极正上方凸点下金属层的表面； (3)在第一开口处制作凸点层； (4)去除光刻胶； (5)以凸点层作为掩膜，采用湿法刻蚀法刻蚀凸点下金属层直至露出凸点层以外区域的绝缘层和保护层。进一步的，所述凸点下金属层为钛、铬、钨、镍中的一种或它们的组合。进一步的，所述凸点层的材料为镍、铜、钯或其合金。本专利技术具有以下优势: (I)涂覆保护层后，将芯片电极暴露出来，同时形成预定切割道上第二开口的结构，避免了在以后工艺过程中因热失配而导致保护层拉扯绝缘层的应力过大的问题，从而提高了封装可靠性；且在提高可靠性的同时，并没有增加工艺步骤。(2)在切割晶圆过程中，由于去除了预定切割位置处的保护胶，形成第二开口，使保护层避开了切割道，消除了切割时保护层对绝缘层的拉扯，减少了切割时芯片本体的崩边现象。同时，避免了保护层的裹刀现象，提高了产品良率。【附图说明】为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。图1?图8为本专利技术所述的各步骤得到的产品的不意图。其中: 图1为所述晶圆的不意图。图2为制作保护层后的示意图。图3为制作凸点下金属层后的示意图。图4为制作光刻胶后的示意图。图5为制作凸点层后的示意图。图6为去除光刻胶后的示意图。图7为去除多余凸点下金属层后的示意图。图8为切割得到晶圆级凸点封装结构的示意图。图中序号:晶圆Tl、芯片本体1、芯片电极2、绝缘层3、第一开口 4、保护层5、第二开口 6、凸点下金属层7、光刻胶8、凸点层9。【具体实施方式】为了使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合具体附图对本专利技术的【具体实施方式】作进一步的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术，但是本专利技术还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施例，本领域技术人员可以在不违背本专利技术内涵的情况下做类似推广，因此本专利技术不受下面公开的具体实施例的限制。其次，本专利技术结合示意图进行详细描述，在详述本专利技术实施例时，为便于说明，表示器件结构的剖面图会不依一般比例作局部放大，而且所述示意图只是示例，其在此不应限制本专利技术保护的范围。此外，在实施制作中应包含长度、宽度及深度的三维空间尺寸。另，本专利技术中提出的术语“表面”等指示方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，而不是要求本专利技术必须以特定的方位构造和操作，因此不理解为对本专利技术的限制。本专利技术所述，如图1?图8所示，该生产工艺包括如下步骤:提供集成了芯片电极和绝缘层的晶圆，在晶圆上制作保护层，将晶圆上的芯片切割位置的保护层去除形成第二开口，将芯片电极上方的保护层去除形成第一开口 ；在第一开口处制作凸点下金属层和凸点层后沿第二开口的位置进行切割当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种晶圆级凸点封装结构的制作方法，其特征是，包括如下步骤：（1）提供集成了芯片电极和绝缘层的晶圆；（2）在晶圆上制作保护层；（3）将芯片电极上方的保护层去除形成第一开口，将晶圆上的芯片切割位置的保护层去除形成第二开口；（4）在第一开口处制作凸点下金属层和凸点层；（5）沿第二开口的位置进行切割，得到单颗晶圆级凸点封装结构。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：曹立强，何洪文，戴风伟，秦飞，史戈，别晓锐，
申请(专利权)人：华进半导体封装先导技术研发中心有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32