一种用于存储介质数据销毁的校验方法技术

本发明专利技术实施例提供一种用于存储介质数据销毁的校验方法，包括将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理；根据目标存储介质的数据销毁特征信息提取生成第一加密电子特征码以及根据目标存储介质的固有属性信息提取生成第二加密电子特征码；基于预设的加密算法，将第一加密电子特征码和第二加密电子特征码进行组合加密，生成校验密文序列后写入目标存储介质中指定的校验存储区域；校验核查时，对校验存储区域的校验密文序列进行解密处理，将生成的解密结果与存储介质上的显性信息核对以验证目标存储介质的数据销毁信息。采用本发明专利技术提供的方法，通过技术手段，可以解决现有由于人工疏忽或者故意出现的校验不准确，导致数据外泄的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术实施例涉及数据销毁
，尤其涉及。
技术介绍
鉴于磁性介质的存储原理和数据读写方法，普通的低级格式化、数据删除等方法都无法彻底清除数据；操作系统和硬盘的隐性操作会产生残留数据，为了避免不法分子利用数据残留恢复出原始数据信息，造成安全泄密的风险，在硬盘报废或者送修、捐献前应按不同的保密等级对硬盘数据进行销毁处理。目前，在磁性介质进行数据销毁后会生成一个对应的标签，标签上信息包括磁性介质的属性、规格以及是否已进行销毁处理等信息。后续的审核员根据标签信息对批量处理后的磁性介质进行统一处理。但是在实际操作中，发现现有对存储介质数据销毁的校验方式存在几个问题:(I)存在人为失误或者主观故意误操作，将标签错贴乱贴，出现标签信息显示已销毁但实际并未进行销毁操作的问题，导致重要数据外泄；(2)标签信息为明文信息，容易导致磁性介质销毁信息暴露，若标签显示未完成销毁信息，则易被非法人员留意并窃取此磁性介质的信息；(3)审核员过于依赖标签信息，若在处理过程中，出现标签脱落或者损坏，则会导致审核员无法审核的问题。
技术实现思路
为解决现有存储介质数据销毁的校验方式存在的上述问题，本专利技术提供，通过在存储介质内写入校验密文序列的技术手段，实现校验核查时可以保证安全、无遗漏的验证存储介质数据销毁的状态信息。本专利技术提供的的技术手段如下:—种用于存储介质数据销毁的校验方法，包括:将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理；根据所述目标存储介质的数据销毁特征信息提取生成第一加密电子特征码以及根据所述目标存储介质的固有属性信息提取生成第二加密电子特征码；基于预设的加密算法，将所述第一加密电子特征码和第二加密电子特征码进行加密，生成校验密文序列后写入所述目标存储介质中指定的校验存储区域；校验核查时，对所述校验存储区域的校验密文序列进行解密处理，将生成的解密结果与所述存储介质上的显性信息核对以验证所述目标存储介质的数据销毁信息。进一步地，在上述技术方案的基础上，将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理后，将生成的校验密文序列和数据销毁信息一并写入数据销毁报告并打印输出，则在校验核查时，对所述校验存储区域的校验密文序列以及数据销毁报告中的校验密文序列一并进行解密，并将解密结果与所述存储介质上的显性信息核对以验证所述目标存储介质的数据销毁信息。进一步地，在上述技术方案的基础上，在所述将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理之前，还包括:对所述目标存储介质进行容量最大化处理以消除系统隐藏存储空间。进一步地，在上述技术方案的基础上，对所述目标存储介质进行容量最大化处理之后，在将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理之前还包括:检测所述目标存储介质是否存在不可或局部不可销毁的缺陷，若存在则发出告警提不?目息。进一步地，在上述技术方案的基础上，所述不可或局部不可销毁的缺陷至少包括:所述目标存储介质中写磁头损坏或存在坏扇区映射。进一步地，在上述技术方案的基础上，还包括:将所述目标存储介质的显性信息生成二维码图形标签，则在校验核查时，对所述校验存储区域的校验密文序列进行解密处理，将生成的解密结果与所述二维码图形提取的信息进行核对。进一步地，在上述技术方案的基础上，所述目标存储介质的数据销毁特征信息包括下述一种或多种的特征信息组合:擦除开始时间、擦除完成时间、擦除完成状态、擦除标准或操作员编号。进一步地，在上述技术方案的基础上，所述目标存储介质的固有属性信息包括下述一种或多种的属性信息组合:存储介质系列号、存储介质容量、存储介质型号或存储介质版本号。本专利技术实施例用于存储介质数据销毁的校验方法通过将第一加密电子特征码和第二加密电子特征码进行组合加密，避免现有校验方法中靠单一依赖标签的明文信息进行校验，可以实现在校验核查时，通过对所述校验存储区域的校验密文序列进行解密处理，获取该存储介质的数据销毁信息以及固有属性信息，从而判断校验此存储介质的数据销毁的具体情况。通过上述技术手段，可以实现可靠的、无遗漏的校验，加强了对存储介质数据销毁处理的安全性。【附图说明】为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术用于存储介质数据销毁的校验方法实施例一的流程图；图2为本专利技术用于存储介质数据销毁的校验方法实施例二的流程图；图3为本专利技术用于存储介质数据销毁的校验方法实施例三的流程图。【具体实施方式】为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。实施例一图1为本专利技术用于存储介质数据销毁的校验方法实施例一的流程图，图1的执行主体是存储介质数据销毁设备和校验核查终端，具体如图1所示，包括:步骤103、将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理，存储介质可以包括如:硬盘，U盘，移动硬盘，SD卡，CF卡等存储介质。数据销毁处理可以采用扇区进行物理清零和覆盖的方式，或者利用强磁对存储介质消磁和物理破坏。具体的选择的方式可根据数据销毁的要求而选定。步骤105、根据所述目标存储介质的数据销毁特征信息提取生成第一加密电子特征码以及根据所述目标存储介质的固有属性信息提取生成第二加密电子特征码；本步骤中，优选地，所述目标存储介质的数据销毁特征信息可以包括下述一种或多种的特征信息组合:擦除开始时间、擦除完成时间、擦除完成状态、擦除标准或操作员编号，上述特征信息均与具体对目标存储介质数据销毁处理具有关联性。只要具有与目标存储介质数据销毁处理具有关联性的特征信息在此都可以作为提取生成第一加密电子特征码的基础，在此不做进一步限定。所述目标存储介质的固有属性信息可以包括下述一种或多种的属性信息组合:存储介质系列号、存储介质容量、存储介质型号或存储介质版本号。上述属性信息均可以唯一标识此存储介质。步骤107、基于预设的加密算法，将所述第一加密电子特征码和第二加密电子特征码进行加密，生成校验密文序列后写入所述目标存储介质中指定的校验存储区域；本步骤具体实施时，可以根据需要选择是单独将第一加密电子特征码或者第二加密电子特征码进行加密，或者将第一加密电子特征码和第二加密电子特征码进行组合加密。具体加密的校验密文序列可以按照目标存储介质的容量值的一定比例设定，指定的校验存储区域也不做限定，在实施时可以根据需要调整设定。且为了进一步保证安全性，对每个目标存储介质数据销毁时，均可以随机指定不同的区域，在解密时，再将生成的随机区域信息仅发送给校验终端，从而更进一步增加校验的安全性。步骤109、校验核查时，对所述校验存储区域的校验密文序列进行解密处理，将生成的解密结果与所述存储介质上的显性信息核对以验证所述目标存储介质的数据销毁信息。此步骤中，存储介质上的显性信息比如在存储介质上标签上显示的存储介质系列号。首先核对存储本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于存储介质数据销毁的校验方法，其特征在于，包括：将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理；根据所述目标存储介质的数据销毁特征信息提取生成第一加密电子特征码以及根据所述目标存储介质的固有属性信息提取生成第二加密电子特征码；基于预设的加密算法，将所述第一加密电子特征码和第二加密电子特征码进行加密，生成校验密文序列后写入所述目标存储介质中指定的校验存储区域；校验核查时，对所述校验存储区域的校验密文序列进行解密处理，将生成的解密结果与所述存储介质上的显性信息核对以验证所述目标存储介质的数据销毁信息。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李家兴，
申请(专利权)人：厦门宇高信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：福建;35