高精度磨床测量机构制造技术

技术编号:12424998 阅读:76 留言:0更新日期:2015-12-03 10:42
本实用新型专利技术涉及机床领域,具体的涉及一种高精度磨床测量机构,其包括测量架、测量架驱动装置、第一测量臂、第二测量臂和测量臂驱动装置,所述测量架通过测量架驱动装置可移动的安装于磨床上,所述第一测量臂固定安装于测量架一端,第二测量臂通过滑动座安装于滑轨上、驱动电机与滑动座连接进而驱动第二测量臂靠近或远离第一测量臂的方向移动,所述第一测量臂和第二测量臂上分别设有升降装置和测量头,且第一测量臂的测量头与工件接触的一侧还设有保护开关。该种高精度磨床测量机构提高了测量架的运动精度及定位精度,保证测量臂放下进入测量位置后的位置误差达到0.001mm;解决了传统磨床测量过程发生碰撞事故保护第一测量臂的作用。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及机床领域,具体的涉及一种高精度磨床测量机构
技术介绍
乳辊磨床广泛应用于冶金、造纸、化工等领域对滚型工件的磨削加工,加工时磨床测量臂测量数值的准确性之间影响加精度,为保证磨床测量数值的准确性,授权公告号CN203719632 U的技术专利公开了一种乳辊磨床激光精密测距仪,包括能够固定安装于乳棍磨床上的平尺、左测量座)、右测量座、激光测量尺、标准测量棒和驱动装置,所述左、右测量座能够沿直线方向相对滑动定位于平尺上,标准测量棒长度方向的两端分别能够固定定位于左、右测量座的指定位置上,激光测量尺的激光发射器和激光反射体分别固定安装于左、右测量座上,驱动装置能够驱动左、右测量座运动。影响磨床测量机构测量精度的因素有很多,一是现有测量机构的质量重,导致加工时运行不平稳;二是测量头在于工件接触的过中产生颤抖而导致多次测量的数值不统一;三是测量臂的驱动方式复杂而使提高了操作难度,因此现有的磨床测量装置有待进一步的改进。
技术实现思路
为克服现有技术中的不足,本技术提供一种测量精度高的磨床测量机构。本技术采用的技术方案如下:高精度磨床测量机构,安装于磨床上,其特征在于:包括测量架、测量架驱动装置、第一测量臂、第二测量臂和测量臂驱动装置,所述测量架通过测量架驱动装置可移动的安装于磨床上,所述第一测量臂固定安装于测量架一端,所述测量臂驱动装置包括工子形的滑轨、滑动座和驱动电机,该滑轨沿测量架长方向延伸、第二测量臂通过滑动座安装于滑轨上、驱动电机与滑动座连接进而驱动第二测量臂靠近或远离第一测量臂的方向移动,所述第一测量臂和第二测量臂上分别设有升降装置和测量头,且第一测量臂的测量头与工件接触的一侧还设有保护开关。进一步的,第一测量臂、第二测量臂采用铝合金材料制成。进一步的,测量头为陶瓷合金材料制成的圆柱测量头。进一步的,测量架驱动装置包括交流伺服电机、减速器、滚珠丝杆,该交流伺服电机的输出端与减速器连接、并通过减速器驱动滚珠丝杆转动。进一步的,测量架上设有与滚珠丝杆相适配的移动导轨,该移动导轨采用德国star直线滚动导轨副。由上述对本技术的描述可知,本技术提供的高精度磨床测量机构,大大提高了测量架的运动精度及定位精度,给实现高精度测量提供了可靠的基础保证;通过第一测量臂和第二测量臂为工件两点测量,测量架带动第二测量臂靠近或远离第一测量臂以适应不同直径乳辊的测量需要,每个测量臂升降均采用德国进口带自锁功能锁紧油缸,保证测量臂放下进入测量位置后的位置误差达到0.0Olmm ;第一测量臂上设置了保护开关解决了传统磨床测量过程发生碰撞事故,保护第一测量臂的作用。【附图说明】图1为高精度磨床测量机构的结构示意图。图2为高精度磨床测量机构的侧视图。图3为高精度磨床测量机构的剖视图。图4为高精度磨床测量机构第一测量臂的结构示意图。图5为高精度磨床测量机构第二测量臂的结构示意图。【具体实施方式】以下结合附图,通过【具体实施方式】对本技术作进一步的描述。参照图1至图5所示,高精度磨床测量机构,安装于磨床上,包括测量架1、测量架驱动装置2、第一测量臂3、第二测量臂4和测量臂驱动装置5 ;测量架I通过测量架驱动装置2可移动的安装于磨床100上,测量架I上设有移动导轨11,该移动导轨采用德国star直线滚动导轨副;测量架驱动装置2包括交流伺服电机、减速器、滚珠丝杆,该交流伺服电机的输出端与减速器连接、并通过减速器驱动滚珠丝杆转动,测量架上的移动导轨与滚珠丝杆相适配;第一测量臂3固定安装于测量架I 一端,第二测量臂4安装于测量架I上,第一测量臂3和第二测量臂4采用铝合金材料制成,该第一测量臂3上设有升降装置31、测量头32、测量头32与工件接触的一侧还设有保护开关33,第二测量臂4上设有升降装置41和测量头42,测量头32为陶瓷合金材料制成的圆柱测量头;测量臂驱动装置5包括工子形的滑轨51、滑动座52和驱动电机53,该滑轨51沿测量架I长方向延伸、第二测量臂4通过滑动座安装于滑轨51上、驱动电机53与滑动座52连接进而驱动第二测量臂4靠近或远离第一测量臂3的方向移动;参照图1至图5所示,上述高精度磨床测量机构,测量时,测量架I由交流伺服电机通过减速器及滚珠丝杆来驱动,测量架移动导轨11采用德国star直线滚动导轨副,大大提高了测量架的运动精度及定位精度,给实现高精度测量提供了可靠的基础保证;通过第一测量臂3和第二测量臂4为工件两点测量,测量架带动第二测量臂4靠近或远离第一测量臂3以适应不同直径乳辊的测量需要;第一测量臂3、第二测量臂4分别通过对应的升降装置31、41放下进入测量位置,其它时候测量臂收起,保证测量臂放下进入测量位置后的位置误差达到0.0Olmm ;测量头32、42采用陶瓷合金圆柱侧头,增加了测量的可靠性和准确性,第一测量臂3上设置了保护开关33解决了传统磨床测量过程中测量臂颤动而导致每次测量数字都不准的问题;工子形的滑轨51使得测量臂I降低了重量,提高了整体的刚性;并且第一测量臂3、第二测量臂4也改为铝合金材料,进一步降低测量臂整体重量,提高了测量臂的刚性。上述仅为本技术的若干【具体实施方式】,但本技术的设计构思并不局限于此,凡利用此构思对本技术进行非实质性的改动,均应属于侵犯本技术保护范围的行为。【主权项】1.高精度磨床测量机构,其特征在于:包括测量架、测量架驱动装置、第一测量臂、第二测量臂和测量臂驱动装置,所述测量架通过测量架驱动装置可移动的安装于磨床上,所述第一测量臂固定安装于测量架一端,所述测量臂驱动装置包括工子形的滑轨、滑动座和驱动电机,该滑轨沿测量架长方向延伸、第二测量臂通过滑动座安装于滑轨上、驱动电机与滑动座连接进而驱动第二测量臂靠近或远离第一测量臂的方向移动,所述第一测量臂和第二测量臂上分别设有升降装置和测量头,且第一测量臂的测量头与工件接触的一侧还设有保护开关。2.根据权利要求1所述的高精度磨床测量机构,其特征在于:所述第一测量臂、第二测量臂采用铝合金材料制成。3.根据权利要求1或2所述的高精度磨床测量机构,其特征在于:所述测量头为陶瓷合金材料制成的圆柱测量头。4.根据权利要求1所述的高精度磨床测量机构,其特征在于:所述测量架驱动装置包括交流伺服电机、减速器、滚珠丝杆,该交流伺服电机的输出端与减速器连接、并通过减速器驱动滚珠丝杆转动。5.根据权利要求4所述的高精度磨床测量机构,其特征在于:所述测量架上设有与滚珠丝杆相适配的移动导轨,该移动导轨采用德国star直线滚动导轨副。【专利摘要】本技术涉及机床领域,具体的涉及一种高精度磨床测量机构,其包括测量架、测量架驱动装置、第一测量臂、第二测量臂和测量臂驱动装置,所述测量架通过测量架驱动装置可移动的安装于磨床上,所述第一测量臂固定安装于测量架一端,第二测量臂通过滑动座安装于滑轨上、驱动电机与滑动座连接进而驱动第二测量臂靠近或远离第一测量臂的方向移动,所述第一测量臂和第二测量臂上分别设有升降装置和测量头,且第一测量臂的测量头与工件接触的一侧还设有保护开关。该种高精度磨床测量机构提高了测量架的运动精度及定位精度,保证测量臂放下进入测量位置后的位置误差达到0.001mm;解决了传统磨床测量过程发本文档来自技高网...

【技术保护点】
高精度磨床测量机构,其特征在于:包括测量架、测量架驱动装置、第一测量臂、第二测量臂和测量臂驱动装置,所述测量架通过测量架驱动装置可移动的安装于磨床上,所述第一测量臂固定安装于测量架一端,所述测量臂驱动装置包括工子形的滑轨、滑动座和驱动电机,该滑轨沿测量架长方向延伸、第二测量臂通过滑动座安装于滑轨上、驱动电机与滑动座连接进而驱动第二测量臂靠近或远离第一测量臂的方向移动,所述第一测量臂和第二测量臂上分别设有升降装置和测量头,且第一测量臂的测量头与工件接触的一侧还设有保护开关。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈伟陈泮水洪斌陈祖乐叶琦楠
申请(专利权)人:福建达宇重型数控机床有限公司
类型:新型
国别省市:福建;35

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