透明基体的光学特性的评价方法、光学装置制造方法及图纸

一种透明基体的光学特性的评价方法，是配置在显示装置的显示面侧的具有第一及第二表面的透明基体的光学特性的评价方法，其特征在于，使用透明基体的定量化了的析像度指标值及定量化了的反射像扩散性指标值这两个指标值，来评价所述透明基体的光学特性。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及透明基体的光学特性的评价方法、光学装置。
技术介绍
通常，在LCD (Liquid Crystal Display:液晶显示器)装置等显示装置的显示面侧配置有由透明基体构成的罩，以进行该显示装置的保护。然而，在显示装置上设置这样的透明基体的情况下，在经由透明基体要观察显示装置的显示图像时，经常存在虽然在周边放置但会产生映入的情况。当透明基体产生这样的映入时，显示图像的观察者不仅难以观察显示图像，而且感受到不愉快的印象。因此，为了抑制这样的映入，采用例如对透明基体的表面实施形成凹凸形状的防眩处理的方法等。需要说明的是，在专利文献I中示出了使用特殊的装置来评价向显示装置的映入的方法。【在先技术文献】【专利文献】【专利文献I】日本国特开2007-147343号公报
技术实现思路
【专利技术要解决的课题】如前述那样，在专利文献I中示出使用特殊的装置来评价向显示装置的映入的方法。然而，透明基体所要求的光学特性并不仅局限于映入的减少。S卩，透明基体根据用途而被要求析像度、反射像扩散性适当的光学特性。因此，在选定透明基体时，仅是单纯地考虑任I个光学特性的话并不充分，经常需要同时考虑适当的多个光学特性。在通过透明基体来观察显示图像时，在此所述的析像度表示能得到与显示图像为何种程度一致的图像。而且，反射像扩散性表示在透明基体的周边放置的物体(例如照明)的反射像与原本的物体为何种程度一致。另一方面，透明基体所要求的光学特性中，经常存在处于权衡的关系的特性。例如，通常在提高反射像扩散性时，对透明基体的表面实施防眩处理。然而，在实施这样的防眩处理的情况下，透明基体的析像度处于下降的倾向。这样，若要基于多个光学特性对透明基体实施防眩处理，则有时难以选定适当的防眩处理。本专利技术鉴于这样的背景而作出，在本专利技术中，其目的在于提供一种根据目的或用途等，能够适当地选定透明基体的透明基体的光学特性的评价方法、具有在所述评价方法中处于适当的范围的透明基体的光学装置。【用于解决课题的方案】在本专利技术中，提供一种透明基体的光学特性的评价方法，是配置在显示装置的显示面侧的具有第一及第二表面的透明基体的光学特性的评价方法，其特征在于，使用透明基体的定量化了的析像度指标值及定量化了的反射像扩散性指标值这两个指标值，来评价所述透明基体的光学特性。在此，在本专利技术的方法中，也可以是，所述定量化了的析像度指标值通过如下步骤得到:从所述透明基体的所述第二表面侧沿着与所述透明基体的厚度方向平行的方向(角度0°的方向)照射第一光，使受光角度相对于所述透明基体的厚度方向在-90°?+90 °的范围内变化，测定从所述第一表面侧透射的透射光的亮度并求出全部透射光的亮度的步骤；求出所述透射光的亮度成为最大的角度(峰值角度)的步骤；及根据以下的式(I)来推算析像度指标值T的步骤，析像度指标值T =(全部透射光的亮度-峰值角度下的透射光的亮度)/ (全部透射光的亮度)式(I)。而且，在本专利技术的方法中，也可以是，所述定量化了的反射像扩散性指标值通过如下步骤得到:从所述透明基体的所述第一表面侧沿着相对于所述透明基体的厚度方向成30°的方向照射第二光，使受光角度相对于所述透明基体的厚度方向在0°?+90°的范围内变化，测定由所述第一表面反射的反射光的亮度的步骤；求出所述反射光的亮度成为最大的角度(峰值角度)的步骤；及根据以下的式(2)来推算反射像扩散性指标值D的步骤，反射像扩散性指标值D =((峰值角度+1°下的亮度)+(峰值角度-1°下的亮度))/2/(峰值角度下的亮度)式(2)。而且，在本专利技术的方法中，也可以是，所述析像度指标值及/或反射像扩散性指标值使用测角器来取得。而且，在本专利技术的方法中，也可以是，所述显示装置是从由IXD装置、OLED装置、PDP装置、电子书籍及平板型显示装置构成的组中选择的一个装置。而且，在本专利技术的方法中，也可以是，所述透明基体由钠钙玻璃或铝硅酸盐玻璃构成。这种情况下，也可以是，所述透明基体的所述第一及第二表面中的至少一个面被进行化学强化处理。而且，在本专利技术的方法中，也可以是，所述透明基体的所述第一表面被进行防眩处理。这种情况下，也可以是，所述防眩处理通过对所述透明基体的所述第一表面应用从由磨砂处理、蚀刻处理、喷砂处理、研磨处理及硅涂层处理构成的组中选择的至少一个处理方法来实施。此外，在本专利技术中，提供一种光学装置，具有显示装置和在该显示装置的显示面侧配置的透明基体，其特征在于，所述透明基体具有第一及第二表面，所述透明基体在使用通过以下的方法定量化的析像度指标值T及反射像扩散性指标值D这两个指标值进行评价的情况下，满足析像度指标值TS 0.7，反射像扩散性指标值D彡0.6，在此，所述析像度指标值T通过如下方式得到:从所述透明基体的所述第二表面侧沿着与所述透明基体的厚度方向平行的方向(角度0°的方向)照射第一光，使受光角度相对于所述透明基体的厚度方向在-90°?+90°的范围内变化，测定从所述第一表面侧透射的透射光的亮度，求出全部透射光的亮度和所述透射光的亮度成为最大的峰值角度，并根据以下的式(I)推算所述析像度指标值T，析像度指标值T =(全部透射光的亮度-峰值角度下的透射光的亮度)/ (全部透射光的亮度)式(1)，所述反射像扩散性指标值D通过如下方式得到:从所述透明基体的所述第一表面侧沿着相对于所述透明基体的厚度方向成30°的方向照射第二光，使受光角度相对于所述透明基体的厚度方向在0°?+90°的范围内变化，测定由所述第一表面反射的反射光的亮度，求出所述反射光的亮度成为最大的角度(峰值角度)，并通过以下的式(2)推算所述反射像扩散性指标值D，反射像扩散性指标值D=((峰值角度+1°下的亮度)+ (峰值角度-1°下的亮度))/2/(峰值角度下的亮度)式(2)。在此，在本专利技术的光学装置中，也可以是，所述透明基体由钠钙玻璃或铝硅酸盐玻璃构成。这种情况下，也可以是，所述透明基体的所述第一及第二表面中的至少一个面被进行化学强化处理。而且，在本专利技术的光学装置中，也可以是，所述透明基体的所述第一表面被进行防眩处理。而且，也可以是，所述防眩处理通过对所述透明基体的所述第一表面应用从由磨砂处理、蚀刻处理、喷砂处理、研磨处理及硅涂层处理构成的组中选择的至少一个处理方法来实施。而且，在本专利技术的光学装置中，也可以是，所述显示装置是从由IXD装置、OLED装置、PDP装置、电子书籍及平板型显示装置构成的组中选择的一个装置。【专利技术效果】在本专利技术中，能够提供一种根据目的或用途等而能够适当地选定透明基体的、透明基体的透明基体的光学特性的评价方法。【附图说明】图1是概略地表示本专利技术的一实施方式的取得透明基体的析像度指标值的方法的流程的图。图2是示意性地表示取得析像度指标值时使用的测定装置的一例的图。图3是概略性地表示本专利技术的一实施方式的取得透明基体的反射像扩散性指标值的方法的流程的图。图4是示意性地表示取得反射像扩散性指标值时使用的测定装置的一例的图。图5标绘了在各种当前第1页1 2 3 4 5 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种透明基体的光学特性的评价方法，是配置在显示装置的显示面侧的具有第一及第二表面的透明基体的光学特性的评价方法，所述透明基体的光学特性的评价方法的特征在于，使用透明基体的定量化了的析像度指标值及定量化了的反射像扩散性指标值这两个指标值，来评价所述透明基体的光学特性。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：妹尾具展，小林裕介，大神聪司，
申请(专利权)人：旭硝子株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP