本发明专利技术披露一种非接触式温度测量装置，其包括一辐射收集单元、一温度感测单元以及一激光单元。辐射收集单元包括一第一容置空间、一第二容置空间、一收集槽、一反射体及一通孔。第一容置空间设置于反射体的一侧，第二容置空间设置于反射体的另一侧，收集槽环绕于反射体，第一容置空间与第二容置空间通过通孔相互连通。温度感测单元设置于第一容置空间，温度感测单元具有一光学中心轴。激光单元设置于第二容置空间，以发出一激光光源，激光光源沿着一激光光轴的方向并通过通孔射出。其中，温度感测单元的光学中心轴通过反射体与激光光轴重合。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种温度测量装置，尤指一种非接触式温度测量装置。
技术介绍
温度测量装置通常可分为接触式与非接触式的温度测量装置，而非接触式的温度测量装置已广泛地应用于生活当中，尤其以工业用的辐射温度测量装置最为常见。然此种辐射温度测量装置若运用于工业测量上时，容易因为并未具有瞄准装置，并不易了解所测量的范围为何。虽另有开发出一种通过激光单元以辅助瞄准辐射温度测量装置的产品，此种态样的产品通常是直接将激光单元设置于辐射温度测量装置的上方或侧边，其激光光轴会与辐射温度测量装置的中心轴平行，然此种态样还是会因为辐射温度测量装置的中心轴与激光单元所照射于待测物上的激光光点相距一固定距离，仍需要通过计算以了解所测量的范围为何。对于上述问题虽另有开发出一种将激光光轴通过棱镜以使得激光光轴产生偏移，使之与辐射温度测量装置的中心轴同轴的结构，然而此种结构会因为棱镜所使用的材质为硅或是锗而不易进行加工。因此如何提出一种能够将激光光轴与辐射温度测量装置的中心轴同轴同时能够无需考虑棱镜材质难以加工的问题，以及通过激光光轴与辐射温度测量装置的中心轴同轴的特性，使得使用者能够容易了解的所测量范围，已然成为该所属
人士所欲解决的重要课题。
技术实现思路
鉴于以上的问题，本专利技术提供一种非接触式温度测量装置，通过一辐射收集单元、一温度感测单元以及一激光单元的设计，使得温度感测单元的光学中心轴通过辐射收集单元中的反射体与激光单元所发出的激光光源重合，并通过其重合的技术特征，使得使用者能够容易了解到测量范围的中心。为了达到上述的目的，本专利技术的其中一实施例为提供一种非接触式温度测量装置，其包括:一辐射收集单元、一温度感测单元以及一激光单元。所述辐射收集单元包括一第一容置空间、一第二容置空间、一收集槽、一反射体及一通孔，其中所述第一容置空间设置于所述反射体的一侧，所述第二容置空间设置于所述反射体的另一侧，所述收集槽环绕于所述反射体，所述第一容置空间与所述第二容置空间通过所述通孔相互连通。所述温度感测单元设置于所述第一容置空间，其中所述温度感测单元具有一光学中心轴。所述激光单元设置于所述第二容置空间，以发出一激光光源，所述激光光源沿着一激光光轴的方向并通过所述通孔射出。其中，所述温度感测单元的所述光学中心轴通过所述反射体与所述激光光轴重合。本专利技术的另外一实施例提供一种非接触式温度测量装置，其包括:一辐射收集单元、一温度感测单元以及一激光单元。所述辐射收集单元包括一第一容置空间、一第二容置空间、一收集槽、一反射体、一通孔及一固定座，所述第二容置空间设置于所述固定座上，所述固定座具有一透光体，所述固定座通过所述透光体设置于通孔上，其中所述固定座设置于所述反射体的一侧，所述第二容置空间设置于所述反射体的另一侧，所述收集槽环绕于所述反射体。所述温度感测单元设置于所述第一容置空间，其中所述温度感测单元具有一光学中心轴。所述激光单元设置于所述第二容置空间，以发出一激光光源，所述激光光源沿着一第一激光光轴的方向射出并通过所述透光体的折射以沿着一第二激光光轴的方向射出。其中，所述温度感测单元的所述光学中心轴通过所述反射体与所述第二激光光轴重合。本专利技术的另外一实施例提供一种非接触式温度测量装置，其包括:一辐射收集单元、一温度感测单元以及一激光单元。所述辐射收集单元包括一第一容置空间、一第二容置空间、一收集槽、一反射体及一固定座，所述第二容置空间设置于所述固定座上，所述固定座具有一透光体，其中所述固定座设置于所述反射体的一侧，所述第二容置空间设置于所述反射体的另一侧，所述收集槽环绕于所述反射体。所述温度感测单元设置于所述第一容置空间，其中所述温度感测单元具有一光学中心轴。所述激光单元设置于所述第二容置空间，以发出一激光光源，所述激光光源沿着一第一激光光轴的方向射出并通过所述透光体的折射以沿着一第二激光光轴的方向射出。其中，所述温度感测单元的所述光学中心轴通过所述反射体与所述第二激光光轴重合。本专利技术另提供的一种非接触式温度测量装置，其包括:一辐射收集单元、一温度感测单元以及一激光单元，所述辐射收集单元包括一第一容置空间、一第二容置空间、一收集槽及一反射体，其中所述第一容置空间设置于所述反射体的一侧，所述第二容置空间设置于所述反射体的另一侧，所述收集槽环绕于所述反射体。所述温度感测单元设置于所述第一容置空间，其中所述温度感测单元具有一光学中心轴。所述激光单元设置于所述第二容置空间，以发出一激光光源，所述激光光源沿着一激光光轴方向并穿过所述反射体射出。其中，所述温度感测单元的所述光学中心轴通过所述反射体与所述激光光源所沿着的所述激光光轴方向重合。本专利技术的有益效果可以在于，本专利技术实施例所提供的非接触式温度测量装置通过一辐射收集单元、一温度感测单元以及一激光单元的设计，将温度感测单元设置于辐射收集单元中的反射体的焦点，并通过其反射体焦点的特性，使温度感测单元的光学中心轴与激光单元的激光光轴重合，并通过其重合的技术特征，使得使用者通过照射于待测物体上的激光光源，能够准确的了解其所测量的位置。为使能更进一步了解本专利技术的特征及
技术实现思路
，请参阅以下有关本专利技术的详细说明与附图，然而所附图式仅提供参考与说明用，并非用来对本专利技术加以限制者。【附图说明】图1A为本专利技术非接触式温度测量装置第一实施例的其中一立体分解示意图。图1B为本专利技术非接触式温度测量装置第一实施例的另外一立体分解示意图。图1C为本专利技术非接触式温度测量装置第一实施例的其中一立体组合示意图。图1D为本专利技术非接触式温度测量装置第一实施例的另外一立体组合示意图。图1E为本专利技术非接触式温度测量装置第二实施例的剖面示意图。图2A为本专利技术非接触式温度测量装置第二实施例的其中一立体分解示意图。图2B为本专利技术非接触式温度测量装置第二实施例的另外一立体分解示意图。图2C为本专利技术非接触式温度测量装置第二实施例的其中一立体组合示意图。图2D为本专利技术非接触式温度测量装置第二实施例的另外一立体组合示意图。图2E为本专利技术非接触式温度测量装置第二实施例及第三实施例的剖面示意图。【符号说明】非接触式温度测量装置N辐射收集单元I第一容置空间11第二容置空间12收集槽13反射体14通孔15通孔面积15’固定座16透光体161锁固槽17温度感测单元2光学中心轴21感测范围22激光单元3[003当前第1页1 2 3 4 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种非接触式温度测量装置，其特征在于，所述非接触式温度测量装置包括：一辐射收集单元，所述辐射收集单元包括一第一容置空间、一第二容置空间、一收集槽、一反射体及一通孔，其中所述第一容置空间设置于所述反射体的一侧，所述第二容置空间设置于所述反射体的另一侧，所述收集槽环绕于所述反射体，所述第一容置空间与所述第二容置空间通过所述通孔相互连通；一温度感测单元，所述温度感测单元设置于所述第一容置空间中，其中所述温度感测单元具有一光学中心轴；以及一激光单元，所述激光单元设置于所述第二容置空间中，以发出一激光光源，所述激光光源沿着一激光光轴的方向并通过所述通孔射出；其中，所述温度感测单元的所述光学中心轴通过所述反射体而与所述激光光轴重合。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：林增隆，
申请(专利权)人：热映光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71
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