本实用新型专利技术公布了一种O型密封圈漏率检测装置，包括高压氦气发生装置，氦质谱检漏仪，其特征在于，还包括加热锅，上、下法兰，温度压力测试仪，所述上、下法兰配装在加热锅中，上法兰中部设置有充气孔，充气孔上端连接有中空筒体，中空筒体内设置有连接温度压力测试仪的压力传感器、温度传感器，中空筒体与高压氦气发生装置相连，所述上法兰靠近其边缘处还设置有检漏孔，检漏孔与氦质谱检漏仪相连接；本实用新型专利技术通过设置上、下法兰，温度压力测试仪，以及巧妙的布置中空筒体，可以模拟不同温度下，不同压差下O型密封圈的漏率，简单实用，经济使用价值高。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及检测装置，具体为一种O型密封圈漏率检测装置。
技术介绍
O型密封圈因其结构简单、安装方便，是最常见的一种密封制品，在大多数的密封场合下，都要求密封尽可能达到“零”泄露，漏率是密封装置设计的重要参数，在某些高温高压场合下，通常使用O型密封圈配合法兰进行密封，高温高压工况下，压差越大，密封泄露的可能性也越大，温度越高，密封圈结构破坏的可能性也越大，目前行业内，针对O型圈漏率的检测都是将样品送往第三方检测机构检测，因此，针对不同型号、规格产品的检测费用对中小企业而言，是一笔不小的研发支出，如能开发一种在满足行业标准的O型圈漏率检测装置，则最好不过了。
技术实现思路
本技术针对上述技术现状，提出了一种O型密封圈漏率检测装置，该装置将待检测密封圈安装在法兰组合内，法兰加热后，通过法兰上的充气孔和检漏孔，使用氦质谱检漏仪测量漏率，实现待考核密封圈温度、压力和漏率的同步测量。为达到上述目的，本专利技术拟采用如下技术:—种O型密封圈漏率检测装置，包括高压氦气发生装置(I )，氦质谱检漏仪(9)，还包括加热锅(4)，上、下法兰(5、6)，温度压力测试仪(8)，所述上、下法兰(5、6)配装在加热锅(4)中，上法兰(5)中部设置有充气孔，充气孔上端连接有中空筒体(50)，中空筒体(50)内设置有连接温度压力测试仪(8)的压力传感器(80)、温度传感器(81)，中空筒体(50)与高压氦气发生装置(I)相连，所述上法兰(5)靠近其边缘处还设置有检漏孔(51 )，检漏孔(51)与氦质谱检漏仪(9)相连接。进一步地，所述高压氦气发生装置(I)为高压氦气瓶。进一步地，所述高压氦气发生装置(I)与中空筒体(50 )之间还设置有充气阀(2 )，放气阀(3)，试验开始前，当高压氦气发生装置(I)向中空筒体(50)充气时，充气阀(2)打开，放气阀(3)关闭，当试验结束后，充气阀(2)关闭，放气阀(3)打开，放出中空筒体(50)的氦气。进一步地，所述加热锅(4)内盛装有液体加热介质(40)，视O型密封圈的承压条件，所述液体加热介质(40)是水或者是恒温油中的一种。进一步地，所述上、下法兰(5、6)之间还设置有用于放置O型密封圈的半圆槽，所述半圆槽数量为2条，使用时，半圆槽中放置O型密封圈(7)。本技术通过设置加热锅，上、下法兰，温度压力测试仪，以及在上法兰上巧妙地布置中空筒体，使得本装置可以测定不同温度、不同压差下的O型密封圈的泄露率，经济使用价值高。【附图说明】图1示出了本技术的示意图。【具体实施方式】如图1所示，本方案设计的检漏装置使用时，将待检测O型密封圈7安装在上、下法兰5、6的半圆槽中，通过高压氦气瓶的加压，加热锅4的加温，模拟高温高压环境下O型密封圈7的工况，本装置中采用氦质谱检漏仪9对O型密封圈7检漏，从而得到设定温度、设定压力下O型密封圈7的漏率变化。两道O型密封圈7之间为检漏区域，内道密封圈内为气体腔。关闭放气阀3，打开充气阀2，高压氦气瓶连接中空筒体50，并向气体腔内充压，则内道密封圈两侧的气体腔与检漏区形成压差。法兰组合整体放入加热锅4，气体腔内气体与内道密封圈直接接触，可近似认为温度相同，检漏时氦质谱检漏仪9对检漏区持续抽真空，内、外道密封圈外的氦分子在压差的驱动下进人检漏区，被检漏仪检测得到检漏区漏率，此漏率为内外道密封圈漏率之和，但当上、下法兰放入加热锅4时，外道密封圈可认为是“零”气体泄漏，此时，氦质谱检漏仪9测得的为内道密封圈的漏率，由此可以得出不同温度，不同压差下O型密封圈的漏率。【主权项】1.一种O型密封圈漏率检测装置，包括高压氦气发生装置(I )，氦质谱检漏仪(9)，其特征在于，还包括加热锅(4)，上、下法兰(5、6)，温度压力测试仪(8)，所述上、下法兰(5、6)配装在加热锅(4)中，上法兰(5)中部设置有充气孔，充气孔上端连接有中空筒体(50)，中空筒体(50)内设置有连接温度压力测试仪(8)的压力传感器(80)、温度传感器(81)，中空筒体(50 )与高压氦气发生装置(I)相连，所述上法兰(5 )靠近其边缘处还设置有检漏孔(51)，检漏孔(51)与氦质谱检漏仪(9)相连接。2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述高压氦气发生装置(I)为高压氦气瓶。3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述高压氦气发生装置(I)与中空筒体(50 )之间还设置有充气阀(2 )，放气阀(3 )。4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述加热锅(4)内盛装有液体加热介质(40)。5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述液体加热介质(40)可以是水或者是恒温油中的一种。6.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述上、下法兰(5、6)之间还设置有用于放置O型密封圈的半圆槽。7.根据权利要求6所述的检测装置，其特征在于，所述半圆槽数量为2条。【专利摘要】本技术公布了一种O型密封圈漏率检测装置，包括高压氦气发生装置，氦质谱检漏仪，其特征在于，还包括加热锅，上、下法兰，温度压力测试仪，所述上、下法兰配装在加热锅中，上法兰中部设置有充气孔，充气孔上端连接有中空筒体，中空筒体内设置有连接温度压力测试仪的压力传感器、温度传感器，中空筒体与高压氦气发生装置相连，所述上法兰靠近其边缘处还设置有检漏孔，检漏孔与氦质谱检漏仪相连接；本技术通过设置上、下法兰，温度压力测试仪，以及巧妙的布置中空筒体，可以模拟不同温度下，不同压差下O型密封圈的漏率，简单实用，经济使用价值高。【IPC分类】G01M3/22【公开号】CN204740107【申请号】CN201520174961【专利技术人】严林, 岳清, 严航嘉 【申请人】自贡市佳世特密封制品有限公司【公开日】2015年11月4日【申请日】2015年3月26日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种O型密封圈漏率检测装置，包括高压氦气发生装置（1），氦质谱检漏仪（9），其特征在于，还包括加热锅（4），上、下法兰（5、6），温度压力测试仪（8），所述上、下法兰（5、6）配装在加热锅（4）中，上法兰（5）中部设置有充气孔，充气孔上端连接有中空筒体（50），中空筒体（50）内设置有连接温度压力测试仪（8）的压力传感器（80）、温度传感器（81），中空筒体（50）与高压氦气发生装置（1）相连，所述上法兰（5）靠近其边缘处还设置有检漏孔（51），检漏孔（51）与氦质谱检漏仪（9）相连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：严林，岳清，严航嘉，
申请(专利权)人：自贡市佳世特密封制品有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51
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