一种手镯尺寸的便利测量卡及其测量方法技术

本发明专利技术涉及尺寸测量技术领域，特别公开了一种手镯尺寸的便利测量卡及其测量方法。该手镯尺寸的便利测量卡，包括卡片体，其特征在于：所述卡片体为梯形，卡片体上设置有均匀分布的与两梯面平行的若干条检测线，检测线上标注有号码或尺寸数据。本发明专利技术结构简单，使用方便，操作容易，便于消费者自行测量，填补了手寸的测量办法和工具的空白，适于广泛推广应用。

【技术实现步骤摘要】
【专利说明】 (一）
本专利技术涉及尺寸测量
，特别涉及。 (二）
技术介绍
手镯是人们喜爱的重要首饰品种之一，特别是我国，有着悠久的历史。近年来，玉石饰 品、金银饰品以及仿真饰品的销售都大幅增长，手镯的销售也一并走强。 手锡尺寸是指手锡内圈圈口的大小，以手锡内圈周长来描述，间称手寸。但是，国 内手镯尺寸目前的标示方法很乱，不同企业有不同的结果和方式，如用内径表示、用内周长 表示等类型，造成许多不必要的麻烦和纠纷。另外，人们对自己适合的手镯尺寸一直不能准 确描述。 (三）
技术实现思路
本专利技术为了弥补现有技术的不足，提供了一种操作简单、结果准确的手镯尺寸的便利 测量卡及其测量方法。 本专利技术是通过如下技术方案实现的： 一种手镯尺寸的便利测量卡，包括卡片体，其特征在于：所述卡片体为梯形，卡片体上 设置有均匀分布的与两梯面平行的若干条检测线，检测线上标注有号码或尺寸数据。 本专利技术根据梯形卡片体在手镯内圈上的渐进，实现卡片体两侧边与手镯内圈的紧 密接触，从而通过卡片体上的检测线标注手镯内圈的尺寸，实现测量结果的取得。 本专利技术所述的手镯尺寸的便利测量方法为，将测量卡垂直插入待测量手镯的内 圈，直接读取内圈最小直径位置所对应的测量线上的号码或尺寸数据，即可得到手镯的尺 寸。 所述测量时保持测量卡不变形，以防止出现误差。 本专利技术结构简单，使用方便，操作容易，便于消费者自行测量，填补了手寸的测量 办法和工具的空白，适于广泛推广应用。 (四）【附图说明】 下面结合附图对本专利技术作进一步的说明。 图1为本专利技术标注号码的测量卡的结构示意图； 图2为本专利技术标注直径数据的测量卡的结构示意图。 图中，1卡片体，2检测线。 (五）【具体实施方式】 附图为本专利技术的一种具体实施例。该实施例包括卡片体，所述卡片体为梯形，卡片体上 设置有均匀分布的与两梯面平行的若干条检测线，检测线上标注有号码或尺寸数据。 测量时，将测量卡垂直插入待测量手镯的内圈，直接读取内圈最小直径位置所对 应的测量线上的号码或尺寸数据，即可得到手镯的尺寸；所述测量时保持测量卡不变形。 其中，手寸与手镯内圈周长、内径的对照表如下：【主权项】1. 一种手镯尺寸的便利测量卡，包括卡片体（I )，其特征在于：所述卡片体（I)为梯形， 卡片体（1)上设置有均匀分布的与两梯面平行的若干条检测线（2)，检测线（2)上标注有号 码或尺寸数据。2. 根据权利要求1所述的手镯尺寸的便利测量方法，其特征在于：将测量卡垂直插入 待测量手镯的内圈，直接读取内圈最小直径位置所对应的测量线上的号码或尺寸数据，即 可得到手镯的尺寸。3. 根据权利要求2所述的手镯尺寸的便利测量方法，其特征在于：所述测量时保持测 量卡不变形。【专利摘要】本专利技术涉及尺寸测量
，特别公开了。该手镯尺寸的便利测量卡，包括卡片体，其特征在于：所述卡片体为梯形，卡片体上设置有均匀分布的与两梯面平行的若干条检测线，检测线上标注有号码或尺寸数据。本专利技术结构简单，使用方便，操作容易，便于消费者自行测量，填补了手寸的测量办法和工具的空白，适于广泛推广应用。【IPC分类】G01B5/12【公开号】CN105021108【申请号】CN201510429623【专利技术人】范春丽, 李建军, 王岳, 王义善, 程佑法 【申请人】国家黄金钻石制品质量监督检验中心, 王义善【公开日】2015年11月4日【申请日】2015年7月21日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种手镯尺寸的便利测量卡，包括卡片体（1），其特征在于：所述卡片体（1）为梯形，卡片体（1）上设置有均匀分布的与两梯面平行的若干条检测线（2），检测线（2）上标注有号码或尺寸数据。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：范春丽，李建军，王岳，王义善，程佑法，
申请(专利权)人：国家黄金钻石制品质量监督检验中心，王义善，
类型：发明
国别省市：山东;37