一种精密玻璃定栅测试机制造技术

本发明专利技术公开了一种精密玻璃定栅测试机，包括能够在多个检测区域内对多个待测玻璃同时进行检测的电极检测机构，与所述电极检测机构中每个检测区域的输出端匹配连接的多个比较放大器，以及与所述多个比较放大器连接的单片机。本发明专利技术所述精密玻璃定栅测试机，可以克服现有技术中稳定性差、精度低和成本高等缺陷，以实现稳定性好、精度高和成本低的优点。

【技术实现步骤摘要】
【专利说明】一种精密玻璃定栅测试机
本专利技术涉及机械
，具体地，涉及一种精密玻璃定栅测试机。
技术介绍
精密玻璃定栅是我公司为客户专门开发的量具上的数显读数硼硅玻璃材质的标准尺，它具有精度高，读数稳定，热稳定性好，不受气候影响，国际领先水平。精密玻璃定栅有数百到数千个传感电极单元，电极厚度小(约300纳米)，电极间距小(几微米一几十微米)，连线细(几微米一几十微米)，容易出现电极间粘连、微短路，会造成量具读数精度下降不稳定。原有方法:1、用显微镜分别检查每个传感电极单元，2、分别测相邻电极间、电极连线电阻值。两种方法效率极低，对微连接(相邻电极间导电膜刻不完全的)容易出现误判，客户使用产品上线合格率低，生产成本高。在实现本专利技术的过程中，专利技术人发现现有技术中至少存在稳定性差、精度低和成本尚等缺陷。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，针对上述问题，提出一种精密玻璃定栅测试机，以实现稳定性好、精度高和成本低的优点。为实现上述目的，本专利技术采用的技术方案是:一种精密玻璃定栅测试机，包括能够在多个检测区域内对多个待测玻璃同时进行检测的电极检测机构，与所述电极检测机构中每个检测区域的输出端匹配连接的多个比较放大器，以及与所述多个比较放大器连接的单片机。进一步地，所述电极检测机构，包括能够吸附待测玻璃板的平台，在所述平台上并行设置有用于吸附多个待测玻璃板的多个检测区域，在所述多个检测区域的相同端部设有用于压盖在多个待测玻璃相同端部的绝缘板，以及在所述绝缘板上固定设置有与每个待测玻璃板所处位置相匹配的多个探针。进一步地，在所述绝缘板与待测玻璃板之间，还设有靠近待测玻璃板的产品切割线设置的膜板，以及设在所述膜板上的电极层； 同一检测区内数条探针，分别与带相应电压的比较放大器的输入端连接；每个待测玻璃板被吸牢在平台上，每个探针分别对准待检测玻璃板在相应检测区域的起点位置、并下压至可靠接触玻璃表面；平台开始滑动直到相应检测区域末端，该检测区域所有相邻电极间当相应探针测试到预设次数时相应电极间出现电极间粘连和/或微短路现象时，比较放大器输入端出现电压变化，比较放大器输出端有输出，单片机记录比较放大器输入端出现电压变化时相应检测区域中的相应位置，筛选出相应待测玻璃板。进一步地，所述电极层包括与多个检测区域匹配设置的多个SEG层，以及设在每个SEG层中的AB层；所述多个探针在绝缘板上的位置靠近AB层设置。进一步地，所述平台，具体为能够直线滑动的真空平台。本专利技术各实施例的精密玻璃定栅测试机，由于包括能够在多个检测区域内对多个待测玻璃同时进行检测的电极检测机构，与电极检测机构中每个检测区域的输出端匹配连接的多个比较放大器，以及与多个比较放大器连接的单片机；从而可以克服现有技术中稳定性差、精度低和成本高的缺陷，以实现稳定性好、精度高和成本低的优点。本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。下面通过附图和实施例，对本专利技术的技术方案做进一步的详细描述。【附图说明】附图用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本专利技术的实施例一起用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的限制。在附图中: 图1为本专利技术中玻璃定栅局部电极及走线图；在图1中，箭头表示测试时玻璃移动方向； 图2为图1中A部的局部放大示意图； 图3为图2中C部的局部放大示意图； 图4为本专利技术中平台、玻璃、绝缘板及探针示意图；在图2中，箭头表示测试时玻璃移动方向； 图5为图4中B部的局部放大示意图。结合附图，本专利技术实施例中附图标记如下: 1-膜板；2_电极层中的AB层(匀强电场层)；3_探针；4_电极层中的SEG层(信号电极层)；5_产品切割线；6_平台；7_玻璃板；8_绝缘板。【具体实施方式】以下结合附图对本专利技术的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。根据本专利技术实施例，如图1-图5所示，提供了一种精密玻璃定栅测试机。本实施例的精密玻璃定栅测试机，包括能够在多个检测区域内对多个待测玻璃同时进行检测的电极检测机构，与电极检测机构中每个检测区域的输出端匹配连接的多个比较放大器，以及与多个比较放大器连接的单片机。其中，电极检测机构，包括能够吸附待测玻璃板的平台(如平台6)，在平台上并行设置有用于吸附多个待测玻璃板(如玻璃板7)的多个检测区域，在多个检测区域的相同端部设有用于压盖在多个待测玻璃相同端部的绝缘板(如绝缘板8)，以及在绝缘板上固定设置有与每个待测玻璃板所处位置相匹配的多个探针(如探针3)。该平台，具体为能够直线滑动的真空平台。在绝缘板与待测玻璃板之间，还设有靠近待测玻璃板的产品切割线(如产品切割线5)设置的膜板(如膜板1)，以及设在膜板上的电极层；电极层包括与多个检测区域匹配设置的多个SEG层(如SEG层4)，以及设在每个SEG层中的AB层(如AB层2);多个探针在绝缘板上的位置靠近AB层设置。同一检测区内数条探针，分别与带相应电压的比较放大器的输入端连接；每个待测玻璃板被吸牢在平台上，每个探针分别对准待检测玻璃板在相应检测区域的起点位置、并下压至可靠接触玻璃表面；平台开始滑动直到相应检测区域末端，该检测区域所有相邻电极间当相应探针测试到预设次数时相应电极间出现电极间粘连和/或微短路现象时，比较放大器输入端出现电压变化，比较放大器输出端有输出，单片机记录比较放大器输入端出现电压变化时相应检测区域中的相应位置，筛选出相应待测玻璃板。在本专利技术的技术方案中，多条探针按产品规格，取匹配位置固定在绝缘板上，在产品检测中，是多产品同时测试，每个产品有一个对应的检测区，同一检测区内数条探针分别与带相应电压(高内阻几百千欧姆到一兆欧姆)比较放大器输入端连接，待测产品被吸牢在可直线滑动真空平台上，探针分别对准需要测试的区域起点(对位)，并下压可靠接触玻璃表面，平台开始滑动直到产品测试区域末端，检测区所有相邻电极间(间距小于0.5MM的)都有探针测试到两次，一旦出现电极间粘连、微短路，比较放大器输入端出现电压变化，放大器有输出，单片机记录下不良位置，并做标记；由于是多个产品整版同时测试，在整版产品分切成单片产品后，将含有不良位置标记的产品选出，剩余的即为合格品。在本专利技术的技术方案中，精密玻璃定栅测试机，采用多点信息连续动态采集、多产品同时测试，测试信息自动分析，不良点记忆，坏品自动读出；效率提高100倍以上(检测量大于30000件/日)，产品上线合格率提高10倍(不良率小于0.1%)，单位产品生产成本低。本专利技术技术方案的特点: A、精密玻璃定栅是专为客户开发生产，它的结构、材质、数据和参数需要为客户保密； B、精密玻璃定栅测试机:多条探针、多点信息连续动态采集、多产品同时测试；探针位置参数，同一检测区内各条探针分别由电压不等的高内阻电源馈送。最后应说明的是:以上所述仅为本专利技术的优选实施例而已，并不用于限制本专利技术，尽管参照前述实施例对本专利技术进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本专利技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种精密玻璃定栅测试机，其特征在于，包括能够在多个检测区域内对多个待测玻璃同时进行检测的电极检测机构，与所述电极检测机构中每个检测区域的输出端匹配连接的多个比较放大器，以及与所述多个比较放大器连接的单片机。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：唐国宏，
申请(专利权)人：柳州利元光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广西;45