本发明专利技术涉及对显示器中的与工艺或性能相关的非均匀性和/或劣化进行检测和补偿的系统和方法。所述系统和方法可将器件电流与一个或多个参考电流进行比较，以生成用于表示所述器件电流与所述参考电流之间的差异的输出信号。可将所述输出信号放大、量化并接着使用所述输出信号来确定所述器件电流如何不同于所述参考电流并相应地调整受关注器件的编程电压。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】【专利说明】 版权 本专利文件的公开文本的一部分包含受版权保护的材料。虽然版权拥有人由于本 专利公开文本出现在专利和商标局的专利档案和记录中而不反对任何人对本专利公开文 本的复制，但仍保留所有的版权权利。
本专利技术设及对显示器电路中的非均匀性的检测和寻址。
技术介绍
有机发光器件（OLED)在它们传导电流时发生老化。由于该种老化，OL邸为生成 给定电流而需要的输入电压随时间增加。同样地，随着OLED效率降低，发出给定亮度所需 的电流的量也随时间增加。 由于对显示器面板的不同区域上的像素中的OL邸有差异地驱动，所W该些OL邸W不同的速率有差异地发生老化或劣化，该可能导致给定显示器面板上的像素之间的可察 觉的差异和非均匀性。 通过有效地检测显示器（特别是发光显示器）中的非均匀性和/或劣化并允许快 速和精确的补偿W克服非均匀性和/或劣化，本文披露的主题的方面提高了显示器技术。
技术实现思路
提供了一种用于补偿显示器中的测量的器件电流相对于参考电流的偏差的方法， 所述显示器具有多个像素电路，且每个所述像素电路包括存储器件、驱动晶体管和发光器 件，所述方法包括在读出系统中对与参考电流和测量的第一器件电流之间的差异相对应的 电压进行处理，其中所述测量的第一器件电流流经所述像素电路中的被选定的一者的所述 驱动晶体管或所述发光器件。所述方法还包括在所述读出系统中将所述电压转换成相应的 量化输出信号，所述相应的量化输出信号表示所述参考电流和所述测量的第一器件电流之 间的所述差异。然后，控制器将所述被选定的像素电路的编程值调整基于所述量化输出信 号的量，W便随后使用与所调整的编程值相关的电流或电压来编程所述被选定的像素电路 的所述存储器件。[000引提供了一种用于补偿显示器中的测量的器件电流相对于参考电流的偏差的方法， 其中所述显示器具有多个像素电路，且每个所述像素电路包括存储器件、驱动晶体管和发 光器件，所述方法包括对积分电路执行第一复位操作，W使所述积分电路恢复至第一已知 状态。所述方法还包括在所述积分电路中执行第一电流积分操作，该积分操作用于对第一 输入电流进行积分，所述第一输入电流对应于参考电流和测量的第一器件电流之间的差 异，所述测量的第一器件电流流经所述像素电路中的被选定的一者的所述驱动晶体管或所 述发光器件。将与所述第一电流积分操作相对应的第一电压存储在第一存储电容器中，且 对所述积分电路执行第二复位操作，W使所述积分电路恢复至第二已知状态。在所述积分 电路中执行第二电流积分操作，w对与参考线上的泄漏电流相对应的第二输入电流进行积 分，且将与所述第二电流积分操作相对应的第二电压存储在第二存储电容器中。所述方法 还包括通过使用一个或多个放大器来生成放大的输出电压W及将所放大的输出电压量化， 其中所述放大的输出电压对应于所述第一电压和所述第二电压之间的差异。 提供了一种用于补偿显示器中的测量的器件电流相对于参考电流的偏差的方法， 其中所述显示器具有多个像素电路，且每个所述像素电路包括存储器件、驱动晶体管和发 光器件，所述包括对积分电路执行第一复位操作，W使所述积分电路恢复至第一已知状态。 所述方法还包括在所述积分电路中执行第一电流积分操作，该积分操作用于对第一输入电 流进行积分，所述第一输入电流对应于参考电流和测量的第一器件电流之间的差异，所述 测量的第一器件电流流经所述像素电路中的被选定的一者的所述驱动晶体管或所述发光 器件。将与所述第一电流积分操作相对应的第一电压存储在第一存储电容器中，且对所述 积分电路执行第二复位操作，W使所述积分电路恢复至第二已知状态。在所述积分电路中 执行第二电流积分操作，W对与参考线上的泄漏电流相对应的第二输入电流进行积分，且 将与所述第二电流积分操作相对应的第二电压存储在第二存储电容器中。所述方法还包括 基于所存储的所述第一电压和存储的所述第二电压执行多比特量化操作。 提供了一种用于补偿显示器中的测量的器件电流相对于参考电流的偏差的系统， 其中所述显示器具有多个像素电路，且每个所述像素电路包括存储器件、驱动晶体管和发 光器件，所述系统包括读出系统。所述读出系统被配置成；a)对与参考电流和测量的第一 器件电流之间的差异相对应的电压进行处理，所述测量的第一器件电流流经所述像素电路 中的被选定的一者的所述驱动晶体管或所述发光器件W及b)将所述电压转换成相应的量 化输出信号，所述相应的量化输出信号表示所述参考电流和所述测量的第一器件电流之间 的所述差异。所述系统还包括控制器，所述控制器被配置成将所述被选定的像素电路的编 程值调整基于所述量化输出信号的量，W便随后使用与所调整的编程值相关的电流或电压 来编程所述被选定的像素电路的所述存储器件。 提供了一种用于补偿显示器中的测量的器件电流相对于参考电流的偏差的系统， 其中所述显示器具有多个像素电路，且每个所述像素电路包括存储器件、驱动晶体管和发 光器件，所述系统包括复位电路。所述复位电路被配置成a)对积分电路执行第一复位操 作，该复位操作使所述积分电路恢复至第一已知状态W及b)对所述积分电路执行第二复 位操作，该复位操作使所述积分电路恢复至第二已知状态。所述系统还包括积分电路，所 述积分电路被配置成a)执行第一电流积分操作，所述第一电流积分操作用于对第一输入 电流进行积分，所述第一输入电流对应于参考电流和测量的第一器件电流之间的差异，所 述测量的第一器件电流流经所述像素电路中的被选定的一者的所述驱动晶体管或所述发 光器件W及b)在所述积分电路中执行第二电流积分操作，所述第二积分操作用于对与参 考线上的泄漏电流相对应的第二输入电流进行积分。此外，所述系统包括第一存储电容器 和第二存储电容器，所述第一存储电容器被配置成存储与所述第一电流积分操作相对应的 第一电压，且所述第二存储电容器被配置成存储与所述第二电流积分操作相对应的第二电 压。所述系统还包括放大器电路和量化器电路，所述放大器电路被配置成通过使用一个或 多个放大器来生成放大的输出电压，所述放大的输出电压对应于所述第一电压和所述第二 电压之间的差异，且所述量化器电路被配置成将所述放大的输出电压量化。 提供了一种用于补偿显示器中的测量的器件电流相对于参考电流的偏差的系统， 其中所述显示器具有多个像素电路，且每个所述像素电路包括存储器件、驱动晶体管和发 光器件，所述系统包括复位电路。所述复位电路被配置成a)对积分电路执行第一复位操 作，所述第一复位操作使所述积分电路恢复至第一已知状态W及b)对所述积分电路执行 第二复位操作，所述第二复位操作使所述积分电路恢复至第二已知状态。所述系统还包括 积分电路，所述积分电路用于a)在所述积分电路中执行第一电流积分操作，所述第一电流 积分操作用于对第一输入电流进行积分，所述第一输入电流对应于参考电流和测量的第一 器件电流之间的差异，所述测量的第一器件电流流经所述像素电路中的被选定的一者的所 述驱动晶体管或所述发光器件W及b)在所述积分电路中执行第二电流积分操作，所述积 分操作用于对与参考线上的泄漏电流相对应的第二输入电流进行积分。此外，所述系统包 括第一存储电容器和第二存储电容器，所述第一存储电容器被配置成存储与所述第一电流 积分操作相对应本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于补偿显示器中的测量的器件电流相对于参考电流的偏差的方法，所述显示器具有多个像素电路，每个所述像素电路包括存储器件、驱动晶体管和发光器件，所述方法包括：在读出系统中，处理与参考电流和测量的第一器件电流之间的差异相对应的电压，所述测量的第一器件电流流经所述像素电路中的被选定的一者的所述驱动晶体管或所述发光器件；在所述读出系统中，将所述电压转换成相应的量化输出信号，所述量化输出信号表示所述参考电流和所述测量的第一器件电流之间的所述差异；以及通过使用控制器，将所述被选定的像素电路的编程值调整基于所述量化输出信号的量，以便随后使用与所调整的编程值相关的电流或电压来编程所述被选定的像素电路的所述存储器件。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：亚沙尔·阿齐兹，约瑟夫·马塞尔·迪安，尼诺·扎西洛维奇，戈尔拉玛瑞扎·恰吉，
申请(专利权)人：伊格尼斯创新公司，
类型：发明
国别省市：加拿大;CA
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。