测试装置、测试系统以及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种测试装置、测试系统以及测试方法。测试装置用以测试至少一电子装置。测试装置包括测试数据传收器以及处理器。测试数据传收器通过多个连接接口分别耦接至电子装置的多个功能性电路，分别传送对应功能性电路的多个测试数据以针对功能性电路进行测试以产生多个对应信息。处理器接收对应信息，依据对应信息来决定至少一电子装置的产品群组。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种，且特别是有关于一种系统级的电子产品的。
技术介绍
在现有的
中，通过称之为测试图案(test pattern)的测试数据皆是运用在进行单芯片、或者多芯片放入单一封装体(Package)之中的集成电路自动化验证流程中，这种测试方式并无被导入针对系统层级的电子装置(例如电脑、服务器、平板电脑、手机、游戏机、照相机等)来进行测试。并且，在关于系统层级的电子装置的测试方式中，现有
皆是通过量测电子装置中个别功能性电路基本的电器特性(例如开路、短路、电压值及电流值)，并通过量测结果来判断出个别功能性电路的良好或损坏，而并无法针对多个个别功能性电路间所产生的系统性功能进行测试。此外，在电子产品的开发流程上，现有的测试技术皆是通过单一功能设定，来针对个别的功能性电路进行各别信号的量测，以做为判定功能性电路所产生的信号是否符合相关规格，并无提供仿真信号进行功能性电路相容性能力的判别，或者针对异常信号进行处理的能力。在现今的技术中，系统层级的电子装置开发过程中的相容性测试，皆是通过大批数量级的成品，包括不同厂商所提供的真实模块软件、硬件规格的排列组合，加上严苛环境条件下(例如高低温，不同湿度)，由发生问题的机率或者比例，来判定产品的可量产性。并无法保证所有排列组合皆全部搭配验证到，不仅耗时耗人力，且需要很多成品数量，不环保且没效率，更重要的是开发测试环境与未来量产情况未必相同，在成本数量有限的情况下，很难确保品质的一致性。
技术实现思路
本专利技术提供一种，用以测试至少一系统层级的电子装置，并获知受测电子装置的产品群组。本专利技术的测试装置，用以测试至少一电子装置。测试装置包括测试数据传收器以及处理器。测试数据传收器通过多个连接接口分别耦接至电子装置的多个功能性电路，分别传送对应功能性电路的多个测试数据以针对功能性电路进行测试以产生多个对应信息。处理器耦接测试数据传收器，传送该些测试数据至测试数据传收器，并由测试数据传收器接收对应信息，依据对应信息来决定至少一电子装置及各功能性电路的至少其中之一的至少一产品群组。在本专利技术的一实施例中，上述的测试装置还包括存储装置。存储装置耦接处理器，存储装置用以存储对应功能性电路的测试数据、对应信息以及产品群组的至少其中之一。在本专利技术的一实施例中，上述的测试装置通过外部装置接收测试数据，并将测试数据存储至存储装置中。在本专利技术的一实施例中，上述的测试数据传收器分别传送测试数据至对应的功能性电路，并接收功能性电路依据分别对应的测试数据所分别响应产生的多个测试响应数据。测试数据传收器将测试响应数据传送给处理器并判别分别对应功能性电路的对应信息。在本专利技术的一实施例中，上述的处理器依据对应信息来决定分别对应的功能性电路的等级，还依据功能性电路的等级来决定电子装置的产品群组。在本专利技术的一实施例中，上述的测试装置内嵌于该电子装置内。在本专利技术的一实施例中，上述的处理器通过命令使测试数据传收器仿真(Emulating)为功能性电路其中之一的应用电子装置，并通过仿真的测试数据传收器对功能性电路其中之一进行测试动作。在本专利技术的一实施例中，上述的功能性电路包括网络传输电路、显示接口电路、音效接口电路、电源控制电路、存储装置电路、存储器装置电路、无线网络电路、图像获取电路、以及传输接口电路。本专利技术的测试系统包括多个电子装置以及测试装置。各电子装置具有多个功能性电路，测试装置包括测试数据传收器以及处理器。测试数据传收器通过多个连接接口分别耦接至电子装置的多个功能性电路，分别传送对应功能性电路的多个测试数据以针对功能性电路进行测试以产生多个对应信息。处理器耦接测试数据传收器，传送该些测试数据至测试数据传收器，并由测试数据传收器接收对应信息，依据对应信息来决定至少一电子装置及各功能性电路的至少其中之一的至少一产品群组。本专利技术的测试方法，用以测试至少一电子装置，包括:分别传送对应功能性电路的多个测试数据以针对功能性电路进行测试以产生多个对应信息；接收对应信息，并依据对应信息来决定上述至少一电子装置及各功能性电路的至少其中之一的至少一产品群组。基于上述，本专利技术设置单一测试装置以针对系统级(system level)的电子装置进行集成式的测试。通过本专利技术的测试装置，系统级的电子装置可以快速的完成测试，以加速生产流程。并且，通过本专利技术的测试装置可以得知电子装置中各功能性电路的状态，完成对电子产品进行检测的动作。在另一方面，通过本专利技术的测式装置还可以判定电子装置的产品群组，可选择合适的周边电路来应用至电子装置上，使电子装置发挥其效能。为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。【附图说明】图1为本专利技术一实施例的测试装置的示意图；图2为本专利技术另一实施例的测试装置的示意图；图3为本专利技术再一实施例的测试装置的示意图；图4为本专利技术更一实施例的测试装置的示意图；图5A以及图5B为本专利技术实施例的测试数据的获得方式的示意图；图6为本专利技术实施例的测试系统的示意图；图7A及图7B为本专利技术实施例的测试系统的测试方式的示意图。【具体实施方式】请参照图1，图1为本专利技术一实施例的测试装置的示意图。在图1中，测试装置110耦接至电子装置120。电子装置120具有多个功能性电路121?12N，其中，电子装置120为系统层级(system level)的电子装置，而各功能性电路121?12N可以芯片、由芯片及一个或多个无源元件所组合而成的电路或者是由一个或多个无源元件所组合而成的电路。功能性电路121?12N可以被设置在电子装置120中的一个或多个电路板上，本实施例的电路板并没有固定的型态限制，具体来说明，电子装置120中所包括的电路板可以是硬性、软性或是软硬组合的印刷电路板。测试装置110包括测试数据传收器111以及处理器112。测试数据传收器111以及处理器112相互耦接，且测试数据传收器111耦接至电子装置120中的多个功能性电路121?12N上的多个连接接口 Il?頂。测试数据传收器111可通过多个连接接口 Il?頂分别传送对应功能性电路121?12N的多个测试数据以针对功能性电路121?12N进行测试，而各功能性电路121?12N在接收到对应的测试数据(其中包括测试用的数据，也可以包括测试用的命令)后，并依据所接收到的测试数据来产生多个对应信息，并将对应信息回传至测试数据传收器111。其中，对应信息可以是对应测试数据的测试结果。在此，测试数据可以是测试图样(test pattern)，此种测试图样常用来针对集成电路进行电路探针(circuit probe,简称CP)测试或最终测试(Final test,简称FT)。在本实施例中，测试装置110设置在受测的电子装置120的外部，而连接接口Il?頂则可分别一对一、多对一或是一对多的与功能性电路121?12N相对应。连接接口Il?頂的型态可依据所对应的功能性电路121?12N来设置，例如，当功能性电路121为网络传输电路时，相对应的连接接口 Il可以是RJ45接口。处理器112则由测试数据传收器111来接收功能性电路121?12N所回传对应信息，处理器112并依据所接收的对应信息来进行分析，并藉以决定受测的电子装置120本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试装置，用以测试至少一电子装置，其特征在于，包括：测试数据传收器，通过多个连接接口分别耦接至该电子装置的多个功能性电路，分别传送对应该些功能性电路的多个测试数据以针对该些功能性电路进行测试以产生多个对应信息；以及处理器，耦接该测试数据传收器，传送该些测试数据至该测试数据传收器，并由该测试数据传收器接收对应信息，并依据该些对应信息来决定该至少一电子装置及各该功能性电路的至少其中之一的至少一产品群组。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：吕俊毅，
申请(专利权)人：吕俊毅，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71