一种用于M8型音叉晶体的成品分选机，包括上料机构、载料机构和测试机构，所述上料机构包括振动上料圆盘和晶体上料装置，上料机构一侧依次摆放有载料机构和测试机构，所述载料机构包括载料台和方向校正装置，方向校正装置位于载料台之上，测试机构包括测试架、测试架驱动装置和载料台驱动装置，测试架位于载料台之上，测试架上连接有四个指向载料台的晶体信息测试装置，载料台的出口处设置有分类下料机构，分类下料机构包括晶体下料装置、下料导管、分类导管、分类导管驱动电机和分类物料盘。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及M8型音叉晶体生产时的一种自动化生产设备，尤其指一种用于M8型音叉晶体的成品分选机。
技术介绍
在微型音叉晶体生产过程中，对于M8型音叉晶体产品分类普遍采用人工方法进行分类，具有效率低、工作枯燥、出错率高、成本高等缺点，而现有的一些成品分选机只能分选2*6尺寸以上晶体，测试工位少、测试参数少，不适合于M8型音叉晶体的产品分类。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有技术中M8型音叉晶体产品手工分类中存在的效率低下、出错率高、生产成本高的问题，提供一种结构简单、使用方便、能根据测试结果按设定等级进行自动分类的用于M8型音叉晶体的成品分选机。为实现以上目的，本专利技术的技术解决方案是:一种用于M8型音叉晶体的成品分选机，包括上料机构、载料机构和测试机构，所述上料机构包括振动上料圆盘和晶体上料装置，上料机构一侧依次摆放有载料机构和测试机构，其特征在于:所述载料机构包括载料台和方向校正装置，方向校正装置位于载料台之上，测试机构包括测试架、测试架驱动装置和载料台驱动装置，测试架位于载料台之上，测试架上连接有四个指向载料台的晶体信息测试装置，载料台的出口处设置有分类下料机构，分类下料机构包括晶体下料装置、下料导管、分类导管、分类导管驱动电机和分类物料盘。所述晶体上料装置上设置有吸料口，吸料口位于振动上料圆盘的出口处，吸料口一侧设置有光纤感应装置。所述晶体下料装置为吹气装置。本专利技术的有益效果为: 1、本设计中包括上料机构、载料机构、测试机构和分类下料机构，其中测试架上连接有四个指向载料台的晶体信息测试装置，能对晶片完成四次不同的信息检测，反馈给分类下料机构，分类导管驱动电机控制分类导管的导向，指向分类物料盘上对应的位置，完成自动分类，结构简单、使用方便。2、本设计晶体上料装置上设置有吸料口，吸料口位于振动上料圆盘的出口处，吸料口一侧设置有光纤感应装置，当光纤感应装置感应到来料时，吸料口处形成真空负压，将晶片吸起，进而转到载料台上，能够完成自动检测上料，使用方便。【附图说明】图1是本专利技术的结构示意图。图中:上料机构1，载料机构2，测试机构3，振动上料圆盘4，晶体上料装置5，载料台6，方向校正装置7，测试架8，测试架驱动装置9，载料台驱动装置10，晶体信息测试装置11，分类下料机构12，晶体下料装置13，下料导管14，分类导管15，分类导管驱动电机16，分类物料盘17，吸料口 18，光纤感应装置19。【具体实施方式】以下结合【附图说明】和【具体实施方式】对本专利技术作进一步详细的说明: 参见图1，一种用于M8型音叉晶体的成品分选机，包括上料机构1、载料机构2和测试机构3，所述上料机构I包括振动上料圆盘4和晶体上料装置5，上料机构I 一侧依次摆放有载料机构2和测试机构3，所述载料机构2包括载料台6和方向校正装置7，方向校正装置7位于载料台6之上，测试机构3包括测试架8、测试架驱动装置9和载料台驱动装置10，测试架8位于载料台6之上，测试架8上连接有四个指向载料台6的晶体信息测试装置11，载料台6的出口处设置有分类下料机构12，分类下料机构12包括晶体下料装置13、下料导管14、分类导管15、分类导管驱动电机16和分类物料盘17。所述晶体上料装置5上设置有吸料口 18，吸料口 18位于振动上料圆盘4的出口处，吸料口 18 —侧设置有光纤感应装置19。所述晶体下料装置13为吹气装置。本设计中包括上料机构1、载料机构2、测试机构3和分类下料机构12，其中测试架8上连接有四个指向载料台6的晶体信息测试装置11，能对晶片完成四次不同的信息检测，反馈给分类下料机构12，分类导管驱动电机16控制分类导管15的导向，指向分类物料盘17上对应的位置，完成自动分类，结构简单、使用方便。本设计晶体上料装置5上设置有吸料口 18，吸料口 18位于振动上料圆盘4的出口处，吸料口 18—侧设置有光纤感应装置19，当光纤感应装置19感应到来料时，吸料口 18处形成真空负压，将晶片吸起，进而转到载料台6上，能够完成自动检测上料，使用方便。现在介绍一下工作过程，如图所示，振动上料圆盘I使晶体按照呈直线排列，在出料口处，晶体在振动的作用下，晶体正面所在平面与水平面平行，当晶体振动到出料口，触发到光纤感应装置19，等到取料周期到来时，晶体上料装置5的吸料口 18运动到上料取料位置，打开真空，在负压吸力作用下，M8型音叉晶体被吸引住，等待上料周期到时，晶体上料装置5将音叉晶体运送到载料台6的固定位置上完成上料过程，然后载料台6在载料台驱动装置10的作用下沿顺时针方向将晶体运送到方向校正装置7的下方，此时，测试架8在测试架驱动装置9的作用向下运动到下止点，方向校正装置7对晶体进行检测，以确认晶体方向正确，若晶体方向不正确，则由方向校正装置7调整晶体方向，然后测试机构3运动到上止点，载料台6在载料台驱动装置10的作用下沿顺时针方向将晶体运送到晶体信息检测装置11处，依次对晶体进行四次不同的信息检测，完成对晶体的信息检测后，将检测信息传送给分类导管驱动电机16，载料台6将晶体运送到下料导管14处，晶体下料装置13对晶体施加向下的气压力，以加速晶体下落，同时，分类导管驱动电机16接收到该晶体的检测信息，驱动分类导管15，将该晶体导入分类物料盘17上对应的物料盘中。至此，完成一件M8型音叉晶体的信息检测及分类的过程，载料台6运行一个周期，回到初始位置，进入下一个运行周期。【主权项】1.一种用于M8型音叉晶体的成品分选机，包括上料机构(I )、载料机构(2)和测试机构(3 )，所述上料机构(I)包括振动上料圆盘(4)和晶体上料装置(5 )，上料机构(I) 一侧依次摆放有载料机构(2)和测试机构(3)，其特征在于:所述载料机构(2)包括载料台(6)和方向校正装置(7)，方向校正装置(7)位于载料台(6)之上，测试机构(3)包括测试架(8)、测试架驱动装置(9)和载料台驱动装置(10)，测试架(8)位于载料台(6)之上，测试架(8)上连接有四个指向载料台(6)的晶体信息测试装置(11)，载料台(6)的出口处设置有分类下料机构(12)，分类下料机构(12)包括晶体下料装置(13)、下料导管(14)、分类导管(15)、分类导管驱动电机(16)和分类物料盘(17)。2.根据权利要求1所述的一种用于M8型音叉晶体的成品分选机，其特征在于:所述晶体上料装置(5)上设置有吸料口( 18)，吸料口( 18)位于振动上料圆盘(4)的出口处，吸料口(18 )—侧设置有光纤感应装置(19 )。3.根据权利要求1所述的一种用于M8型音叉晶体的成品分选机，其特征在于:所述晶体下料装置(13)为吹气装置。【专利摘要】一种用于M8型音叉晶体的成品分选机，包括上料机构、载料机构和测试机构，所述上料机构包括振动上料圆盘和晶体上料装置，上料机构一侧依次摆放有载料机构和测试机构，所述载料机构包括载料台和方向校正装置，方向校正装置位于载料台之上，测试机构包括测试架、测试架驱动装置和载料台驱动装置，测试架位于载料台之上，测试架上连接有四个指向载料台的晶体信息测试装置，载料台的出口处设置有分类下料机构，分类下料机构包括晶体下料装置、下料导管、分类导管、分类导管驱动电机和分类物料盘。【IPC本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于M8型音叉晶体的成品分选机，包括上料机构（1）、载料机构（2）和测试机构（3），所述上料机构（1）包括振动上料圆盘（4）和晶体上料装置（5），上料机构（1）一侧依次摆放有载料机构（2）和测试机构（3），其特征在于：所述载料机构（2）包括载料台（6）和方向校正装置（7），方向校正装置（7）位于载料台（6）之上，测试机构（3）包括测试架（8）、测试架驱动装置（9）和载料台驱动装置（10），测试架（8）位于载料台（6）之上，测试架（8）上连接有四个指向载料台（6）的晶体信息测试装置（11），载料台（6）的出口处设置有分类下料机构（12），分类下料机构（12）包括晶体下料装置（13）、下料导管（14）、分类导管（15）、分类导管驱动电机（16）和分类物料盘（17）。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：喻信东，王斌，黄大勇，王金涛，
申请(专利权)人：湖北泰晶电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42
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