一种功率管无损电流检测电路及方法技术

本发明专利技术公开了一种功率管无损电流检测电路，包括待检测功率管，还包括一驱动电路和一检测供电电路、第一电阻和第二电阻、第一二极管和第二二极管以及微处理器，第一电阻和第二电阻的一端分别连接检测供电电路，第一电阻的另一端连接第一二极管的阳极，第二电阻的另一端连接第二二极管的阳极，第一二极管的阴极连接待检测功率管的漏极，第二二极管的阴极连接待检测功率管的源极，待检测功率管的栅极连接驱动电路，微处理器分别与第一二极管和第二二极管的阳极连接。实施本发明专利技术的有益效果是，实现了无需额外的分流器，只需根据待检测功率管自身特性的无损检测，来检测流过待检测功率管的电流。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测电路，更具体地说，涉及。
技术介绍
在功率电路里，功率管特别是MOS管常常会因过流损坏，因此通过一些过流保护电路来进行过流保护的相关控制，以保护包括MOS管的线路不会因为过流而损坏，在这些过流保护电路中需要用到直接或间接检测MOS管电流的方式和电路。在现有的电流检测电路中，通常采用串在电路中的小阻值大电流的分流器电阻，或者采用更大电流的霍尔元器件。但上述电流检测方式均存在缺陷:采用分流器的方法，由于在大电流情况下分流器的损耗很大，导致部件发热严重，效率低下；而采用霍尔检测电流的方式，虽然损耗低，但霍尔元器件的价格较贵、体积大，因此导致整个电路成本增加，体积增大。此外，在很多电流检测的场合，主要是用于过流保护和检测电流，对于检测精度要求不高，因此无论使用分流器还是采用霍尔检测电流的方式，对成本、损耗等都造成了不必要的浪费。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述采用分流器电阻检测功率管电流损耗大、效率低下以及采用霍尔检测电流成本高、体积大的缺陷，提供。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:构造一种功率管无损电流检测电路，包括待检测功率管，还包括一驱动电路和一检测供电电路、第一电阻和第二电阻、第一二极管和第二二极管以及微处理器，所述第一电阻和所述第二电阻的一端分别连接所述检测供电电路，所述第一电阻的另一端连接所述第一二极管的阳极，所述第二电阻的另一端连接所述第二二极管的阳极，所述第一二极管的阴极连接所述待检测功率管的漏极，所述第二二极管的阴极连接所述待检测功率管的源极，所述待检测功率管的栅极连接所述驱动电路，所述微处理器分别与所述第一二极管和所述第二二极管的阳极连接；其中，所述驱动电路用于给所述待检测功率管提供驱动电压，所述检测供电电路用于给所述第一电阻和第二电阻提供检测供电电压，所述微处理器用于根据采集到的所述第一二极管的阳极和所述第二二极管的阳极分别与所述待检测功率管的源极之间的电压差计算出所述待检测功率管的漏极和源极之间的导通电压，同时根据所述第二二极管的阳极与所述待检测功率管的源极之间的电压差计算出所述待检测功率管的结温温度，并通过计算得到的所述待检测功率管的漏极和源极之间的导通电压以及所述待检测功率管的结温温度来检测所述待检测功率管的电流。在上述功率管无损电流检测电路中，所述第一二极管PN结之间的电压等于所述第二二极管PN结之间的电压，所述第一二极管和所述第二二极管的温度等于所述待检测功率管的温度。在上述功率管无损电流检测电路中，所述微处理器为单片机或DSP控制芯片。在上述功率管无损电流检测电路中，所述微处理器内预先存储有所述第二二极管PN结之间的电压及对应的温度以及所述待检测功率管的结温温度与对应的电阻值。 在上述功率管无损电流检测电路中，提供给所述待检测功率管的驱动电压及与提供给所述第一电阻和第二电阻的检测供电电压分别为恒定电压。在上述功率管无损电流检测电路中，提供给所述待检测功率管的驱动电压与提供给所述第一电阻和第二电阻的检测供电电压分别为脉动电压，且所述检测供电电压的脉宽小于或者等于所述驱动电压的脉宽。在上述功率管无损电流检测电路中，所述待检测功率管为MOS管、IGBT或可控硅。在上述功率管无损电流检测电路中，所述第一二极管和所述第二二极管为同芯双二极管。还提供一种功率管无损电流检测方法，依据如上所述的功率管无损电流检测电路，驱动电路提供驱动电压给待检测功率管，检测供电电路提供检测供电电压给第一电阻和第二电阻，所述方法包括如下步骤:S1:采集第一二极管的阳极和第二二极管的阳极分别与所述待检测功率管的源极之间的电压差；S2:计算出所述待检测功率管的漏极与源极之间的导通电压；S3:根据所述第二二极管的阳极和所述待检测功率管的源极之间的电压差计算出所述待检测功率管的结温温度；S4:根据所述导通电压和所述结温温度获取所述待检测功率管的电流。在上述功率管无损电流检测电路中，所述步骤S3具体包括:根据所述第二二极管的阳极和所述待检测功率管的源极之间的电压差，查找与之对应的第二二极管的温度，得出所述待检测功率管的结温温度；所述步骤S4具体包括:根据所述待检测功率管的结温温度，查找与之对应的待检测功率管的电阻值；根据所述待检测功率管的漏极和源极之间的导通电压与所述待检测功率管的电阻值计算出所述待检测功率管的电流值。实施本专利技术的功率管无损电流检测电路及方法，具有以下有益效果:通过很少的低廉的元器件，第一电阻和第二电阻以及第一二极管和第二二极管组成的简单的外围电路，以及通过机器内部已有的单片机或DSP等微处理器，检测待检测功率管在导通时的电压以及待检测功率管的结温温度，从而计算出流过待检测功率管的电流，实现了无需额外的分流器，只需根据待检测功率管自身特性的无损检测，来检测流过待检测功率管的电流、过流保护或者逐波限流。【附图说明】下面将结合附图及实施例对本专利技术作进一步说明，附图中:图1是本专利技术一种功率管无损电流检测电路实施例的示意图。【具体实施方式】为了对本专利技术的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本专利技术的【具体实施方式】。如图1所示,为本专利技术一种功率管无损电流检测电路实施例的示意图,包括待检测功率管Q1，驱动电路10和检测供电电路20、第一电阻Rl和第二电阻R2、第一二极管Dl和第二二极管D2以及微处理器Ul。其中:第一电阻Rl和第二电阻R2的一端分别连接检测供电电路20，第一电阻Rl的另一端连接第一二极管Dl的阳极，第二电阻R2的另一端连接第二二极管D2的阳极，第一二极管Dl的阴极连接待检测功率管Ql的漏极，第二二极管D2的阴极连接待检测功率管D2的源极，待检测功率管Ql的栅极连接驱动电路10，微处理器Ul分别与第一二极管Dl和第二二极管D2的阳极连接。在本电路中，驱动电路10用于给待检测功率管Ql提供驱动电压M0S_DRV，该驱动电压可以是恒定的电压，使得待检测功率管Ql恒定的导通或者断开；也可以是脉动的电压。检测供电电路20用于给第一电阻Rl和第二电阻R2提供检测供电电压M0S_DRV_VCC+，该检测供电电压M0S_DRV_VCC+与待检测功率管Ql的驱动电压M0S_DRV保持同步一致，可以是恒定电压或者脉动电压，当检测供电电压M0S_DRV_VCC+与待检测功率管Ql的驱动电压M0S_DRV为脉动电压时，检测供电电压M0S_DRV_VCC+的脉宽等于或者小于驱动电压M0S_DRV的脉宽。特别地，微处理器Ul用于采集第一二极管Dl的阳极和第一电阻Rl的连接点TESTl与待检测功率管Ql的源极MOS-之间的电压差VI，以及采集第二二极管D2的阳极和第二电阻R2的连接点TEST2与待检测功率管Ql的源极MOS-之间的电压差V2，并根据这两个电压差Vl和V2来检测流过待检测功率管Ql的电流。在本实施例中，第一二极管Dl和第二二极管D2型号一致，优选为同芯双二极管，以保证第一二极管Dl和第二二极管D2的参数高度一致。此外，第一二极管Dl和第二二极管D2与待检测功率管Ql紧靠在一起，或者在同一块散热器上，以最大程度的保证第一二极管Dl和第二二极管D2的温度与待检测功率管Ql的相同，或者基本一致或者温差很小。具体地，微处理器U本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种功率管无损电流检测电路，包括待检测功率管，其特征在于，还包括一驱动电路和一检测供电电路、第一电阻和第二电阻、第一二极管和第二二极管以及微处理器，所述第一电阻和所述第二电阻的一端分别连接所述检测供电电路，所述第一电阻的另一端连接所述第一二极管的阳极，所述第二电阻的另一端连接所述第二二极管的阳极，所述第一二极管的阴极连接所述待检测功率管的漏极，所述第二二极管的阴极连接所述待检测功率管的源极，所述待检测功率管的栅极连接所述驱动电路，所述微处理器分别与所述第一二极管和所述第二二极管的阳极连接；其中，所述驱动电路用于给所述待检测功率管提供驱动电压，所述检测供电电路用于给所述第一电阻和第二电阻提供检测供电电压，所述微处理器用于根据采集到的所述第一二极管的阳极和所述第二二极管的阳极分别与所述待检测功率管的源极之间的电压差计算出所述待检测功率管的漏极和源极之间的导通电压，同时根据所述第二二极管的阳极与所述待检测功率管的源极之间的电压差计算出所述待检测功率管的结温温度，并通过计算得到的所述待检测功率管的漏极和源极之间的导通电压以及所述待检测功率管的结温温度来检测所述待检测功率管的电流。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴坤，吴辉，纪镇山，陈建生，陈华源，周代文，
申请(专利权)人：深圳市盛弘电气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44