本发明专利技术公开了一种半导体自动进给检验平台，包括底座、显微镜、纵向进给组件、横向进给组件，进一步的，所述的底座上表面还设有第一按钮、第二按钮、第三按钮、第四按钮，所述的第一按钮控制第一伺服电机正转，所述的第二按钮控制第一伺服电机反正，所述的第三按钮控制第二伺服电机正转，所述的第四按钮控制第二伺服电机反转，通过设定按下第一按钮、第二按钮、第三按钮、第四按钮的顺序进行检验可保证每个半导体都被检验，不会发生漏检和重复检验，降低操作人员劳动强度，提高生产效率。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种检验平台，尤其涉及一种半导体自动进给检验平台。
技术介绍
目前，在半导体生产时，半导体固定在引线框架上进行焊线，焊线结束后，操作人员需要通过显微镜检验半导体焊线是否存在断线、漏焊等不良，检验时，手动移动引线框架进行半导体的切换，由于半导体体积小、数量多，操作人员容易漏检和重复检验，为了避免漏检和重复检验，需要多次检验以保证产品质量，这样一来，操作人员劳动强度大大提高，生产效率大大降低。鉴于上述缺陷，实有必要设计一种半导体自动进给检验平台。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于:提供一种半导体自动进给检验平台，来解决操作人员检验时，手动移动半导体容易造成漏检和重复检验的问题。为解决上述技术问题，本专利技术的技术方案是:一种半导体自动进给检验平台，包括底座、显微镜、纵向进给组件，所述的纵向进给组件还包括第一托板、第一伺服电机、第一丝杠、第一丝杠螺母，所述的第一托板位于底座上端，所述的第一托板与底座滑动相连，所述第一伺服电机位于第一托板下表面上端，所述的第一伺服电机与第一托板螺纹相连，所述的第一丝杠位于第一伺服电机下端，所述的第一丝杠与第一伺服电机紧配相连且与第一托板转动相连，所述的第一丝杠螺母贯穿第一丝杠，所述的第一丝杠螺母与第一丝杠螺纹相连且与底座螺纹相连；以及横向进给组件，所述的横向进给组件还包括第二托板、第二伺服电机、第二丝杠、第二丝杠螺母，所述的第二托板位于第一托板上端，所述的第二托板与第一托板滑动相连，所述第二伺服电机位于第二托板下表面右端，所述的第二伺服电机与第二托板螺纹相连，所述的第二丝杠位于第二伺服电机下端，所述的第二丝杠与第二伺服电机紧配相连且与第二托板转动相连，所述的第二丝杠螺母贯穿第二丝杠，所述第二丝杠螺母与第二丝杠螺纹相连且与第一托板螺纹相连。本专利技术进一步的改进如下:进一步的，所述的底座上表面还设有第一按钮、第二按钮、第三按钮、第四按钮，所述的第一按钮与底座螺纹相连，所述的第二按钮与底座螺纹相连，所述的第三按钮与底座螺纹相连，所述的第四按钮与底座螺纹相连，所述的第一按钮控制第一伺服电机正转，所述的第二按钮控制第一伺服电机反正，所述的第三按钮控制第二伺服电机正转，所述的第四按钮控制第二伺服电机反转。进一步的，所述的底座上表面左右两侧还设有第一导槽，所述第一导槽与底座螺纹相连。进一步的，所述的第一托板还设有第一导轨，所述的第一导轨位于第一托板下表面左右两侧，所述的第一导轨与第一托板螺纹相连。进一步的，所述的第一托板还设有第二导槽，所述的第二导槽位于第一托板上表面上下两侧，所述的第二导槽与第一托板螺纹相连。进一步的，所述的第二托板还设有第二导轨，所述的第二导轨位于第二托板下表面上下两侧，所述的第二导轨与第二托板螺纹相连。进一步的，所述的第二托板上表面设有凹槽，所述凹槽不贯穿第二托板主体。与现有技术相比，该半导体自动进给检验平台，工作时，将半导体放置于设置在第二托板表面的凹槽内，使用显微镜开始检验，当第一个半导体检验完成后，按下第一按钮，第一伺服电机正转，设定第一伺服电机转动角度，使得每按下一次第一按钮，第一伺服电机带动第一托板运动的距离等于两个半导体之间的间距，当第一纵列的半导体检验完成后，按下第三按钮，第二伺服电机正转，设定第二伺服电机转动角度，使得每按下一次第三按钮，第二伺服电机带动第二托板运动的距离等于两个半导体之间的间距，当第二托板移动完成后，按下第二按钮，第一伺服电机反转，设定第一伺服电机转动角度，使得每按下一次第二按钮，第一伺服电机带动第一托板运动的距离等于两个半导体之间的间距，完成第二纵列检验，以此方式进行操作直到半导体检验完成。该平台结构简单，操作人员按特定的操作方式进行检验，可以保证每个半导体都被检验，不会发生漏检和重复检验，降低操作人员劳动强度，提高生产效率。【附图说明】图1示出本专利技术轴视图图2示出本专利技术横向进给组件后视图图3示出本专利技术纵向进给组件剖视图底座 I显微镜2纵向进给组件 3横向进给组件4第一按钮 101第二按钮102第三按钮 103第四按钮104第一导槽 105第一托板301第一伺服电机 302第一丝杠303第一丝杠螺母 304第一导轨305第二导槽 306第二托板401第二伺服电机 402第二丝杠403第二丝杠螺母 404第二导轨405凹槽405【具体实施方式】如图1、图2、图3所示，一种半导体自动进给检验平台，包括底座1、显微镜2、纵向进给组件3，所述的纵向进给组件3还包括第一托板301、第一伺服电机302、第一丝杠303、第一丝杠螺母304，所述的第一托板301位于底座I上端，所述的第一托板301与底座I滑动相连，所述第一伺服电机302位于第一托板301下表面上端，所述的第一伺服电机302与第一托板301螺纹相连，所述的第一丝杠303位于第一伺服电机302下端，所述的第一丝杠303与第一伺服电机302紧配相连且与第一托板301转动相连，所述的第一丝杠螺母304贯穿第一丝杠303，所述的第一丝杠螺母304与第一丝杠303螺纹相连且与底座I螺纹相连；以及横向进给组件4，所述的横向进给组件4还包括第二托板401、第二伺服电机402、第二丝杠403、第二丝杠螺母404，所述的第二托板401位于第一托板301上端，所述的第二托板401与第一托板301滑动相连，所述第二伺服电机402位于第二托板4当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种半导体自动进给检验平台，包括底座、显微镜，其特征在于还包括：纵向进给组件，所述的纵向进给组件还包括第一托板、第一伺服电机、第一丝杠、第一丝杠螺母，所述的第一托板位于底座上端，所述的第一托板与底座滑动相连，所述第一伺服电机位于第一托板下表面上端，所述的第一伺服电机与第一托板螺纹相连，所述的第一丝杠位于第一伺服电机下端，所述的第一丝杠与第一伺服电机紧配相连且与第一托板转动相连，所述的第一丝杠螺母贯穿第一丝杠，所述的第一丝杠螺母与第一丝杠螺纹相连且与底座螺纹相连；以及横向进给组件，所述的横向进给组件还包括第二托板、第二伺服电机、第二丝杠、第二丝杠螺母，所述的第二托板位于第一托板上端，所述的第二托板与第一托板滑动相连，所述第二伺服电机位于第二托板下表面右端，所述的第二伺服电机与第二托板螺纹相连，所述的第二丝杠位于第二伺服电机下端，所述的第二丝杠与第二伺服电机紧配相连且与第二托板转动相连，所述的第二丝杠螺母贯穿第二丝杠，所述第二丝杠螺母与第二丝杠螺纹相连且与第一托板螺纹相连。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：彭勇，王明辉，李宏图，赵从寿，陶佩，周根强，石永洪，
申请(专利权)人：池州华钛半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34
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