本实用新型专利技术公开一种液晶屏外观检查系统,包括一控制器,且所述控制器连接控制一KVM切换器,还包括一第一缺陷用引擎、第二缺陷检测用引擎及第三缺陷检测用引擎,且所述切换器与所述第一缺陷用引擎、第二缺陷检测用引擎及第三缺陷检测用引擎进行信号交互,还包括一固定待检液晶屏的运动平台,且所述第一线扫描相机和所述第二线扫描相机分别从上方投射所述运动平台,且所述第三线扫描相机下方投射所述运动平台。本实用新型专利技术主要应用集中在液晶面板生产企业,用机器检查代替人工检查,检查精度高且速度快,节约了人工成本,提高了检测效率和生产效率。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种液晶屏外观检查系统。
技术介绍
液晶生产技术起于日本,目前主要技术由日本、韩国掌握。相应的,检查液晶屏显示的仪器也主要由这两国生产。由于一些历史的原因加上技术的更新换代。客观上形成了日本生产的仪器主要用于小尺寸液晶屏,而韩国的仪器则以大尺寸液晶屏为主。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种液晶屏外观检查系统,其可以解决现有技术中的上述缺点。本技术采用以下技术方案:一种液晶屏外观检查系统,包括一控制器,且所述控制器连接控制一 KVM切换器,还包括一第一缺陷用引擎、第二缺陷检测用引擎及第三缺陷检测用引擎,且所述切换器与所述第一缺陷用引擎、第二缺陷检测用引擎及第三缺陷检测用引擎进行信号交互,且所述第一缺陷用引擎、第二缺陷检测用引擎及第三缺陷检测用引擎分别连接控制一第一线扫描相机、第二线扫描相机及一第三线扫描相机,还包括一固定待检液晶屏的运动平台,且所述第一线扫描相机和所述第二线扫描相机分别从上方投射所述运动平台,且所述第三线扫描相机下方投射所述运动平台。还包括一第一光源、一第二光源及一第三光源,且所述第一光源及所述第二光源均设于所述运动平台的上方,且所述第三光源设于所述运动平台的下方。还包括一以太网交换器,其与所述控制器及所述第一缺陷用引擎、第二缺陷检测用引擎及第三缺陷检测用引擎进行信号交互。所述第一线扫描相机、第二线扫描相机及一第三线扫描相机为8K线扫描相机。本技术的优点是:本技术主要应用集中在液晶面板生产企业,用机器检查代替人工检查,检查精度高且速度快,节约了人工成本,提高了检测效率和生产效率。【附图说明】下面结合实施例和附图对本技术进行详细说明,其中:图1是本技术的结构示意图。图2是图1中的运动平台的结构示意图。【具体实施方式】下面结合附图进一步阐述本技术的【具体实施方式】:如图1所示,一种液晶屏外观检查系统,包括一控制器13,且所述控制器连接控制一 KVM切换器15,还包括一第一缺陷用引擎1、第二缺陷检测用引擎10及第三缺陷检测用引擎11,且所述切换器与所述第一缺陷用引擎、第二缺陷检测用引擎及第三缺陷检测用引擎进行信号交互,且所述第一缺陷用引擎、第二缺陷检测用引擎及第三缺陷检测用引擎分别连接控制一第一线扫描相机3、第二线扫描相机2及一第三线扫描相机9,还包括一固定待检液晶屏的运动平台,且所述第一线扫描相机和所述第二线扫描相机分别从上方投射所述运动平台,且所述第三线扫描相机下方投射所述运动平台。本技术还包括一第一光源4、一第二光源5及一第三光源8,且所述第一光源及所述第二光源均设于所述运动平台的上方,且所述第三光源设于所述运动平台的下方。本技术还包括一以太网交换器14,其与所述控制器及所述第一缺陷用引擎、第二缺陷检测用引擎及第三缺陷检测用引擎进行信号交互。所述第一线扫描相机、第二线扫描相机及一第三线扫描相机为8K线扫描相机。本技术实施例所述的一种用于检查液晶屏显示不良的仪器,包括核心电路板和信号输出连接件,所述核心电路板由ARM系统电路、FPGA电路和智能电源控制电路构成,ARM系统电路分别连接FPGA电路和智能电源控制电路,智能电源控制电路连接FPGA电路;所述核心电路板通过内部电气连接件连接控制接口板,控制接口板通过信号输出连接件连接待测显示器。要检查液晶屏显示是否存在不良,首先通过信号输出连接件和待测试的液晶面板相连接。然后是通过核心电路板中的智能电源控制电路给液晶显示屏提供规定的电压,选择与待测试液晶面板输入信号格式匹配的控制接口板例如液晶面板是DRGB信号格式的,必须要使用TTL接口的控制接口板;而液晶面板是LVDS信号格式的,则要使用LVDS接口的控制接口板,其他信号格式类推。核心电路板的ARM系统电路和FPGA电路根据对应待测试液晶的具体技术参数:如频率(CLK)、时序、屏幕尺寸、信号通道、画面测试次序等等,产生一幅幅不同的画面信号显示在显示屏上,操作员根据显示在液晶面板上画面的情况来判断当前的产品是否存在缺陷和不良。一种液晶屏外观检查系统,包括括显示器一台16,KVM切换器/键盘/鼠标一套,缺陷检测用引擎三台,缺陷检测用8K线扫描相机3套,线扫描镜头3套,线扫描LED光源3套,主控制Host PC I台,平台运动控制系统一套,以太网交换机I套,UPS不间断电源12 —套,系统机柜I套。第一相机用于检查蚀刻不均,Rimple缺陷;第二相机用于检查划伤、蹭伤、片状凸点、Pimple (点状凸点)、Dimple ;第三相机用于检查T侧Dimple。如图2所示,运动平台的外形尺寸为:1000mmX500mmX2200mm(长X宽X高,长度定义为panel运动方向),panel运动平台距离地面1200mm,距离机构顶部100mm ;运动平台内包含两部分:定位机构和图像采集机构。定位机构用于校正panel的位置;图像采集机构用于光学系统采集图像;光学系有3组,用于采集正反两面不同的缺陷。本技术可用于未贴付偏光板的液晶面板AOI外观检查,用以检出面板上划伤、蹭伤、片状凸点、Pimple (点状凸点)、Dimple (凹点C侧、T侧)、蚀刻不均、Rimple (水波纹状)。本技术主要应用集中在液晶面板生产企业,用机器检查代替人工检查,检查精度高且速度快,节约了人工成本,提高了检测效率和生产效率。以上所述仅为本技术的较佳实施例而已,并不用以限制本技术,凡在本技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本技术的保护范围之内。【主权项】1.一种液晶屏外观检查系统,其特征在于,包括一控制器,且所述控制器连接控制一KVM切换器,还包括一第一缺陷用引擎、第二缺陷检测用引擎及第三缺陷检测用引擎,且所述切换器与所述第一缺陷用引擎、第二缺陷检测用引擎及第三缺陷检测用引擎进行信号交互,且所述第一缺陷用引擎、第二缺陷检测用引擎及第三缺陷检测用引擎分别连接控制一第一线扫描相机、第二线扫描相机及一第三线扫描相机,还包括一固定待检液晶屏的运动平台,且所述第一线扫描相机和所述第二线扫描相机分别从上方投射所述运动平台,且所述第三线扫描相机下方投射所述运动平台。2.根据权利要求1所述的液晶屏外观检查系统,其特征在于,还包括一第一光源、一第二光源及一第三光源,且所述第一光源及所述第二光源均设于所述运动平台的上方,且所述第三光源设于所述运动平台的下方。3.根据权利要求2所述的液晶屏外观检查系统,其特征在于,还包括一以太网交换器,其与所述控制器及所述第一缺陷用引擎、第二缺陷检测用引擎及第三缺陷检测用引擎进行信号交互。4.根据权利要求1所述的液晶屏外观检查系统,其特征在于,所述第一线扫描相机、第二线扫描相机及一第三线扫描相机为8K线扫描相机。【专利摘要】本技术公开一种液晶屏外观检查系统,包括一控制器,且所述控制器连接控制一KVM切换器,还包括一第一缺陷用引擎、第二缺陷检测用引擎及第三缺陷检测用引擎,且所述切换器与所述第一缺陷用引擎、第二缺陷检测用引擎及第三缺陷检测用引擎进行信号交互,还包括一固定待检液晶屏的运动平台,且所述第一线扫描相机和所述第二线扫描相机分别从上方投射所述运动平台,且所述第三线扫描相机下方投射本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种液晶屏外观检查系统,其特征在于,包括一控制器,且所述控制器连接控制一KVM切换器,还包括一第一缺陷用引擎、第二缺陷检测用引擎及第三缺陷检测用引擎,且所述切换器与所述第一缺陷用引擎、第二缺陷检测用引擎及第三缺陷检测用引擎进行信号交互,且所述第一缺陷用引擎、第二缺陷检测用引擎及第三缺陷检测用引擎分别连接控制一第一线扫描相机、第二线扫描相机及一第三线扫描相机,还包括一固定待检液晶屏的运动平台,且所述第一线扫描相机和所述第二线扫描相机分别从上方投射所述运动平台,且所述第三线扫描相机下方投射所述运动平台。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:施俊,万旻,
申请(专利权)人:法视特上海图像科技有限公司,
类型:新型
国别省市:上海;31
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